专利名称：断层图像摄像设备和断层图像校正处理方法
技术领域：
本发明涉及一种断层图像摄像设备和断层图像校正处理方法。
背景技术：
为了早期诊断与生活方式相关的疾病以及在失明的诱因中排名高的各种疾病，广泛实行了眼部检查。在这类眼部检查中，需要在整个眼的任何部位查找疾病，因此需要拍摄覆盖眼部的宽范围的图像(宽区域眼底图像)。通常，通过使用眼底照相机或SLO(扫描激光检眼镜)来拍摄宽区域眼底图像。近年来，提出了使用诸如光学相干断层成像中所使用的断层图像摄像设备等的断层图像摄像设备(例如，参见 A. F. Fercher, C. K. Hitzenberger, G. Kamp, and S. Y. Elzaiat,“ Measurement of Intraocular Distances by Backscattering Spectral Interferometry " , Optics Communications 117,43 (1995)以及E. C. W. Lee, J. F. de Boer, M. Mujat,H. Lim, and S. H. Yun," In vivo optical frequency domain imaging of human retina and choroid" ,Optics Express Vol. 14，No. 1(K2006))。注意，下面将光学相干断层成 象禾尔为 OCT (Optical Coherence Tomography) 通过使用诸如OCT中所使用的断层图像摄像设备等的断层图像摄像设备拍摄宽区域眼底图像，这使得允许三维观察视网膜层的内部状态。这使得可以利用客观度量来量化疾病的状态。因此，作为用于更精确地诊断疾病的设备，期望断层图像摄像设备越来越多地用于宽区域眼底图像。即使人类在密切注视固定点时，也无意识且不间断地进行微小的眼运动(小的无意识眼动)。由于该原因，在如下设备的情况下，由于摄像期间的眼部的小的无意识眼动的影响，在所拍摄的多个断层图像之间可能发生偏移和失真等，其中，该设备诸如是在OCT期间所使用的在摄像开始和摄像结束之间花费较长时间的设备等。图M是示出由于摄像期间的眼部的小的无意识眼动而导致在断层图像之间如何发生偏移和失真的图。以图24的附图标记2 所示的线M20表示经过断层成像的眼部上的摄像位置。OCT设备首先从图面的左上向着图面的右上扫描构成线M20的多个线中的最上面的线。当扫描位置到达图面的右端时，OCT设备将摄像位置移动至次最上面的线，并且以与上述方式相同的方式扫描该线。重复这样的扫描直到最下面的线为止来拍摄断层图像。以图M的附图标记24b所示的线M30表示在OCT设备根据以图M的附图标记 24a所表示的线M20进行扫描时的实际摄像位置。如图M的附图标记24b所示，由于因摄像期间眼部小的无意识眼动的影响所引起的扫描位置不均勻以及扫描线之间的间隔不规贝U，因而实际扫描位置偏移。为了解决该问题，提出了如下方案通过消除摄像期间的小的无意识眼动的影响，来对伴随着摄像位置偏移的断层图像之间的位置偏移进行校正。例如，日本特开 2007-130403提出了一种如下结构通过使用参考图像(与两个以上的断层图像垂直的一个断层图像或眼底图像)，来对两个以上的断层图像之间的位置偏移进行校正。然而，如上述专利文献1所公开的那样，为了计算与两个以上的断层图像垂直的方向并获得在用于使扫描位置恢复至原点的处理中所使用的参考图像，需要从各个断层图像中预先提取对于计算有效的特征量。在眼部的情况下，视网膜具有层结构，因此缺少对于计算与各断层图像垂直的方向有效的特征量。因此认为难以通过使用专利文献1所公开的方法来精确地校正断层图像之间的位置偏移。
发明内容
考虑到上述问题作出了本发明。本发明提供一种断层图像摄像设备，所述断层图像摄像设备校正构成作为测量对象的三维断层图像的多个二维断层图像之间的位置偏移，所述断层图像摄像设备包括提取部件，用于从所述多个二维断层图像中的各个二维断层图像中提取表示相邻二维断层图像之间连续包括的所述测量对象的组织的特征量；选择部件，用于在要校正所述多个二维断层图像之间的位置偏移时，基于由所述提取部件提取的所述特征量，从所述多个二维断层图像选择基准二维断层图像；以及计算部件，用于基于所述二维断层图像之间的匹配，计算第r个二维断层图像(r是等于或大于1的整数)和第(r-Ι)个二维断层图像相对于所述选择部件所选择的二维断层图像的位置偏移量。根据本发明，可以在通过使用断层图像摄像设备所拍摄的多个断层图像之间实现精确的位置偏移校正。通过以下参考附图对典型实施例的说明，本发明的其它特征将变得明显。
包含在说明书中并构成说明书一部分的附图示出了本发明的实施例，并与说明书一起用来解释本发明的原理。图1是示出断层图像摄像设备的整体结构的框图；图2是示出断层图像获取单元的详细结构的框图；图3是示出用于断层成像/校正处理的过程的流程图；图4是示出重构的三维断层图像的图；图5是示出构成三维断层图像的B扫描图像的例子的图；图6是详细示出断层图像位置校正处理的流程图；图7是示出断层图像获取单元的详细结构的框图；图8是示出测量光束的排列的图；图9是示出所生成的A扫描信号和眼底视网膜之间的关系的图；图10是示出用于断层成像/校正处理的过程的流程图；图11是示出用于断层图像位置校正处理的过程的流程图；图12是示出断层图像摄像设备的整体结构的框图；图13是示出断层图像获取单元的详细结构的框图；图14是示出如何获取多个B扫描图像的图；图15是示出用于断层成像/校正处理的过程的流程图16是示出在视网膜层具有白斑时的B扫描图像的图；图17是示出聚焦位置如何改变的图；图18是示出测量光束的排列的图；图19是示出多个测量光束在主扫描方向和副扫描方向上如何扫描的图；图20是示出断层图像摄像设备的整体结构的框图；图21是示出用于断层成像/扫描控制处理的过程的流程图；图22是示出用于断层图像获取/扫描控制处理的过程的流程图；图23是示出B扫描图像HB和B扫描图像LB的例子的图；以及图M是用于说明眼部的小的无意识眼动的图。
具体实施例方式下面将参考附图来说明本发明的各实施例。尽管下面所述的各实施例将示例性说明作为测量对象的眼部的视网膜层(眼底视网膜)用的断层图像摄像设备，但是根据本发明的断层图像摄像设备的测量对象并不局限于眼底视网膜。第一实施例1.断层图像摄像设备的结构图1是示出根据本发明第一实施例的断层图像摄像设备100的整体结构的框图。 如图1所示，断层图像摄像设备100包括断层图像获取单元110、断层图像分析单元120、存储单元130、断层图像选择单元140、断层图像位置校正单元150和断层图像输出单元160。断层图像获取单元110进行作为测量对象的眼底视网膜的三维断层图像摄像处理。更具体地，断层图像获取单元110利用测量光照射眼底视网膜，并且通过使用使来自眼底视网膜的反射光和参考光之间发生干涉所获得的干涉光来重构眼底视网膜的三维断层图像。后面将详细说明断层图像获取单元110。断层图像分析单元120 断层图像位置校正单元150的单元存储通过断层图像获取单元110所拍摄的三维断层图像，并且还进行用于对形成具有小的无意识眼动的三维断层图像的二维断层图像之间的位置偏移进行校正的处理(断层图像位置校正处理)。后面将详细说明通过断层图像分析单元120 断层图像位置校正单元150的单元的断层图像位置校正处理。断层图像输出单元160将通过断层图像获取单元110所拍摄的三维断层图像和经过了断层图像分析单元120 断层图像位置校正单元150的单元的断层图像位置校正处理的三维断层图像显示在监视器上，或者经由网络等将这些三维断层图像输出到外部。2.断层图像获取单元的结构接着将说明断层图像获取单元110的结构。图2是详细示出断层图像获取单元 110的结构的框图。如图2所示，断层图像获取单元110通过向眼底视网膜RT照射测量光来拍摄眼部 EB的视网膜层(眼底视网膜)RT的三维断层图像。本实施例中的断层图像获取单元110使用如下的谱域系统通过对利用干涉光的分光所检测到的信号进行傅立叶变换来重构三维断层图像。注意，在下面的说明中，将与图2的图面垂直的方向称为X轴方向，并且将X轴方向上的测量光的扫描称为主扫描。另外，将图2中的Y轴方向上的测量光的扫描称为副扫描。将图2的图面上的水平方向(眼部的深度方向，即测量光的照射方向)定义为Z轴方向。由作为低相干光源的SLD 201所出射的光入射到光纤耦合器202。然后，光纤耦合器202将该光分成测量光to和参考光Br。测量光to通过光纤入射到扫描光学系统203。 参考光Br通过光纤入射到参考光准直器207。扫描光学系统203包括透镜Li，并且使入射的测量光to聚光于检电镜205。检电镜205利用聚光后的测量光ail扫描作为测量对象的眼底视网膜RT。注意，检电镜205具有两个驱动轴。扫描器控制单元204通过这两个驱动轴控制检电镜205，以沿着主扫描方向和副扫描方向在眼底视网膜RT上扫描测量光to。从检电镜205输出的测量光to通过透镜L2和对物光学系统206到达作为测量对象的眼底视网膜RT。然后，该光通过眼底视网膜RT进行反射，并且通过对物光学系统206 和扫描光学系统203到达光纤耦合器202。另一方面，从光纤耦合器202出射的参考光Br通过光纤和参考光准直器207被引导至参考镜208。该光通过参考镜208进行反射并再次到达光纤耦合器202，由此与通过眼底视网膜RT所反射的测量光to发生干涉，从而生成干涉光。将所生成的干涉光输入给信号检测单元209。信号检测单元209检测干涉光，并且将检测到的干涉光转换成电信号。然后，信号检测单元209将该信号作为干涉信号输出给信号处理单元210。信号处理单元210通过对干涉信号进行诸如傅立叶变换等的信号处理，生成与眼底视网膜RT在Z轴方向的各部位的反射率相对应的一维信号(下面称为A扫描信号)，从而重构眼底视网膜RT的三维断层图像。将眼底视网膜RT的三维断层图像发送给断层图像分析单元120和存储单元130。3.断层成像/校IH处理的说明接着将说明断层图像摄像设备100中的断层成像/校正处理的过程。图3是示出断层图像摄像设备100中的断层成像/校正处理的过程的流程图。如图3所示，当开始断层成像/校正处理时，在步骤S310，设备获取操作者经由键盘和鼠标等(未示出)所输入的各种类型的设置信息。更具体地，设备获取诸如作为测量对象的眼底视网膜RT上的区域和位置(测量位置)、与扫描速度和扫描方向有关的指示、摄像范围中的B扫描图像(后面详细说明)的数量、以及构成B扫描图像的A扫描信号的数量等的设置信息。将所获取的设置信息发送给断层图像获取单元110。在步骤S320，断层图像获取单元110基于所发送来的设置信息开始获取三维断层图像。图4是示出通过使断层图像获取单元110开始摄像所重构的三维断层图像的例子的图。参考图4，附图标记401表示被摄体的眼底视网膜的例子，附图标记403表示由断层图像获取单元110所生成的眼底视网膜401的二维断层图像的例子，附图标记40 或405 表示主扫描方向(X轴方向)，附图标记406a或406表示副扫描方向(Y轴方向)，并且附图标记408表示A扫描信号的深度方向(Z轴方向)。 断层图像获取单元110通过在主扫描方向上移动检电镜205的情况下使信号处理单元210逐一重构A扫描信号404，来生成图4所示的二维断层图像403。将二维断层图像403称为“B扫描图像”，其中，该B扫描图像是相对于眼底视网膜401的深度方向和与深度方向垂直的方向(X轴方向)的二维切片、即由图4所示的X轴方向405和Z轴方向408所定义的平面处的二维断层图像。附图标记402表示二维断层图像403的摄像位置。在副扫描方向(Y轴方向)上连续移位B扫描图像的摄像位置402(副扫描方向上的扫描)，由此获得各摄像位置402处的B扫描图像。附图标记407表示由在副扫描方向的各摄像位置处拍摄的B扫描图像所构成的三维断层图像。以这种方式在副扫描方向的各摄像位置402处生成多个B扫描图像，由此生成三维断层图像。参考图4，附图标记Ly表示与摄像范围相对应的B扫描图像的数量，附图标记Lx表示构成B扫描图像的A扫描信号的数量，并且附图标记Lz表示A扫描信号的采样数量。将断层图像获取单元110所生成的三维断层图像407(多个B扫描图像)发送给断层图像分析单元120和存储单元130。在步骤S330，断层图像分析单元120提取用于B扫描图像的位置偏移校正的特征量。在眼底视网膜401的三维断层图像的情况下，拍摄眼底视网膜401的解剖学结构作为B扫描图像。也就是说，该设备可以通过从B扫描图像提取与眼底视网膜401的组织的形状结构相关联的特征量、并基于所提取出的特征量校正B扫描图像的位置以保持形状结构的连续性，来校正B扫描图像之间的位置偏移。将通过以血管作为眼底视网膜401的组织的形状结构的例子来说明步骤S330的特征量提取处理。图5的示出三维断层图像407的B扫描图像Ti和B扫描图像Ti的不存在血管的位置处的A扫描信号的例子。图5的恥示出三维断层图像407的B扫描图像Tj和B 扫描图像Tj的存在血管的位置处的A扫描信号的例子。参考B扫描图像Ti和Tj，附图标记501表示内界膜，附图标记502表示神经纤维层边界，附图标记503表示视网膜色素上皮层，附图标记504表示光感受器内节和外节之间的接合部，附图标记505表示神经上皮层，附图标记506表示血管区域，并且附图标记507 表示血管下的区域。如图5的恥所示，在存在血管的情况下，由于血管的阴影，因而B扫描图像Tj中血管下方的区域507整体上具有低亮度。这导致相对于周边亮度的高对比度。考虑B扫描图像的这一特征，本实施例从B扫描图像中提取发生了对比度变化的A扫描信号的位置(X 轴方向上的位置)，作为B扫描图像中的与组织的形状结构相关联的特征量。更具体地，断层图像分析单元120基于下面给出的等式(1)，对于构成三维断层图像407的各B扫描图像计算对比度的变化量g(i，j，k)。
g(h j, k) = V{/0' +1，J k) - M j, k)f X ■ + {/(/, j + U) - M j, k)f X ^z…(1)其中i = 0,1, Lx-Ij = 0,1, Lz-Ik = 0，l，...，Ly-Iwx ^ 0wz ^ 0
在等式⑴中，f(i，j，k)表示三维断层图像407的位置(i，j，k)处的像素值，Lx 是三维断层图像407在X轴方向405上的像素数(即，A扫描信号的数量)，Lz是Z轴方向 408上的像素数(即，A扫描信号的采样数量)，Ly是Y轴方向406上的像素数(即，B扫描信号的数量)，并且wx和wz是X轴方向405和Z轴方向408上的对比度的变化量的权重。 在这种情况下，wx = 1并且wz = 1。然而，当要优先使用其中一个方向的对比度的变化量时，增大优先使用对比度的变化量的方向的权重。例如，如果要优先使用血管下方的区域 507和周围区域之间的对比度的变化量，则wz >> wx(例如，wz = 10并且wx = 0. 1)。本实施例将示例性说明使用对比度的变化量作为特征量的情况。然而，要使用的特征量不局限于对比度的变化量，只要在B扫描图像内与周围区域存在空间差并且该差使得可以指定B扫描图像的位置即可。例如，可以使用B扫描图像中的边缘强度作为特征量。在这种情况下，可以通过使用Laplacian滤波器、Sobel滤波器或Carmy滤波器等计算边缘强度。还可以使用B扫描图像的空间频率作为另一特征量。另外，在校正眼底视网膜401的三维断层图像407的各个B扫描图像之间的位置偏移时，本实施例关注眼底视网膜401中的血管。然而，本发明不局限于此。例如，由于诸如白斑等的病变的形状结构影响B扫描图像中的对比度的变化量，因而可以关注诸如白斑等的病变的形状结构。存储单元130存储由断层图像分析单元120所提取出的特征量g(i，j，k)。在步骤S340，断层图像选择单元140对从各个B扫描图像中提取的特征量进行比较以搜索具有大的特征量的B扫描图像，并且选择该B扫描图像作为位置校正用的基准断层图像。更具体地，首先，断层图像选择单元140基于下面给出的等式0)，通过相加在步骤S330从构成三维断层图像407的各个B扫描图像中提取出的对比度的变化量g来计算值 P(k)。
i<Lx-l }<Lz-\P{k)= Σ...(2)
!=0 ；=00彡k < Ly其中，P (k)是第k个B扫描图像B (k)的对比度的变化量g的累加值。断层图像选择单元140基于下面给出的等式C3)来获得具有最大值PO的第r个 (r为等于或大于1的整数)B扫描图像B (r)。p(r) = ar§ max(P(A:))...(3)
k然后，断层图像选择单元140选择第r个B扫描图像B(r)作为基准断层图像。将被选择为基准断层图像的B扫描图像的编号r存储在存储单元130中，并且将该编号r传送给断层图像位置校正单元150。在步骤S350，断层图像位置校正单元150对步骤S340中选择出的基准断层图像 B (r)和与基准断层图像B(r)相邻的B扫描图像之间的位置偏移进行校正。然后，断层图像位置校正单元150顺次重复相邻的B扫描图像的位置偏移校正。这样校正构成三维断层图像407的各个B扫描图像之间的位置偏移。注意，下面将详细说明使用基准断层图像B(r) 重复位置偏移校正的断层图像位置校正处理的过程。由各个B扫描图像和它们的位置校正值(χ，ζ)、即各个B扫描图像的X-Z平面内
的位置校正值，构成了已经过断层图像位置校正单元150的位置偏移校正的三维断层图像407。尽管本实施例示例性说明了 X-Z平面内的位置校正值(X，ζ)，但是本实施例还可被配置成通过使用下面给出的等式(4)来计算B扫描图像(k)的位置校正值(X，y，ζ)。S(k) = (χ,γ,ζ)…⑷其中，S(k)是第k个B扫描图像的位置校正值(X，y，ζ)(在本实施例中，由于Y轴方向上不进行位置偏移校正，因而y为0)。在步骤S360，存储单元130存储经过了位置偏移校正的三维断层图像407。注意， 该设备可以被配置成经由断层图像输出单元160将经过了位置偏移校正的三维断层图像 407传送给外部数据服务器(未示出)并且将该断层图像存储在外部数据服务器中。在步骤S370，断层图像摄像设备100判断是否接收到结束断层成像/校正处理的指示。假定操作者经由键盘或鼠标(未示出)输入结束断层成像/校正处理的指示。如果该设备在步骤S307判断为接收到了结束断层成像/校正处理的指示，则该设备终止断层成像/校正处理。如果该设备判断为没有接收到结束断层成像/校正处理的指示，则处理返回到步骤S310以对下一被摄体的眼底视网膜执行断层成像/校正处理(或者对于同一被摄体的眼底视网膜再次执行断层成像/校正处理)。4.断层图像位置校IH处理的说明接着将参考图6详细说明断层图像位置校正单元150所执行的断层图像位置校正处理(步骤S350)的过程。在步骤S610，断层图像位置校正单元150获取步骤S340中选择出的基准断层图像 B(r)。在步骤S620，断层图像位置校正单元150将代入用于指定与所获取的基准断层图像B(r)相邻的B扫描图像的编号a。在步骤S630，断层图像位置校正单元150将r+Ι代入用于指定与所获取的基准断层图像B(r)相邻的B扫描图像的编号b。在步骤S640，断层图像位置校正单元150判断是否存在第a个B扫描图像B (a)。 如果断层图像位置校正单元150判断为该图像存在，则处理进入步骤S650。如果断层图像位置校正单元150判断为该B扫描图像B (a)不存在，则处理进入步骤S670。在步骤S650，断层图像位置校正单元150计算用于校正X轴方向和Z轴方向上的 B扫描图像B(a)和B扫描图像B(a+1)之间的相对位置偏移的位置校正值。注意，断层图像位置校正单元150通过确定关注区域(以下称为R0I)并且利用模式匹配方法搜索相邻B扫描图像中的相同图案来计算相邻B扫描图像之间的位置校正值。 本实施例使用以等式(5)所表示的SSD (Sum of Squares Difference，离差平方和)作为模式匹配的近似度。
权利要求
1.一种断层图像摄像设备，其特征在于，包括 断层图像获取部件，用于获取多个断层图像；分析部件，用于分析所述多个断层图像中的各个断层图像； 断层图像选择部件，用于基于分析结果，选择基准断层图像；以及断层图像位置校正部件，用于通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。
2.根据权利要求1所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述分析部件包括提取部件，所述提取部件用于从断层图像中提取空间特征，其中，所述断层图像选择部件选择包括所述空间特征的断层图像。
3.根据权利要求2所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述提取部件所提取的特征量包括空间频率、对比度变化量、边缘强度、是否存在解剖学结构以及是否存在病变中的至少一个。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述断层图像获取部件生成多个测量光束，并且通过使用各个测量光束来拍摄断层图像。
5.根据权利要求4所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述多个测量光束中的至少一个测量光束的照射条件不同于其它测量光束的照射条件。
6.根据权利要求5所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述照射条件包括测量光束的波长、聚焦位置以及相干门的位置中的至少一个。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述多个测量光束在拍摄断层图像时一体地进行扫描，并且所述多个测量光束中的至少一个测量光束用作位置校正用的信号。
8.—种断层图像摄像设备，其特征在于，包括 断层图像获取部件，用于获取多个断层图像；分析部件，用于分析所述多个断层图像中的各个断层图像；以及断层图像位置校正部件，用于基于进行了分析的断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正，所述断层图像获取部件包括生成多个测量光束并通过使用各个测量光束拍摄断层图像的部件； 扫描部件，用于在测量对象上的不同测量位置处同时扫描所述多个测量光束中的至少一个测量光束和其它测量光束；以及控制部件，用于控制所述扫描部件，其中，所述控制部件控制所述扫描部件，以使得所述其它测量光束已进行扫描的测量位置变成所述至少一个测量光束的测量位置。
9.一种断层图像摄像设备，其特征在于，包括断层图像获取部件，用于通过使用多个测量光束来获取多个断层图像，其中，所述多个测量光束包括照射条件不同于其它测量光束的照射条件的至少一个测量光束；断层图像选择部件，用于从所述多个断层图像中选择位置校正用的基准断层图像；以及断层图像位置校正部件，用于通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。
10.根据权利要求9所述的断层图像摄像设备，其特征在于，不同的所述照射条件是测量光束相对于被检体的测量位置、测量灵敏度以及分辨率中的至少一个。
11.根据权利要求9或10所述的断层图像摄像设备，其特征在于，所述断层图像选择部件分析断层图像，并且选择所述基准断层图像。
12.—种断层图像摄像方法，其特征在于，包括以下步骤断层图像获取步骤，用于使断层图像获取部件获取多个断层图像；分析步骤，用于使分析部件分析所述多个断层图像中的各个断层图像；断层图像选择步骤，用于使断层图像选择部件基于分析结果来选择基准断层图像；以及断层图像位置校正步骤，用于使断层图像位置校正部件通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。
13.一种断层图像摄像方法，其特征在于，包括以下步骤断层图像获取步骤，用于使断层图像获取部件获取多个断层图像； 分析步骤，用于使分析部件分析所述多个断层图像中的各个断层图像；以及断层图像位置校正步骤，用于使断层图像位置校正部件基于进行了分析的断层图像， 对所述多个断层图像进行位置校正，所述断层图像获取步骤包括以下步骤摄像步骤，用于使摄像部件生成多个测量光束并通过使用各个测量光束拍摄断层图像；扫描步骤，用于使扫描部件在测量对象上的不同测量位置处同时扫描所述多个测量光束中的至少一个测量光束和其它测量光束；以及控制步骤，用于使控制部件控制所述扫描步骤，其中，在所述控制步骤中，控制所述扫描步骤，以使得所述其它测量光束已进行扫描的测量位置变成所述至少一个测量光束的测量位置。
14.一种断层图像摄像方法，其特征在于，包括以下步骤断层图像获取步骤，用于使断层图像获取部件通过使用多个测量光束来获取多个断层图像，其中，所述多个测量光束包括照射条件不同于其它测量光束的照射条件的至少一个测量光束；断层图像选择步骤，用于使断层图像选择部件从所述多个断层图像中选择位置校正用的基准断层图像；以及断层图像位置校正步骤，用于使断层图像位置校正部件通过使用所选择的基准断层图像，对所述多个断层图像进行位置校正。
15.一种用于使计算机执行根据权利要求12至14中任一项所述的断层图像摄像方法的程序。
16.一种用于存储根据权利要求15所述的程序的计算机可读存储介质。
全文摘要
本发明实现了通过使用断层图像摄像设备所拍摄的多个断层图像之间的精确位置偏移校正。本发明是一种用于校正构成三维断层图像的多个二维断层图像之间的位置偏移的断层图像摄像设备。该设备包括断层图像分析单元(120)，用于提取表示测量对象的组织的特征量；断层图像选择单元(140)，用于基于所述特征量，从所述多个二维断层图像中选择基准二维断层图像；以及断层图像位置校正单元(150)，用于计算与所述基准二维断层图像相邻的第n个二维断层图像和第(n-1)个二维断层图像之间的位置偏移量。
文档编号G01N21/17GK102469936SQ20108003177
公开日2012年5月23日 申请日期2010年6月2日 优先权日2009年7月13日
发明者佐藤真, 坂川幸雄, 山本裕之 申请人:佳能株式会社