专利名称：Usb接口测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种通用串行总线(Universal Serial Bus, USB)接口测试装置。
背景技术：
目前，对被测设备的USB接口进行测试一般采用两种测试装置，一种是使用USB设备，例如U盘、USB键盘或者USB鼠标等；另一种是采用USB环路测试线。当使用U盘对USB接口进行测试时，一般是通过被测设备发送数据至所述U盘，所述数据经U盘存储后再由被测设备从U盘读取该数据，通过判断发送的数据与U盘存储的数据是否一致来判断该USB接口的好坏。但是这样对U盘进行反复读写极易对该U盘造成损坏，由于U盘价格一般较高，这样则会造成测试成本的增加。若采用USB键盘或者USB鼠标对USB接口进行测试，则 只能测试USB接口抓取USB设备的功能，而不能测试USB接口读写数据的功能。而采用USB环路测试线对USB接口进行测试，虽然克服了上述USB设备的缺点，但是由于USB环路测试线是在两个USB接口之间做环路测试，因此USB环路测试线仅适用于具有至少两个USB接口的被测设备进行测试。此外，USB环路测试线的传输速率较低，导致对USB接口的测试效率也较低。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种具有较低成本及较高传输速率的USB接口测试装置。一种USB接口测试装置，用于对被测设备的被测USB接口进行测试，所述USB接口测试装置包括
USB连接器，通过USB线缆电性连接至所述被测USB接口；
主控芯片，整合有USB控制器及单片机，所述主控芯片电性连接至所述USB连接器，用于在接收到被测设备通过被测USB接口发送的测试数据后，直接将该测试数据返回至所述被测设备以对该被测设备进行环路测试，从而实现对所述被测USB接口的测试；
供电模块，电性连接至主控芯片，该供电模块用于为主控芯片提供工作电压；
晶体震荡器，电性连接至主控芯片，该晶体振荡器用于为主控芯片提供工作震荡频率；
以及
存储模块，电性连接至主控芯片，该存储模块用于存储所述主控芯片的测试工作固件。所述的USB接口测试装置的主控芯片在接收到的测试数据后无需存储而直接返回至被测设备，通过对被测设备进行环路测试来实现对被测USB接口的测试。所述主控芯片相对于U盘具有较低的价格，同时相对于USB环路测试线具有较高的数据传输速率。
图I是本发明较佳实施方式的USB接口测试装置的功能模块图。主要元件符号说明
USB接口测试装置 j 10 USB连接器TTT
权利要求
1.一种USB接口测试装置，用于对被测设备的被测USB接口进行测试，其特征在于，所述USB接口测试装置包括 USB连接器，通过USB线缆电性连接至所述被测USB接口； 主控芯片，电性连接至所述USB连接器，用于在接收到被测设备通过被测USB接口发送的测试数据后，直接将该测试数据返回至所述被测设备以对该被测设备进行环路测试； 供电模块，电性连接至主控芯片，该供电模块用于为主控芯片提供工作电压； 晶体震荡器，电性连接至主控芯片，该晶体振荡器用于为主控芯片提供工作频率；以及 存储模块，电性连接至主控芯片，该存储模块用于存储所述主控芯片的测试工作固件。
2.如权利要求I所述的USB接口测试装置，其特征在于所述USB连接器包括电源引脚，该电源引脚通过所述USB线缆从被测USB接口接收5V电源；所述供电模块为电压转换 器，该电压转换器输入端电性连接至该电源引脚，输出端电性连接至所述主控芯片，该电压转换器用于将该5V电源转换为该主控芯片的工作电压并输出给该主控芯片。
3.如权利要求I所述的USB接口测试装置，其特征在于所述供电模块为一独立电源，该独立电源的输出电压为该主控芯片的工作电压。
4.如权利要求I至3任一项所述的USB接口测试装置，其特征在于所述存储模块为电可擦除可编程只读存储器。
5.如权利要求4所述的USB接口测试装置，其特征在于所述电可擦除可编程只读存储器所需工作电压与所述主控芯片相同，该电可擦除可编程只读存储器也由所述供电模块供电。
6.如权利要求I至3任一项所述的USB接口测试装置，其特征在于所述主控芯片为CYPRESS公司的SZ-USB控制芯片。
7.如权利要求I至3任一项所述的USB接口测试装置，其特征在于所述晶体振荡器的输出的频率为24MHz。
全文摘要
一种USB接口测试装置，用于对被测设备的被测USB接口进行测试，所述USB接口测试装置包括USB连接器、主控芯片、供电模块、晶体震荡器以及存储模块，所述USB连接器通过USB线缆电性连接至所述被测USB接口；所述供电模块用于为主控芯片提供工作电压；该晶体振荡器用于为主控芯片提供工作震荡频率；该存储模块用于存储所述主控芯片的测试工作固件；该主控芯片整合有USB控制器及单片机，用于在接收到被测设备通过被测USB接口发送的测试数据后，直接将该测试数据返回至所述被测设备以对该被测设备进行环路测试，从而实现对所述被测USB接口的测试。所述USB接口测试装置具有较低的价格及较高的传输速率。
文档编号G01R31/28GK102736014SQ20111009492
公开日2012年10月17日 申请日期2011年4月15日 优先权日2011年4月15日
发明者李圣义 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司