一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法

文档序号:6110508阅读:331来源:国知局
专利名称:一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法
技术领域
本发明属于生物技术领域,是用于测量贴壁细胞的铺展速率以及各种药物对细胞铺展速率的影响的方法。
背景技术
细胞铺展是贴壁细胞的重要生理活动或功能之一,许多人体生理活动或疾病与细胞的铺展有关。例如,血管内皮细胞通过细胞的铺展来构建血管内壁或者修补破损的血管内皮层,因此,内皮细胞铺展的改变往往与心血管疾病的产生、发展和肿瘤转移等有关,而药物对细胞铺展的影响也必然是评估药物疗效的体外细胞试验中的重要指标之一。遗憾的是,目前对细胞铺展机制,特别是药物对细胞铺展的影响的研究,还不是很清楚,其中细胞铺展速率的精确、定量测量方法的缺乏就是主要原因之一。目前,文献报道的定量测量细胞铺展的方法只有一个将细胞铺展的状态(只是根据细胞的形态)划分为不铺展、半铺展和完全铺展三种,再计算出处于这三种状态的细胞的数量或数量百分比。然而,这种定量测定细胞铺展的方法非常粗糙首先,确定不铺展、半铺展和完全铺展三种状态具有非常大的主观性,没有一个可定量的标准,毕竟每种细胞甚至每个单独的细胞,它们完全铺展时的形态或贴壁面积都可能不一样,要判断一个细胞是否完全铺展是很困难的,即由此会产生一定的偏差。其次,半铺展状态其实包含了很多个中间阶段的状态,因而,只将细胞铺展划分为三种状态无法定量比较细胞铺展随着时间的变化。 此外,通过计算细胞数量或数量百分比来定量细胞铺展是间接的方法,而没有定量测量铺展速率来得直接。

发明内容
本发明的目的是提供一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法,以取代已有的传统定量测量方法。本发明是通过以下技术方案实现的。将处于悬浮状态的贴壁细胞种植在培养孔或板上,在细胞贴壁和铺展过程中,使用成像设备,捕获大量细胞在不同时间点(Tn)的形貌图,测量出每个细胞的贴壁面积(A), 将铺展前后细胞的形态理想化为圆形,并计算出所有细胞在单位时间内的半径变化速率, 此即被定义为细胞铺展速率。细胞铺展速率计算公式如下
权利要求
1. 一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法,其特征是将处于悬浮状态的贴壁细胞种植在培养孔或板上,在细胞贴壁和铺展过程中,使用成像设备,捕获大量细胞在不同时间点的形貌图,测量出每个细胞的贴壁面积,并按下式计算出细胞铺展速率
全文摘要
一种基于理想化细胞半径定量测量细胞铺展速率的方法,其特征是将处于悬浮状态的贴壁细胞种植在培养孔或板上,在细胞贴壁和铺展过程中,使用成像设备,捕获细胞在不同时间点的形貌图,测量出每个细胞的贴壁面积,将铺展前后细胞的形态理想化为圆形,并按计算出细胞铺展速率(单位时间内细胞半径的增长速率)。本发明以理想化的细胞半径为标准,根据细胞铺展所用时间和细胞半径的变化而计算出来的铺展速率,解决了传统方法的缺点,比传统的细胞铺展测量方法要更加精确,且需测量设备简单,计算方法同样简单、可行,也易于整合到测量设备中去。
文档编号G01N21/84GK102507580SQ201110318629
公开日2012年6月20日 申请日期2011年10月19日 优先权日2011年10月19日
发明者曾芳发, 邵文祥, 陈勇, 黄洁 申请人:南昌大学
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