专利名称：一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法
技术领域：
本发明涉及一种反相装置及其制作方法，具体涉及一种集成电路测试系统的反 相装置及其制作方法。
背景技术：
在集成电路测试领域，测试系统的组合形式多种多样，一般有并行双工位、四 工位和串行双工位、四工位测试，最基本的为单工位测试；但是任何一种组合形式的测 试系统，都存在通讯干扰，还有许多测试厂考虑测试成本的因素，几乎每个封测厂的测 试机品种和机械手品种至少会有四种以上，每台测试机和机械手的整体不一样，为了测 试不同的产品，测试机和机械手之间每隔一段时间会有新的组合，每台测试机的接触阻 抗和驱动能力不一样，因此就会出现每次新的组合出现通讯中的瞬间干扰信号故障。
发明内容
本发明的目的是提供一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，它能将 测试机和机械手所有端口的TTL信号任意更改，满足测试机和机械手对TTL电平的需 求；提高驱动电流，有效消除通讯中的干扰信号，使测试结果可靠准确。本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的目的是通过以下技术方案 实现的一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，包括由前板、后板、顶盖、 底盖及两侧板组成的箱体；还包括一印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路。所述的测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路 及拨码开关电路。所述的拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接，拨码开关电路的输出端与 反相驱动电路的输入端连接，反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接；所述的隔离 电路串接在测试机连接器与机械手连接器的电源Vcc之间。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的反相驱动电 路包括两个反相器集成电路芯片，每个反相器集成电路芯片包括六个反相器；所述的反 相驱动电路的各输入端与拨码开关电路的各输出端对应连接，反相驱动电路的各输出端 与机械手连接器的各端对应连接。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的拨码开关电 路包括多个拨码开关，所述的拨码开关的多个输入端中每两个相邻的端口分别连接，该 并接端口与测试机连接器的相应端口连接，所述的拨码开关的多个输出端中每两个相邻 的端口分别与反相驱动电路的反相器的输入端和输出端连接。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的隔离电路包 括一光电耦合器；所述的光电耦合器的端口 1及端口 2与测试机连接器的电源Vcc连接， 光电耦合器的端口 3与机械手连接器的电源Vcc连接。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的集成电路测试系统的反相装置还包括一保护电阻R1，所述的保护电阻Rl串接在光电耦合器端口 4与 接地端之间。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，还包括偏置电阻R2 和R3，所述的偏置电阻R2串接在测试机连接器的端口 4与接地端口之间；所述的偏置电 阻R3串接在机械手连接器的端口 4与电源Vcc之间。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，所述的箱体的前板 设有测试机连接器安装孔，所述的测试机连接器对应设置在箱体前板的测试机连接器安 装孔内；所述的箱体的后板设有机械手连接器安装孔，所述的机械手连接器对应设置在 箱体后板的机械手连接器安装孔内；所述的箱体顶盖上设有四个拨码开关安装孔，所述 的四个拨码开关分别对应设置在拨码开关安装孔内；所述的箱体底盖上设有两个印制电 路板安装孔，所述的印制电路板通过螺丝及印制电路板安装孔固定在底盖上。上述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其中，该方法至少包括以 下步骤步骤1，制作印制电路板步骤1.1，字符丝印用白色；步骤1.2，板材厚度是1.5mm，铜箔厚度是35um ；步骤1.3，对印制电路板喷锡。步骤2，PCBA的组装步骤2.1，测试要安装的元件的基本电器性能是否合格，若不合格，更换元件， 若合格，进行下一步；步骤2.2，将元件的体积按从小到大的顺序焊接在印制电路板上，并测试元件的 极性和安装位置是否正确，若不正确，返回上一步重新焊接；若正确，进行下一步；步骤2.3，将测试合格的印制电路板用螺丝固定在箱体的底盖上。步骤3，本集成电路测试系统的反相装置的测试机连接器外接测试机，本集成电 路测试系统的反相装置的机械手连接器外接机械手，若机械手为并行双SITE测试，每个 SITE位用一只反相器，再调节拨码开关的位置。本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于采用了上述方案，使之 与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果1、本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于采用了反相驱动电 路，能提高驱动电流及信号反相。2、本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于采用了隔离电路，防 止信号干扰，使电压相当稳定，保护电路芯片及使用安全。3、本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法由于提高了电流的驱动能 力和抗干扰能力，使各种新旧型号的各种测试机与机械手的通讯安全可靠。4、本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法外观简洁美观、成本低、 体积小，制作方法简单，易操作，易于普及应用。
图1是本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的正视图。
图2是本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的后视图。图3是本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的俯视图。图4是本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的仰视图。图5是本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的电路原理图。图6是本发明集成电路测试系统的反相装置及其制作方法的流程图。
具体实施例方式请参见附图1所示，并结合附图2、附图3及附图4所示，本发明集成电路测试 系统的反相装置包括由前板11、后板12、顶盖13、底盖14及两侧板(图中未示出)组成 的箱体1、一印制电路板(图中未示出)及安装在印制电路板上的测试电路2 ；箱体1的 前板11设有测试机连接器安装孔111，箱体1的后板12设有机械手连接器安装孔121， 箱体1的顶盖13上设有四个拨码开关安装孔131，箱体1的底盖14上设有两个印制电路 板安装孔141，测试机连接器21对应设置在箱体1的测试机连接器安装孔111内，机械手 连接器22对应设置在箱体1的机械手连接器安装孔121内。请参见附图5所示，测试电路2包括测试机连接器21、机械手连接器22、反相 驱动电路23、隔离电路24及拨码开关电路25 ；还包括偏置电阻112和113，偏置电阻R2 串接测试机连接器21的接地端口(端口 14)与端口 4之间；偏置电阻R3串接在机械手 连接器22的电源Vcc(端口 14)与端口 4之间；拨码开关电路25的输入端与测试机连接 器21连接，拨码开关电路25的输出端与反相驱动电路23的输入端连接，反相驱动电路 23的输出端与机械手连接器22连接。在本实施例中，反相驱动电路23包括两个反相器 集成电路芯片Ul及U2，每个反相器集成电路芯片包括六个反相器U1-1/6至U1-6/6、 U21-6至U2-6/6;反相驱动电路23的输入端与拨码开关电路25的输出端连接，反相驱 动电路23的输出端与机械手连接器22对应连接。拨码开关电路25包括多个拨码开关， 拨码开关的多个输入端中每两个相邻的端口分别连接，该并接端口与测试机连接器21的 相应端口连接，拨码开关的多个输出端中每两个相邻的端口分别与反相驱动电路23的反 相器的输入端和输出端连接。隔离电路24包括一光电耦合器及一保护电阻R1，保护电阻 Rl串接在光电耦合器端口 4与接地端之间；光电耦合器的端口 1及端口 2连接测试机连接 器21的电源Vcc(端口 13)，光电耦合器的端口 3连接到机械手连接器21的电源Vcc(端 口 13)。测试机连接器21的端口 14及机械手连接器22的端口 14为接地端，测试机连接 器21的端口 4并接反相器U2-3/6的输出端与偏置电阻R2的一端，反相器U2-3/6的输 出端与拨码开关SW4的端口 7连接，反相器U2-3/6的输入端与拨码开关SW4的端口 8 连接偏置电阻R2的另一端接地，拨码开关SW4的端口 5及端口 6并接后与机械手连接 器22的端口 4连接，拨码开关SW4的端口 3及端口 4并接后与测试机连接器21的端口 7连接，拨码开关SW4的端口 10与反相器U2-2/6的输入端连接，拨码开关SW4的端 口 9与反相器U2-2/6的输出端连接，反相器U2-2/6的输出端与机械手连接器22的端口 7连接，拨码开关SW4的端口 1及端口 2并接后与测试机连接器21的端口 8连接，拨码 开关SW4的端口 12与反相器U2-1/6的输入端连接，拨码开关SW4的端口 11与反相器 U2-1/6的输出端连接，反相器U2-1/6的输出端与机械手连接器22的端口 8连接；拨码开关SW3的端口 1及端口 2并接后与测试机连接器21的端口 20连接，拨码开关SW3的 端口 11与反相器U2-6/6的输入端连接，拨码开关SW3的端口 12与反相器U2-6/6的输 出端连接，反相器U2-6/6的输出端与机械手连接器22的端口 20连接，拨码开关SW3的 端口 3及端口 4并接后与测试机连接器21的端口 21连接，拨码开关SW3的端口 9与反 相器U2-5/6的输入端连接，拨码开关SW3的端口 10与反相器U2-5/6的输出端连接， 反相器U2-5/6的输出端与机械手连接器22的端口 21连接，拨码开关SW3的端口 5及端 口 6并接后与测试机连接器21的端口 22连接，拨码开关SW3的端口 7与反相器U2-4/6 的输入端连接，拨码开关SW3的端口 8与反相器U2-4/6的输出端连接，反相器U2-4/6 的输出端与机械手连接器22的端口 22连接；拨码开关SWl的端口 1及端口 2并接后与 测试机连接器21的端口 11连接，拨码开关SWl的端口 12与反相器U1-6/6的输入端连 接，拨码开关SW3的端口 11与反相器U1-6/6的输出端连接，反相器U1-6/6的输出端 与机械手连接器22的端口 11连接，拨码开关SWl的端口 3及端口 4并接后与测试机连 接器21的端口 10连接，拨码开关SWl的端口 10与反相器U1-5/6的输入端连接，拨码 开关SW3的端口 9与反相器U1-5/6的输出端连接，反相器U1-5/6的输出端与机械手连 接器22的端口 10连接，拨码开关SWl的端口 5及端口 6并接后与测试机连接器21的端 口 9连接，拨码开关SWl的端口 8与反相器U1-4/6的输入端连接，拨码开关SW3的端 口 7与反相器U1-4/6的输出端连接，反相器U1-4/6的输出端与机械手连接器22的端口 9连接；拨码开关SW2的端口 1及端口 2并接后与测试机连接器21的端口 25连接，拨码 开关SW2的端口 12与反相器U1-1/6的输入端连接，拨码开关SW2的端口 11与反相器 U1-1/6的输出端连接，反相器U1-1/6的输出端与机械手连接器22的端口 25连接，拨码 开关SW2的端口 3及端口 4并接后与测试机连接器21的端口 24连接，拨码开关SW2的 端口 10与反相器U1-2/6的输入端连接，拨码开关SW2的端口 9与反相器U1-2/6的输出 端连接，反相器U1-2/6的输出端与机械手连接器22的端口 24连接，拨码开关SW2的端 口 5及端口 6并接后与测试机连接器21的端口 23连接，拨码开关SW2的端口 8与反相 器U1-3/6的输入端连接，拨码开关SW2的端口 7与反相器U1-3/6的输出端连接，反相 器U1-3/6的输出端与机械手连接器22的端口 23连接，光电耦合器的端口 1及端口 2与 测试机连接器21的电源Vcc(端口 13)连接，光电耦合器的端口 3与机械手连接器22的 电源Vcc(端口 13)连接，光电耦合器的端口 4与保护电阻Rl的一端连接，保护电阻Rl 的另一端接地，偏置电阻R3的一端与机械手连接器22的电源Vcc(端口 13)连接，偏置 电阻R3的另一端与机械手连接器22的端口 4连接。请参见附图6所示，本发明集成电路测试系统的反相装置的制作方法的具体步 骤是步骤1，制作印制电路板步骤1.1，字符丝印用白色；步骤1.2，板材厚度是1.5mm，铜箔厚度大于等于35um ；步骤1.3，对印制电路板喷锡，以防止氧化，并确保焊接良好。步骤2，PCBA的组装步骤2.1，测试要安装的元件的基本电器性能是否合格，若不合格，更换元件， 若合格，进行下一步；
步骤2.2，将元件的体积按从小到大的顺序焊接在印制电路板上，并测试元件的 极性和安装位置是否正确，若不正确，返回上一步重新焊接；若正确，进行下一步；步骤2.3，将测试合格的印制电路板用螺丝固定在箱体的底盖上。步骤3，本集成电路测试系统的反相装置的测试机连接器外接测试机，本集成电 路测试系统的反相装置的机械手连接器外接机械手，若机械手为并行双SITE测试，每个 SITE位用一只反相器，再调节拨码开关的位置。本发明集成电路测试系统的反相装置的工作原理是将本发明串接在测试机与 机械手之间后，先由机械手发出一个开始测试启动信号(SOT信号)给测试机，测试机得 到SOT信号后马上对产品进行电性能测试，测试完成后对测试做出判定，并给机械手发 出相应的BIN信号，然后测试机再发出一个产品测试结束信号(EOT信号)给机械手，即 在实际使用中，测试完产品后，测试机判定这个产品是否优良或者不良，不良的情况分 为2-9种不等，一般情况下好产品为BIN信号，其它BIN2-BIN10为不良产品，测试机发 出不同的BIN信号，机械手会根据不同的信号做出不同的反应，把产品放置在不同的地 方；以上为一个周期，然后测试机再发送一个SOT信号给机械手，进入下一个周期。本发明集成电路测试系统的反相装置的使用方法是根据附图5，测试机连接 器21与外接的测试机的通信端口连接，机械手连接器22与外接的机械手的通信端口连 接，再根据测试机和机械手对高低电平信号的需求再作设置。应用实施例1，若测试机EOT信号发出的是低电平(用示波器观察，低于0.7V 的为低电平，高于3.3V的为高电平)，而机械手也为低电平触发时，SW2的拨码开关1和 拨码开关2的开关设置为拨码开关1为OFF状态(即SWl的端口 1和端口 12断开)， 拨码开关2为ON状态(即SWl的端口 2和端口 11连通)；若测试机发出的是低电平， 而机械手为高电平触发时，SW2的拨码开关1和拨码开关2的设置为拨码开关1为ON 状态(即SWl的端口 1和端口 12连通)，拨码开关2为OFF状态(即SWl的端口 2和 端口 11断开)。应用实施例2，若测试机的BINl发出的是低电平，而机械手也为低电平触发 时，SW2的拨码开关3和拨码开关4的设置为拨码开关3为OFF状态(即SW3的端 口 3和端口 10断开)，拨码开关4为ON状态(即SW4的端口 4和端口 9连通)；若测 试机发出的是低电平，而机械手为高电平触发时，SW2的拨码开关3和拨码开关4的设 置为拨码开关3为ON状态(即SW3的端口 3和端口 10连通)，拨码开关4为OFF状 态(即SW4的端口 4和端口 9断开)。应用实施例3，若测试机的BIN3发出的是低电平，而机械手也为低电平触发 时，SW2的拨码开关5和拨码开关6的设置为拨码开关5为OFF状态(即SW5的端 口 5和端口 8断开)，拨码开关6为ON状态(即SW6的端口 6和端口 7连通)；若测试 机发出的是低电平，而机械手为高电平触发时，SW2的拨码开关5和拨码开关6的设置 为拨码开关5为ON状态(即SW5的端口 5和端口 8连通)，拨码开关6为OFF状态 (即SW6的端口 5和端口 8断开)。其它信号以此类推。综上所述，本发明由于采用了反相驱动电路，能提高驱动电流及信号反相；本 发明由于采用了隔离电路，防止信号干扰，使电压相当稳定，保护电路芯片及使用安 全；本发明由于提高了电流的驱动能力和抗干扰能力，使各种新旧型号的各种测试机与机械手的通讯安全可靠；本发明外观简洁美观、成本低、体积小，制作方法简单 作，易于普及应用。
权利要求
1.一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，包括由前板、后板、顶盖、底 盖及两侧板组成的箱体；其特征在于还包括一印制电路板及安装在印制电路板上的测 试电路；所述的测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路及拨 码开关电路；所述的拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接，拨码开关电路的输出端与反相 驱动电路的输入端连接，反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接；所述的隔离电路 串接在测试机连接器与机械手连接器的电源Vcc之间。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 所述的反相驱动电路包括两个反相器集成电路芯片，每个反相器集成电路芯片包括六个 反相器；所述的反相驱动电路的各输入端与拨码开关电路的各输出端对应连接，反相驱 动电路的各输出端与机械手连接器的各端对应连接。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 所述的拨码开关电路包括多个拨码开关，所述的拨码开关的多个输入端中每两个相邻的 端口分别连接，该并接端口与测试机连接器的相应端口连接，所述的拨码开关的多个输 出端中每两个相邻的端口分别与反相驱动电路的反相器的输入端和输出端连接。
4.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 所述的隔离电路包括一光电耦合器；所述的光电耦合器的端口 1及端口 2与测试机连接器 的电源Vcc连接，光电耦合器的端口 3与机械手连接器的电源Vcc连接。
5.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 所述的集成电路测试系统的反相装置还包括一保护电阻R1，所述的保护电阻Rl串接在光 电耦合器端口 4与接地端之间。
6.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 还包括偏置电阻112和113，所述的偏置电阻R2串接在测试机连接器的端口 4与接地端口 之间；所述的偏置电阻R3串接在机械手连接器的端口 4与电源Vcc之间。
7.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 所述的箱体的前板设有测试机连接器安装孔，所述的测试机连接器对应设置在箱体前板 的测试机连接器安装孔内；所述的箱体的后板设有机械手连接器安装孔，所述的机械手 连接器对应设置在箱体后板的机械手连接器安装孔内；所述的箱体顶盖上设有四个拨码 开关安装孔，所述的四个拨码开关分别对应设置在拨码开关安装孔内；所述的箱体底盖 上设有两个印制电路板安装孔，所述的印制电路板通过螺丝及印制电路板安装孔固定在地盖上。
8.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 该方法至少包括以下步骤步骤1，制作印制电路板；步骤2，PCBA的组装；步骤3，本集成电路测试系统的反相装置的测试机连接器外接测试机，本集成电路测 试系统的反相装置的机械手连接器外接机械手，若机械手为并行双SITE测试，每个SITE 位用一只反相器，再调节拨码开关的位置。
9.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在于 所述的步骤1中还包括步骤1.1，字符丝印用白色；步骤1.2，板材厚度是1.5mm，铜箔厚度是35um ；步骤1.3，对印制电路板喷锡。
10.根据权利要求1所述的集成电路测试系统的反相装置及其制作方法，其特征在 于所述的步骤2中还包括步骤2.1，测试要安装的元件的基本电器性能是否合格，若不合格，更换元件，若合 格，进行下一步；步骤2.2，将元件的体积按从小到大的顺序焊接在印制电路板上，并测试元件的极性 和安装位置是否正确，若不正确，返回上一步重新焊接；若正确，进行下一步； 步骤2.3，将测试合格的印制电路板用螺丝固定在箱体的底盖上。
全文摘要
一种集成电路测试系统的反相装置及其制作方法包括由前板、后板、顶盖、底盖及两侧板组成的箱体、印制电路板及安装在印制电路板上的测试电路；测试电路包括测试机连接器、机械手连接器、反相驱动电路、隔离电路及拨码开关电路；拨码开关电路的输入端与测试机连接器连接，拨码开关电路的输出端与反相驱动电路的输入端连接，反相驱动电路的输出端与机械手连接器连接。包括如下步骤1，制作印制电路板；2，PCBA组装；3，测试机连接器外接测试机，机械手连接器外接机械手，调节拨码开关的位置。本发明能提高驱动电流及信号反相，提供稳定的电压，保护电路及使用安全，成本低、体积小，易操作，易于普及应用。
文档编号G01R1/20GK102012442SQ20091019535
公开日2011年4月13日 申请日期2009年9月8日 优先权日2009年9月8日
发明者刘若智 申请人:上海芯哲微电子科技有限公司