专利名称：一种按键使用寿命测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型属于按键性能测试的试验装置，特别是ー种用于检测按键使用寿命测试设备。
背景技术：
作为电子设备的关键元件，按键的使用寿命对整个产品的质量及稳定性起着十分关键的作用，特别是当这些关键设备被用到特殊的器件时，其对保障设备的正常工作起决定性作用。因此，生产厂家和使用厂家通常都会对出厂按键的质量进行十分严苛的检查。寿命试验机是ー种測量按键质量的关键设备，通过反复模拟按键在正常工作状态下的按压动作，測定按键在一定条件下正常工作的循环次数，从而为生产及设计提供数据參考。目前，提供按键寿命试验的设备主要为以电磁线圈为驱动カ的击打式按键寿命试验机，其击打方 式主要以击打力值为主參数。电磁驱动式具有操控性较好，且运动过程中磨损少，因此有比较可靠的测试寿命，缺点是打击參数受电压影响较大，与真实的手按工作方式差距较大，不能完全模拟正常的服役状态，得不到真实的测量值。鉴于电磁线圈式试验机的缺点，亟待ー种新型的按键使用寿命测试设备。
发明内容本实用新型提供一种按键使用寿命测试设备，利用旋转机构的运动方式，能够完全的模拟按键的服役方式，达到良好的测试目的。为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是这样实现的，一种按键使用寿命测试设备，包括机架、打击头和按键反馈电路，其特征在于所述机架之间连接有一转轴，该转轴上沿轴向至少套设有一个凸轮且凸轮跟随转轴旋转，在每个凸轮的下方都设有所述打击头且凸轮的外缘与打击头中的上导杆上端相抵触而带动打击头上下移位，所述按键反馈电路设置在打击头的下方并与其抵触。优选地，所述机架的一侧设置有ー柜体，该柜体内设有驱动转轴旋转的驱动电机、显示电路和控制电路，该控制电路分别与按键反馈电路、驱动电机和显示电路连接。优选地，所述转轴上对应有ー检测打击头上下运动来回次数的计数装置。优选地，所述凸轮共有四个，沿转轴的长度方向等距离排列。优选地，所述打击头的头部为可调行程式的。优选地，所述打击头的头部包括打击母头和套设于打击母头内的打击子头，该打击子头可相对打击母头上下移位。优选地，所述打击母头和打击子头采用螺纹连接，打击子头的侧壁上标有刻度线。优选地，所述打击头通过机架之间的横梁固定。本实用新型的优点结构简单，适用性强，可对金属簧片为弾性元件的按键产品(塑料、橡胶)进行整体寿命试验，能够很好的模拟实际应用环境下按键的工作状态，并提高了寿命试验数据的可靠性。
图I为本实用新型的结构示意图I。图2为本实用新型的结构示意图2 (去掉柜体)。图3为本实用新型中打击头头部的结构示意图。I、机架2、显示电路和控制电路3、柜体4、驱动电机5、凸轮6、打击头7、按键反馈电路8、计数装置9、转轴10、打击母头11、打击子头12、横梁。
具体实施方式
请參见图I及图2，一种按键使用寿命测试设备，包括机架、打击头和按键反馈电路，其特征在于所述机架之间连接有ー转轴，驱动电机的主轴通过键槽与转轴相连并驱动转轴旋转。该转轴上设有四个凸轮，沿转轴轴向等距离排列。每个凸轮的下方设有所述打 击头且该凸轮外缘与该打击头中的上导杆上端抵触。当凸轮随着转轴旋转时，凸轮带动装有弹簧的导杆进行上下往复运动以敲击按键，从而进行寿命试验。在打击头的下方设有按键反馈电路，按键反馈电路镶嵌在机架底板上的PCB及有机玻璃组合板，PCB板上设计有可定位的按键的位置孔及相应的导通截止电路。所述转轴上具有ー检测打击头上下运动次数的计数装置，其由安装在电机主轴上的光电传传感器与其相应的电路组成。当转轴旋转ー圈，计数装置计数累加一次。所述机架的一侧设置有ー柜体，柜体与机架相连，组成整个实验机。在柜体内设有显示和控制设备工作的电路。控制电路安装在柜体侧壁上，控制整台设备的运行。通过安装在柜体外侧的触摸式显示器，对整台设备的运行參数及数据进行控制，并能读出实验結果。控制电路通过引脚连接了按键反馈电路与驱动电机，控制测试速度及记录测量按键的导通次数。反馈电路为控制电路包括DSP65系列单片机，配电单元，测速传感器，簧片测试回馈电路，按键连接电路，继电器，触摸式显示面板等元器件。请參照图3，所述打击头的头部为可调行程式的，其包括打击母头和套设于打击母头内的打击子头，该打击子头可相对打击母头上下移位。打击母头和打击子头采用螺纹连接，打击子头的侧壁上标有刻度线。在打击头的导柱上装有螺丝旋钮，可调节打击母头和子头的相对距离(配合不同的测试要求)，从而控制按键试验的行程，模拟真实情況。本机械式按键寿命试验测试装置的操作过程及原理如下将按键放在试验机架底板上的按键反馈电路板上，根据按键的行程，调节打击头的长度。打开电源，通过触摸式控制面板设置电机旋转速度及试验次数，确定打击频率及打击次数(确定测试次数的方式有，以打击次数或导通次数为截止条件)。设置好參数后，点击开始键后，电源导通开始测试。电机驱动凸轮及弹簧导杆击打按键，反馈电路记录按键的通断次数并记录数据。当单片机通过反馈电路探測到打击头已经执行完设定打击次数后，自动保存数据，发出蜂鸣声，切断电机电源，进入待机状态。以上仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。[0023]本实用新型弹簧片寿命试验测试装置与其他形式装置的比较叙述如下相比一般的电磁击打弹簧片寿命试验机，本实用新型弹簧片寿命试验机可以很方便的测试不同行程状态下弹簧的使用寿命，且电压电流的变化对试验结果基本无影响。该实验机的噪音小，击打速度可以调整和记录，从而便于对试验结果进行有效的分析。另外，由于试验设备设置了夹具安装台，方便不同模式的按键结构形式或进行寿命试验，比如簧片、弹簧等弾性元件， 只要将相应的夹具安装在夹具台上即可。
权利要求1.一种按键使用寿命测试设备，包括机架、打击头和按键反馈电路，其特征在于所述机架之间连接有ー转轴，该转轴上沿轴向至少套设有一个凸轮且凸轮跟随转轴旋转，在每个凸轮的下方都设有所述打击头且凸轮的外缘与打击头中的上导杆上端相抵触而带动打击头上下移位，所述按键反馈电路设置在打击头的下方并与其抵触。
2.根据权利要求I所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述机架的ー侧设置有ー柜体，该柜体内设有驱动转轴旋转的驱动电机、显示电路和控制电路，该控制电路分别与按键反馈电路、驱动电机和显示电路连接。
3.根据权利要求I所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述转轴上对应有ー检测打击头上下运动来回次数的计数装置。
4.根据权利要求I所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述凸轮共有四个，沿转轴的长度方向等距离排列。
5.根据权利要求I所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述打击头的头部为可调行程式的。
6.根据权利要求5所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述打击头的头部包括打击母头和套设于打击母头内的打击子头，该打击子头可相对打击母头上下移位。
7.根据权利要求6所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述打击母头和打击子头米用螺纹连接，打击子头的侧壁上标有刻度线。
8.根据权利要求I所述的ー种按键使用寿命测试设备，其特征在于所述打击头通过机架之间的横梁固定。
专利摘要本实用新型涉及一种按键使用寿命测试设备，包括机架、打击头和按键反馈电路，其特征在于所述机架之间连接有一转轴，该转轴上沿轴向至少套设有一个凸轮且凸轮跟随转轴旋转，在每个凸轮的下方都设有所述打击头且凸轮的外缘与打击头中的上导杆上端相抵触而带动打击头上下移位，所述按键反馈电路设置在打击头的下方并与其抵触。实用新型的优点结构简单，适用性强，可对金属簧片为弹性元件的按键产品(塑料、橡胶)进行整体寿命试验，能够很好的模拟实际应用环境下按键的工作状态，并提高了寿命试验数据的可靠性。
文档编号G01R31/327GK202421450SQ20112052740
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月16日 优先权日2011年12月16日
发明者周韬, 曾伟明, 范佳栋, 莫显扬 申请人:上海航空电器有限公司