专利名称：测试探针的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于与连接器在探针插入方向配合的测试探针，包括壳体；外接触部分，该外接触部分通过壳体支撑并远离壳体延伸，所述外接触部分通过可弹性变形的外偏压装置支撑并适于与探针插入方向大致成直角地偏斜；以及至少一个接触保证装置，所述接触保证装置导电地连接外接触部分到壳体。
背景技术：
测试探针用于印刷电路板(PCB)的电路功能测试。各种梢类型和材料可以用来几乎适合每种应用。为了电连接PCB到探针，连接器安装在PCB上。因为集成电路部件的尺寸减小并且印刷电路板上的包装密度增大，因此用于安置连接器的剩余空间减小。这样，同轴连接器被最小化。当测试PCB组件时，在测试探针和PCB上的连接器之间的许多连接会需要同时构建。由于待在PCB上被探测的连接器会彼此非常接近，所以还要求探针能够彼此接近地安置以允许在一个步骤中测试PCB组件。US4, 764，722描述了具有罩在外传导片内的柔性内导体的同轴探针。内导体在施加轴向载荷时扣上。这些现有技术的探针的显著缺点在于，它们要求与印刷电路板上的配合连接器精确对齐。探针的可容许的未对准随着探针越来越小型化而变得更小。为了保证探针和PCB上的连接器之间的可靠的接触，目前工艺水平提供具有可移动内和外接触部分的测试探针，其能够垂直于插入方向偏斜并且在插入方向或者逆着插入方向独立运动。目前工艺水平产生的问题在于，特别地，在接触部分的偏斜状态下，接触部分和连接的测试装置也就是测试探针的导电体之间的电接触会被破坏。
发明内容
为了避免损失并增大电接触的可靠性，根据本发明的接触保证装置具有至少一个接触部分，所述接触部分通过被弹性偏斜而导电地压靠壳体。该解决方案使得能够利用较少的部件来使得外和内接触部分偏斜，并且不会降低电接触的可靠性。为了允许外和/或内接触部分在测试探针的插入方向或者逆着测试探针的插入方向运动，接触保证装置可以由壳体接收，从而在插入方向滑动。为了便于外接触部分垂直于探针插入方向偏斜并保证壳体和部分之间的电接触同样处于外接触部分的偏斜位置中，接触保证装置可以适于大致垂直于探针插入方向转动。接触保证装置可以布置在具有大致圆柱形状的壳体的凹陷中。为了允许接触保证装置沿着或者逆着插入方向I运动，接触保证装置可以至少位于类似活塞形状的部分中，用于导引接触保证装置的滑动运动。为了允许接触保证装置相对于壳体弯曲或者旋转，它的活塞形状的部分可以具有稍微小于壳体凹陷的内径的外径。为了增大接触保证装置和外接触部分之间的电接触的可靠性，外偏压装置可以适于在变形时产生回复力，接触保证装置在回复力通量下插入外偏压装置和外接触部分之间。在本发明的进一步的有利的实施例中，测试探针可以包括至少一个导引元件，所述导引元件在轴向方向活动安置在导引凹陷中并布置在力通量中，所述力通量从外偏压装置指向接触保证装置。导引元件可以具有用于接收外偏压装置和用于在平行于插入方向的轴向方向导引外偏压装置的突起或者凹陷。为了增大由接触保证装置施加到壳体上的接触力或者为了增大接触部分的弹性偏斜，导引元件可以适于在当配合力作用在壳体上时伸展或者扣住接触保证装置。替代地， 或者额外地，当测试探针被配合时，支撑部分可以适于伸展或者扣住接触保证装置。导引元件可以具有邻接接触保证装置的面，所述面具有圆锥或者圆形形状，用作支承表面并允许接触保证装置垂直于插入方向I转动。替代地或者额外地，接触保证装置可以具有邻接导引元件的圆锥或者圆形面。接触保证装置可以具有用于接收至少一部分导引元件的凹陷。凹陷可以具有邻接导引元件的接收部分的圆锥或者圆形形状并允许接触保证装置相对于壳体和导弓I元件倾斜或者转动。为了允许外接触部分相对于壳体偏斜，外接触部分可以具有支撑部分，所述支撑部分安置在壳体之内并处于测试探针被外偏压装置挤压到壳体的支撑面上的初始状态，支撑部分和/或支撑面适于产生对齐力以对齐接触部分与插入方向。因为外接触部分的外表面可以在接收外接触部分的开口上或者在壳体的接收凹陷内邻接壳体，外接触部分在垂直于插入方向I的最大偏斜取决于移动到壳体中的外接触部分的长度。为了增大外接触部分的最大偏斜，外接触部分的外部尺度至少处于与支撑部分相邻定位、在插入方向成锥形的一个部分中。这样，外接触部分可以适于提供相对于在插入方向指向的外接触部分的末端的壳体恒定的最大偏斜。内接触部分到对应连接器的对齐可以通过内接触部分得以改善，所述内接触部分适于能够在轴向方向独立于外接触部分运动。内接触部分可以通过可弹性变形的内偏压装置连接到壳体，所述内偏压装置适于施加回复力在内接触部分上，所述回复力指向插入方向。为了从内偏压装置传递回复力到内接触部分，和/或为了在内接触部分和内接口部分之间提供可靠的电接触以用于连接测试探针到测试装置，测试探针可以包括导引件和内导引元件，所述导引件具有内导引凹陷，内导引元件在轴向方向活动连接到内导引凹陷， 内导引元件在插入方向远离导引件延伸并且从内偏压装置传递回复力到内接触部分。在进一步的有利的实施例中，导引元件可具有适于在测试探针配合的状态下接收至少一部分导引件的凹陷。导引元件和导引件可以配合到彼此之中，从而在壳体中提供空间，从而增大外和/或内接触部分到壳体中的最大运动。为了限制外和/或内接触部分到壳体中的运动以及为了避免测试探针的损坏，导引件可以设置有止停部，所述止停部适于在导引元件的预定末端位置与导引元件干涉。根据本发明的测试探针允许测试探针的更加小型化。外接触部分和/或内接触部分延伸出壳体的部分可以具有大约12毫米的长度。在外接触部分延伸出壳体的部分的插入方向最大直径与长度的比率可以为大约6在插入方向指向的外接触部分的末端和/或内接触部分的末端可以适于在大致垂直于探针插入方向的径向方向偏斜直到至少0. 5毫米。特别地，垂直于外接触部分的末端的插入方向的最大偏斜与外接触部分延伸出壳体的部分的最大直径的比率可以为大约 1Λ4-4/24，优选1/8，其中所述末端指向插入方向。插入部分的最大上行程与壳体在插入方向的长度的比率可以是大约2/15-4/15，优选1/5。不管测试探针的小尺度，外接触部分和/或内接触部分可以适于在轴向方向偏斜直到至少2毫米。特别地，外接触部分和/或内接触部分可以适于在轴向方向偏斜直到至少外接触部分延伸出壳体的部分的1/2长度。为了允许外接触部分相对于对应连接器定心，外接触部分在插入方向指向的末端可以大致为圆锥状的。圆锥状的末端可以在插入方向渐缩，从而与对应连接器的漏斗状插入开口相对应。这样，在插入方向作用于测试探针的配合力导致对齐力，从而在对应连接器的配合轴或中心轴的方向推动外连接器的中心轴。或者，外接触部分的末端可以设置有漏斗状的凹陷，从而与对应连接器的圆锥状的突起相对应。为了有利于连接测试探针到测试装置，测试探针可以具有连接器部分，所述连接器部分包括外和内接口部分，外和内接口部分从而形成共轴的插塞。
在此及后将利用有利的实施例并参照附图以示例性的方式更加详细地描述本发明。描述的实施例仅仅是可能的构型，但是，其中如上面描述的各个特征可以彼此独立地提供，或者可以省略。在附图中图1是根据本发明配置的测试探针的示意性侧视图；图2是根据图1的测试探针的横截面视图；图3是根据图1的实施例的部分III的放大横截面视图；图4是根据本发明的接触元件的放大透视图；图5是根据图1的实施例的部分V的放大横截面视图；图6是根据图1的第一示例性实施例的放大顶部视图；图7是根据图1的部分VII的放大侧视图；图8是图2的部分VIII的放大的横截面视图。图9示出根据图1的实施例的测试探针的末端的放大的横截面视图和连接器的横截面视图，其中测试探针安置来配合连接器；图10示出在配合位置根据图8的测试探针和连接器；图11是根据图1的实施例的中间部分的横截面视图；图12是安装在测试装置之内的多个测试探针的透视图。
具体实施例方式首先，根据本发明配置的测试探针的实施例将参照图1进行描述，其示出示例性实施例的示意性侧视图。测试探针1包括长型壳体2。为了连接测试探针1到(未示出的)测试装置，测试探针1设置有连接器部分3，其形成为咬合连接。壳体2的下端具有开口 4，插入部分安置在该开口中。
壳体2在它的外圆柱表面上具有台肩6，台肩6在当测试探针安装在适配器板上时用作止停部。例如，壳体2的较小直径的下部可以插入到适配器板的孔中直到台肩6位于适配器板的相应台肩上的位置。在壳体2的下部的下端，壳体2设置有螺旋螺纹，用于固定壳体2到适配器板。螺旋螺纹7定位为与开口 4相邻以使得由作用在插入部分5上的力， 特别地由指向径向方向R的力产生的力流以直接的方式导引到壳体2上。插入部分5包括外接触部分8，外接触部分8包括近端部分8a和远端部分Sb。在远端部分8b的下端上，插入部分5具有用于接收内接触部分10的开口 9和围绕内接触部分10的支承元件11图2是根据图1的实施例的横截面视图。测试探针1可以连接到安装在印刷电路板上或者任意电装置上的对应连接器(未示出)。对应连接器可以是开关连接器，其在当测试探针1被插入所述插入方向I中时打开或者关闭电路。当测试探针1通电或者来自连接器的测试信号通过内导体抵达测试探针1的连接器部分3时，内导体布置在壳体2的凹陷加中。测试探针1的内导体包括大致圆柱导引件 12、内偏压装置13、内接触主体14、内导引元件15、内接触部分10和连接器部分3的内接口部分四。内偏压装置13形成为螺旋弹簧，内接触主体14形成为球体。导引件12为大致管状的并设置为从连接器部分3延伸到内导引元件15的圆柱凹陷17。内偏压装置13安置在圆柱凹陷17之内并被预加载以施加回复力到内接触主体14上，其传递回复力到内导引元件15上。内导引元件15延伸通过在指向插入方向I的导引件12的末端处的开口直到内接触部分10。内导引元件15邻接内接触部分，从而从内偏压装置在插入方向I传递回复力到内接触部分10。能够在轴向方向A独立运动的内接触部分10从而被推入到插入方向I。测试探针1的电磁屏蔽部或者外导体包括外接口部分18、壳体2、接触保证装置19 和外接触部分8。外接口部分18、外插塞导体18a和电连接外插塞导体18a到壳体2的外套圈18b。外接口部分18设置有台肩18c，台肩18c位于大致管状的壳体2的第一开口 20 上的边缘上。为了允许外插塞导体18a的弹性挠曲，设置有在插入方向I延伸并将外插塞导体分开为可弯曲梁的缝槽。为了支撑外接触部分8，测试探针1包括外偏压装置21，其形成为螺旋弹簧21。 螺旋弹簧自身通过锚定元件22支撑，该锚定元件由绝缘材料，优选塑料，特别地PEEK或者 PTFE制成。逆着插入方向I，锚定元件22邻接外套圈18b。通过安装外套圈18b到壳体2， 例如通过夹持连接，外套圈18b可用作用于锚定元件22的支撑。此外，或者替代地，外套圈 18b可以装备有与壳体2上的突起或者凹陷接合的突起或者凹陷。这样，外套圈18可以通过形式闭合而连接到壳体。形式闭合允许当安装测试探针时传递扭矩。锚定元件22设置有台肩22a，其可以弹性变形以与壳体2的内面建立力锁合。在它的指向插入方向1的末端上，锚定元件22包括突起22b，用于接收外偏压装置21的闭环以支撑和定位外偏压装置21。外偏压装置在插入方向经由导引元件23和接触保证装置19 施加回复力到外接触部分8上。这样，外偏压装置21将外接触部分8推到配合的同轴连接器的外接触部分或者屏蔽部以及锚定元件22上。导引元件23包括用于接收外偏压装置21 的末端，优选在偏压装置21上的闭合环的台阶23a。外接触部分8具有支撑部分8i，其安置在壳体2内。在测试探针2的所示初始状态下，支撑部分8i通过外偏压装置21挤压在壳体2的支撑面2b上。支撑面2b为大致漏斗状的并且在插入方向I渐缩。支撑部分8i对应支撑面2b是大致圆锥形状的。挤压支撑部分8i到漏斗形状的支撑面2b上导致垂直于插入方向指向并对齐外接触部分8的中心轴 Z与外接触部分10的中心轴X的对齐力。导引元件23具有用作导引部分23a的台阶23a，在导引部分23a上，导引元件23 的外径对应壳体2的内径。导引部分23可以沿着或者逆着插入方向I沿着轴向方向A运动，从而导引外偏压装置21以及导引元件23的运动。接触保证装置19具有适于接收导引元件23的保持部分23b的凹陷19a。在凹陷 19a上，接触保证装置19具有缝槽(在此未示出)，其允许接触保证装置19的部分弹性偏斜。接触保证装置19在凹陷19a上的弹性偏斜允许接触保证装置19和壳体2之间的可靠的电接触。内导引元件15使得导引元件23通过圆柱孔23d。内导引元件15的末端15是圆形的并延伸到内接触部分10的楔形形状的凹陷IOa中。或者，末端1 可以具有楔形形状凹陷，并且逆着插入方向指向的内接触部分10的末端可以是圆形的，楔形形状凹陷适于接收内接触部分10的圆末端。内接触部分10由支承元件M和25围绕，支承元件M和25用于内接触部分10和外接触部分8之间的滑动连接。此外，支承元件M、25是由绝缘材料制成以隔离内接触部分10与外接触部分8。衬套状的支承元件M安置在内接触部分的凹槽内，从而不能相对于内接触部分10运动。这样，如果内接触部分10在轴向方向A运动，其外径对应凹陷8c在外接触部分8内的内径的支承元件M在凹陷8c的内表面8d上滑动。支承元件25安置在外接触部分8的远端部分8b的凹陷8c中。远端部分8b形成为像通过形式闭合连接到近端部分的盖子。从而，远端部分8b促进测试探针1的安装。此外，远端部分8b允许测试探针1适于各种测试构型。可以安装具有不同尺度的远端部分 8b，特别地以适应外接触部分的阻力。在插入方向I，支承元件25位于远端部分8b的台肩8d上。逆着插入方向I，支承元件25邻接外接触部分8的近端部分8a。支承元件M和支承元件25都是由绝缘材料制成，从而使得内接触部分10相对于外接触部分8绝缘。内接触部分10的远端IOc由衬套沈围绕，衬套沈可以由非金属材料，特别地陶瓷，例如铝氧化物制成。衬套26可在内接触部分10上滑动，如下面参照图9描述的。或者，衬套26可以通过形式闭合例如通过逆着插入方向挤压衬套沈到远端IOc上而连接到远端10c。此外，或者替代地，衬套沈可以通过粘接接合连接到内接触部分10。当内接触部分10在轴向方向A移动时，衬套沈在支承元件25的圆柱凹陷内滑动。外接触部分8的远端部分8b通过咬合连接部8f连接到近端部分8a。在远端部分 8b和近端部分8a的咬合连接部8f上设置有彼此接合的凹陷和突起。为安装远端部分8b， 它的包括咬合连接部8f的末端定位在近端部分8a的末端上并且逆着插入方向I推动。锚定元件22提供用于导引件12和用于外偏压装置21的支撑。锚定元件22具有适于接收至少一部分导引件12的凹陷22c。围绕导引件12的锚定元件22可以模制在导引件12上以构建形式闭合或者力锁合。或者，导引件12可以挤压到凹陷22c中直到预定安装位置。导引件12包括台肩12b，其分别邻接凹陷22c的内缘和突起22b。形成为延伸部22b的突起22b用作用于外偏压装置21的定心。内偏压装置13施加回复力到内接触主体14上。回复力在插入方向I推动内接触主体14。因为内接触主体14安置在内导引元件1 的末端上的倾斜表面1 上，因此反作用力由于垂直于倾斜表面15b的回复力而出现。该反作用力具有平行于插入方向I的分量和垂直于插入方向I导向的分量。因为内偏压装置13和内接触主体14布置在内导引凹陷 12c中，垂直于插入方向I的反作用力的分量抵靠着中空区域四的内表面推动内接触主体 14。由于嵌在倾斜表面15b上的内接触主体14，内导引元件15和导引件12之间的可靠的电连接得以保证。因为内偏压装置13可能具有过高的电阻值，内接触部分10和内接口部分四之间的电连接通过利用作为导电体的导引件12进行改善。因此，内接触主体14 是由导电材料制成，用于导电地连接内导引元件15到导引件12。内导引元件15包括具有不同的直径的两个部分15c、15d。部分15c形成内导引部分15c，其邻接内接触主体14。导引部分15c具有比部分15d更大的直径，其在插入方向 I延伸通过开口 12a，从导引件12出来，并适于在内导引凹陷12c内在轴向方向A滑动。因此，内导引部分15d在插入方向I导引形成为杆15d的部分15d。为了避免内导引部分15c 在插入方向I从内导引凹陷12c中延伸出来，开口 1 小于内导引部分15c的最小直径。当内导引元件15在插入方向移动直到预定末端位置时，内导引元件的大致指向插入方向I的面接触到导引件12的围绕部分15d并大致逆着插入方向I指向的对应面。图3是图1中的部分III的放大图。为了允许内接触部分10关于内导引元件15 枢转，内导引元件15具有延伸到内接触部分10的楔形形状的凹陷IOa中的圆形末端15a。 由于圆形末端1 的圆形形状，内接触部分可以与轴向方向A相横向地转动，而不会失去与内导引元件15的电接触，因为内导引元件15由来自内偏压装置的回复力在插入方向I推动。内接触部分10由支承元件M围绕，支承元件M形成为衬套且可滑动地布置在凹陷8c中。为了有利于插入支承元件M到外接触部分8的凹陷8c中，支承元件M的圆柱外表面的边缘被倒角。支承元件M可以由非传导材料，特别地塑料形成，其在凹槽IOb处模制在内接触部分10上。或者，支承元件M可以设置有在插入方向从支承元件M的第一末端延伸到第二末端以允许支承元件M和内接触部分10之间的咬合配合连接的缝槽。导引元件23具有延伸到接触保证装置19的凹陷19a中的突起23e。因为凹陷19a 的内径稍微大于突起23e的外径，因此缝槽27保持保证接触保证装置19的可动性。接触保证装置19包括导引部分19b和接触部分19c。在大致圆柱的导引部分19b 上，接触保证装置19的外径小于壳体2的凹陷加的直径，以使得接触保证装置19能够在旋转轴上转动运动，所述旋转轴大致与插入方向I相横向地延伸。在接触部分19c上，接触保证装置19邻接壳体2的内面。接触部分19c可以预加载以产生接触力C，其保证接触保证装置19和壳体2之间的电接触或者连接。因为壳体2是外导体的一部分，其从外接触部分8传导电流到外接口部分18，接触保证装置19增大外接触部分8和外接口部分18之间的电接触的可靠性。电接触在当外接触部分8逆着插入方向移动到壳体2的凹陷加中时得以保证，即使外接触部分8的外表面 Sg在插入方向I渐缩。导引元件23传递由外偏压装置21产生的回复力，通过台肩23f，到接触保证装置19上。从而，接触保证装置19在插入方向I推动到外接触部分8上，从而确保接触保证装置19的前面19d和外接触部分8的前面他之间的电接触，同样地如果外接触部分8逆着插入方向I移动到壳体2中的话。为了增大由接触保证装置19施加到壳体2上的接触力C或者增大接触部分19c 的弹性偏斜，导引元件23可以适于在当配合力M作用在壳体2上时伸展或者扣住接触保证装置19。替代地，或者额外地，支撑部分8i可以适于在当测试探针配合时伸展或者扣住接触保证装置19。为了增大由外偏压装置21的回复力产生的接触力C，导引元件23的台肩23f可以为圆锥形状的，在插入方向I渐缩，以使得回复力分为轴向分量和径向分量，径向分量在径向方向R作用于接触部分19c上，从而加宽接触部分19c以将其压靠壳体2的凹陷加的内表面。替代地，或者额外地，邻接导引元件23的接触保证装置19的接触部分19c的末端可以是漏斗形状的，在插入方向I渐缩。壳体2设置有定位于在插入方向I指向的壳体末端上的螺旋螺纹7。通过该螺旋螺纹7，壳体可以安装在测试装置或者适配器板上，其在操作中为了配合测试探针1与连接器而向着连接器移动。图4是接触保证装置19的放大透视图。接触保证装置19设置有圆柱的导引部分 19b和接触部分19c。接触部分19c包括可弹性偏斜的支撑元件19e。每个支撑元件19e具有用于促进支撑元件19e的弹性变形的细长部分19f，以及适于产生到测试探针的壳体的可靠的电接触的加厚部分19g。为了促进支撑元件19e的弹性形变，支撑元件19e通过缝槽 19h隔离，从而使得接触部分19e能够伸展或者加宽。或者，接触部分19e可以通过弹性偏压接触部分19c到中心轴X的方向而被压缩。对于在测试探针的壳体内的支撑元件19e的预应力构型，接触保证装置19在接触部分19c区域中特别地在支撑元件19e上的外径可以小于凹陷加的内径，如图3所示。图5是连接器部分3的横截面视图并对应图1的部分V。连接器部分3包括外接口 10部分18和内接口部分四。外接口部分18具有外插塞导体18a，用于连接测试探针到同轴插塞连接器的外导体。外接口部分18通过外套圈18b电连接到壳体2。外套圈18b具有偏移部18c或者台肩18c，其邻接壳体2的第一开口 20的台肩20a或者边缘20a。连接器部分3还包括内接口部分29，内接口部分四具有内插塞导体29a和内插塞连接器^b。外插塞连接器18a以及内插塞导体29a设置有在插入方向I延伸的缝槽，允许外插塞导体18a或者内插塞导体^a的弹性加宽。图6是测试探针1的侧视图，其示出了连接器部分3。外套圈18b具有大致六边形的形状，适于与六边形扳手配合，用于安装测试探针，特别地用于螺旋连接在螺旋螺纹7 中。图7是图1中的部分VII的侧视图。壳体2在它的指向插入方向I的末端设置有螺旋螺纹7和台肩7a。台肩7a用于在当测试安装在测试装置上时相对于对应螺纹定心壳体。图8是根据图2的测试探针的中间部分的横截面视图。导引件设置有止停部12d 和12e，其形成为台肩12b和12e。当测试探针在插入方向I配合和移动时，外接触部分8 和/或内接触部分10相对于壳体2逆着插入方向I移动以使得导引元件23逆着插入方向I向上移动直到导引件12。为了避免损坏导引件12以及为了延长外接触部分8逆着插入方向I的最大偏斜，导引元件23设置有凹陷23d和23g，用于接收导引件12的台阶状部分 12g和12f。在外接触部分8的末端位置上，在其上达到逆着插入方向I的最大偏斜，止停部1 在凹陷23g的底部位于台肩2 上。此外，或者替代地，导引件12的台肩12d可适于当外接触部分8的最大轴向偏斜已经实现时位于保持部分2 上。图9是设置在连接器上用于配合测试探针1的测试探针1的末端的示意性视图。 支承元件25或者绝缘体25具有用于接收衬套沈的开口 25b。衬套沈可以在插入方向I 滑动安置在内接触部分10上。为了传递至少一部分配合力M到衬套沈上，内接触部分可以设置有台肩10e，所述台肩IOe邻接衬套沈的台肩^a。为了限制衬套沈的滑动运动或者为了防止衬套沈移动出插入部分5，衬套可以包括在插入方向I指向的台阶^b。台阶 2 可以适于邻接支承元件的台肩25a，台肩2 用作止停部25a。测试探针1和连接器30都在示意性横截面视图中示出。测试探针1的中心轴X 并不与连接器30的配合轴Y对齐。内接触部分10具有圆形梢10d，其位于插入开口 30b的倒角边缘30a上。插入开口 30b包括漏斗形状的部分30f，其在插入方向I渐缩。漏斗形状的部分30f对应衬套沈的锥形部分^c，以对齐插入部分5的中心轴X与连接器30的配合轴Y。通过测试装置产生的配合力在插入方向I作用于测试探针1上并挤压在倒角边缘 30a上的圆形梢10d，以使得梢IOd在配合轴Y的方向滑动。测试探针1向上偏斜到中心轴 X对齐配合轴Y的位置。配合轴Y和中心轴X之间的距离D可具有0. 5毫米的最大值。图10是在配合状态下测试探针1和连接器30的示意性横截面视图。圆形梢IOd 电连接到接触弹簧30e的开关腿30d。外接触部分8b的远端部分8b位于接地触头30c上从而电连接到接地触头30c。由于中心轴X关于配合轴Y的未对齐，如图9所示，外接触部分8关于(在此未示出的)壳体偏斜。由于外接触部分8或者插入部分5的偏斜，外接触部分8和接地触头30c之间的间隙g产生，其对应插入部分5的倾斜。因为衬套沈适于在内接触部分10上滑动，它的位置可自动适应连接器30的位置。如果插入部分由于中心轴X关于配合轴Y的未对齐而偏斜，在插入部分5的中心轴X’ 和配合轴Y之间会存在一角度。那么，当配合测试探针1到连接器30时，锥形部分^c在内接触部分10已经到达它的如图10所示的配合位置之前邻接漏斗形状的部分30f。由于衬套26的可动性或者可滑动性，内接触部分10在当衬套沈邻接连接器30时并不停止，并且能够移动直到它的配合位置。图11是根据本发明的测试探针1的中央部分的横截面视图。外接触部分8和内接触部分10在径向方向最大偏斜。在最大偏斜处，外接触部分5邻接壳体2的凹陷加的内表面。因为外接触部分5的外形至少部分地在插入方向I渐缩。因为外接触部分的外直径在插入方向I渐缩，因此插入部分在径向方向R的最大偏斜可独立于插入部分5沿着或者逆着插入方向I的运动。图12是根据本发明的包括多个测试探针的测试组件的示意性透视图。多个测试探针1安装在适配器板32上。因为测试探针示出在配合状态中，插入部分5定位在印刷电路板33上，每个插入部分5位于连接器30中。由于测试探针1的小的尺度，大量的测试探针1可以安置在适配器板32中，从而利用较小的空间来用于测试小型化的电路。
权利要求
1.一种用于在探针插入方向(I)与连接器(30)配合的测试探针(1)，包括壳体O)，外接触部分(8)，所述外接触部分(8)通过所述壳体( 支撑并远离所述壳体(2)延伸，所述外接触部分(8)通过可弹性变形的外偏压装置支撑并适于大致垂直于所述探针插入方向(I)地偏斜，至少一个接触保证装置(19)，所述接触保证装置(19)导电连接所述外接触部分(8)到所述壳体⑵，其特征在于，所述接触保证装置(19)具有至少一个接触部分(19c)，所述接触部分 (19c)通过被弹性偏斜而导电地压靠所述壳体O)。
2.如权利要求1所述的测试探针(1)，其特征在于，所述接触保证装置(19)由所述壳体( 在所述插入方向(I)滑动地接收。
3.如权利要求1或者2所述的测试探针(1)，其特征在于，所述接触保证装置(19)适于大致垂直于所述探针插入方向(I)转动。
4.如权利要求1-3之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述外偏压装置适于在变形时产生回复力，所述接触保证装置(19)在回复力通量下在所述外偏压装置和所述外接触部分(8)之间插入。
5.如权利要求2-4之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述测试探针(2)包括至少一个导引元件(23)，所述导引元件在轴向方向(A)可移动地安置在所述壳体O)的凹陷Qa)中并布置在力通量中，该力通量从所述外偏压装置指向所述接触保证装置 (19)。
6.如权利要求1-5之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述外接触部分(8)具有支撑部分(8i)，所述支撑部分(8i)安置在所述壳体(2)内并且在所述测试探针(2)的初始状态下由所述外偏压装置挤压到所述壳体⑵的支撑面Ob)上，所述支撑部分(8i)和 /或所述支撑面Ob)适于产生对齐力以对齐所述接触部分(8)与所述插入方向(I)。
7.如权利要求1-6之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述外接触部分(8)的外部尺度至少在与在插入方向(I)渐缩的支撑部分(8i)相邻的一个部分中。
8.如权利要求1-7之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述内接触部分(10)通过可弹性变形的内偏压装置(1 连接到所述壳体，所述内偏压装置(1 适于施加回复力在所述内接触部分(10)上，所述回复力指向所述插入方向(I)。
9.如权利要求8所述的测试探针(1)，其特征在于，所述测试探针(1)包括导引件(12) 和内导引元件(15)，所述导引件具有导引凹陷(12c)，所述内导引元件(15)在轴向方向(A) 可移动地连接到所述内导引凹陷(12c)，所述内导引元件(15)在插入方向(I)远离所述导引件(1 延伸避过将回复力从所述内偏压装置(1 传递到所述内接触部分(10)。
10.如权利要求9所述的测试探针(1)，其特征在于，所述导引元件03)具有适于在测试探针(1)的配合状态下接收至少一部分所述导引件(1 的凹陷03d，23g)。
11.如权利要求9或者10所述的测试探针(1)，其特征在于，所述导引件(12)设置有止停部(12(1,1 )，所述止停部(12d，12e)适于在所述导引元件的预定的末端位置与所述导引元件干涉。
12.如权利要求1-11之一所述的测试探针(1)，其特征在于，指向所述插入方向(I)的所述外接触部分(8)的末端的垂直于所述插入方向(I)的最大偏斜与所述外接触部分(8) 的延伸出所述壳体O)的部分的最大直径的比率为大约1/M-4/24，优选1/8。
13.如权利要求1-12之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述插入部分(5)的最大上行程与所述壳体( 在插入方向(I)的长度的比率为大约2/15-4/15，优选1/5。
14.如权利要求1-13之一所述的测试探针(1)，其特征在于，所述外接触部分(8)和/ 或所述内接触部分(10)适于在轴向方向(A)偏斜直到所述外接触部分(8)的延伸出所述壳体O)的部分的长度的至少1/2。
15.如权利要求1-14之一所述的测试探针(1)，其特征在于，在插入方向(I)指向的所述外接触部分(8)的末端为大致圆锥状的。
全文摘要
本发明涉及一种用于在探针插入方向(I)与连接器(30)配合的测试探针(1)，包括壳体(2)，外接触部分(8)，外接触部分(8)通过壳体(2)支撑并远离壳体(2)延伸，外接触部分(8)通过可弹性变形的外偏压装置(21)支撑并适于大致垂直于探针插入方向(I)地偏斜，以及至少一个接触保证装置(19)，接触保证装置(19)导电连接外接触部分(8)到壳体(2)。为了减少部件数量，接触保证装置(19)具有至少一个接触部分(19c)，接触部分(19c)通过被弹性偏斜而导电地压靠壳体(2)。
文档编号G01R1/067GK102197310SQ200980142348
公开日2011年9月21日 申请日期2009年10月22日 优先权日2008年10月24日
发明者吉赛普·兰弗兰科尼, 西格弗里多·休奇, 迪特尔·伯泽, 马蒂亚·谢吉亚 申请人:泰科电子服务有限责任公司