专利名称：Led测试机的制作方法
技术领域：
本实用新型属于LED领域，涉及一种LED测试装置，尤其是一种高速测试LED芯片 光电特性量并进行影像定位储存及资料管理的机电光一体化设备。
背景技术：
目前国内内地没有成熟的国产化LED测试机；要么使用进口设备，要么使用台湾 设备。鉴于进口设备价格昂贵，售后服务有限，因此研发此款LED测试机；而无论是国内还 是国外的LED测试机都存在很多缺点，通常没有集电、机、光、图像为一体，不能综合运用图 像处理技术、运动控制技术、计算机技术、精密机械等多项技术，没有一套全新的LED点测 方法与工艺，不能进行全自动、快速的LED芯片检测，生产效率较低。
实用新型内容本实用新型提供了一种高速测试LED芯片光电特性量并进行影像定位储存及资 料管理的机电光一体化设备。本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种LED测试机，包括XY 移动安装板1、XY移动组件2、ZT模组3、芯片安装台组件4、显示器组件5、上工作台8、双管 显微镜9、图像识别系统10、测针系统11和设备安装台13;所述设备安装台13上方设置有 XY移动安装板1 ；所述XY移动安装板1上方设置有上工作台8 ；所述上工作台8上方设置 有双管显微镜9、图像识别系统10和测针系统11 ；所述上工作台8与设备安装台13之间设 置有XY移动组件2、ZT模组3和芯片安装台组件4。所述上工作台8侧面设置有报警灯7。所述LED测试机设置有显示器组件5。所述LED测试机设置有鼠标托架6和键盘组件12。所述LED测试机设置有设置有报警灯7防尘罩14。所述芯片安装台组件4能够适应直径90mm的蓝膜。本实用新型的LED测试机是 国内最先将图像灰度分析技术用于LED测试设备，优于国内传统的手工点测设备。它集电、 机、光、图像为一体，综合运用图像处理技术、运动控制技术、计算机技术、精密机械等多项 技术，所形成一套全新的LED点测方法与工艺，可进行全自动、快速的LED芯片检测，极大的 提高生产效率，以适应我国LED产业大规模发展的的需要，设备具有国内领先水平。
图1为本实用新型的LED测试机结构示意图；图2为本实用新型LED测试机侧视 图。其中1为XY移动安装板；2为XY移动组件；3为ZT模组；4为芯片安装台组件； 5为显示器组件；6为鼠标托架；7为报警灯；8为上工作台；9为双管显微镜；10为图像识别 系统；11为测针系统；12为键盘组件；13为设备安装台；14为防尘罩。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步详细描述参见图1、2，一种LED测试机，包 括XY移动安装板1、XY移动组件2、ZT模组3、芯片安装台组件4、显示器组件5、上工作台 8、双管显微镜9、图像识别系统10、测针系统11和设备安装台13;所述设备安装台13上方 设置有XY移动安装板1 ；所述XY移动安装板1上方设置有上工作台8 ；所述上工作台8上 方设置有双管显微镜9、图像识别系统10和测针系统11 ；所述上工作台8与设备安装台13 之间设置有XY移动组件2、ZT模组3和芯片安装台组件4。所述上工作台8侧面设置有报警灯7。所述LED测试机设置有显示器组件5。所述LED测试机设置有鼠标托架6和键盘组件12。所述LED测试机设置有设置有报警灯7防尘罩14。所述芯片安装台组件4能够适应直径90mm的蓝膜。LED测试机主要由以下系统组成芯片安装机构、芯片位移机构、测针机构、对针 机构、图形采集CCD以及软件处理系统1)芯片安装机构芯片安装机构由真空系统、芯片安 装盘等组成。芯片安装盘能够适应直径90mm的蓝膜。2)芯片位移机构芯片位移机构由高精度的二维伺服平台以及高精度的升降旋转 模组等组成。3)测针机构测针机构由测针位移调节机构压力调节机构信号回路等组成。4)对针机构对针机构由调节机构显微镜等组成。5)图形采集CCD以及软件处理系统图形采集CCD主要由CCD高速相机、高倍率镜 头、图形采集卡以及高效图形处理软件组成。图片处理速度最高可达到10毫秒以内。软件 处理系统充分考虑用户的实际情况，软件操作界面简洁，并通过权限来控制不同身份的操 作人员的操作。同时软件系统提供了必要的设备调试工具，用户可以通过这些工具更快的 发现和解决设备的一些问题。本实用新型的设备是国内最先将图像灰度分析技术用于LED测试设备，优于国内 传统的手工点测设备。它集电、机、光、图像为一体，综合运用图像处理技术、运动控制技术、 计算机技术、精密机械等多项技术，所形成一套全新的LED点测方法与工艺，可进行全自 动、快速的LED芯片检测，极大的提高生产效率，以适应我国LED产业大规模发展的的需要， 设备具有国内领先水平。以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定 本发明的具体实施方式
仅限于此，对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱 离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单的推演或替换，都应当视为属于本发明由所 提交的权利要求书确定专利保护范围。
权利要求LED测试机，其特征在于包括XY移动安装板(1)、XY移动组件(2)、ZT模组(3)、芯片安装台组件(4)、显示器组件(5)、上工作台(8)、双管显微镜(9)、图像识别系统(10)、测针系统(11)和设备安装台(13)；所述设备安装台(13)上方设置有XY移动安装板(1)；所述XY移动安装板(1)上方设置有上工作台(8)；所述上工作台(8)上方设置有双管显微镜(9)、图像识别系统(10)和测针系统(11)；所述上工作台(8)与设备安装台(13)之间设置有XY移动组件(2)、ZT模组(3)和芯片安装台组件(4)。
2.如权利要求1所述LED测试机，其特征在于所述上工作台(8)侧面设置有报警灯⑵。
3.如权利要求1所述LED测试机，其特征在于所述LED测试机设置有显示器组件(5)。
4.如权利要求1所述LED测试机，其特征在于所述LED测试机设置有鼠标托架(6)和 键盘组件(12)。
5.如权利要求1所述LED测试机，其特征在于所述LED测试机设置有报警灯(7)防 尘罩(14)。
6.如权利要求1所述LED测试机，其特征在于所述芯片安装台组件(4)能够适应直 径90mm的蓝膜。
专利摘要本实用新型公开了一种LED测试机，包括XY移动安装板(1)、XY移动组件(2)、ZT模组(3)、芯片安装台组件(4)、显示器组件(5)、上工作台(8)、双管显微镜(9)、图像识别系统(10)、测针系统(11)和设备安装台(13)；本实用新型的LED测试机是国内最先将图像灰度分析技术用于LED测试设备，优于国内传统的手工点测设备。它集电、机、光、图像为一体，综合运用图像处理技术、运动控制技术、计算机技术、精密机械等多项技术，所形成一套全新的LED点测方法与工艺，可进行全自动、快速的LED芯片检测，极大的提高生产效率，以适应我国LED产业大规模发展的需要，设备具有国内领先水平。
文档编号G01R31/26GK201751854SQ20102023964
公开日2011年2月23日 申请日期2010年6月28日 优先权日2010年6月28日
发明者马白云 申请人:西安博纳自动化工程有限公司