专利名称：阻抗测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试探针，尤其涉及一种阻抗测试探针。
背景技术：
请参阅图1，目前的阻抗测试探针，由套管10’与测试针头20’两部份组成，测试 针头20’位于所述套管10’中并与套管10’为一体结构，所述套管10’内于所述测试针头 20’的一端抵接有一金属弹簧30’，在阻抗测试时测试针头20’直接与PCB板件连接并将测 试信号传输到TDR (时域反射计)测试模块进行测试分析。然而，目前阻抗测试探针在使用时存在如下问题1、由于测试针头与套管是一体结构，测试针头会将接触到的静电传递到整根测试 针上；2、阻抗测试探针与PCB阻抗测试基板直接连接，导致PCB板上的静电通过金属弹 簧30’会直接传输到TDR测试模块；而PCB基板上的静电直接传输到TDR测试模块时，TDR 测试模块很容易被静电击穿，使TDR模块使用寿命缩短。
实用新型内容本实用新型主要解决的技术问题是提供一种阻抗测试探针，能防止测试针头将静 电直接传递到整个测试探针上和防止测试时静电传输到测试模块上而影响测试模块使用
寿命ο为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是提供一种阻抗测试探 针，包括一套管和一测试针头，所述套管内设置有一铜轴电缆和一绝缘弹簧，所述测试针头 的一端插接于所述套管内，所述绝缘弹簧连接所述测试针头和所述铜轴电缆，所述套管与 所述铜轴电缆之间具有一绝缘树脂层，所述套管接地。其中，所述测试针头具有针头和与针头一端连接的针杆，所述针杆的另一端凸伸 有一第一抵接端，所述第一抵接端抵接在所述绝缘弹簧的一端上。其中，所述针头轴向截面呈三角形。其中，所述测试针头的针杆的一端到另一端的轴向宽度逐渐变宽，并且所述针杆 于邻近绝缘弹簧的一端的轴向宽度大于所述绝缘弹簧的直径。其中，所述测试针头的第一抵接端的轴向宽度小于所述绝缘弹簧的直径。其中，所述铜轴电缆于邻近所述绝缘弹簧的一端凸伸有第二抵接端，远离绝缘弹 簧的一端具有一信号线接线口。其中，所述第二抵接端的轴向宽度小于所述绝缘弹簧的直径。本实用新型的有益效果是区别于现有技术的阻抗测试探针的测试针头与套管为 一体结构并与金属弹簧连接，测试针头会将接触到的静电传递到整根测试针上和测试时静 电会直接通过金属弹簧传输到测试模块上而影响测试模块使用寿命的情况。本实用新型阻 抗测试探针通过将测试针头与套管设置为分离结构，测试针头的一端插接在所述套管内，
3并在套管内设置铜轴电缆和连接铜轴电缆与测试针头的绝缘弹簧，如此在测试针头接触到 待测试物时，由于绝缘弹簧的绝缘阻隔使得待测试物上的静电由测试针头通过套管流向 地，而当测试针头下压待测试物压缩绝缘弹簧使得测试针头与铜轴电缆导通测试时，此时 待测试件和测试针头上的静电已经导走，没有静电，如此就能防止静电直接传输到TDR测 试模块上使得TDR测试模块被静电击穿的情况，起到保护TDR测试模块的作用。
图1是现有阻抗测试探针的结构示意图；图2是本实用新型阻抗测试探针的结构示意图。
具体实施方式
为详细说明本实用新型的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施 方式并配合附图详予说明。请参阅图2，本实用新型阻抗测试探针，包括一套管10和一测试针头20，所述套管 10内设置有一铜轴电缆30和一绝缘弹簧40，所述测试针头20的一端插接于所述套管10 内，所述绝缘弹簧40连接所述测试针头20和所述铜轴电缆30，所述套管10与所述铜轴电 缆30之间具有一绝缘树脂层50，所述套管10接地。所述测试针头20具有针头21和与针头21 —端连接的针杆22，所述针杆22的另 一端凸伸有一第一抵接端23，所述第一抵接端23抵接在所述绝缘弹簧40的一端上。所述 针头21轴向截面呈三角形。所述测试针头20的针杆22的一端到另一端的轴向宽度逐渐变 宽，并且所述针杆22于邻近绝缘弹簧40的一端的轴向宽度大于所述绝缘弹簧40的直径。 所述测试针头20的第一抵接端23的轴向宽度小于所述绝缘弹簧40的直径。所述铜轴电缆30于邻近所述绝缘弹簧40的一端凸伸有第二抵接端31，远离绝缘 弹簧40的一端具有一信号线接线口 32。所述第二抵接端31的轴向宽度小于所述绝缘弹簧 40的直径。本实用新型阻抗测试探针在测试时，测试针头20与套管10先相连，测试针头20 在与待测试件接触的同时，待测试件所带的静电通过测试针头20和套管10导走；静电导走 后，继续下压测试针头20，使测试针头20的第一抵接端23与同轴电缆的第二抵接端31相 连进行阻抗测试；此时待测试件和测试针头20上的静电已经导走，没有静电，如此能起到 保护TDR测试模块。本实用新型的有益效果是区别于现有技术的阻抗测试探针的测试针头与套管为 一体结构并与金属弹簧连接，测试针头会将接触到的静电传递到整根测试针上和测试时静 电会直接通过金属弹簧传输到测试模块上而影响测试模块使用寿命的情况。本实用新型阻 抗测试探针通过将测试针头20与套管10设置为分离结构，测试针头20的一端插接在所述 套管10内，并在套管10内设置铜轴电缆30和连接铜轴电缆30与测试针头20的绝缘弹簧 40，如此在测试针头20接触到待测试物时，由于绝缘弹簧40的绝缘阻隔使得待测试物上 的静电由测试针头20通过套管流向地，而当测试针头20下压待测试物而压缩绝缘弹簧40 使得测试针头20与铜轴电缆30导通测试时，此时待测试件和测试针头20上的静电已经导 走，没有静电，如此就能防止静电直接传输到TDR测试模块上使得TDR测试模块被静电击穿的情况，起到保护TDR测试模块的作用。综上所述，本实用新型阻抗测试探针结构简单，能有效防止测试时静电击穿TDR 测试模块的情况，提高TDR测试模块的使用寿命。以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是 利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在 其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种阻抗测试探针，其特征在于，包括一套管和一测试针头，所述套管内设置有一铜 轴电缆和一绝缘弹簧，所述测试针头的一端插接于所述套管内，所述绝缘弹簧连接所述测 试针头和所述铜轴电缆，所述套管与所述铜轴电缆之间具有一绝缘树脂层，所述套管接地。
2.根据权利要求1所述的阻抗测试探针，其特征在于所述测试针头具有针头和与针 头一端连接的针杆，所述针杆的另一端凸伸有一第一抵接端，所述第一抵接端抵接在所述 绝缘弹簧的一端上。
3.根据权利要求2所述的阻抗测试探针，其特征在于所述针头轴向截面呈三角形。
4.根据权利要求2所述的阻抗测试探针，其特征在于所述测试针头的针杆的一端到 另一端的轴向宽度逐渐变宽，并且所述针杆于邻近绝缘弹簧的一端的轴向宽度大于所述绝 缘弹簧的直径。
5.根据权利要求4所述的阻抗测试探针，其特征在于所述测试针头的第一抵接端的 轴向宽度小于所述绝缘弹簧的直径。
6.根据权利要求1所述的阻抗测试探针，其特征在于所述铜轴电缆于邻近所述绝缘 弹簧的一端凸伸有第二抵接端，远离绝缘弹簧的一端具有一信号线接线口。
7.根据权利要求6所述的阻抗测试探针，其特征在于所述第二抵接端的轴向宽度小 于所述绝缘弹簧的直径。
专利摘要本实用新型公开了一种阻抗测试探针，包括一套管和一测试针头，所述套管内设置有一铜轴电缆和一绝缘弹簧，所述测试针头的一端插接于所述套管内，所述绝缘弹簧连接所述测试针头和所述铜轴电缆，所述套管与所述铜轴电缆之间具有一绝缘树脂层，所述套管接地。本实用新型阻抗测试探针在将测试针头接触到待测试物时，由于绝缘弹簧的绝缘阻隔使得待测试物上的静电由测试针头通过套管流向地，而当测试针头下压待测试物压缩绝缘弹簧使得测试针头与铜轴电缆导通测试时，此时待测试件和测试针头上的静电已经导走，没有静电，如此就能防止静电直接传输到TDR测试模块上使得TDR测试模块被静电击穿的情况，起到保护TDR测试模块的作用。
文档编号G01R27/02GK201780334SQ20102028583
公开日2011年3月30日 申请日期2010年8月9日 优先权日2010年8月9日
发明者李刚, 杨青枝, 陈国周 申请人:深南电路有限公司