专利名称：用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及到一种检测装置，尤其涉及到一种用于磁头架顶针关键尺寸的检 测装置。
背景技术：
图1中示出了磁头架顶针的结构，该磁头架顶针通常用于银行系统中。磁头架顶 针是通过压铆的方法压铆在磁头架上的，而磁头架顶针压铆前后，图中关键尺寸D会改变， 而银行系统中对磁头架顶针压铆前后的尺寸D又有严格的误差范围要求，但是很多工作人 员在没对磁头架顶针中D尺寸进行检测的情况下，就将磁头架安装到银行系统中，再用磁 卡测试磁头架顶针安装是否到位，这样就会浪费人力和生产成本。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于磁头架顶针关键尺寸的检测装 置，该检测装置能快速检测多个磁头架顶针的关键尺寸是否符合生产要求。为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为一种用于磁头架顶针关键 尺寸的检测装置，其整体呈H形，由两呈长方体状的基块及设置在两基块之间的呈长方体 状的测量块组成，测量块底面离基块底面的距离与测量块顶面离基块顶面的距离两者不寸。本实用新型的有益效果是采用上述用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置后，能 快速删选出安装合格的磁头架顶针。
图1是磁头架顶针的结构图；图2是本实用新型所述用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置的主视图；图3是本实用新型检测磁头架顶针的关键尺寸D的下极限值的示意图；图4是本实用新型检测磁头架顶针的关键尺寸D的上极限值的示意图。图中1、基块，2、测量块，3、基块底面，4、测量块底面，5、基块顶面，6、测量块顶面， 7、磁头架顶针，8、磁头架。
具体实施方式
以下结合附图，详细描述本实用新型的具体实施方案。如图2所示，本实用新型所述的一种用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置，其整 体呈H形，由两呈长方体状的基块1及设置在两基块之间的呈长方体状的测量块2组成，且 测量块底面4离基块底面3的距离A与测量块顶面6离基块顶面5的距离B两者不等。因 为实际生产时，由于某些特定因素，总是会产生一些误差，故通常磁头架顶针的尺寸D只要 在工艺公差的要求范围内，都属于合格。为此，我们将尺寸A和尺寸B设计为不等，且A、B分别为尺寸D的上、下两个极限尺寸。 下面以磁头架顶针压铆前，A为下极限值，B为上极限值为例详细介绍本实用新型 的工作原理。先将磁头架顶针7放置在磁头架8上，然后将检测装置如图3所示放置在磁 头架8上，因为A为下极限值，故尺寸D必须大于或等于A，即磁头架顶针7的顶端与检测装 置中测量块底面4之间紧贴在一起或其中一个基块底面与磁头架8的外表面相脱离，然后 将不符合上述要求的磁头架顶针7去掉，如图4所示，再用B来检测尺寸D，因为B为上极限 值，故尺寸D必须小于或等于B，即磁头架顶针7的顶端与检测装置中测量块顶面6之间紧 贴或有空隙且基块顶面5与磁头架8外表面不能有间隙。同时满足上述两种测量情况的磁 头架顶针为合格产品，但是由于不同磁头架顶针7在压铆时的形变量不同，故压铆后的磁 头架顶针7还要经过上述两个步骤测量，只不过检测装置中的A和B设置成磁头架顶针7 压铆后的下极限值和上极限值，检测方法与压铆前的方法相同，在此就不再详细叙述了。利 用上述检测装置能方便、快速、准确的检测出磁头架顶针7压铆前后是否符合生产要求。
权利要求1. 一种用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置，其特征在于其整体呈H形，由两呈长方 体状的基块及设置在两基块之间的呈长方体状的测量块组成，测量块底面离基块底面的距 离与测量块顶面离基块顶面的距离两者不等。
专利摘要本实用新型公开了一种能快速、方便的检测磁头架顶针关键尺寸的用于磁头架顶针关键尺寸的检测装置，其整体呈H形，由两呈长方体状的基块及设置在两基块之间的呈长方体状的测量块组成，测量块底面离基块底面的距离与测量块顶面离基块顶面的距离两者不等。本实用新型用于检测银行系统中磁头架顶针压铆前后的关键尺寸。
文档编号G01B5/00GK201852541SQ20102060906
公开日2011年6月1日 申请日期2010年11月16日 优先权日2010年11月16日
发明者钱国强 申请人:江苏银河电子股份有限公司