专利名称：继电器寿命预测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及预测电磁继电器的寿命的寿命预测装置。
背景技术：
具有继电器线圈和通过对该继电器线圈的通电进行开闭的继电器接点的有接点继电器为一般公知。该继电器中的继电器接点通过线圈产生的磁力机械地进行闭合和断开切换。在包括这样的继电器的机械式的开关中，在接点进行闭合和断开切换之际，在接点的电极间产生放电，由该放电产生的热导致电极表面熔化而使得表面形成凹凸形状。形成有凹凸的电极，由于由该凹凸容易造成放电，因此在重复多次继电器接点的闭合和断开的过程中，凹凸缓缓生长，最终由于热而使得表面熔融了的电极相互熔敷，这样接点始终固定在闭合状态。为了在这样的熔敷实际发生之前判断“可以判断为现在所用的继电器未发生接点熔敷，或貌似要发生熔敷最好进行替换”，先进行寿命预测。例如，通过比较生产商提供的耐久性接点开闭次数和实际的接点开闭次数，和根据继电器中流过的电流计算，来进行电磁继电器的接点寿命预测(例如，参考专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1特开平05-266290号公报
发明内容
发明所要解决的问题然而，以上述方法，难以正确地预测电磁继电器的寿命。例如，在对生产商提供的耐久性的接点开闭次数和实际装置接点开闭次数进行比较的方法中，有由于各测定时负载的条件(包括电磁继电器的电路中电阻、电压、电流等)各不相同而导致的各个开闭次数产生较大的差异的情况发生，因此实机的实际的极限次数与生产商提供的值之差增大，随着该差的增大，预测精度下降。又，如专利文献1所记载的那样，在将代表电流的负载条件代入规定的寿命预测计算式计算寿命的方法中，由于例如电磁继电器内的电阻值随着机构、 气氛、噪音等环境条件的变化而变动，会有预先确定的负载条件与实际运用上产生的负载不一致的情况，在这样的情况下预测精度会下降。因此，本发明目的在于提供能够正确预测电磁继电器的寿命的继电器寿命预测装置。解决问题的手段为了解决上述问题，本发明提供一种继电器寿命预测装置，包括具有继电器线圈、和通过对该继电器线圈的通电进行开闭的继电器接点的继电器；通过对所述继电器线圈的通电的控制，以控制继电器的开闭的控制部；检测继电器的实际的开闭的检测部；测定部，其对从由控制部对继电器线圈的通电时刻或由控制部对继电器线圈断电的时刻开始到由检测部检测到所述继电器的开闭的时刻为止的时间进行测定；以及基于该测定部的测定结果诊断继电器的寿命的诊断部。
在上述继电器的寿命预测装置中，诊断部也可在测定部的测定结果中，基于开闭次数的变化量与测定结果的变化量之比诊断继电器的寿命。又，在上述继电器的寿命预测装置中，诊断部也可在测定部的测定结果中，通过比较测定结果的值与规定阈值来诊断继电器的寿命。发明效果根据本发明，基于从开始对继电器线圈通电的时刻或从停止对继电器线圈通电的时刻开始到实际检测到继电器的开闭的时刻为止的时间，对继电器的寿命进行诊断，而不会产生由于负载条件或环境条件的影响而导致的预测精度的显著下降，以正确地预测电磁继电器的寿命。
图1是示意性地显示本发明涉及的寿命预测装置的结构的图。图2是显示用于电磁继电器的检查的电路的一例的图。图3是图2的电路中的实验结果。图4是图2的电路中的实验结果。图5是表示动作时间、复位时间与开闭次数之间的关系的图表。
具体实施例方式下面，参考附图对本发明的实施方式进行详细说明。<寿命预测装置1的结构>如图1所示，本实施方式的寿命预测装置1具有控制继电器10的开闭的控制部 2 ；检测继电器10的接点的开闭的检测部3 ；测定继电器10的开闭所需要的时间的测定部 4 ；基于该测定部4的测定结果诊断继电器10的寿命的诊断部5。控制部2由控制继电器10的开闭的电路构成。该控制部2在对继电器10输出指示开闭的控制信号时，即将这一事件通知测定部4。检测部3由检测继电器10的实际开闭的检测装置构成。该检测部3在检测继电器10的开闭时，即将这一事件通知测定部4。测定部4由测定装置构成，该测定装置对从由控制部2对继电器10输出控制信号的时刻或由控制部2对继电器10停止控制信号的输出(通电)的时刻开始，到检测部3的基于该控制信号的继电器10实际开闭时刻为止的时间进行测定。具体来说，测定部4测定以下的响应时间，即，从由控制部2对继电器10输出指示闭合接点的控制信号的时刻、即开始对继电器10的通电的时刻到检测部3检测到继电器10实际闭合的时刻为止的响应时间 (以下，称为“动作时间”)，和从由控制部2对继电器10输出指示断开接点的控制信号的时刻、即停止对继电器10的通电的时刻开始到检测部3检测到继电器10实际断开的时刻为止的响应时间(以下，称为“复位时间”)。这些测定结果输出到诊断部5。诊断部5基于测定部4测定的动作时间和复位时间，诊断继电器10的寿命。在动作时间、复位时间和电磁继电器的开闭之间，找到相关性。对该相关性，参考图2 图5进行说明。在如图2所示的电路中，进行电磁继电器的耐久实验。此处，采用OMRON公司所生产的LY2(DCMV)作为构成开关101、102的电磁继电器，继电器的接点连接有光耦合电路 103，通过CPUi04、CPUi05对所述电磁继电器输出接点开闭的指示的同时测定动作时间和复位时间。对样品1 4进行这样的测定的结果，如图3、图4所示。如图3所示，动作时间和复位时间随着开闭次数增加，尤其是，恰在电磁继电器的熔敷发生时刻的之前会更加有所增加。即，所谓的动作时间和复位时间与开闭次数为如图 5所示的二次曲线那样的曲线所描绘的那样。又，在图3中，所谓“试验后”是指，接点熔敷所发生的次数，该栏的值为，熔敷过的接点再度分离后，同样方式测定的值。此处，诊断部5基于复位时间和动作时间的变化量与开闭次数变化量之比，诊断继电器10的寿命。例如，如图5的符号a所示，复位时间或动作时间的曲线的切线的斜率如果超过规定值，则诊断继电器10的接近最终寿命。该规定值可基于上述样品的测定结果等预先进行设定。又，诊断结果可以由显示器等来显示，也可通过扬声器输出。这样，根据本实施方式，通过基于从向继电器10的通电开始的时刻或由控制部2 停止对继电器线圈的通电时刻开始到检测出继电器10实际开闭的时刻为止的时间，诊断继电器10的寿命，这样可避免由于负载条件或环境条件的影响而导致预测精度的显著下降，更加正确地预测继电器10的寿命。S卩，由于基于时间这样不受外部环境影响的值来预测继电器10的寿命，因此可更加正确的预测继电器10的寿命。又，由于基于实际继电器10 的开闭来预测寿命，因此在立即检测出继电器10的异常的同时，可排除由于个体差别造成的影响，更加正确地预测继电器10的寿命。又，在本实施方式中，以诊断部5基于复位时间或动作时间的曲线的切线的斜率的值诊断电磁继电器的寿命为例进行了说明，但是如图5的符号b所示的，也可对复位时间或动作时间设定规定的阈值，当超过该阈值就诊断接近最终寿命。此时，可不计测开闭的次数。又，测定部4也可不是每次都进行复位时间和动作时间的测定。也可是例如，继电器10每开闭1000次等，每开闭规定的次数时进行测定。产业上的利用可能性
本发明可适用于具有电磁继电器的各种装置。
符号说明
1…寿命预测装置、
2…控制部、
3…检测部、
4…测定部、
5…诊断部、
10…电磁继电器。
权利要求
1.一种继电器的寿命预测装置，其特征在于，包括包括继电器线圈、和通过对该继电器线圈的通电进行开闭的继电器接点的继电器； 通过对所述继电器线圈的通电的控制，控制继电器的开闭的控制部； 检测所述继电器的实际的开闭的检测部；测定部，其对从由所述控制部对所述继电器线圈通电时刻或由所述控制部对所述继电器线圈断电时刻开始到由所述检测部检测到所述继电器的开闭的时刻为止的时间进行测定；基于该测定部的测定结果诊断所述继电器的寿命的诊断部。
2.如权利要求1所述的继电器的寿命预测装置，其特征在于，所述诊断部，在所述测定部的测定结果中，基于开闭次数的变化量和测定结果的变化量之比对所述继电器的寿命进行诊断。
3.如权利要求1所述的继电器的寿命预测装置，其特征在于，所述诊断部，在所述测定部的测定结果中，通过比较测定结果的值和规定的阈值对所述继电器的寿命进行诊断。
全文摘要
本发明提供一种能够正确预测电磁继电器的寿命的继电器的寿命预测装置。通过基于从对继电器(10)的通电时刻或由控制部(2)对继电器线圈的断电时刻开始到实际检测到继电器(10)的开闭的时刻为止的时间，诊断继电器(10)的寿命，避免由于负载条件或环境条件的影响而导致预测精度显著下降，更加正确地对继电器(10)的寿命进行预测。即，基于时间这样的不受外部环境影响的值对继电器(10)的寿命进行预测，可更加正确地预测继电器(10)的寿命。又，由于基于实际的继电器(10)的开闭预测寿命，因此在即时检测继电器(10)的异常的同时，能够排除个体差异造成的影响，以更加正确地预测继电器(10)的寿命。
文档编号G01R31/327GK102207539SQ20111007186
公开日2011年10月5日 申请日期2011年3月16日 优先权日2010年3月30日
发明者熊泽雄一, 秋田大助 申请人:株式会社山武