一种场分布测量方法和系统的制作方法

文档序号:6009301阅读:267来源:国知局
专利名称:一种场分布测量方法和系统的制作方法
技术领域
本发明涉及电场或磁场领域,具体地涉及一种场分布测量方法和系统。
背景技术
随着经济和社会的发展,电磁场与电磁波在现代社会的各个领域的广泛应用,其中一个典型应用在于医疗器械领域,用激发的磁场侦测人体的各种病症,基于磁场的检测技术已经取得广泛应用并取得了很好的效果。且,当对环境的磁场有一定的要求时,一般是 采用磁场线圈人工制造一个三维磁场,但是,对三维磁场本身,尤其是近场磁场三维矢量的认识和磁场场强与方向的分布仍然有需要进一步的加深认识,对三维空间磁场场强、方向、特性的测量仍有大量的工作需要提高和深化。在电子产品领域,随着主频的不断提高,布线密度的不断增加和大量高速器件的应用,电磁环境变得非常复杂。目前为了验证产品的电磁兼容特性,需要把产品拿到标准电磁兼容实验室去测量。在无线通信领域,各种不同天线的辐射特性是我们所关心的。目前通常在微波暗室中进行天线的远场或者近场测量。在上述应用领域,这些方法只能获得某些空间范围内的电磁场的一部分特性,有很大的局限性。目前的方法是把待测量的空间细分,然后测量每个点的值。这样的方法数据量大,而且速度慢。

发明内容
本发明要解决的技术问题在于,提供高效、精确、可视化的场分布测量方法和系统。本发明解决其技术问题所采用的第一个技术方案是提供一种场分布测量方法,包括SI.设置空间分辨率的初始值;S2.使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;S3.计算所获得的场空间频率;S4.判断是否大于预设的空间频率,如果大于,则返回步骤SI ;如果小于,则进入步骤S5 ;S5.将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;S6.从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。在本发明所述的场分布测量方法中,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。在本发明所述的场分布测量方法中,所述的探头在二维空间进行扫描。在本发明所述的场分布测量方法中,所述的探头在三维空间进行扫描。
在本发明所述的场分布测量方法中,所述的采样频率为场空间频率的2倍以上。本发明解决其技术问题所采用的第二个技术方案是提供一种场分布测量系统,包括设置模块,用于设置空间分辨率的初始值;测量模块,与所述的设置模块相连,用于使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;计算模块,与所述的测量模块相连,用于计算所获得的场空间频率; 判断模块,与所述的计算模块相连,用于判断是否大于预设的空间频率;存贮模块,与所述的判断模块相连,用于将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;显示模块与所述的存贮模块相连,用于从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的探头在二维空间进行扫描。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的探头在三维空间进行扫描。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的电场分布数据为电场强度以及电场方向,所述磁场分布数据为磁场强度及磁场方向。根据本发明的场分布测量方法和系统中,提供一种能够高效、精确、可视化的场分布,可有效测量具体的场分布特性。


图I为本发明场分布测量方法流程图;图2为场分布测量系统结构示意图。
具体实施例方式为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图详予说明。请参阅图1,本发明实施例一,一种场分布测量方法,包括以下步骤SI.设置空间分辨率的初始值;该初始值为经验取值,没有一定的规律,如可取值每50厘米一个采样点,或取值为100厘米一个采样点,视实际需要,凭经验进行的。S2.使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;其中,采样频率为场空间频率的2倍以上。由公知常识可知任何信号都可以看作是不同频率的正弦/余弦信号的叠加,因此如果知道所有组成这一信号的正/余弦信号的幅值、频率即相角,就可以重构原信号。由于信号测量、分解及变换的过程中存在误差,因此不能100%地重构原信号,重构的信号只能保证原信号误差在容许范围内,为了不失真地恢复模拟信号,采样频率应该不小于模拟信号频谱中最高频率的2倍。
S3.计算所获得的场空间频率;本发明所述的场分布扫描既可以是在二维空间进行扫描,也可以是在三维空间进行扫描。S4.判断是否大于预设的空间频率,如果大于,则返回步骤SI ;如果小于,则进入步骤S5 ;由于初始值为经验值,当场空间频率过大的,我们应加以调整初始值,以获得准确的数据,即因为频率过大,场变化过快,我们应缩短采样点的距离才能更准确地反映真实的场分布。S5.将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;在本发明所述的场分布测量方法中,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场 分布数据,存贮介质可为硬盘,可以软盘、光盘、U盘等等。优选地,使用硬盘,因为硬盘容量大,而且其结构保存数据更为安全可靠,数据库可以服务器,也可为内存,视实际情况而定。S6.从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。生成的场分布图像可显示场分布的特点,如某一方向上场分布特别强,某一宽度上场分布特别窄,从而让我们一目了然,图像可为矩阵,也可为曲线显示在终端的屏幕上。请参阅图2,本发明实施例二,一种场分布测量系统,包括设置模块10、测量模块20、计算模块30、判断模块40、存贮模块50、显示模块60。设置模块10,用于设置空间分辨率的初始值;测量模块20,与设置模块10相连,用于使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;计算模块30,与测量模块20相连,用于计算所获得的场空间频率;判断模块40,与计算模块30相连,用于判断是否大于预设的空间频率;存贮模块50,与判断模块40相连,用于将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;显示模块60 :与存贮模块50相连,用于从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的探头在二维空间进行扫描。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的探头在三维空间进行扫描。在本发明所述的场分布测量系统中,所述的电场分布数据或磁场分布数据为电场/磁场强度以及电场/磁场方向。在实际情况中,场分布在一定范围内很强,在一定范围里又很弱,如靠近磁场发生器的地方,磁场辐射较强,而远离磁场发生器的地方,磁场辐射较弱,实际扫描时,探头对同一采样点一般要遍历多次,测多次的磁场数据,取其平均值存入所在的数据库中,因为外界干扰以及噪声的影响,某一时刻所采集的磁场数据有可能相当大,如大到了 3倍以上,我们认为,这样的数据是不真实的,应加以舍弃,故还应先设定一定的磁场数据的取值范围。根据本发明的场分布测量方法和系统中,提供一种能够高效、精确、可视化的场分布,可有效测量具体的场分布特性。上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式
,上述的具体实施方式
仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,这些均属于本发明的 保护之内。
权利要求
1.一种场分布测量方法,其特征在于,包括 51.设置空间分辨率的初始值; 52.使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据; 53.计算所获得的场空间频率;54.判断是否大于预设的空间频率,如果大于,则返回步骤SI;如果小于,则进入步骤S5 ; 55.将获得所述的场分布数据存贮于数据库中; 56.从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。
2.根据权利要求I所述的场分布测量方法,其特征在于,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。
3.根据权利要求I所述的场分布测量方法,其特征在于,所述的探头在二维空间进行扫描。
4.根据权利要求I所述的场分布测量方法,其特征在于,所述的探头在三维空间进行扫描。
5.根据权利要求I所述的场分布测量方法,其特征在于,所述的采样之频率为场空间频率的2倍以上。
6.一种场分布测量系统,用于实现权利要求I所述的方法,其特征在于,包括 设置模块,用于设置空间分辨率的初始值; 测量模块,与所述的设置模块相连,用于使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据; 计算模块,与所述的测量模块相连,用于计算所获得的场空间频率; 判断模块,与所述的计算模块相连,用于判断是否大于预设的空间频率; 存贮模块,与所述的判断模块相连,用于将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;显示模块与所述的存贮模块相连,用于从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。
7.根据权利要求6所述的场分布测量系统,其特征在于,所述的场分布数据包括电场分布数据或磁场分布数据。
8.根据权利要求6所述的场分布测量系统,其特征在于,所述的探头在二维空间进行扫描。
9.根据权利要求6所述的场分布测量系统,其特征在于,所述的探头在三维空间进行扫描。
10.根据权利要求7所述的场分布测量系统,其特征在于,所述的电场分布数据为电场强度及电场方向,所述的磁场分布数据为磁场强度及磁场方向。
全文摘要
本发明涉及一种场分布测量方法,包括S1.设置空间分辨率的初始值;S2.使探头连续扫描的同时,在多数取样点上进行采样测量,获得场分布数据;S3.计算所获得的场空间频率;S4.判断是否大于预设的空间频率,如果大于,则返回步骤S1;如果小于,则进入步骤S5;S5.将获得所述的场分布数据存贮于数据库中;S6.从所述数据库中提取所述场分布数据,生成场分布图像并加以显示。本发明还公开了一种场分布测量的系统。根据本发明的场分布测量方法和系统中,提供一种能够高效、精确、可视化的场分布方法和系统,可有效测量具体的场分布特性。
文档编号G01R33/10GK102759667SQ201110111460
公开日2012年10月31日 申请日期2011年4月29日 优先权日2011年4月29日
发明者刘若鹏, 季春霖, 岳玉涛, 徐冠雄 申请人:深圳光启创新技术有限公司, 深圳光启高等理工研究院
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