专利名称：一种激光测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量技术领域，特指一种激光测量仪。
技术背景随着微机电技术的发展，对精密定位测量提出了越来越高的要求，因而传统的游 标卡尺或螺旋测量仪很难满足测量要求。随后出现光电测量仪，其利用影像攫取器(如 CCD)将被测物之影像转换为电子信号，再电子信号送到电脑，由电脑的图像处理芯片将影 像放大显示在显示器上，再利用电脑三维坐标对应捕捉测量，这种方式可降低测量误差，提 升测量精度。传统的光电测量仪器，主要是测量平面尺寸，对于高度值的测量，则会有各种 不同类型的测量方式，但测量稳定不高，误差较大，给实际生产工作带来诸多不便，所以实 在有改进之必要。本申请人有鉴于上述习知测量仪之缺失与不便之处，秉持着研究创新、精益求精 之精神，利用其专业眼光和专业知识，研究出一种应用范围广，符合产业利用价值且可有效 提升测量功效的激光测量仪
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种结构简单、测量方便的激光测量仪。为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案一种激光测量仪，包括有一激光发生器、第一测量镜头及第二测量镜头，激光发生 器发出的光束与第一测量镜头的基准聚焦点重合并一起垂直射到测量平面上；第二测量 镜头为相对斜向设置，第二测量镜头的基准聚焦点交叉汇合于第一测量镜头的基准聚焦点 上。所述激光发生器发出的光束通过一反射器反射后与第一测量镜头的基准聚焦点 重合并一起垂直射到测量平面上。本实用新型利用第一测量镜头对激光发生器在测量平面上形成光斑进行定位测 量，而第二测量镜头斜向测量，并利用第二测量镜头聚焦点在测量平面上的水平偏移量来 获得光斑在测量平面上的垂直偏移数值，该结构简单，测量方便、准确，误差小。
附图1为本实用新型的结构原理示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型进一步说明参阅图1所示，本实用新型提供的激光测量仪，包括有一激光发生器1、第一测量 镜头2及第二测量镜头3，激光发生器1发出的光束与第一测量镜头2的基准聚焦点重合并 一起垂直射到测量平面4上；第二测量镜头3为相对斜向设置，第二测量镜头3的基准聚焦点交叉汇合于第一测量镜头2的基准聚焦点上。实施例中，激光发生器1发出的光束可通 过一反射器5反射后与第一测量镜头2的基准聚焦点重合并一起垂直射到测量平面4上， 结构简单、易实施。实施时，固定好激光发生器1、第一测量镜头2及第二测量镜头3之间的位置关系， 第一测量镜头2及第二测量镜头3连接相应电脑。常态下，第二测量镜头3的基准聚焦点交 叉汇合于第一测量镜头2的基准聚焦点上，如图1中的0点，第一测量镜头对激光发生器在 测量平面上形成光斑进行定位测量，由此可获知激光发生器1形成光斑的位置。当初出现 光斑高度变化时，激光发生器1发出的光束与第一测量镜头2的测量聚焦点重合并一起垂 直射到测量平面4’上，形成0’点，而这时，由于第二测量镜头3斜向测量，其测量聚焦点在 测量平面4’上的水平偏移，形成0”点，在电脑上读出0”点与0’点之间的水平距离L，即可 利用L值计算出0’点与0点之间的垂直高度H，即利用第二测量镜头聚焦点在测量平面上 的水平偏移量来获得光斑在测量平面上的垂直偏移数值，达到高度值的测量，该结构简单， 测量方便、准确，误差小。当然，以上实施例仅为本实用新型较佳实施例，并非以此限定本实用新型的实施 范围，故，凡是依照本实用新型之原理做等效变化或修饰，均应涵盖于本实用新型的保护范 围内。
权利要求一种激光测量仪，包括有一激光发生器(1)及一第一测量镜头(2)，其特征在于还包括一第二测量镜头(3)，激光发生器(1)发出的光束与第一测量镜头(2)的基准聚焦点重合并一起垂直射到测量平面(4)上；第二测量镜头(3)为相对斜向设置，第二测量镜头(3)的基准聚焦点交叉汇合于第一测量镜头(2)的基准聚焦点上。
2.根据权利要求1所述的一种激光测量仪，其特征在于所述激光发生器(1)发出的 光束通过一反射器(5)反射后与第一测量镜头(2)的基准聚焦点重合并一起垂直射到测量 平面⑷上。
专利摘要本实用新型涉及测量技术领域，特指一种激光测量仪。它包括有一激光发生器、第一测量镜头及第二测量镜头，激光发生器发出的光束与第一测量镜头的基准聚焦点重合并一起垂直射到测量平面上；第二测量镜头为相对斜向设置，第二测量镜头的基准聚焦点交叉汇合于第一测量镜头的基准聚焦点上。本实用新型利用第一测量镜头对激光发生器在测量平面上形成光斑进行定位测量，而第二测量镜头斜向测量，并利用第二测量镜头聚焦点在测量平面上的水平偏移量来获得光斑在测量平面上的垂直偏移数值，该结构简单，测量方便、准确，误差小。
文档编号G01C5/00GK201716021SQ20102025076
公开日2011年1月19日 申请日期2010年6月30日 优先权日2010年6月30日
发明者徐春云 申请人:东莞市七海光电有限公司