专利名称：晶体谐振器测试机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试机构，特别涉及晶体谐振器测试机构。
背景技术：
目前，晶体行业的晶体器件尺寸越做越小，生产过程中的质量管控也越来越困难， 由于无法彻底摆脱生产过程的人为参与，以致给客户的产品中屡屡有不良品和混频事情的发生(外形尺寸一致，但频率不同)，客户的投诉让晶体生产厂家苦恼不堪，所以在成品最终编带封装前再次进行产品的频率及良品与否的确认势在必行，因测试机构要协同安装在生产厂家现有的编带封装机上，因此体积小型化效率最大化和测试准确率以及测试过程中不得伤害到被测晶体成了几个必须要满足的要求，周知的现有技术根本无法同时满足这些条件。
发明内容本实用新型的目的在于克服已有技术的不足，提供一种避免了将不良品混入良品和混频问题，可以增加探针的使用寿命且测试过程中不会伤到被测晶体谐振器的晶体谐振器测试机构。为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是晶体谐振器测试机构，它包括缓冲定位机构和测试固定机构，所述的缓冲定位机构包括其中间开有第一凹槽的挡边，在所述凹槽内装有其上开有多个定位槽的一体测试块，在位于每个定位槽底面的一体测试块上开有多个探针孔，在位于凹槽挡边的两测各连接有一个导杆，在每个导杆下部安装有一个弹簧挡环，在弹簧挡环下方的每个导杆上装有一个弹簧，所述的测试固定机构包括其底部开有两个导杆过孔的弹簧板，在所述的弹簧板顶面上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板，在所述的测试托板上设置有用于与其它机构相连接的测试托板底板，在第二凹槽内装有探针板，在所述的探针板上固定有探针固定板，探针座穿过探针固定板并与探针板固定相连，在所述的探针座上插有多个探针，在第二凹槽两侧的测试托板上分别安装有两个直线轴承，每一个导杆各自穿过一个直线轴承并且其底部插在与其对应设置的一个导杆过孔内，所述的弹簧的底面压在位于导杆过孔处的弹簧板上，挡边间隔的设置在多个探针的上方并且多个探针能够一一对应的插在多个一体测试块的探针孔内。本实用新型的优点在于可以确保晶体测试前的定位准确，可以保证测试结果的准确性，可以增加探针的使用寿命且测试过程中不伤被测晶体，同时该设计还兼有效率高结构简单，更换品种方便等益处。
图1是本实用新型的晶体谐振器测试机构的缓冲定位机构的结构示意图；图2是本实用新型的晶体谐振器测试机构的测试固定机构的结构示意图；[0009]图3是本实用新型的晶体谐振器测试机构的总装图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本实用新型进行详细描述。在图1中，一体测试块1-01、挡边1-02、直径导杆1-03、弹簧挡环1_04、弹簧1_05。在图2中，测试托板2-01、弹簧板2-02、测试托板底板2_03、探针板2_04、探针固定板2-05、探针2-06、直线轴承2-07。如附图所示的本实用新型的晶体谐振器测试机构，它包括缓冲定位机构和测试固定机构，所述的缓冲定位机构包括其中间开有第一凹槽的挡边，在所述凹槽内装有其上开有多个定位槽的一体测试块1-01，在位于每个定位槽底面的一体测试块上开有多个探针孔，在位于凹槽挡边两侧各连接有一个导杆1-03，在每个导杆下部安装有一个弹簧挡环 1-04，在弹簧挡环下方的每个导杆1-03上装有一个弹簧1-05，所述的测试固定机构包括其底部开有两个导杆过孔的弹簧板2-02，在所述的弹簧板顶面上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板2-01，在所述的测试托板2-01上设置有用于与其它机构相连接的测试托板底板2-03。在第二凹槽内装有探针板2-04，在所述的探针板上固定有探针固定板2-05，探针座穿过探针固定板并与探针板固定相连，在所述的探针座上插有多个探针2-06，在第二凹槽两侧的测试托板上分别连接有一个直线轴承2-07，每一个导杆各自穿过一个直线轴承并且其底部插在与其对应设置的一个导杆过孔内，所述的弹簧的端面压在位于导杆过孔处的弹簧板上，挡边间隔的设置在多个探针的上方并且多个探针能够一一对应的插在多个探针孔内。定位槽根据厂家料盘间距和位置设置。定位槽可以为四个。优选的在所述的弹簧板顶面的一侧设置有凸块，在所述的凸块上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板2-01，在所述的弹簧板顶面的另一侧与测试托板底面之间插接有测试托板底板2-03，测试托板底板2-03用于与其它设备相连接。这样可以提高与其它设备连接的定位精度。优选的每一个定位槽的横截面为矩形并且在定位槽相邻面的结合处设置有倒向角以便于下压晶体先由倒向角导向进入定位槽，这样最大限度地减少了由于定位不准所造成的测试不良。本测试装置的操作方法如下下压晶体先由倒向角导向进入定位槽，而后晶体和定位槽在供料吸嘴的压力下同时克服弹簧回复力下行直至探针和待测晶体的测试点良好接触，测试缓冲的存在保护了由于某些其它原因进入不到定位槽的晶体不被压伤，同时还可以增加探针的寿命。由于测试机构上有弹簧缓冲，因此各种晶体谐振器(SMD晶体厚度不一样)可兼容，使生产效率提高。
权利要求1.晶体谐振器测试机构，其特征在于它包括缓冲定位机构和测试固定机构，所述的缓冲定位机构包括其中间开有第一凹槽的挡边，在所述凹槽内装有其上开有多个定位槽的一体测试块，在位于每个定位槽底面的一体测试块上开有多个探针孔，在位于凹槽挡边两侧各连接有一个导杆，在每个导杆下部安装有一个弹簧挡环，在弹簧挡环下方的每个导杆上装有一个弹簧，所述的测试固定机构包括其底部开有两个导杆过孔的弹簧板，在所述的弹簧板顶面上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板，在所述的测试托板上设置有用于与其它机构相连接的测试托板底板，在第二凹槽内装有探针板，在所述的探针板上固定有探针固定板，探针座穿过探针固定板并与探针板固定相连，在所述的探针座上插有多个探针，在第二凹槽两侧的测试托板上分别安装有两个直线轴承，每一个导杆各自穿过一个直线轴承并且其底部插在与其对应设置的一个导杆过孔内，所述的弹簧的底面压在位于导杆过孔处的弹簧板上，挡边间隔的设置在多个探针的上方并且多个探针能够一一对应的插在多个一体测试块的探针孔内。
2.根据权利要求1所述的晶体谐振器测试机构，其特征在于在所述的弹簧板顶面的一侧设置有凸块，其上开有第二凹槽的测试托板设置在所述的凸块上，在所述的弹簧板顶面的另一侧与测试托板底面之间插接有测试托板底板。
3.根据权利要求1所述的晶体谐振器测试机构，其特征在于每一个定位槽的横截面为矩形并且在定位槽相邻面的结合处设置有倒向角。
专利摘要本实用新型公开了晶体谐振器测试机构，它包括缓冲定位机构和测试固定机构，缓冲定位机构包括其中间开有第一凹槽的挡边，在凹槽内装有其上开有多个定位槽的一体测试块，在位于每个定位槽底面的一体测试块上开有多个探针孔，在位于凹槽挡边的两测各连接有一个导杆，测试固定机构包括其底部开有两个导杆过孔的弹簧板，在弹簧板顶面上支撑设置有其上开有第二凹槽的测试托板，在第二凹槽内装有探针板、探针固定板，探针座，探针座上插有多个探针每一个导杆各自穿过一个直线轴承并且其底部插在与其对应设置的一个导杆过孔内。采用本装置可以确保晶体测试前的定位准确，保证测试结果的准确性。
文档编号G01R31/26GK201945666SQ20112000271
公开日2011年8月24日 申请日期2011年1月6日 优先权日2011年1月6日
发明者付廷喜, 付玉磊, 刘广, 刘金波, 李向前, 李金全 申请人:天津伍嘉联创科技发展有限公司