专利名称：液晶显示模块测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及液晶显示模块测试装置。
背景技术：
液晶显示才莫块(Liquid Crystal Module, LCM )的测试系统一般分为中 大尺寸和小尺寸两大类。中大尺寸LCM的输入显示信号源已标准化，如 VGA、 RGB及DVI等，其测试系统使用专用测试设备， 一般比较昂贵。 对于数码类产品用的小尺寸LCM,其接口类型多样化，有SPI I/F、 8/9/16/18-bit System I/F以及RGB I/F等多种接口 ，并且每一种不同的LCM 通常都使用不同的LCD drive,均需要不同的初始化方式，因此中大尺寸 的专用测试设备不适用小尺寸LCM的测试，业界通常是由一块普通的单 片机(MCU)加一些必须的电源模块和接口 IC组成需要价格低廉，通用 性强，易于维护的小型测试系统以满足小尺寸LCM的测试要求。
现有的小尺寸LCM测试系统有许多的缺点其一，因为每个LCM都 需要不同的初始化程序，所以需要频繁使用仿真器和烧录器编写变更MCU 程序，重复的烧录操作容易导致MCU的引脚损坏或MCU失效，造成测 试电路板的损耗；其二，小型测试系统对逐渐发展成为主流的高彩色高解 析度LCM的驱动能力有限，测试效率低，LCM多种新技术的应用导致测 试系统的通用性差，例如对于触摸屏(Touch Panel, TP)的测试及LED 背光恒流驱动等；其三，测试系统保护性能较差，对于错误的LCM接入 容易导致系统损坏(MCU、电源模块及接口 IC等损坏)或LCM烧毁；其 四，现有的测试系统都不能同时兼顾实现LCD driver的读功能。
鉴于以上情况，有必要提供一种新的LCM测试装置，简化其测试程序烧录过程，增强其测试能力。
实用新型内容
本实用新型的技术方案包括 一种液晶显示模块测试装置，包括
一处理器，通过串行接口获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；
一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；
一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述 处理器控制下检测液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理 器；
一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶 显示模块的显示；
一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处 理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和
一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述处理器通过串行接口从一 计算机获取测试程序和测试数据。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述存储器为闪存。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述测试模块与所述处理器进 行串行通信，其包括一 MXB7843芯片和一 LM324芯片分别用来检测液晶 显示模块的触摸屏和电流。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述接口模块为一74LVC4245A 芯片或74HC573芯片。
所述的液晶显示模块测试装置，其中，所述驱动模块为一 MP3204芯 片，提供所述液晶显示模块的背光恒流驱动。
本实用新型所提供一种新的所述的液晶显示模块测试装置，其通过串行接口对测试程序和数据进行更新，可检测液晶显示模组的触摸屏和电 流，并可读取液晶显示模组并驱动其背光。
图1为本实用新型液晶显示模块测试装置较佳实施方式的框图。
具体实施方式
以下结合附图，将对本实用新型的各较佳实施例进行更为详细的说明。
如图l所示， 一种液晶显示模块测试装置，包括 一处理器ll、 一存 储器12、 一测试模块13、 一接口模块14、 一驱动模块15及一电源模块 16。所述处理器11可通过串行接口获取测试程序及测试数据，并执行测试 程序，所述存储器12与处理器11连接并存储处理器11获取的数据，所述 测试模块13连接于所述处理器11与一待测液晶显示模块(LCM )20之间， 在所述处理器11控制下检测液晶显示模块20的触摸屏(Touch Pane], TP ) 和电流，并将测试数据传回处理器11，所述接口模块14连接于所述处理 器11与所述LCM 20之间，控制LCM 20的显示，所述驱动模块15连接 于所述处理器11与LCM 20之间，选^^奪性驱动所述LCM 20的背光器件， 所述电源模块为上述各器件提供直流电源。
在本较佳实施方式中，所述存储器12为闪存，所述测试模块13包括 一 MXB7843芯片和一 LM324芯片，所述接口才莫块14为一 74LVC4245A 芯片，所述驱动模块15为一 MP3204芯片，所述电源模块16为一 LM7805 芯片。芯片之间的引脚连接关系属于本领域公知技术，在此不再赘述。
作为本实用新型的其它实施方式，所述接口模块也可采用74HC573 芯片，所述电源^f莫块16也可为LM317T芯片。
所述液晶显示模块测试装置的工作原理如下所述处理器11通过
5RS232串口与一计算机的串行口连接，实现数据及程序的下载更新，下载 更新的程序存在处理器11内，数据保存在存储器12内，处理器11通过串 行通信(SPI)的方式实现对MXB7843芯片的控制，MXB7843芯片可实 现对LCM 20的TP的检测，及联合LM324实现对LCM 20的工作电流进 行检测，同时将检测测量结果通过SPI再送回到处理器11，处理器11的 程序对反馈数据进行实时处理。
处理器11的数据口连接芯片74LVC4245A,实现电平转换(5V〈》3V) 及对其显示的控制，74LVC4245A芯片及串联的电阻网络可以实现对I/O 口的保护，同时74LVC4245A芯片可实现双向的数据传送，即可实现读 LCM 20的功能。MP3204芯片恒流驱动LCM 20的背光器件，处理器11 可通过I/0 口控制其关断，实现灵活的测试要求。
本实用新型通过计算机软件及MCU软件设定，实现处理器11串行口 下载各种LCM测试程序，然后再脱机自动运行，免去频繁拔插IC操作， 及烧录器使用，并可方便地调试各种LCM驱动程序，大大降低了维护成 本，其次，本实用新型包括测试TP的外围电路，增加恒流驱动背光LED 的电路，实现了 TP及LED的在线测试，合理安排处理器11的I/O使用， 提高了测试效率和通用性。利用TP测试外围电路同时作A/D转换的特点， 结合LM324的电流检测，可实现对LCM工作电流的检测、监控，再次、 在电源端及I/O端加入10电平转换IC及限流电阻，可以限制误操作带来 的损伤且不影响测试，是一个低成本高效率的电路，最后，加入可选择的 双向I/O电路，在需要的读LCM的时候，可以切换成读写结合的模式， 方便使用。
应当理解的是，上述针对本实用新型较佳实施例的描述较为详细和具 体，并不能因此而认为是对本实用新型专利保护范围的限制，本实用新型 的专利保护范围应以所附权利要求为准。
权利要求1、一种液晶显示模块测试装置，包括一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下检测液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。
2、 根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于， 所述处理器通过串行接口从一计算机获取测试程序和测试数据。
3、 根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于， 所述存储器为闪存。
4、 根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于， 所述测试模块与所述处理器进行串行通信，其包括一MXB7843芯片和一 LM324芯片分别用来检测液晶显示模块的触摸屏和电流。
5、 根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于， 所述接口模块为一 74LVC4245A芯片或74HC573芯片。
6、 根据权利要求1所述的液晶显示模块测试装置，其特征在于， 所述驱动模块为一 MP3204芯片，提供所述液晶显示模块的背光恒流驱动。
专利摘要本实用新型公开了一种液晶显示模块测试装置，包括一处理器，获取测试程序及测试数据，并执行测试程序；一存储器，与处理器连接并存储处理器获取的数据；一测试模块，连接于所述处理器与一待测液晶显示模块之间，在所述处理器控制下测试液晶显示模块的触摸屏和电流，并将测试数据传回处理器；一接口模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，控制液晶显示模块的显示；一驱动模块，连接于所述处理器与所述液晶显示模块之间，在所述处理器控制下选择性驱动所述液晶显示模块的背光器件；和一电源模块，为所述液晶显示模块测试装置提供工作电源。
文档编号G01M11/00GK201382850SQ200920136120
公开日2010年1月13日 申请日期2009年3月24日 优先权日2009年3月24日
发明者吴志谋 申请人:Tcl集团股份有限公司