专利名称：比对式反射率测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光学测量领域，涉及一种测量金属样品表面反射率的装置，尤其是比对式反射率测量仪。
技术背景现在国内外常用的检测设备通常对于环境要求比较苛刻，需要专业测试人员在专门的检验室内进行测量，并且利用积分球勻化环境光强，测量某定角度的反射率，或仪器价格高昂，或操作复杂，不适应在线快速测量，也不方便携带，不便于和现场的外围设备进行连接
实用新型内容
本实用新型的测量仪器解决了现有技术中的测量仪器，笨重不便于携带的缺点， 并且具有较高的精度，能够进行在线测量。本实用新型提供了比对式反射率测量仪，包括入射光源、载物台、接收器、标准反射率板和分隔屏，标准反射率板和金属样品都设置在载物台上，标准反射率板和金属样品之间设置有分隔屏；所述载物台上方对应设置有入射光源和接收器。所述入射光源和接收器对应设置在标准反射率板的两侧上方。所述接收器是CCD 或光功率计。所述入射光源是单色光源或复色光源。所述接收器上安装滤光片插槽或连接有分光光度计。所述载物台是旋转的，载物台上同时放置多片待测样品。本实用新型的测量仪器具有以下特点使用简便，对环境条件要求不高，只要环境条件变化不大，则测量结果很准确；可测量任意反射角度下的样品反射率；可测量任意波长的可见光在待测样品上的反射率；若入射光使用复色光源，则可以测量出在某反射角度下的光谱和反射率的对应谱图；可外接微机，在接收器3上利用CCD进行光电转换，由微机进行取样、数据分析、绘制光谱和反射率的对应谱图；载物台上可以放置多片待测样品，在生产过程中，可以立即检测出哪片样品反射率不合要求；制作成本低，使用方便，适合生产现场的测量。
图1为本实用新型测量仪器的工作原理图；图2为本实用新型测量仪器的结构示意图；其中1为入射光源；2为载物台；3为接收器；4为标准反射率板，5为分隔屏；6为待测样品。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步详细描述参见图1和图2，一种测量金属(陶瓷、光学零件等)样品表面反射率的测量仪器，其工作原理如下当光源发出的光线射向载物台，可旋转的载物台上放置有标准反射率板和待测样品。先调整入射光经过标准样品反射，可以得到反射后的光强强度仏，再调整入射光照射待测样品，可得到反射光的光强度为&，若标准反射率板在某角度时的反射率为A， 则可以得到待测样品的反射率B，B = AX (Ex/E0)图1中1为入射光源，可以是单色激光，也可是复色光。入射角度可以任意调整， 以满足不同入射角度下的反射率测量。先转动载物台2，使入射光照射在标准反射率板4 上，经过反射后的光线被接收器3接受。从接收器上可以得到在某反射角度下的反射光光强E0.转动载物台，再使入射光照射待测样品，此时从接收器3上可以得到经待测样品反射后的反射光强EX，，从而计算出待测样品在某入射角度杂散光，在标准反射率板和待测样品之间有一个分隔屏。需要说明的是，若使用复色光进行简单测量，则在接受装置3上安装滤光片插槽， 或在3后连接分光光度计，可以得到任意波长下的反射光强度。以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施方式
仅限于此，对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单的推演或替换，都应当视为属于本发明由所提交的权利要求书确定专利保护范围。
权利要求1.比对式反射率测量仪，其特征在于包括入射光源、载物台、接收器、标准反射率板和分隔屏，标准反射率板和金属样品都设置在载物台上，标准反射率板和金属样品之间设置有分隔屏；所述载物台上方对应设置有入射光源和接收器。
2.如权利要求1所述比对式反射率测量仪，其特征在于所述入射光源和接收器对应设置在标准反射率板的两侧上方。
3.如权利要求1所述比对式反射率测量仪，其特征在于所述接收器是CCD或光功率计。
4.如权利要求1所述比对式反射率测量仪，其特征在于所述入射光源是单色光源或复色光源。
5.如权利要求1所述比对式反射率测量仪，其特征在于所述接收器上安装滤光片插槽或连接有分光光度计。
专利摘要本实用新型公开了比对式反射率测量仪，包括入射光源、载物台、接收器、标准反射率板和分隔屏，标准反射率板和金属样品都设置在载物台上，标准反射率板和金属样品之间设置有分隔屏；所述载物台上方对应设置有入射光源和接收器。本实用新型的测量仪器使用简便，对环境条件要求不高，只要环境条件变化不大，则测量结果很准确；可测量任意反射角度下的样品反射率；可测量任意波长的可见光在待测样品上的反射率，制作成本低，使用方便，适合生产现场的测量。
文档编号G01N21/47GK202057596SQ20112010411
公开日2011年11月30日 申请日期2011年4月11日 优先权日2011年4月11日
发明者王雪冬, 王颜生 申请人:西安超凡光电设备有限公司