专利名称：一种快速检测用样品定位装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种快速检测用样品定位装置，尤其是涉及可供拉曼光谱分析使 用的快速检测用样品定位装置。
背景技术：
拉曼光谱(Raman spectra)，是一种散射光谱。拉曼光谱分析法是基于印度科学家 C. V.拉曼(Raman)所发现的拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得 到分子振动、转动方面信息，并应用于分子结构研究的一种分析方法。拉曼光谱提供快速、 简单、可重复、且更重要的是无损伤的定性定量分析，它无需样品准备，样品可直接通过光 纤探头或者通过玻璃、石英、和光纤测量。(1)由于水的拉曼散射很微弱，拉曼光谱是研究水溶液中的生物样品和化学化合 物的理想工具；(2)拉曼一次可以同时覆盖50-4000波数的区间，可对有机物及无机物进行分析。 相反，若让红外光谱覆盖相同的区间则必须改变光栅、光束分离器、滤波器和检测器；(3)拉曼光谱谱峰清晰尖锐，更适合定量研究、数据库搜索、以及运用差异分析进 行定性研究。在化学结构分析中，独立的拉曼区间的强度可以和功能基团的数量相关；(4)因为激光束的直径在它的聚焦部位通常只有0. 2-2毫米，常规拉曼光谱只需 要少量的样品就可以得到。这是拉曼光谱相对常规红外光谱一个很大的优势。而且，拉曼 显微镜物镜可将激光束进一步聚焦至20微米甚至更小，可分析更小面积的样品；(5)共振拉曼效应可以用来有选择性地增强大生物分子特别发色基团的振动，这 些发色基团的拉曼光强能被选择性地增强1000到10000倍。然而，拉曼光谱也存在如下不足(1)拉曼散射截面积小，光谱强度弱；(2)不同振动峰重叠和拉曼散射强度容易受光学系统参数等因素的影响；(3)荧光现象对傅立叶变换拉曼光谱分析的干扰；(4)在进行傅立叶变换光谱分析时，常出现曲线的非线性的问题；(5)任何一种物质的引入都会对被测体系带来某种程度的污染，这等于引入了一 些误差的可能性，会对分析的结果产生一定的影响。尤其是分析固体粉末样品，由于该种样 品散射效应严重，光谱信号强度弱，信噪比差。
发明内容本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种可供拉曼 光谱分析使用，可减弱散射效应，增强样品信号强度的快速检测用样品定位装置。本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现一种快速检测用样品定位装 置，其特征在于，该装置包括上压片模具、下压片模具、探头和探头护圈，所述的上压片模具 下表面设有样品凸台，所述的下压片模具上表面设有样品凹槽，样品凸台与样品凹槽相匹配，所述的探头护圈设置在探头下端，其尺寸与下压片模具相匹配。所述的样品凸台呈抛光半圆状。所述的样品凹槽呈抛光半圆状。所述的探头护圈的下表面与探头的下表面齐平。所述的探头护圈的下表面外径大于样品凹槽直径。与现有技术相比，本实用新型具有以下优点(1)无电源，无动力操作，不产生电火花，安全性好；(2)使用经抛光的不锈钢，易清洗，可避免样品变化引起的交叉污染；(3)该装置体积小，轻便，可随身携带，现场制样；(4)这装置只需要少量的样品，以节约样品。
图1为本实用新型具体实施方式
中的样品定位装置示意图；图2为本实用新型具体实施方式
中的样品定位之后信号采集示意图。图中1-上压片模具，2-下压片模具，3-样品，4-探头护圈，5-探头。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。实施例1一种快速检测用样品定位装置，包括上压片模具1、下压片模具2、探头5和探头 护圈4，所述的上压片模具1下表面设有半圆状样品凸台，所述的下压片模具2上表面设有 半圆状样品凹槽，样品凸台与样品凹槽相匹配，所述的探头护圈4设置在探头5下端，其尺 寸与下压片模具相匹配。探头护圈4的下表面与探头5的下表面齐平，探头护圈4的下表 面外径大于样品凹槽直径。上压片模具1、下压片模具2均为不锈钢材料，与样品接触面抛光，即可压平样品 又可避免粘附样品。探头护圈4为聚合物材料，尺寸与下压片模具匹配，压完样品之后将样品留在下 压片模具中直接利用拉曼探头测试拉曼光谱。并且该护圈又可保护探头镜面避免与样品直 接接触，尤其是测试腐蚀性样品时更需要保护探头。在使用上述定位装置时，按照图1、图2所示①利用乙醇、丙酮反复清洗上下压片 模具多次，以清除表面残留的化学样品。②在下压片模具2中使用药勺放入少许粉末样品 3，堆放均勻。③利用上压片模具1挤压样品，使样品平整，光滑。④松开上压片模具1，插入 光谱探头测量样品3信息。本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的具体实施方式
仅是用来说明本 实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以 上所述具体实施方式
的变化、变型都将落在本实用新型的权利要求书范围内。
权利要求1.一种快速检测用样品定位装置，其特征在于，该装置包括上压片模具、下压片模具、 探头和探头护圈，所述的上压片模具下表面设有样品凸台，所述的下压片模具上表面设有 样品凹槽，样品凸台与样品凹槽相匹配，所述的探头护圈设置在探头下端，其尺寸与下压片 模具相匹配。
2.根据权利要求1所述的一种快速检测用样品定位装置，其特征在于，所述的样品凸 台呈抛光半圆状。
3.根据权利要求1所述的一种快速检测用样品定位装置，其特征在于，所述的样品凹 槽呈抛光半圆状。
4.根据权利要求1所述的一种快速检测用样品定位装置，其特征在于，所述的探头护 圈的下表面与探头的下表面齐平。
5.根据权利要求1所述的一种快速检测用样品定位装置，其特征在于，所述的探头护 圈的下表面外径大于样品凹槽直径。
专利摘要本实用新型涉及一种快速检测用样品定位装置，该装置包括上压片模具、下压片模具、探头和探头护圈，所述的上压片模具下表面设有样品凸台，所述的下压片模具上表面设有样品凹槽，样品凸台与样品凹槽相匹配，所述的探头护圈设置在探头下端，其尺寸与下压片模具相匹配。与现有技术相比，本实用新型具有可供拉曼光谱分析使用，可减弱散射效应，增强样品信号强度等特点。
文档编号G01N21/65GK201859121SQ20102026895
公开日2011年6月8日 申请日期2010年7月23日 优先权日2010年7月23日
发明者刘刚, 张小沁, 汪丹, 薛晓康 申请人:上海化工研究院