专利名称：发光二极管的检测方法与系统的制作方法
技术领域：
本发明是有关一种光学检测技术，尤其是指可以避免发光二极管漏光而影响到检 测结果的一种发光二极管的检测方法与系统。
背景技术：
发光二极管(Light Emitting Diode,LED)是由半导体材料所制成的发光元件。由 于工艺的进步，使得发光二极管的应用日益广泛，不论小至手电筒，大至户外的大型看板， 甚至取代成为下一代的照明系统。而发光二极管所产生的光线的品质，直接会影响到产品 的呈现品质，由此可见发光二极管品管的重要性。因此，发光二极管的光度量测技术是制造 发光二极管的过程中重要的一环。通常发光二极管产品于制作完成后会进行其电性特性的测试以及光学特性的检 测。其中在电性检测的部分通常会需要将电极与发光二极管的电性端点相耦接，以测试 其通电状态；而在光学特性的检测，则包括有光强度(Luminoushtensity，Iv)，峰值波长 (Peak Length, λ ρ)分布，色温(Color Temperature)分布等检测。检测完毕之后，再对发 光二极管进行等级分类。请参阅图1所示，该图为中国台湾省公告专利第1258590所公开的量产式发光二 极管测试装置示意图。所述装置包含控制模块10、至少一积分球测试模块11、至少一测试 板12、以及连接至所述控制模块10的马达单元13。所述积分球测试模块11是连接至所 述控制模块10，且每一积分球测试模块11是具有电性输出14、光输出15、以及光输入口 16 ；所述测试板12对应于所述积分球测试模块11设置，且每一测试板12是在其上置放有 多个发光二极管17、每一测试板12并布局有多个对应于所述发光二极管17的电性接点 (未图示)，以供应所述发光二极管17所需电流的输出与输入；其中，所述积分球测试模块 11的所述光输入口 16是开设有一预定面积，可一次涵盖预定数量(多个)的所述发光二 极管40于其下，无须经过移动所述积分球测试模块11即可达成预定数量的所述发光二极 管17的光学特性测试，所述积分球测试模块11是包括有对应于预定数量的所述发光二极 管17的多个探针(未图示)，并且可同时以一对一接触式探测预定数量的所述发光二极管 17的电性特性，如顺向电压(!forward Bias Voltage，VF)，逆向崩溃电压(VZ)，逆向漏电流 (ReverseCurrent, IR),加热前后的 VF 差值(Data Forward Voltage, DVF)，VF 的暂态峰值 (VFD)等等；由此，可缩短逐一测试每一发光二极管17电性特性所需的时间。图1的技术虽可以检测发光二极管的电性与发光特性，然而仍然具有一些有待克 服的问题。第一个问题是在图1知技术中，由于发光二极管的发光部虽然对着积分球，然 而发光二极管并非容置于所述积分球内，因此造成发光二极管所产生的光并没有办法完全 的投射至积分球内部，而被积分球感测。尤其对于大视角的发光二极管而言，图1知技术所 检测到的光学特性并无法准确的表示发光二极管的真正光学特性，因而有检测光特性效率 不佳的问题。第二个问题是在图1的技术中，由于发光部朝上，因此会有电性检测困难的问 题。这是因为发光二极管发光部朝上，则发光二极管的电性接点则在发光部的另一侧，亦即在发光二极管的底面。因此，为了检测发光二极管的电性，则必须要利用特殊的电性连接方 式来检测，增加了机构与检测的困难度。综合上述，因此亟需一种发光二极管的检测方法与系统来解决现有技术所产生的 问题。
发明内容
本发明提供一种发光二极管检测方法与系统，其是使发光二极管的发光部容置于 检测体内，使得发光二极管所产生的光可以完全被检测体所检测，而不会有光泄漏的问题， 而且检测体也不会受到外部环境所产生的光场的干扰而影响检测结果。因此，本发明的方 法与系统可以提升发光二极管光特性的检测效率。本发明提供一种发光二极管检测方法与系统，其是使发光二极管的发光部容置于 检测体内时，发光二极管的电性检测面朝上，使得电性检测元件可以轻易地与发光二极管 的电性检测面上的电性端子电性连接，进而可以检测发光二极管的电性。在一实施例中，本发明提供一种发光二极管检测方法，其是包括有下列步骤提供 一检测体，其内具有一检测空间，在所述检测体的一侧具有一开口与所述检测空间相连接； 以一拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光二极管置于所述开口上，使所述发光二极管 的发光部容置于所述检测空间内；使所述发光二极管于所述检测空间内产生一光场；以及 以所述检测体检测所述光场。在另一实施例中，本发明提供一种发光二极管检测系统，其是包括有一检测体， 其内具有一检测空间，在所述检测体的一侧具有一开口与所述检测空间相连接；以及一拾 取机构，其是设置于所述检测体的一侧，所述拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光二极 管置入于所述开口上。在另一实施例中，所述开口是开设于所述检测体的顶部，使得所述发光二极管容 置于所述开口上时，所述发光二极管的发光部朝下而容置于所述检测空间内，而发光二极 管的底面朝上，使得一电性提供部可与所述发光二极管的底面上的对电性端点电性连接， 进而检测所述发光二极管的电性。
图1为中国台湾省公告专利第1258590所公开的量产式发光二极管测试装置示意 图；图2为本发明的发光二极管检测方法示意图；图3为本发明的发光二极管的检测系统第一实施例示意图；图4A至图4D为本发明图3的实施例动作示意图；图5为本发明的发光二极管的检测系统第二实施例示意图。附图标记说明10-控制模块；11-积分球测试模块；12-测试板；13-马达单元； 14-电性输出；15-光输出；16-光输入口 ；17-发光二极管；2-发光二极管的检测方法； 20 24-步骤；3-检测系统；30-检测体；300-检测空间；301-开口 ；302-承载座；31-拾取 机构；310-第一拾取臂；3100-吸嘴；311-第二拾取臂；3110-吸嘴；32-电能提供部；33-拾 取机构；330-第一拾取臂；3300-吸嘴；331-第二拾取臂；3310-吸嘴；90-承载盘；91-发光二极管；910-发光部；911-电性端点；912-底面；92-旋转运动；93、94_ 二维线性位移运动。
具体实施例方式为使贵审查委员能对本发明的特征、目的及功能有更进一步的认知与了解，下文 特将本发明的装置的相关细部结构以及设计的理念原由进行说明，以使得审查委员可以了 解本发明的特点，详细说明陈述如下请参阅图2所示，所述图为本发明的发光二极管检测方法示意图。所述检测方法2 首先以步骤20提供一检测体，其内具有一检测空间，在所述检测体的一侧具有一开口与所 述检测空间相连接。所述检测体，在本实施例中，其为一积分球体(integrating sphere) 0 所述积分球体可以收集投射入积分球的光，并在积分球壳内部形成扩散效果，达到均勻光 的效应。再经过在积分球球壳上的光侦测器以侦测光的特性。积分球体的特征是属于现有 的技术，在此不做赘述。随后，进行步骤21，以一拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光 二极管置于所述开口上，使所述发光二极管的发光部容置于所述检测空间内。所述发光二 极管可以为利用有机发光材料所形成的有机发光二极管(organiclight emitting diode, 0LED)或者是一般的半导体所构成的发光材料的发光二极管(light emitting diode, LED)。所述拾取机构，则可以通过线性位移运动与转动运动将所述发光二极管的发光部 置入于所述开口内，使得所述发光二极管的发光部可以完全容置于所述检测体的检测空间 内。步骤21之后，接着进行步骤22，使所述发光二极管于所述检测空间内产生一光场。在 本步骤中，是对发光二极管进行通电，使得所述发光二极管产生光场。最后，再进行步骤23， 以所述检测体检测所述光场。由于所述发光二极管的发光部完全容置于所述检测空间内， 因此发光二极管所产生的光场可以完全在检测体内扩散，因此检测体可以百分的百的感测 到光场，进而可以完整地分析所述光场的特性。检测完毕的发光二极管，再以步骤对，通过 拾取机构将所述发光二极管取出，再根据结果将所述发光二极管放置对应所述检测结果的 收集区内。通过前述的流程，由于发光二极管的发光部完全容置于检测体内，因此不会有光 线泄漏的问题。再加上，由于发光二极管放置于所述开口上，因此检测体也不会受到外部环 境所产生的光场的干扰。综合前述的两个特点，检测体可以完整地检测发光二极管所产生 的光场，进而准确地得到关于所述发光二极管的光学特性，而根据检测结果与以分类。请参阅图3所示，所述图为本发明的发光二极管的检测系统第一实施例示意图。 为了实现图2的检测流程，图3的检测系统3包括有一检测体30以及一拾取机构31。所述 检测体30，在本实施例中为一积分球体。所述检测体30内具有一检测空间300，在所述检 测体30的一侧具有一开口 301与所述检测空间300相连接。在所述开口 301的周围更具 有一承载座302以提供承载所述发光二极管91。所述拾取机构31，其设置于所述检测体30 的一侧，所述拾取机构31拾取置放于承载盘90内的发光二极管91，将所述发光二极管91 置入于所述开口 301上。在本实施例中，所述拾取机构31更包括有一第一拾取臂310以及 一第二拾取臂311。所述第一拾取臂310，其是由承载盘90上拾取发光二极管91。所述第 二拾取臂311，其是置于所述第一拾取臂310的一侧，所述第二拾取臂311是由所述第一拾 取臂310所拾取的所述发光二极管91的底面912拾取所述发光二极管91，并通过一旋转
5运动92将所述发光二极管91置入于所述开口 301上，使所述发光二极管91的底面912朝上。请参阅图4A至图4D所示，所述图为本发明图3的实施例动作示意图。首先，如图 4A所示，利用所述第一拾取臂310通过二维线性位移运动93与94移动至承载多个发光二 极管91的发光二极管承载盘90上。提供二维线性位移运动的机制可以利用线性滑轨或者 是线性马达等元件来实施，其是属于现有技术的元件，在此不作赘述。然后通过所述第一拾 取臂310上的真空吸嘴3100吸取放置于所述承载盘90内的发光二极管91。接着如图4B 所示，所述第一拾取臂310移动至所述对应所述第二拾取臂311的真空吸嘴3110的位置 上，使所述第二拾取臂311的真空吸嘴3110吸取所述发光二极管91的底面912。接着如图 4C所示，所述第二拾取臂311再通过旋转运动92，旋转180度，使得所述发光二极管91与 所述开口 301相对应，进而释放所述发光二极管91使得所述发光二极管91抵靠于承载座 302上，而使得发光二极管91的发光部910容置于所述检测体30的检测空间300内。旋 转运动92则可以利用马达提供转动力，带动第二拾取臂311转动。接着如图4D所示，由于 所述发光二极管91的发光部910朝下，因此所述发光二极管91的底面912朝上而露出一 对电性端点911。因此可以通过一电能提供部32与所述发光二极管91的底面912上的所 述对电性端点911电性连接，使得所述发光二极管91的发光部910因为电的激发而产生光 场。要说明的是，通过本发明的容置方式，使得电性端点911朝上，使得电能提供部32可以 直接与电性端点接触。使得本发明的电性检测方式亦可以针对薄型发光二极管(不具有侧 面电性接点)进行检测，以增加可检测发光二极管的种类。在所述发光二极管91产生光场之后，检测体30即可侦测所述发光二极管91的光 场，进而根据所述发光二极管91的检测结果对所述发光二极管91进行分类。检测完毕之 后，再利用第二拾取臂311取出所述发光二极管91，然后再进行180度的转动。接着再利用 所述第一拾取臂310吸取在所述第二拾取臂311上的发光二极管91，进而将所述发光二极 管91置入于对应分类的承载盘内。请参阅图5所示，所述图为本发明的发光二极管的检测系统第二实施例示意图。 本实施例的结构基本上与图3类似，差异的是本实施例的拾取机构33与图3支拾取机构31 不同。本实施例的拾取机构33为一第一拾取臂330以及一第二拾取臂331所构成。其中 所述第一拾取臂330是可拾取承载盘90上的发光二极管91，所述第一拾取臂330是通过一 旋转运动92将所述发光二极管翻转。此外，所述第一拾取臂330更可以具有二维线性位移 运动93与94来改变真空吸嘴3300的位置。所述第二拾取臂331则可以用线性位移运动 93与94来调整拾取臂331的位置，使得真空吸嘴3310可以吸取发光二极管的底面912，再 通过线性位移运动93与94将所述发光二极管移动至所述检测体30的开口 301上。以上说明对本发明而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解， 在不脱离以下所附权利要求所限定的精神和范围的情况下，可做出许多修改，变化，或等 效，但都将落入本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种发光二极管检测方法，其特征在于，其是包括有下列步骤提供一检测体，其内具有一检测空间，在所述检测体的一侧具有一开口与所述检测空 间相连接；以一拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光二极管置于所述开口上，使所述发光二 极管的发光部容置于所述检测空间内；使所述发光二极管于所述检测空间内产生一光场；以及 以所述检测体检测所述光场。
2.根据权利要求1所述的发光二极管检测方法，其特征在于，所述检测体为一积分球体。
3.根据权利要求1所述的发光二极管检测方法，其特征在于，所述开口上更具有一承 载座以提供承载所述发光二极管。
4.根据权利要求1所述的发光二极管检测方法，其特征在于，所述开口是开设于所述 检测体的顶部，使得所述发光二极管容置于所述开口上时，所述发光二极管的发光部朝下 而容置于所述检测空间内。
5.一种发光二极管检测系统，其特征在于，其包括有一检测体，其内具有一检测空间，在所述检测体的一侧具有一开口与所述检测空间相 连接；以及一拾取机构，其设置于所述检测体的一侧，所述拾取机构拾取一发光二极管，将所述发 光二极管置入于所述开口上。
6.根据权利要求5所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述拾取机构更包括有 一第一拾取臂，其是由一发光二极管承载盘上拾取所述发光二极管；以及一第二拾取臂，其是设置于所述第一拾取臂的一侧，所述第二拾取臂是由所述第一拾 取臂所拾取的所述发光二极管的底面拾取所述发光二极管，并通过一旋转运动将所述发光 二极管置入于所述开口上。
7.根据权利要求5所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述开口上更具有一承 载座以提供承载所述发光二极管，所述开口开设于所述检测体的顶部，使得所述发光二极 管容置于所述开口上时，所述发光二极管的发光部朝下而容置于所述检测空间内，且所述 发光二极管的底面朝上，所述底面上具有一对电性端点。
8.根据权利要求7所述的发光二极管检测系统，其特征在于，其更包括有一电能提供 部，所述电性提供部是与所述发光二极管的底面上的所述对电性端点电性连接。
9.根据权利要求5所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述检测体为一积分球体。
10.根据权利要求5所述的发光二极管检测系统，其特征在于，所述拾取机构更包括有一第一拾取臂，其是由一发光二极管承载盘上拾取所述发光二极管，所述第一拾取臂 是通过一旋转运动将所述发光二极管翻转；以及一第二拾取臂，其是设置于所述第一拾取臂的一侧，所述第二拾取臂是由所述第一拾 取臂所拾取的所述发光二极管的底面拾取所述发光二极管，并通过至少一维度的线性位移 运动将所述发光二极管置入于所述开口上。
全文摘要
本发明提供一种发光二极管检测方法与系统，其是以一拾取机构拾取一发光二极管，将所述发光二极管置入于一检测体的一开口上。所述发光二极管在所述检测体内的空间产生一光场，使得所述检测体检测所述光场。通过本发明的检测方法与系统，可以有效的检测发光二极管所产生的光场，避免发光二极管的光泄漏而影响到检测结果。
文档编号G01M11/02GK102147327SQ201010111719
公开日2011年8月10日 申请日期2010年2月9日 优先权日2010年2月9日
发明者杨友财, 杨育峰 申请人:均豪精密工业股份有限公司