专利名称：电气测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型有关一种电气测试装置，提供一种用于测试线路板的测试装置，可使 测试治具内的探针平均受力，并可达到快速进行线路板双面电路测试作业的电气测试装置。
背景技术：
为了确保线路板的出厂质量，印刷线路以后，即需要进行检测线路的回路是否正 常，此时，需要线路板于一测试治具上进行检测。现有的测试治具大抵包括一底座及一上 盖，于底座顶面布列有多数支包括压缩弹性、探针及导线组成的探针装置，各探针穿置于一 载板上，将欲检测的电路板置于载板上，而后将上盖盖合于电板上方，使探针与线路板上各 接点接触而进行检测。然而，现有线路板测试治具的上盖与底座藉由后端枢设一起，因此，上盖以后端的 一枢轴为轴心偏转，如此的设计易衍生数项缺失1.上盖可掀开角度小而使线路板不易放置及取出。2.上盖盖合时，近后端处首先接触到线路板及探针；又检测完毕打开上盖时，上 盖近后端处最后离开线路板及探针，易言之，整个检测治具的探针受力不平均，易导致近后 端该区域的压缩弹簧弹性疲乏。3.该习用的线路板测试治具仅能进行单面测试，无法同时进行双面测试，其测试 时间较长。
实用新型内容本实用新型所解决的技术问题即在提供一种用于测试线路板的测试装置，目的在 使测试治具内的探针可平均受力，并可达到快速进行线路板双面电路测试作业的电气测试
直ο本实用新型的技术方案为一种电气测试装置，其至少包含有一下座，该下座设 有一第一主架体，该第一主架体上设有第一测试治具，该第一测试治具的测试面朝向上方， 并设有至少一连接座，该连接座设于该第一主架体底面，该连接座设有复数接点，各接点与 该第一测试治具形成电性连接，且该第一主架体上并设有至少一定位穿孔；一上座，该上座 相对设于该下座上方，该上座设有一第二主架体，该第二主架体上设有第二测试治具，该第 二测试治具的测试面朝向下方，并设有至少一连接座，该连接座设于该第二主架体底面，该 连接座设有复数接点，各接点与该第二测试治具形成电性连接，且该第二主架体上并设有 至少一定位穿孔；一主体，该下座及上座装设于该主体上，该主体并设有承载台用以承载线 路板，且该承载台并设于该下座及上座之间，该主体并设有下、上夹座，该下座及上座分别 配置于该下、上夹座中，该下座及上座可朝承载台上下移动并定位，令各测试治具用以对该 线路板进行测试。其中，该下、上夹座分别设有至少一导柱，该导柱可活动穿设于该定位穿孔中，使该第一、第二主架体得以定位。该第一主架体设有一底座以及一承架，该底座与该承架相互平行设置，该第一测 试治具设于该承架上，而该连接座则设于该底座的底面；该第二主架体设有一底座以及一 承架，该底座与该承架相互平行设置，该第二测试治具设于该承架上，而该连接座则设于该 底座的底面。该第一、第二主架体的底座一侧设于该下、上夹座中。测试装置进一步设有至少一连接器，该连接器设于相对于各连接座处，该连接器 设有复数与该连接座各接点相对应的端子，该连接器另端则连接有一检测主机。该连接座藉由至少一固定件固定于该第一、第二主架体上。本实用新型的有益效果为本实用新型的测试装置至少包含有一主体、一上座 以及一下座，该主体设有承载台用以承载线路板，而该上、下座装设于该主体上，该上、下座 并分别设有测试治具，该上、下座可朝承载台移动，并使各测试治具用以对该线路板进行测 试，且藉由上、下座底面的连接座将测试讯号导出。
使上、下座可以平均施压于受检测的线路板上，令该上、下座测试治具内的探针可 平均受力，以改善探针受力不均的缺失，并可达到快速进行线路板双面的电路测试作业，大 幅缩短测试时间。
图1为本实用新型中测试装置的结构示意图。图2为本实用新型中主架体的结构示意图。图3为本实用新型中测试装置的动作示意图。图4为本实用新型中测试装置的剖面示意图。图5为本实用新型中下座与上作的另一结构示意图。图号说明测试装置1 ；主体10 ；承载台11 ；下夹座12 ；上夹座13 ；下座20 ；第一 主架体21 ；底座211 ；承架212 ；定位穿孔213 ；导柱214 ；第一测试治具22 ；测试面221 ；上 座30 ；第二主架体31 ；底座311 ；承架312 ；定位穿孔313 ；导柱314 ；第二测试治具32 ；测试 面321 ；线路板40 ；连接器51 ；端子511 ；检测主机52 ；连接座60 ；接点61 ；固定件62。
具体实施方式
本实用新型电气测试装置，该测试装置1如图1的第一实施例所示，其至少包含 有一主体10、一下座20以及一上座30。其中，该下座20设有一第一主架体21，该第一主架体21上设有第一测试治具22， 该第一测试治具22设有复数探针(图未示)，该第一测试治具22的测试面221朝向上方， 请同时参阅图2所示，并设有至少一连接座60，该连接座60藉由至少一固定件62固定于 该第一主架体21底面，如图所示的实施例中，该第一主架体21设有一底座211以及一承架 212，该底座211与该承架212相互平行设置，该第一测试治具22设于该承架212上，该连 接座60则设于该底座211的底面，该连接座60设有复数接点61，各接点61与该第一测试 治具22形成电性连接，且该第一主架体21上并设有至少一定位穿孔213。该上座30相对设于该下座20上方，该上座30基本结构与下座20相同，该上座30同样设有一第二主架体31，该第二主架体31上设有第二测试治具32，该第二测试治具32 设有复数探针(图未示)，该第二测试治具32的测试面321朝向下方，并设有至少一连接 座60，该连接座60藉由至少一固定件62固定于该第二主架体31底面，如图所示的实施例 中，该第二主架体31设有一底座311以及一承架312，该底座311与该承架312相互垂直 设置，该第二测试治具32设于该承架312上，该连接座60则设于该底座311的底面，该连 接座60有复数接点61，各接点61与该第二测试治具32形成电性连接，且该第二主架体31 上并设有至少一定位穿孔313。该下座20及上座30装设于该主体10上，该主体10并设有承载台11用以承载线 路板40，且该承载台11并设于该下座20及上座30之间，该主体10并设有下、上夹座12、 13。当线路板40放置于该承载台11上后，该第一、第二主架体的底座211、311—侧设 于该下、上夹座12、13中，而该下、上夹座12、13—侧设有至少一导柱214、314，该导柱214、 314可活动穿设于该定位穿孔213、313中，使该第一、第二主架体21、31得以定位，如图3所 示，且该下、上座20、30可朝承载台11上、下、左、右移动，并使各测试治具22、32对线路板 40进行测试。再者，各底座可视需求改变连接座固定的数量，而该测试装置进一步设有至少一 连接器51，该连接器51设于相对于各连接座60处，如图4所示，该连接器51设有复数与该 连接座各接点61相对应的端子511，该连接器51另端则连接有一检测主机52，当下、上座 20、30分别藉由导柱214、314形成定位时，该下、上座20、30的连接座60则同时与其对应的 连接器51成电性连接，并使各端子511与各接点61确实接触导通；当然，该下、上座20、30 的结构可如图1至图3所示，亦可如图5所示的结构形式。值得一提的是，本实用新型藉由下、上座上下位移的动作，可平均施力于受检测的 线路板上，使测试治具内的探针可平均受力，且本实用新型可同时进行线路板双面检测，可 大幅缩短检测时间。
权利要求1.一种电气测试装置，其特征在于，其至少包含有一下座，该下座设有一第一主架体，该第一主架体上设有第一测试治具，该第一测试治 具的测试面朝向上方，并设有至少一连接座，该连接座设于该第一主架体底面，该连接座设 有复数接点，各接点与该第一测试治具形成电性连接，且该第一主架体上并设有至少一定 位穿孔；一上座，该上座相对设于该下座上方，该上座设有一第二主架体，该第二主架体上设有 第二测试治具，该第二测试治具的测试面朝向下方，并设有至少一连接座，该连接座设于该 第二主架体底面，该连接座设有复数接点，各接点与该第二测试治具形成电性连接，且该第 二主架体上并设有至少一定位穿孔；一主体，该下座及上座装设于该主体上，该主体并设有承载台用以承载线路板，且该承 载台并设于该下座及上座之间，该主体并设有下、上夹座，该下座及上座分别配置于该下、 上夹座中，该下座及上座可朝承载台上下移动并定位，令各测试治具用以对该线路板进行 测试。
2.如权利要求1所述的电气测试装置，其特征在于，该下、上夹座分别设有至少一导 柱，该导柱可活动穿设于该定位穿孔中，使该第一、第二主架体得以定位。
3.如权利要求1所述的电气测试装置，其特征在于，该第一主架体设有一底座以及一 承架，该底座与该承架相互平行设置，该第一测试治具设于该承架上，而该连接座则设于该 底座的底面；该第二主架体设有一底座以及一承架，该底座与该承架相互平行设置，该第二 测试治具设于该承架上，而该连接座则设于该底座的底面。
4.如权利要求3所述的电气测试装置，其特征在于，该第一、第二主架体的底座一侧设 于该下、上夹座中。
5.如权利要求1、2、3或4所述的电气测试装置，其特征在于，测试装置进一步设有至少 一连接器，该连接器设于相对于各连接座处，该连接器设有复数与该连接座各接点相对应 的端子，该连接器另端则连接有一检测主机。
6.如权利要求1、2、3或4所述的电气测试装置，其特征在于，该连接座藉由至少一固定 件固定于该第一、第二主架体上。
专利摘要本实用新型的电气测试装置至少包含有一主体、一上座以及一下座，该主体设有承载台用以承载线路板，而该上、下座装设于该主体上，该上、下座并分别设有测试治具，该上、下座可朝承载台上、下、左、右移动，并使各测试治具用以对线路板进行测试，且藉由上、下座底面的连接座将测试讯号导出，令该上、下座测试治具内的探针可平均受力，并达到快速进行线路板双面的电路测试作业。
文档编号G01R31/28GK201867426SQ20102059570
公开日2011年6月15日 申请日期2010年11月8日 优先权日2010年11月8日
发明者土屋利彦, 堀诚一 申请人:港建日置股份有限公司