专利名称：高功率电子元件恒温试验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种恒温试验装置，尤指一种用于测试高功率电子元件使用寿命 的恒温试验装置。
背景技术：
发光二极管(LED)具有高亮度、省电及寿命长等优点，而被广泛地运用在各式灯 具的照明上，例如作为道路照明之用的LED灯具即为其中一例。而发光二极管在发光时会 产生大量热量，耐热性较差，通常须借助散热装置将所产生的热量散发出去，使发光二极管 能在适当的温度下发光而不致于烧毁。因此温度对于LED灯具的使用寿命有着显著的影 响，温度过高或过低都会降低发光二极管的效能或使发光二极管烧毁，一旦发光二极管烧 毁，对于使用者而言，无疑是种损失，甚至会造成危害。因此，在使用发光二极管之前，使用 者必须知道发光二极管的规格，以及发光二极管在不同温度下的使用寿命，才能防范于未 然，将损失降低。由于发光二极管在发光时会产生大量热量，若要准确测试出寿命，就必须控制发 光二极管的温度，使发光二极管发光时维持一个定温。请参阅图1，已知的发光二极管测试 寿命装置通常是将发光二极管Ia设置在散热良好的散热装置2a上，然后利用照度计3a测 量发光二极管Ia的照度，进而计算出寿命。该散热装置2a具有多个散热鳍片21a，使发光 二极管Ia发光产生的热量散发在大气中，但这种方式降低温度的效果有限，难以达到良好 的散热效果。于是，本发明人认为上述缺陷是可改善的，于是潜心研究并配合理论的运用，终于 提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的实用新型。
实用新型内容本实用新型的主要目的在于提供一种高功率电子元件恒温试验装置，能有效地降 低温度，达到良好的散热效果。本实用新型的另一目的在于提供一种高功率电子元件恒温试验装置，其不需设置 加热单元做升温的操作，具有节省能源的效果。本实用新型的又一目的在于提供一种高功率电子元件恒温试验装置，其可对高功 率电子元件(如发光二极管)的温度进行实时监控及调整，使高功率电子元件在测试过程 中维持一个定温环境。为了达成上述的目的，本实用新型提供一种高功率电子元件恒温试验装置，包括 有多个水冷盘面、一个储水装置、一个循环马达、一个一次水量调整阀及多个二次水量调整 阀，这些水冷盘面、该储水装置、该循环马达、该一次水量调整阀及该二次水量调整阀之间 连接有循环水道，这些水冷盘面内部分别设有冷水管道，该冷水管道分别具有入水端及出 水端，该入水端及该出水端与该循环水道连接。本实用新型具有以下有益的效果[0010]本实用新型利用水冷的方式进行散热，能有效地降低温度，达到良好的散热效果， 且利用高功率电子元件本身产生的热量升温，不需设置加热单元作升温的操作，具有节省 能源的效果。为使能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型 的详细说明与附图，然而所附附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制。
图1为已知的发光二极管测试装置的示意图。 图2为本实用新型高功率电子元件恒温试验装置第-图3为本实用新型高功率电子元件恒温试验装置第: 图4为本实用新型高功率电子元件恒温试验装置第J 图5为本实用新型高功率电子元件恒温试验装置第J主要元件符号说明
1水冷盘面 12入水端 2储水装置 4一次水量调整阀 6循环水道 8水冷却风扇 100机体 102托盘 200温度传感器 Ia发光二极管 21a散热鳍片
11冷水管道 13出水端 3循环马达 5二次水量调整阀 7冰水机 9温度显示器 101门体 103控制箱 201温度控制器 2a散热装置 3a照度计
-实施例的示意图。 实施例的示意图。 实施例的前视示意图< 实施例的侧视示意图<
具体实施方式
请参阅图2，为本实用新型高功率电子元件恒温试验装置的第一实施例，该试验装 置用于测试发光二极管(LED)等高功率电子元件使用寿命，该试验装置包括有多个水冷盘 面1、一个储水装置2、一个循环马达3、一个一次水量调整阀4及多个二次水量调整阀5，这 些水冷盘面1、储水装置2、循环马达3、一次水量调整阀4及二次水量调整阀5之间适当地 连接有循环水道6。这些水冷盘面1的设置数量并不受限制，因此可根据需要适当地增减，高功率电 子元件可放置在这些水冷盘面1上，并且高功率电子元件与电源电性连接，使高功率电子 元件可被启动(如点亮)。每一个水冷盘面1上可放置多个高功率电子元件(未示出)， 水冷盘面1上用于放置高功率电子元件的构造并不是本实用新型说明的重点，因此不再赘 述。这些水冷盘面1内部分别设有冷水管道11，冷水管道11位于高功率电子元件的下方， 该冷水管道11分别具有一个入水端12及一个出水端13，入水端12及出水端13可用于与 该循环水道6连接，使这些水冷盘面1连接至该循环水道6，冷却水可经由入水端12进入冷 水管道11，而后将带有热量的冷却水由出水端13排出，用以使水冷盘面1降温。[0031] 该储水装置2为一个可用于储存冷却水的容器(如储水箱或储水槽)，该储水装 置2连接至该循环水道6，该循环马达3设置在该储水装置2与这些水冷盘面1的入水端 12之间的循环水道6上，因此可利用循环马达3抽送储水装置2内的冷却水经由循环水道 6输送至这些水冷盘面1内，借以使这些水冷盘面1降温，使高功率电子元件维持在一个定另外，可进一步在该循环水道6上设置一个冰水机7及一个水冷却风扇8，在本实 施例中，该冰水机7设置在该储水装置2与该循环马达3之间，该水冷却风扇8设置在这些 水冷盘面1的出水端13与该储水装置2之间，可利用冰水机7及水冷却风扇8对循环水道 6内的冷却水提供更佳的降温效果。该一次水量调整阀4设置在该循环水道6上，该一次水量调整阀4设置在该循环 马达3与这些水冷盘面1的入水端12之间的循环水道6上，该一次水量调整阀4可用于控 制冷却水的流量，该一次水量调整阀4的构造并不受限制，在本实施例中该一次水量调整 阀4为手动调整模式的大流量球阀。这些二次水量调整阀5设置在该循环水道6上，这些二次水量调整阀5分别设置 在该一次水量调整阀4与这些水冷盘面1的入水端12之间的循环水道6上，每一个水冷盘 面1对应地设置有一个二次水量调整阀5，这些二次水量调整阀5可分别控制进入这些水冷 盘面1的冷却水的流量，这些二次水量调整阀5的构造并不受限制，可为手动调整模式或自 动监视及控制模式，在本实施例中这些二次水量调整阀5为手动调整模式的流量针阀。每一个水冷盘面1电性连接有一个温度显示器9，这些温度显示器9分别用于显示 对应的水冷盘面1的温度，以便实时地监视及控制该一次水量调整阀4及这些二次水量调 整阀5的流量。本实用新型的储水装置2、循环马达3、一次水量调整阀4、二次水量调整阀5及循 环水道6等构成一个冷却水循环装置，这些水冷盘面1的入水端12及出水端13与该冷却 水循环装置连接，该冷却水循环装置即可利用水冷的方式对这些水冷盘面1及其上放置的 高功率电子元件进行散热。本实用新型使用时，可利用照度计(未示出)在这些高功率电子元件上方移动 (一般是利用轨道与移动臂)，用于测量这些高功率电子元件的照度，且照度计可电性连接 至一个计算控制装置(未示出)，用于将测量到的照度数据传送至该计算控制装置，该计算 控制装置可为一个个人计算机(PC)，其内安装有可供使用者操作的软件，使用者可通过该 软件对高功率电子元件进行环境的条件设定。计算控制装置电性连接至本实用新型的试验 装置，借以控制进行降温或维持恒温的操作。请参阅图3，本实用新型的第二实施例与第一实施例的差异仅在于这些二次水量 调整阀5为自动监视及控制模式，也即每一个水冷盘面1电性连接有至少一个温度传感器 200及一个温度控制器201，温度传感器200可用于感测水冷盘面1的温度，并将信号传送 至温度控制器201，该温度控制器201电性连接至相对应的二次水量调整阀5，使这些水冷 盘面1分别形成一组反馈控制线路，在本实施例中这些二次水量调整阀5为比例阀。这些高功率电子元件在测试的过程中，该温度传感器200实时感测高功率电子元 件，并传回至温度控制器201，用于监控。该温度控制器201可用于控制二次水量调整阀5 的流量，借以改变高功率电子元件的定温环境，并使高功率电子元件维持该定温环境。[0040] 请同时参阅图3至图5，在本实施例中，该试验装置可搭配现有的恒温恒湿机或烤 箱使用，以便于控制环境的条件，该恒温恒湿机或烤箱具有机体100，该机体100前侧枢设 有门体101，可用于开放及封闭机体100内部空间，该机体100内部空间可作温度及湿度的 控制，其温度可控制在室温至175°c等。该机体100内并设置有多个托盘102，这些托盘102 可水平移动地设置在该机体100内，这些水冷盘面1分别设置在这些托盘102上。当托盘 102向前移动时可伸出至机体100外部，以便于放置及取出测试的高功率电子元件。 该机体100 —侧设置有控制箱103，该控制箱103与机体100可为分离式或连接为 一体。储水装置2、循环马达3、一次水量调整阀4及二次水量调整阀5等装置可设置在该 控制箱103上，另外，储水装置2、循环马达3、一次水量调整阀4及二次水量调整阀5等装 置也可设置在机体100上，设置的位置并不受限制，可进行适当的变化。本实用新型高功率电子元件恒温试验装置，至少具有下列优点一、本实用新型利用水冷的方式进行散热，能有效地降低温度，达到良好的散热效果。二、本实用新型利用高功率电子元件本身产生的热量升温，不需设置加热单元作 升温的操作，具有节省能源的效果。三、本实用新型可对高功率电子元件(如发光二极管)的温度作实时监控及调整， 使高功率电子元件在测试过程中维持一个定温环境。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非意在限制本实用新型的专利保护范 围，因此凡是运用本实用新型说明书及附图内容所做的等效变化，同样都包含在本实用新 型的权利保护范围内，在此予以声明。
权利要求1.一种高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，包括有多个水冷盘面、一个储水装 置、一个循环马达、一个一次水量调整阀及多个二次水量调整阀，所述多个水冷盘面、所述 储水装置、所述循环马达、所述一次水量调整阀及所述二次水量调整阀之间连接有循环水 道，所述多个水冷盘面内部分别设有冷水管道，所述冷水管道分别具有入水端及出水端，所 述入水端及所述出水端与所述循环水道连接。
2.根据权利要求1所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述循环马达 设置在所述储水装置与所述多个水冷盘面的入水端之间的循环水道上。
3.根据权利要求2所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述一次水量 调整阀设置在所述循环马达与所述多个水冷盘面的入水端之间的循环水道上。
4.根据权利要求3所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述多个二次 水量调整阀分别设置在所述一次水量调整阀与所述多个水冷盘面的入水端之间的循环水 道上，每一个水冷盘面对应地设置有一个二次水量调整阀。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述循 环水道上设置有一冰水机，所述冰水机设置在所述储水装置与所述循环马达之间。
6.根据权利要求1、2、3或4所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述循 环水道上设置有一水冷却风扇，所述水冷却风扇设置在所述多个水冷盘面的出水端与所述 储水装置之间。
7.根据权利要求1、2、3或4所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述二 次水量调整阀为手动调整模式，每一个水冷盘面电性连接有一温度显示器。
8.根据权利要求1、2、3或4所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，所述多 个二次水量调整阀为自动监视及控制模式。
9.根据权利要求8所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，每一个水冷盘 面电性连接有至少一温度传感器及一温度控制器，所述温度控制器电性连接至相对应的二 次水量调整阀。
10.根据权利要求1、2、3或4所述的高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，进一 步具有一机体，所述机体内可移动地设置有多个托盘，所述多个水冷盘面分别设置在所述 多个托盘上，所述机体一侧设置有一控制箱，所述储水装置、所述循环马达、所述一次水量 调整阀及所述二次水量调整阀设置在所述控制箱或所述机体上。
11.一种高功率电子元件恒温试验装置，其特征在于，包括有多个水冷盘面及一个冷却 水循环装置，所述多个水冷盘面内部分别设有冷水管道，所述冷水管道分别具有入水端及 出水端，所述多个水冷盘面的入水端及出水端与所述冷却水循环装置连接。
专利摘要本实用新型公开了一种高功率电子元件恒温试验装置，包括有多个水冷盘面、一个储水装置、一个循环马达、一个一次水量调整阀及多个二次水量调整阀，水冷盘面、储水装置、循环马达、一次水量调整阀及二次水量调整阀之间连接有循环水道，水冷盘面内部分别设有冷水管道，冷水管道分别具有入水端及出水端，该入水端及出水端与循环水道连接；据此，可利用水冷的方式进行散热，能有效地降低温度，达到良好的散热效果，且具有节省能源的效果。
文档编号G01R31/00GK201780342SQ201020268918
公开日2011年3月30日 申请日期2010年7月16日 优先权日2010年7月16日
发明者涂程咏 申请人:宜准科技股份有限公司