专利名称：三极管测试电路的制作方法
技术领域：
本发明涉及ー种测试电路，尤其涉及ー种三极管测试电路。
背景技术：
在三极管的应用或维修过程中，经常需要对三极管的类型进行判断，井根据该三极管的类型确定其放大倍数。目前，在该领域主要采用万用表对该三极管的类型进行测试。测试时，先将万用表调至电阻挡，再利用万用表的红表笔及黑表笔依次接触三极管的各个引脚，井根据各个引脚之间的电阻关系判断所述三极管的类型。显然，该测试过程操作较为繁琐且效率较低
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供ー种可快速判别三极管类型的三极管测试电路。一种三极管测试电路，包括第一测试电路，一被测三极管的基极连接至ー电源，该被测三极管的发射极接地，该第一测试电路包括发光二极管，该发光二极管的阳极连接至所述电源，该发光二极管的阴极通过ー电阻连接至该被测三极管的集电极，通过观察该发光二极管的发光与否以判断所述被测三极管的类型。所述本发明的三极管测试电路仅需观察所述发光二极管的发光与否，便可有效判断该被测三极管的类型，其测试电路较为简单，可有效提高测试效率，且精确度较高。
图I为本发明较佳实施方式的三极管测试电路的功能框图。图2为图I所示三极管测试电路的电路图。主要元件符号说明
三极管测试电路[_100^
电源11
第一测试电路 12第二测试电路 13 _
保护电路14
光耦合器141
恒流电路15
被测三极管200_
开关_S1、S2
发光二极管D1、D2
电阻Rl - R7
三极管Q1、Q2
感光三极管Q3_
电流表_Ml_
电压表M2
如下具体实施方式
将结合上述附图进ー步说明本发明。
具体实施例方式请參阅图I及图2，本发明较佳实施方式提供ー种三极管测试电路100，用于对ー被测三极管200的类型及放大倍数进行测试。该三极管测试电路100包括电源11、第一测试电路12、第二测试电路13及保护电路14。该被测三极管200的基极连接至所述电源11，该被测三极管200的发射极接地。该第一测试电路12连接该电源11及被测三极管200的集电极，用于对该被测三极管200的类型进行测试。该第二测试电路13连接该电源11及被测三极管200的集电极，用于对该被测三极管200的放大倍数进行测试。
该第一测试电路12包括发光二极管D1，所述发光二极管Dl的阳极连接至所述电源11，该发光二极管Dl的阴极通过ー电阻Rl连接至该被测三极管200的集电极。测试该被测三极管200的类型时，若所述被测三极管200的类型为NPN型，因为该电源11直接连接至该被测三极管200的基板，该被测三极管200导通。此时，该发光二极管D1、电阻Rl及被测三极管200形成完整的电流回路，该发光二极管Dl导通并发光。反之，若所述被测三极管200的类型为PNP型，该被测三极管200将截止。此时，该发光二极管Dl截止不发光。因此，可通过该发光二极管Dl的发光与否来判断所述被测三极管200的类型。S卩，若该发光二极管Dl发光，则判断该被测三极管200的类型为NPN型。反之，若发光二极管Dl不发光，则判断该被测三极管200的类型为PNP型。该第二测试电路13包括一组电阻R2、R3。该电阻R2的一端连接至该电源11，另一端与该电阻R3串联后，连接至该被测三极管200的集电极。当测试该被测三极管200的放大倍数吋，将ー电流表Ml与该电阻R2、R3串联，进而获得该被测三极管200的集电极电流I。。将获得的集电极电流I。与该电源11为该被测三极管200的基极提供的电流Ib代入放大倍数计算公式β =IC/Ib,即可获得该被测三极管200的放大倍数。该保护电路14包括光耦合器141及三极管Ql、Q2。该光耦合器141包括发光二极管D2及感光三极管Q3。所述发光二极管D2的阳极连接至该发光二极管Dl的阳极，该发光二极管D2的阴极通过电阻R4连接至所述被测三极管200的集电极。所述感光三极管Q3的基极与所述发光二极管D2正对设置，用于感测发光二极管D2发射的光。所述感光三极管Q3的集电极通过电阻R5连接至所述电源11。所述感光三极管Q3的发射极连接至所述三极管Ql的基板。该三极管Ql的发射极接地。该三极管Ql的集电极连接至所述三极管Q2的基极，并通过电阻R6连接至所述电源11。该三极管Q2的发射极接地。该三极管Q2的集电极连接至所述被测三极管200的集电极，并通过电阻R7连接至所述电源11。该保护电路14的工作原理为当被测三极管200的类型为预设的类型，例如NPN型吋，该被测三极管200导通，所述光耦合器141内的发光二极管D2及感光三极管Q3均导通，使得该三极管Ql导通而三极管Q2截止，进而使得该被测三极管200的集电极通过该电阻R7连接至所述电源11，使得该被测三极管200的集电极输出一高电平，该被测三极管200正常工作。反之，当被测三极管200的类型不为预设的类型或放置位置错误时，该被测三极管200、发光二极管D2及感光三极管Q3均截止，使得该三极管Ql截止而三极管Q2的基极通过电阻R6连接至电源11而导通。此时，该三极管Q2的集电极的电压变为低电平。因为该三极管Q2的集电极连接至被测三极管200的集电极，如此将使得该被测三极管200的集电极的电压也变成低电平，进而有效保护该被测三极管200，防止当被测三极管200的类型与预设的类型不同或放置位置错误时，该被测三极管200的集电极的接收到高电平，而导致该被测三极管200被击穿或损坏。可以理解，该三极管测试电路100还包括恒流电路15，该恒流电路15分别连接该电源11及被测三极管200的基极，用于为该被测三极管200的基极提供一恒定电流，进而降低该被测三极管200对环境温度的敏感程度，減少测试误差。该恒流电路15为ー现有的恒流源或具有相同功能的电路，其具体结构及工作原理在此不再赘述。可以理解，该三极管测试电路100还包括一组开关S1、S2。其中，该开关SI设置于该电源11与第一测试电路12之间；该开关S2设置于该电源11与第二测试电路13之间。通过分别操作该开关S1、S2，可选择对该被测三极管200的类型或放大倍数进行测试。具体地，该开关SI的一端连接至所述电源11，该开关SI的另一端连接至所述发光二极管Dl的阳极。该开关S2的一端连接至所述电源11，该开关S2的另一端连接至该串联的电阻R2、R3的一端。当开启该开关SI而关闭开关S2时，可对该被测三极管200的类型进行测试。而当开启该开关S2而关闭该开关SI吋，则对该被测三极管200的放大倍数进行测试。可以理解，在测试该被测三极管200的集电极电流I。吋，还可将一电压表M2并联 至该电阻R3的两端，以获得该电阻R3两端的电压U，并根据公式I=U/R，来获得所述被测三极管200的集电极电流I。。显然，本发明的三极管测试电路100仅需观察所述发光二极管Dl的发光与否，便可有效判断该被测三极管200的类型。另外，该三极管测试电路100仅需将该电流表Ml串联或将电压表M2并联于该第二测试电路13内，便可快速获得该被测三极管200的集电极电流，进而计算出所述被测三极管200的放大倍数。本发明的三极管测试电路100操作较为简单，可有效提高测试效率，且精确度较高。
权利要求
1.一种三极管测试电路，其特征在于该三极管测试电路包括第一测试电路，一被测三极管的基极连接至一电源，该被测三极管的发射极接地，该第一测试电路包括发光二极管，该发光二极管的阳极连接至所述电源，该发光二极管的阴极通过一电阻连接至该被测三极管的集电极，通过观察该发光二极管的发光与否以判断所述被测三极管的类型。
2.如权利要求I所述的三极管测试电路，其特征在于所述三极管测试电路包括第二测试电路，该第二测试电路连接该电源及被测三极管的集电极，用于对该被测三极管的放大倍数进行测试。
3.如权利要求2所述的三极管测试电路，其特征在于所述第二测试电路包括一组电阻，其中一电阻的一端连接至该电源，该其中一电阻的另一端与另一电阻串联后连接至该被测三极管的集电极。
4.如权利要求3所述的三极管测试电路，其特征在于该三极管测试电路用于通过与该组电阻串联的电流表测得该被测三极管的集电极电流数值，再根据该集电极电流数值与该电源为该被测三极管的基极提供的电流数值计算该被测三极管的放大倍数。
5.如权利要求3所述的三极管测试电路，其特征在于该三极管测试电路用于通过与该组电阻中一电阻并联的电压表测得所述其中一电阻两端的电压数值，进而获得该被测三极管的集电极电流数值，再根据该集电极电流数值与该电源为该被测三极管的基极提供的电流数值计算该被测三极管的放大倍数。
6.如权利要求3所述的三极管测试电路，其特征在于该三极管测试电路包括一组开关，其中一开关设置于该电源与第一测试电路之间，另一开关设置于该电源与第二测试电路之间，通过操作该组开关，以选择对该被测三极管的类型或放大倍数进行测试。
7.如权利要求6所述的三极管测试电路，其特征在于所述其中一开关的一端连接至所述电源，所述其中一开关的另一端连接所述发光二极管的阳极，所述另一开关的一端连接至该电源，所述另一开关的另一端与该组电阻依次串联，当开启该其中一开关而关闭所述另一开关时，对该被测三极管的类型进行测试；当开启该另一开关而关闭该其中一开关时，则对该被测三极管的放大倍数进行测试。
8.如权利要求I所述的三极管测试电路，其特征在于所述三极管测试电路包括保护电路，用于当所述被测三极管的类型与预设的类型不同或放置位置错误时，防止该被测三极管被击穿或损坏。
9.如权利要求8所述的三极管测试电路，其特征在于所述保护电路包括光耦合器及二个三极管，该光耦合器包括发光二极管及感光三极管，所述光耦合器的发光二极管的阳极连接至该第一测试电路的发光二极管的阳极，该光耦合器的发光二极管的阴极通过电阻连接至所述被测三极管的集电极，所述感光三极管的基极与所述光耦合器的发光二极管正对设置，所述感光三极管的集电极通过电阻连接至所述电源，所述感光三极管的发射极连接至其中一三极管的基极，所述其中一三极管的发射极接地，所述其中一三极管的集电极连接至另一三极管的基极，并通过电阻连接至所述电源，该另一三极管的发射极接地，该另一三极管的集电极连接至所述被测三极管的集电极，并通过电阻连接至所述电源。
10.如权利要求I所述的三极管测试电路，其特征在于所述三极管测试电路包括恒流电路，该恒流电路分别连接该电源及被测三极管的基极，用于为该被测三极管的基极提供一恒定电流，进而降低该被测三极管对环境温度的敏感程度，减少测试误差。
全文摘要
本发明提供一种三极管测试电路，包括第一测试电路，一被测三极管的基极连接至一电源，该被测三极管的发射极接地，该第一测试电路包括发光二极管，该发光二极管的阳极连接至所述电源，该发光二极管的阴极通过一电阻连接至该被测三极管的集电极，通过观察该发光二极管的发光与否以判断所述被测三极管的类型。
文档编号G01R31/26GK102830335SQ201110162369
公开日2012年12月19日 申请日期2011年6月16日 优先权日2011年6月16日
发明者涂一新, 周海清 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司