专利名称：一种用于数模混合信号集成电路的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于集成电路测试技术领域，涉及一种用于数模混合信号集成电路的测试装置。
背景技术：
目前，模拟集成电路测试系统日趋成熟，市场上的装机量已经非常可观，但由于数字集成电路测试系统还处在起步阶段，所以国内各集成电路封装测试厂所用模拟集成电路测试系统基本没有数字集成电路测试功能，极少数带有数字集成电路测试功能的机型价格较高并且测试效率较低。而最近几年，数模混合信号集成电路的品种及用量正在飞速增加，进口的混合信号测试系统由于系统复杂、维护费用高，国内各封装测试厂只能用高昂的价格去购买，不但增加了设备投入和测试成本，而且使得原有的模拟集成电路测试系统的利用率也大大降低。发明内容
本实用新型的目的是提供一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，解决了现有模拟集成电路测试系统不能测试数模混合信号集成电路的问题。
本实用新型所采用的技术方案是， 一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，包括模拟电路测试系统和测试板，模拟电路测试系统包括电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口和时间单元，测试板分别与上述电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制
接口和时间单元相连接，所述测试板上设置有数模混合类IC的测量工位和一个数字信号测试模块，数模混合类IC中的数字部分与数字信号测试模块连接，数模混合类ic中的模拟部分通过测试板上的接口与模拟电路测试系统的电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口和时
间单元分别连接。
本实用新型的测试装置，其特征还在于，所述的数字信号测试模块包括电源模块、微控制器、数字接口和电平匹配，电源模块分别与微控制器和电平匹配相连接，电平匹配与微控制器相连接，微控制器与数字接口相连接。
本实用新型的有益效果是，使得现有的模拟测试机加装数字信号测试模块后，就能够完成对数模混合类IC的数模混合信号测试，结构简单，操作可靠，制作成本低。
图1是现有的模拟集成电路测试系统结构框图；图2是本实用新型测试装置的结构框图3是本实用新型测试装置的数字信号测试模块的内部结构框图4是本实用新型测试装置的测试流程图。
图中，l.电源，2.多路电压电流源，3.交流源表，4.精密电压表，5.继电器控制接口， 6.时间单元，7.模拟类IC， 8.测试板，9.数字信号测试模块，IO.数字部分，ll.模拟部分，12.电源模块，13.微控制器，14.数字接口， 15.电平匹配。16.数模混合类IC。 '具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型进行详细说明。图1是现有的模拟集成电路测试系统结构框图，由模拟电路测试系统和测试板8组成，在测试板8上放置有待测试的模拟类IC7，测试板8通过个接口分别与模拟电路测试系统中的电源1 、多路电压电流源2、交流源表3、
精密电压表4、继电器控制接口5、时间单元6连接，如果是带自动分选功能的话还连接有机械手。测试板8为被测试的模拟类IC7提供外围的工作器件和测量回路；模拟电路测试系统为测试板8和被测试的模拟类IC7提供各种可灵活编程的源(如电源l、多路电压电流源2等)和表(如交流源表3、精密电压表4、时间单元6等)以及继电器控制接口 5。当开始测试时，测试系统的测试程序控制测试系统向测试板8施加相应的激励并通过控制继电器的切换，使被测试的模拟类IC7达到某种工作状态及功能后，测试系统再利用自带的仪表来测试此时的模拟类IC7所呈现的状态及功能是否与预期的相符以判定这一参数或功能是否合格。当所有的参数都测试完毕并全部合格，这一颗模拟类IC7才算是良品，否则为不良品。
从以上的模拟测试机的构成上及测试过程来看，由于模拟测试机没有相应的数字接口，所以不可能完成对带有数字部分的数模混合信号IC的检测。
图2是本实用新型的数模混合信号集成电路的测试装置结构框图，比较图1和图2可以明显的看到，本实用新型的测试装置由模拟电路测试系统和测试板8组成，模拟电路测试系统中的电源1、多路电压电流源2、交流源表3、精密电压表4、继电器控制接口 5、时间单元6的连接关系与图1的结构相同，其特点是在测试板8上设置了一个数字信号测试模块9，并且设置数模混合类IC16取代图1中的模拟类IC7。数模混合类IC16中的数字部分10与数字信号测试模块9连接，数模混合类IC16中的模拟部分11还通过测试板8上的接口与模拟电路测试系统的电源1、多路电压电流源2、交流源表3、精密电压表4、继电器控制接口5、时间单元6分别连接。
图3是本实用新型测试装置的数字信号测试模块9的内部结构框图，数字信号测试模块9由电源模块12、微控制器13 (MCU电路)、数字接口14 和电平匹配15四部分构成，电源模块12分别与微控制器13和电平匹配15 连接，电平匹配15与微控制器13连接，微控制器13再与数字接口 14连接。 电源模块12是将测试机提供的电源转换后向电平匹配15和微控制器13供 电；电平匹配15负责将测试机发送过来的继电器控制编码信号进行电平转 换后送给微控制器13;微控制器13负责根据收到的不同编码通过数字接口 14向被测试IC发送/读取相应的控制码。
图4是本实用新型测试装置的测试流程图，可以看出利用模拟测试机来 测试数模混合类IC16的整个测试过程。首先测试机向测试板8 (包括数字信 号测试模块9)及被测试的数模混合类IC16加电，测试机通过继电器控制接 口5 (CBIT)向测试板上的数字信号测试模块9发送测试请求，数字信号测 试模块9中的微控制器13 (MCU电路)接收到测试机发送过来的信号经过 处理后，向被测试的数模混合类IC16的数字部分发送/读取相应的控制码和 数据，将其置于相应的工作状态，这时测试机开始测量此状态下的数模混合 类IC16数字参数，同时通过模拟部分测量数模混合类IC16模拟参数，如果 测得的所有参数均满足规范的要求(yes)，则标记这颗数模混合类IC16这 一项参数为Pass，即为良品，否则(No)标记为Fail，即为不良品；接下来 测试机向数字信号测试模块9发送测试结束信号，数字信号测试模块9收到 结束信号后撤除对被测试的数模混合类IC16数字部分的控制，将接口设置 为高阻态，参数测试结束。
本实用新型的测试装置，使得现有的模拟测试机加装数字信号测试模块 后，完成了数模混合类IC的数模混合信号测试，结构简单，容易操作，成 本低。
权利要求1、一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，包括模拟电路测试系统和测试板(8)，模拟电路测试系统包括电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)，测试板(8)分别与上述电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)相连接，其特征在于所述测试板(8)上设置有数模混合类IC(16)的测量工位和一个数字信号测试模块(9)，数模混合类IC(16)中的数字部分(10)与数字信号测试模块(9)连接，数模混合类IC(16)中的模拟部分(11)通过测试板(8)上的接口与模拟电路测试系统的电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)分别连接。
2. 按照权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述的数字信号测试 模块(9)包括电源模块(12)、微控制器(13)、数字接口 (14)和电平匹 配(15)，电源模块(12)分别与微控制器(13)和电平匹配(15)相连接， 电平匹配(15)与微控制器(13)相连接，微控制器(13)与数字接口 (14) 相连接。
专利摘要本实用新型公开了一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，包括模拟电路测试系统和测试板，在测试板上设置有数字信号测试模块和数模混合类IC的测量工位，数模混合类IC中的数字部分与数字信号测试模块连接、数模混合类IC中的模拟部分还通过测试板上的接口与模拟电路测试系统的电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口、时间单元分别连接；其中的数字信号测试模块由电源模块、微控制器、数字接口和电平匹配构成，电源模块分别与微控制器和电平匹配连接，电平匹配与微控制器连接，微控制器与数字接口连接。本实用新型的测试装置，具有数模混合信号测试功能，结构简单，制作成本低。
文档编号G01R31/28GK201331568SQ20092003168
公开日2009年10月21日 申请日期2009年1月14日 优先权日2009年1月14日
发明者刘义芳 申请人:西安明泰半导体测试有限公司