专利名称：一种提高简单黄铜在x射线荧光光谱测定准确度的方法
技术领域：
本发明涉及一种方法，尤其是一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法。
背景技术：
X射线荧光光谱仪分析是一种相对分析方法，即在相同条件下，测量出待测样品中元素的X射线荧光强度，与标准样品的X射线荧光强度进行对比，由标准样品的元素含量， 来计算待测样品中元素的含量。因此，必须保证标准样品与待测样品之间有尽量一致的物理性质；但在实际过程中，每个人员的制样时均有较大差异。在我厂的X射线荧光光谱仪器上测试简单黄铜时，不同操作人员对同一试样进行测试时，元素含量差别较大，有的操作人员测出的所有元素含量相加大于102%，但有些操作人员测出的元素之和小于98%。目前，还未有好的解决方案。
发明内容
本发明的技术任务是针对上述现有技术中的不足提供一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法，该提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法具有各元素的成分准确，准确度和精确度大大提高，人员的差异性得到减轻的特点。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是它包括(I)控制试样的表面粗糙度；在车制简单黄铜试样时，采用高速钢车刀，并控制每次进刀量小于O. 2mm,使试样的粗糙度达到10 μ m以下；(2)在X射线荧光光谱仪器上，根据不同元素的被影响程度，计算出以下公式，并应用到仪器的运算中；Cu+Zn+其他元素=100%，Cu+Zn=99. 88%，经过测量出的各元素的荧光强度，荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。本发明的一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法和现有技术相比，具有以下突出的有益效果各元素的成分准确，准确度和精确度大大提高，人员的差异性得到减轻等特点。
具体实施例方式对本发明的一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法作以下详细地说明。本发明的一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法，其技术参数要求(1)控制试样的表面粗糙度；在车制简单黄铜试样时，采用高速钢车刀，并控制每次进刀量小于O. 2mm,使试样的粗糙度达到10 μ m以下；(2)在X射线荧光光谱仪器上，根据不同元素的被影响程度，计算出以下公式，并应用到仪器的运算中；Cu+Zn+其他元素=100%， Cu+Zn=99. 88%，经过测量出的各元素的荧光强度，荧光光谱仪器根据公式自动计算出CiuZn 等各兀素的含量。除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
权利要求
1 .一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法，其技术参数要求(I) 控制试样的表面粗糙度；在车制简单黄铜试样时，采用高速钢车刀，并控制每次进刀量小于O. 2mm,使试样的粗糙度达到10 μ m以下；(2)在X射线荧光光谱仪器上，根据不同元素的被影响程度，计算出以下公式，并应用到仪器的运算中；Cu+Zn+其他元素=100%， Cu+Zn=99. 88%，经过测量出的各元素的荧光强度，荧光光谱仪器根据公式自动计算出CiuZn 等各元素的含量。
全文摘要
本发明公开了一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法，属于测定方法，其具体参数要求为(1)控制试样的表面粗糙度；在车制简单黄铜试样时，采用高速钢车刀，并控制每次进刀量小于0.2mm，使试样的粗糙度达到10μm以下；(2)在X射线荧光光谱仪器上，根据不同元素的被影响程度，计算出以下公式，并应用到仪器的运算中；Cu+Zn+其他元素=100%，Cu+Zn=99.88%，经过测量出的各元素的荧光强度，荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。与现有技术相比，本发明的提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法具有各元素的成分准确，准确度和精确度大大提高，人员的差异性得到减轻等特点，因而具有很好的推广应用价值。
文档编号G01N1/28GK102590254SQ201210042060
公开日2012年7月18日 申请日期2012年2月23日 优先权日2012年2月23日
发明者孙克斌, 张西军, 梁琦明, 王洁, 田英明, 郑朋艳 申请人:中色奥博特铜铝业有限公司