专利名称：提高总线板测试效率的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试装置技术领域，具体涉及一种提高总线板测试效率的装置。
背景技术：
随动总线板是由密集的通断点组成，在测试测试过程中主要通过多用表对总线板上的多个通断点进行通断测试。传统技术中测试一块电路板时，测试人员两只手利用 万用表笔接触测试点次数128次，共64组通断点。在此过程中最容易暴露的问题是 1.由于测试点比较多，测试人员容易在测试过程中误操作，从而导致重复性测试，耗时 耗力。2.由于测试点比较多，多用表产生的频繁峰鸣声容易引起测试人员误判断，从而 造成漏测现象。3.如果造成漏检、错检情况，则带有漏检、错检结果的电路板在后续使 用中会出现预想不到的不良后果。
发明内容本实用新型的目的是针对现有技术缺陷，提供一种测试效率很高的总线板测试
直ο实现本实用新型的技术方案一种提高总线板测试效率的装置，它包括电源， 与电源串接的电容，其中，还包括并联在电源和电容两端的若干组通断点测试支路，每 条通断点测试支路由串接的电阻和发光二极管组成，在每条测试支路两端都设有用于与 被测电路板上被测通断点对应的触点。如上所述的一种提高总线板测试效率的装置，其中，所述的与被测电路板上被 测通断点对应的触点为接插件。如上所述的一种提高总线板测试效率的装置，其中，所述的测试支路有128 个。如上所述的一种提高总线板测试效率的装置，其中，所述的接插件与测试装置 分离，两者电连接。本实用新型的有益效果本实用新型克服了由于总线板测试点密集导致的测试 时间长，效率低，正确率低的缺点，有效地提高了测试效率，杜绝了重复性操作。
图1为本实用新型所述的一种提高总线板测试效率的装置的原理图；图2是图1的电路布线图。图中1.电源、2.电容、3.发光二极管、4.电阻、5、6.接插件、7.左测试支路
组、8.右测试支路组。
具体实施方式
以下结合附图对 本实用新型作进一步说明。如图1所示一种提高总线板测试效率的装置，它包括电源1，与电源1串接的 电容2，并联在电源1和电容2两端的若干组通断点测试支路，每条通断点测试支路由串 接的电阻4和发光二极管3组成。在每条测试支路两端都设有用于与被测电路板上被测 通断点对应的触点。如图2所示，作为本实用新型的一种实施方式，电源1设置在整个装置的左侧， 该电源1与外部连接，用于供应本装置中其它用电器的用电。电容2被拆分为两个电容， 分别设置在电源1的两端。本例中，与被测电路板上被测通断点对应的触点被设置为两 个较大的接插件(5、6)，在接插件(5、6)的下表面设有与被测电路板插孔对应的插针。 本例中，由于空间的限制，测试支路被拆分为两个部分，分别为左测试支路组7和右测 试支路组8。每个测试支路组包括若干测试支路，每个测试支路包括串接的电阻4和发光 二极管3。上述实施例是针对某个固定型号被测电路板设置的，如果被测电路板上需要测 试的通断点超过128个，本领域的技术人员可以根据本申请的技术内容据实际情况增加 或减少测试支路的个数。另外，作为本实用新型的一种变形形式，也可以不在接插件 (5、6)的下表面设置插针，而是可以从接插件(5、6)上电连接出专门的接插件，接出的 专门接插件用于与被测电路电连接。如果电路板上的空间足够大，也可以不将测试支路 拆分为左测试支路组7和右测试支路组8两个部分，如果电路板上的空间更加紧张，也 可以将测试支路拆分为更多的测试支路组。上述变形都是本领域技术人员根据本申请内 容，结合现有技术可以实现的。
权利要求1.一种提高总线板测试效率的装置，它包括电源(1)，与电源(1)串接的电容(2)， 其特征在于还包括并联在电源(1)和电容(2)两端的若干组通断点测试支路，每条通断 点测试支路由串接的电阻(4)和发光二极管(3)组成，在每条测试支路两端都设有用于与 被测电路板上被测通断点对应的触点。
2.如权利要求1所述的一种提高总线板测试效率的装置，其特征在于所述的与被 测电路板上被测通断点对应的触点为接插件(5、6)。
3.如权利要求1或2所述的一种提高总线板测试效率的装置，其特征在于所述的测 试支路有128个。
4.如权利要求3所述的一种提高总线板测试效率的装置，其特征在于所述的接插 件(5、6)与测试装置分离，两者电连接。
专利摘要本实用新型属于测试装置技术领域，具体涉及一种提高总线板测试效率的装置。它包括电源，与电源串接的电容，其中，还包括并联在电源和电容两端的若干组通断点测试支路，每条通断点测试支路由串接的电阻和发光二极管组成，在每条测试支路两端都设有用于与被测电路板上被测通断点对应的触点。本实用新型克服了由于总线板测试点密集导致的测试时间长，效率低，正确率低的缺点，有效地提高了测试效率，杜绝了重复性操作。
文档编号G01R31/02GK201796103SQ20102050908
公开日2011年4月13日 申请日期2010年8月30日 优先权日2010年8月30日
发明者刘韬, 朱涛 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所