专利名称：一种测试表笔的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量仪器仪表技术领域，特别涉及一种测试表笔。
背景技术：
目前，通常的万用表等测量仪器仪表所配测试表笔，由绝缘的笔杆、顶端为尖锥形 的金属探针、导线及导线插头等构成。现有表笔用于测试已焊接或插接在线路板上的电子 元器件，如测试集成电路块的相关参数，由于集成电路块的引出脚是一个接一个紧密排列 的，相邻两个引出脚之间只有很小的间隙，当现有表笔的探针碰触所测引出脚时，由于并无 固定接触位置的结构功能，尖滑的探针极易从所测引出脚滑落，同时碰触到相邻的引出脚， 引起测量结果的不实变化。若集成电路块处于通电状态，则还可能造成短路，烧毁集成电路 块。如测试三极管中间的一极，则易碰触旁边的两极。有的元件如电阻，往往位置紧贴线路 板，引出线很短，表笔也不易稳定地与之接触。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是，针对现有技术的不足，提供一种可靠地与所 测电子元器件引出脚接触，不易与相邻引出脚相碰的测试表笔。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是一种测试表笔，包括笔杆、后半 部嵌入笔杆的探针，所述的探针的前端端部呈扁平状，该端部开有凹口。所述的凹口内边缘呈与电子元器件引出脚外壁相配合的弧形。所述的探针前端端部的宽度小于电子元器件引出脚的最大宽度。所述的探针后半部与设置在笔杆内的导线相连接，导线的另一端连接有插头。本实用新型采用上述结构，具有以下优点1、用于线路板上集成电路块测试时， 探针端部可插置于所测引出脚与其插孔之间存在的微小缝隙处，这样可以既保证与所测引 出脚可靠接触，又不会左右移动与相邻引出脚相碰；2、用于线路板上电阻、二极管、三极管 等电子元件上参数测试时，可以探针前端端部的凹口，卡住所测引出脚，保证稳定可靠的接 触，操作者可以腾出双手操作仪器。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明；
图1为本实用新型的结构示意图；在图1中，1、笔杆；2、探针；3、凹口。
具体实施方式
如图1所示一种测试表笔，包括笔杆1、后半部嵌入笔杆的探针2，探针2的前端端 部呈扁平状，该端部开有凹口 3。凹口 3内边缘呈与电子元器件引出脚外壁相配合的弧形。 凹口 3外边缘过塑绝缘。探针2前端端部的宽度小于电子元器件引出脚的最大宽度。探针后半部与设置在笔杆1内的导线相连接，导线的另一端连接有插头。插头的类型视所配 属的仪表而定。该表笔在用于线路板上集成电路块测试时，探针2端部可插置于所测引出 脚与其插孔之间存在的微小缝隙处，这样可以既保证与所测引出脚可靠接触，又不会左右 移动与相邻引出脚相碰。该表笔用于线路板上电阻、二极管、三极管等电子元件上参数测试 时，可以用探针2前端端部的凹口 3，卡住所测电子元器件的引出脚，保证稳定可靠的接触。 上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述，显然本实用新型具体实现并不受 上述方式的限制，只要采用了本实用新型的技术方案进行的各种改进，或未经改进直接应 用于其它场合的，均在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种测试表笔，包括笔杆(1)、后半部嵌入笔杆的探针O)，其特征在于所述的探针 (2)的前端端部呈扁平状，该端部开有凹口(3)。
2.根据权利要求1所述的一种测试表笔，其特征在于所述的凹口( 内边缘呈与电 子元器件引出脚外壁相配合的弧形。
3.根据权利要求1所述的一种测试表笔，其特征在于所述的探针( 前端端部的宽 度小于电子元器件引出脚的最大宽度。
4.根据权利要求1所述的一种测试表笔，其特征在于所述的探针后半部与设置在笔 杆(1)内的导线相连接，导线的另一端连接有插头。
专利摘要本实用新型公开了一种测试表笔，包括笔杆、后半部嵌入笔杆的探针，所述的探针的前端端部呈扁平状，该端部开有凹口。采用上述结构，本实用新型具有以下优点1、用于线路板上集成电路块测试时，探针端部可插置于所测引出脚与其插孔之间存在的微小缝隙处，这样可以既保证与所测引出脚可靠接触，又不会左右移动与相邻引出脚相碰；2、用于线路板上电阻、二极管、三极管等电子元件上参数测试时，可以探针前端端部的凹口，卡住所测引出脚，保证稳定可靠的接触。
文档编号G01R1/067GK201903558SQ20102064413
公开日2011年7月20日 申请日期2010年12月6日 优先权日2010年12月6日
发明者罗大伟 申请人:罗大伟