专利名称：电路保护装置的制作方法
电路保护装置
技术领域：
本发明涉及ー种电路保护装置，特别是涉及ー种测试设备的电路保护装置。
背景技木随着科技的发展进歩，电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合，尤其是个人台式电脑和笔记本电脑，更是成为人们 生活中必不可少的工具。因此，需要大量生产该类电子产品。在エ厂需要出货前，都需要对其性能进行测试，以确保其品质。请參阅图1，其绘示为现有技术电子产品的测试结构图。目前的测试通常都是将测试设备100与待测设备200直接电性连接。待测设备200以笔记本电脑的显示器为例，而测试设备100以笔记本电脑的主机为例。利用所述主机对所述显示器进行19V以下的电源测试的时候，将二者直接相连。然而，采用上述方式进行测试的时候，由于测试设备100与待测设备200直接电性连接。如果待测设备200本身的电路短路，则在测试设备100供电后，会使得测试设备100短路而不能正常工作甚至烧毀。有鉴于此，实有必要开发ー种电路保护装置，以解决上述问题。
发明内容因此，本发明的目的是提供ー种电路保护装置，可以保证在测试设备和待测设备电性连接的安全性。为了达到上述目的，本发明提供的电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，所述电路保护装置包括第一接ロ，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态； 保护电路，其一端与所述第一接ロ电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接ロ，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。可选的，所述第一电平状态为低电平，所述保护电路通路；第一电平状态为高电平，所述保护电路断路。可选的，所述第二接ロ与所述测试设备电性连接，获取第二电平状态，所述第一、第二电平状态皆为低电平，所述保护电路通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述保护电路断路。可选的，所述保护电路包括MOS管，所述MOS管导通，则所述保护电路通路。可选的，所述电路保护装置还包括监测电路，与所述第一接ロ电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号。可选的，所述电路保护装置还包括监测电路，与所述第二接ロ电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号。可选的，所述电路保护装置还包括警示单元，与所述监测电路连接，所述监测信号正常吋，所述警示単元显示为第一状态；所述监测信号异常吋，所述警示単元显示为第一状态。可选的，所述警示単元为发光二极管，所述第一状态为不发光，所述第二状态为发光。可选的，所述警示単元为扬声器，所述第一状态为不发声，所述第二状态为发声。相较于现有技术，利用本发明的电路保护装置，由于通过第一接ロ获取所述待测设备的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备的保护。同时，在本发明的一个实施例中，通过第二接ロ获取所述测试设备的第二电平状态，依据所述第一、第二电平状态共同控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备和待测设备的共同保护。在本发明的一个实施例中，还包括监测电路，可以与所述第 一接ロ电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号，达到对待测设备的监测；也可以与所述第二接ロ电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号，达到对测试设备的监測。
图I绘示为现有技术电子产品的测试结构图。图2为本发明的电路保护装置第一实施例应用状态的方框结构图。图3为本发明的电路保护装置第二实施例应用状态的方框结构图。
具体实施方式请參阅图2，图2为本发明的电路保护装置第一实施例应用状态的方框结构图。本发明提供的电路保护装置300，与测试设备100和待测设备200相连，于该第一实施例，所述电路保护装置300包括第一接ロ 301，与所述待测设备200电性连接，取得第一电平状态；保护电路302，其一端与所述第一接ロ 301电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路302的通断；第二接ロ 303，其一端与所述保护电路302另一端电性连接，另一端与所述测试设备100电性连接。此处，所述保护电路302可以为包括MOS管，所述MOS管导通，则所述保护电路通路。采用MOS管可以方便控制。此处，所述第一电平状态为低电平，所述待测设备200正常，所述保护电路302通路；第一电平状态为高电平，所述待测设备200短路，所述保护电路302断路。可见，利用本发明的电路保护装置300，由于通过第一接ロ 301获取所述待测设备200的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路302的通断，从而可以达到对测试设备100的保护。当然，所述第二接ロ 303与所述测试设备100电性连接，也可以为获取第二电平状态，所述第一、第二电平状态皆为低电平，所述测试设备100和待测设备200皆正常，所述保护电路302通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述测试设备100和待测设备200其中之一短路，所述保护电路302断路。由于通过第二接ロ 303获取所述测试设备100的第二电平状态，依据所述第一、第ニ电平状态共同控制所述保护电路302的通断，从而可以达到对测试设备100喝待测设备200的共同保护。请參阅图3，图3为本发明的电路保护装置第二实施例应用状态的方框结构图。于该第二实施例，所述电路保护装置300除包括第一实施例中的各功能模块外，还包括监测电路304。当然，监测电路304可以与所述第一接ロ 301电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号。所述监测电路304也可以为与所述第二接ロ 302电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号。 此处，所述电路保护装置300还包括警示单元305，与所述监测电路304连接，所述监测信号正常时，所述警示単元305显示为第一状态；所述监测信号异常时，所述警示单元305显示为第一状态。当然，所述警示単元305可以为发光二极管，所述第一状态为不发光，所述第二状态为发光。当然，所述警示単元305也可以为扬声器，所述第一状态为不发声，所述第二状态为发声。于该第二实施例，由于该电路保护装置300还包括监测电路304，可以与所述第一接ロ 301电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号，从而达到对待测设备200的监测；也可以与所述第二接ロ 302电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号，从而达到对测试设备100的监测。
权利要求
1.ー种电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，其特征在于，所述电路保护装置包括: 第一接ロ，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态； 保护电路，其一端与所述第一接ロ电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断； 第二接ロ，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。
2.如权利要求I所述的电路保护装置，其特征在于，所述第一电平状态为低电平，所述保护电路通路 ，第一电平状态为高电平，所述保护电路断路。
3.如权利要求I所述的电路保护装置，其特征在于，所述第二接ロ与所述测试设备电性连接，获取第二电平状态，所述第一、第二电平状态皆为低电平，所述保护电路通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述保护电路断路。
4.如权利要求I所述的电路保护装置，其特征在于，所述保护电路包括MOS管，所述MOS管导通，则所述保护电路通路。
5 .如权利要求I所述的电路保护装置，其特征在于，所述电路保护装置还包括监测电路，与所述第一接ロ电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号。
6.如权利要求I所述的电路保护装置，其特征在于，所述电路保护装置还包括监测电路，与所述第二接ロ电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号。
7.如权利要求5或6所述的电路保护装置，其特征在于，所述电路保护装置还包括警示単元，与所述监测电路连接，所述监测信号正常吋，所述警示単元显示为第一状态；所述监测信号异常时，所述警示単元显示为第一状态。
8.如权利要求7所述的电路保护装置，其特征在于，所述警示単元为发光二极管，所述第一状态为不发光，所述第二状态为发光。
9.如权利要求7所述的电路保护装置，其特征在于，所述警示単元为扬声器，所述第一状态为不发声，所述第二状态为发声。
全文摘要
本发明揭示一种电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，所述电路保护装置包括第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态；保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。利用本发明的电路保护装置，由于通过第一接口获取所述待测设备的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备的保护。
文档编号G01R1/36GK102738769SQ201110087668
公开日2012年10月17日 申请日期2011年4月8日 优先权日2011年4月8日
发明者任光明 申请人:神讯电脑(昆山)有限公司