专利名称：一种光学检测装置及玻璃基板检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种光学检测装置及玻璃基板检测系统。
背景技术：
目前，如图1所示，对基板载台1上的玻璃基板2进行检测时，玻璃基板检测装置 3距离玻璃基板2上表面的距离大约为100微米。然而，生产玻璃基板2的过程中无法避免破碎，玻璃破碎时玻璃渣可能会溅到玻璃基板2的上表面。如图2所示，玻璃基板检测装置3距离玻璃基板2只有100微米，当玻璃基板检测装置3沿着箭头方向移动时，很小的杂质4 (如玻璃渣、较大灰尘等)很容易会对玻璃基板检测装置3造成划伤和损坏。该玻璃基板检测装置3的价格昂贵、而且安装困难，若被划伤则不但降低了检测质量，而且将显著提高生产成本。
实用新型内容本实用新型实施例提供的一种光学检测装置及玻璃基板检测系统，可以在对玻璃基板进行扫描检测前，确定出玻璃基板表面的杂质，从而保护玻璃基板检测装置。本实用新型实施例提供一种光学检测装置，包括位于玻璃基板2外侧的、沿着所述玻璃基板2上表面向至少两个方向发出光线的发光组件5，所述发光组件5的每个发光面发出的光线均覆盖所述玻璃基板2上表面；接收所述发光组件5发出的光线的收光组件6 ；与所述收光组件6连接，根据所述收光组件6接收的光线确定杂质位置的确定组件7。较佳的，所述发光组件5包括一个线光源时，所述线光源具有至少一个弯折角，形成至少两个发光面，向至少两个方向发出光线。较佳的，所述发光组件5包括第一线光源和第二线光源，所述第一线光源和第二线光源的发光面发出的光线具有交点。较佳的，所述第一线光源的发光面与所述第二线光源的发光面发出的光线垂直。较佳的，当所述玻璃基板2为矩形时，第一线光源的发光面面向所述玻璃基板2的宽边，且第一线光源的长度不小于所述玻璃基板2的宽边的长度；第二线光源的发光面面向所述玻璃基板2的长边，且第二线光源的长度不小于所述玻璃基板2的长边的长度。较佳的，当所述玻璃基板2为多边形时，第一线光源的发光面面向所述玻璃基板 2外接矩形框的宽边，且第一线光源的长度不小于所述玻璃基板2外接矩形框的宽边的长度；第二线光源的发光面面向所述玻璃基板2外接矩形框的长边，且第二线光源的长度不小于所述玻璃基板2的外接矩形框的长边的长度。较佳的，所述发光组件5包括的光源数目大于两个时，至少一个线光源的发光面发出的光线与其余线光源的发光面发出的光线具有交点。[0015]所述发光组件5与玻璃基板2上表面所在平面的垂直距离小于100微米。所述收光组件6与所述发光组件5位于同一平面，所述收光组件6的数目与所述发光组件5中的光源数目相同，且位置与所述光源的位置相对应。本实用新型实施例提供的一种玻璃基板检测系统，包括检测所述玻璃基板的玻璃基板检测装置3，还包括检测玻璃基板上表面杂质位置的光学检测装置8。较佳的，所述系统还包括控制所述玻璃基板检测装置跳过杂质的控制装置9。较佳的，所述系统还包括清除所述玻璃基板上的杂质的清除装置10。本实用新型实施例提供的光学检测装置及玻璃基板检测系统，利用光的直线传播，通过两个方向的光线确定杂质的位置，进而可以控制玻璃基板检测装置跳过该杂质，避免被该杂质造成划伤或损坏，确保玻璃基板的检测质量。而且，光的传播速度较快，检测杂质的时间较短，由此与其他检测手段相比，检测效率较高。确定杂质位置后还可以将该杂质去除，彻底消除对玻璃基板检测装置的损伤。
图1为现有技术中对玻璃基板进行检测的示意图；图2为现有技术中玻璃基板检测装置进行检测的过程示意图；图3为本实用新型实施例中光学检测装置的结构示意图；图图4b为本实用新型实施例中发光组件的结构示意图；图5为本实用新型实施例中发光组件中两个光源的位置示意图；图6为本实用新型实施例中玻璃基板为矩形时，发光组件的位置示意图；图7为本实用新型实施例中玻璃基板为多边形时，发光组件的位置示意图；图8为本实用新型实施例中发光组件和收光组件的位置示意图；图9为本实用新型另一实施例中发光组件和收光组件的位置示意图；图10为本实用新型实施例中光学检测装置的结构示意图；图11为本实用新型另一实施例中光学检测装置的结构示意图；图12为本实用新型另一实施例中玻璃基板检测系统的结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型实施例作进一步详细描述。本实用新型实施例提供了一种光学检测装置，如图3所示，其具体包括位于玻璃基板2外侧的、沿着玻璃基板2上表面向至少两个方向发出光线的发光组件5，所述发光组件5的每个发光面发出的光线均覆盖玻璃基板2上表面；接收所述发光组件5发出的光线的收光组件6 ；与收光组件6连接，根据收光组件6接收的光线确定杂质位置的确定组件7。较佳的，发光组件5包括一个线光源时，该线光源具有至少一个弯折角，形成至少两个发光面，向至少两个方向发出光线，如图如所示，该发光组件5具有一个弯折角，将一个线光源形成两个发光面，该两个发光面产生的光线具有交点；如图4b所示，该发光组件5 具有两个弯折角，将一个线光源形成三个发光面，该三个发光面产生的光线具有交点。该发光组件5的弯折角数目可以根据实际需要决定，但应确保发光组件5每个发光面发出的光线均可以覆盖玻璃基板2的上表面。较佳的，发光组件5包括第一线光源和第二线光源，第一线光源和第二线光源的发光面发出的光线具有交点。如图5所示，第一线光源的发光面与第二线光源的发光面发出的光线垂直。当然，也可以成其他度数的夹角，例如60度等，但应确保发光组件5中每个线光源发出的光线均可以覆盖玻璃基板2的上表面。如图6所示，当玻璃基板2为矩形时，第一线光源51的发光面面向该玻璃基板2 的宽边，且第一线光源的长度不小于玻璃基板2的宽边的长度；第二线光源52的发光面面向该玻璃基板2的长边，且第二线光源的长度不小于玻璃基板2的长边的长度。如图7所示，当玻璃基板2为多边形时，第一线光源51的发光面面向该玻璃基板2外接矩形框(图中虚线部分)的宽边，且第一线光源的长度不小于玻璃基板2外接矩形框的宽边的长度；第二线光源52的发光面面向玻璃基板2外接矩形框的长边，且第二线光源的长度不小于玻璃基板2的外接矩形框的长边的长度。其中，多边形的玻璃基板2外接矩形框是指将多边形的玻璃基板2完全框在内部的最小的矩形。较佳的，发光组件5包括的光源数目大于两个时，至少一个线光源的发光面发出的光线与其余线光源的发光面发出的光线具有交点。上述发光组件5与玻璃基板2上表面所在平面的垂直距离，应小于玻璃基板检测装置3与玻璃基板2的垂直距离100微米，例如，可以为80微米。与上述发光组件5相对应的，收光组件6与发光组件5位于同一平面，其数目与发光组件5中的光源数目相同，且位置与光源的位置相对应。如图8所示，假设发光组件5中的光源数目为2，一个线光源位于矩形玻璃基板2的长边外侧，另一个线光源位于矩形玻璃基板2的宽边外侧，收光组件6的数目为2个，一个位于矩形玻璃基板2的另一长边外侧， 另一个位于矩形玻璃基板2的另一宽边外侧。该收光组件6的数目与发光组件5中的光源数目也可以不同，位置也可以不对应。 图9所示，假设发光组件5有两个线光源，两者发出的光线夹角为90度，相应的，具有一个收光组件6同时接收到该两个线光源发出的光线。该收光组件6也可以同发光组件5 —样， 具有一个或多个弯折角，只需确保可以完全接收到发光组件5发出的光线即可。确定组件7与上述收光组件6连接，根据收光组件6接收的光线确定杂质位置。 具体的，当玻璃基板2上具有杂质时，由于光的直线传播特性，会有部分光受到该杂质的阻挡，而无法发射到收光组件6。由于发光组件5发射的至少两个方向的光均覆盖整个玻璃基板2，因此，收光组件6在某两个位置均收不到光线，进而根据发光组件位置和收光组件中收不到光线的位置，确定出两条直线，该两条直线的交点即为该杂质的位置。通过上述描述，可以看出，使用本实用新型提供的光学检测装置，利用光的直线传播，通过至少两个方向的光线确定杂质的位置，进而可以控制玻璃基板检测装置跳过该杂质，避免被该杂质造成划伤或损坏，确保玻璃基板的检测质量。而且，光的传播速度较快，检测杂质的时间较短，由此与其他检测手段相比，检测效率较高。下面通过具体实施例对本实用新型提供的光学检测装置进行详细描述。如图10所示，假设玻璃基板2为矩形，发光组件5具有线光源51和线光源52，分别位于玻璃基板2的长边Ll和宽边L2的外侧，且该两个线光源发出的光线均能覆盖整个玻璃基板2的上表面。收光组件61和收光组件62分别位于该玻璃基板2的另一长边L3和另一宽边L2的外侧。这样，长边L3外侧的收光组件61接收长边Ll外侧的发光组件51发出的光线；宽边L4外侧的收光组件62接收宽边L2外侧的发光组件52发出的光线。而且， 该发光组件距离玻璃基板上表面所在平面垂直方向上的距离不超过100微米，如可以设置为85微米，同时，收光组件与发光组件位于同一个平面，以确保接收到发光组件发出的光线。设玻璃基板宽边方向为X、长边方向为Y，当玻璃基板2上具有杂质4时，发光组件 51发出的光线部分被该杂质4阻拦，无法被收光组件61接收到，收光组件61确定出X方向收不到光线的直线(如图10中虚线m)，并告知确定组件7。同理，发光组件52发出的光线也有部分被该杂质4阻拦，无法被收光组件62接收到，收光组件62确定出Y方向收不到光线的直线(如图10中虚线η)，并告知确定组件7。确定组件7根据X方向和Y方向收不到光线的位置确定出杂质4的具体位置，即直线m和直线η的交点处为杂质4所在的位置。当玻璃基板2为多边形时，可以参见图7，将玻璃基板2外接矩形框的宽边设为X 方向、长边设为Y方向，并参照上述方式确定出杂质位置。下面通过另一具体实施例对本实用新型提供的光学检测装置进行详细描述。如图11所示，假设玻璃基板2为矩形，发光组件5具有线光源51和线光源52，分别位于玻璃基板2的两个相邻顶角外侧，该两个线光源发出的光线均能覆盖整个玻璃基板2的上表面。 收光组件61和收光组件62分别位于该玻璃其余两个顶角的外侧。该发光组件距离玻璃基板的距离不超过100微米，如可以设置为80微米，同时，收光组件与发光组件位于同一个平面，以确保接收到发光组件发出的光线。设线光源51发出的光线的方向为X、线光源52发出的光线的方向为Y，当玻璃基板2上具有杂质4时，发光组件51发出的光线部分被该杂质4阻拦，无法被收光组件61接收到，收光组件61确定出X方向收不到光线的直线(如图11中虚线a)，并告知确定组件 7。同理，发光组件52发出的光线也有部分被该杂质4阻拦，无法被收光组件62接收到，收光组件62确定出Y方向收不到光线的直线(如图11中虚线b)，并告知确定组件7。确定组件7根据X方向和Y方向收不到光线的位置确定出杂质4的具体位置，即直线a和直线 b的交点处为杂质4所在的位置。通过上述描述，可以看出，使用本实用新型提供的光学检测装置，利用光的直线传播，通过至少两个方向的光线确定杂质的位置，进而可以控制玻璃基板检测装置跳过该杂质，避免被该杂质造成划伤或损坏，确保玻璃基板的检测质量。而且，光的传播速度较快，检测杂质的时间较短，由此与其他检测手段相比，检测效率较高。基于同一构想，本实用新型还提供了一种玻璃基板检测系统，包括检测所述玻璃基板的玻璃基板检测装置3 ；如图12所示，还包括检测玻璃基板上表面杂质位置的光学检测装置8 ；所述光学检测装置8包括位于玻璃基板2外侧的、沿着玻璃基板2上表面向至少两个方向发出光线的发光组件5，所述发光组件5的每个发光面发出的光线均覆盖玻璃基板2上表面；接收所述发光组件5发出的光线的收光组件6 ；与收光组件6连接，根据收光组件6接收的光线确定杂质位置的确定组件7。较佳的，该系统还包括控制玻璃基板检测装置3跳过杂质的控制装置9。[0060]较佳的，该系统还包括清除所述玻璃基板2上的杂质的清除装置10。例如使用真空吸气的方式吸除杂质。此外，确定出杂质位置后，还可以对该杂质进行拍照并保存等后续处理。通过上述描述，可以看出，本实用新型实施例提供的光学检测装置及玻璃基板检测系统，利用光的直线传播，通过两个方向的光线确定杂质的位置，进而可以控制玻璃基板检测装置跳过该杂质，避免被该杂质造成划伤或损坏，确保玻璃基板的检测质量。而且，光的传播速度较快，检测杂质的时间较短，由此与其他检测手段相比，检测效率较高。确定杂质位置后还可以将该杂质去除，彻底消除对玻璃基板检测装置的损伤。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求1. 一种光学检测装置，其特征在于，包括位于玻璃基板(2)外侧的、沿着所述玻璃基板(2)上表面向至少两个方向发出光线的发光组件(5)，所述发光组件(5)的每个发光面发出的光线均覆盖所述玻璃基板( 上表接收所述发光组件( 发出的光线的收光组件(6)；与所述收光组件(6)连接，根据所述收光组件(6)接收的光线确定杂质位置的确定组件⑵。
2.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述发光组件(5)包括一个线光源时，所述线光源具有至少一个弯折角，形成至少两个发光面，向至少两个方向发出光线。
3.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述发光组件(5)包括第一线光源和第二线光源，所述第一线光源和第二线光源的发光面发出的光线具有交点。
4.如权利要求3所述的光学检测装置，其特征在于，所述第一线光源的发光面与所述第二线光源的发光面发出的光线垂直。
5.如权利要求4所述的光学检测装置，其特征在于，当所述玻璃基板(2)为矩形时，第一线光源的发光面面向所述玻璃基板O)的宽边，且第一线光源的长度不小于所述玻璃基板(2)的宽边的长度；第二线光源的发光面面向所述玻璃基板( 的长边，且第二线光源的长度不小于所述玻璃基板O)的长边的长度。
6.如权利要求4所述的光学检测装置，其特征在于，当所述玻璃基板(2)为多边形时， 第一线光源的发光面面向所述玻璃基板( 外接矩形框的宽边，且第一线光源的长度不小于所述玻璃基板( 外接矩形框的宽边的长度；第二线光源的发光面面向所述玻璃基板 (2)外接矩形框的长边，且第二线光源的长度不小于所述玻璃基板O)的外接矩形框的长边的长度。
7.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述发光组件(5)包括的光源数目大于两个时，至少一个线光源的发光面发出的光线与其余线光源的发光面发出的光线具有交点。
8.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述发光组件(5)与玻璃基板(2) 上表面所在平面的垂直距离小于100微米。
9.如权利要求1所述的光学检测装置，其特征在于，所述收光组件(6)与所述发光组件 (5)位于同一平面，所述收光组件(6)的数目与所述发光组件(5)中的光源数目相同，且位置与所述光源的位置相对应。
10.一种玻璃基板检测系统，包括检测所述玻璃基板的玻璃基板检测装置(3)，其特征在于，还包括权利要求1-9任一所述的光学检测装置。
11.如权利要求10所述的系统，其特征在于，还包括控制所述玻璃基板检测装置跳过杂质的控制装置(9)。
12.如权利要求10所述的系统，其特征在于，还包括清除所述玻璃基板上的杂质的清除装置(10)。
专利摘要本实用新型实施例涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种光学检测装置及玻璃基板检测系统，该光学检测装置包括位于玻璃基板外侧的、沿着所述玻璃基板上表面向至少两个方向发出光线的发光组件，所述发光组件的每个发光面发出的光线均覆盖所述玻璃基板上表面；接收所述发光组件发出的光线的收光组件；与所述收光组件连接，根据所述收光组件接收的光线确定杂质位置的确定组件。本实用新型实施例提供的光学检测装置及玻璃基板检测系统，可以在对玻璃基板进行扫描检测前，确定出玻璃基板表面的杂质，从而保护玻璃基板检测装置。
文档编号G01N21/958GK202083648SQ201120174429
公开日2011年12月21日 申请日期2011年5月27日 优先权日2011年5月27日
发明者李毅楠, 杨海洪, 林金升, 白国晓, 肖志莲, 赵海生, 黄雄天 申请人:北京京东方光电科技有限公司