裂纹测深和监控的渗透检测方法及模拟试块的制作方法

文档序号:5825919阅读:409来源:国知局
专利名称:裂纹测深和监控的渗透检测方法及模拟试块的制作方法
裂纹测深和监控的渗透检测方法及模拟试块
技术领域
本发明涉及一种裂纹测深和监控的渗透检测方法及模拟试块。
背景技术
渗透检测是压力容器表面开口缺陷常用的检测方法。我们在发现压力容器表面缺陷的同时,往往希望知道缺陷的深度。缺陷深度测量和监控,可以了解压力容器危险状况, 预测压力容器安全性。例如不锈钢压力容器的刃状腐蚀,我们不但希望通过检测发现缺陷, 而且希望知道缺陷的深度和缺陷的扩展情况。现有的表面开口缺陷深度测量和监控方法主要是用深度尺等量具测量,但裂纹等缺陷狭窄而且内部不规则,测量工具不能到达缺陷底部,不能用量具测量深度,不能用量具监控缺陷的扩展情况。也有人使用电磁方法测量缺陷深度,这种方法前提是工件材料能导电导磁,而且需使用专门的检测仪器,因此,也不利于测量缺陷深度。

发明内容因此,本发明的目的是针对上述现有技术的不足,提供一种裂纹测深和监控的渗透检测方法及模拟试块,使在渗透检测发现缺陷的同时,能够测量表面开口缺陷深度和监控缺陷的扩展情况,有利于提高测量的效率和精确度。为达到上述目的,本发明采用以下技术方案本发明的优点是通过使用液体渗入裂纹等表面开口缺陷内,不受缺陷狭窄尺寸限制,也不受多次弯曲限制,可以充满缺陷内部,能够测量表面开口缺陷深度和监控缺陷的扩展情况。而且,本发明与被检工件的材料无关,无论工件是否导电都可以测量深度,无论是否导磁都可以测量深度,可以测量任何材料的表面开口缺陷,还不需要使用其他专门仪器。
具体实施方式本发明裂纹测深和监控的渗透检测方法,由下步骤组成a、待检测产品表面清洗、 干燥处理;b、在产品表面喷涂渗透剂,并除去产品表面多余的渗透剂;c、待干燥后,在产品表面施涂显像剂,通过显像仪器测量得出显像宽度;d、测量产品表面裂纹的宽度;e、制作多组具有相同宽度和不同深度的试块,找出与产品表面裂纹宽度相同的试块,并进一步找出深度与显像宽度相同或最接近的试块,通过测量试块得出裂纹的深度。本发明优选方式在b步骤中,所采用的渗透剂可以为荧光渗透剂、着色渗透剂或荧光着色渗透剂。本发明优选方式在e步骤中,所述多组试块的裂纹表面开口宽度为0. 02mm O. 20mm,深度为Imm IOmm ;将每组试块当中的每个试块设为具有裂纹表面开口宽度相同, 并且深度不相同可供对比选择。本发明中,所述裂纹测深和监控的试块,包括有基板,在基板上设置有多组与检测材料相同的凸块,在每组中的凸块上都设有提供对比的裂纹,所述裂纹的表面开口宽度和深度设有多组尺寸。本发明中的优选方式在基板上设有十组凸块,每组凸块上设有十种裂纹表面开口宽度0· 02mm, O. 04mm, O. 06mm, O. 08mm, 0. 10mm, 0. 12mm, 0. 14mm, 0. 16mm, 0. 18mm, 0. 20mm ; 每个裂纹3表面开口宽度,又有十种深度1_,2mm, 3mm, 4mm, 5mm, 6mm, 7mm, 8mm, 9mm, 10mm。 所述凸块为长条形,所述裂纹沿凸块的长度方向开设。本发明利用渗透检测原理,测量表面开口缺陷深度和监控缺陷的扩展情况。渗透检测原理是渗透剂在毛细作用下,渗入表面开口缺陷内,在去除工件表面多余的渗透剂后,通过显象剂的毛细作用将缺陷内的渗透剂吸附到工件表面形成显像而显示缺陷的存在,这种检测方法称为渗透检测。当试块与缺陷表面开口宽度一致时,深度与渗透显像宽度有关。缺陷的截面积越大,那么渗入缺陷中的渗透剂就越多,相同条件下,显像时显示的宽度就越大。由于液体可以充满缺陷内部,所以使用液体渗入裂纹等表面开口缺陷内,不受缺陷狭窄尺寸限制,也不受多次弯曲限制。我们根据显示的宽度可以判断缺陷截面积,缺陷宽度相同时,缺陷显示宽度随缺陷深度的加大而加大。本发明通过渗透检测与试块相结合,使用液体渗入裂纹等表面开口缺陷内,不受缺陷狭窄尺寸限制,也不受多次弯曲限制,可以充满缺陷内部,能够通过试块测量裂纹表面开口缺陷深度和监控缺陷的扩展情况。而且,本发明与被检工件的材料无关,无论工件是否导电都可以测量深度,无论是否导磁都可以测量深度,可以测量任何材料的表面开口缺陷, 还不需要使用其他专门仪器,具有广阔的市场前景。
权利要求
1.裂纹测深和监控的渗透检测方法,其特征在于由下步骤组成a、待检测产品表面清洗、干燥处理;b、在产品表面喷涂渗透剂,并除去产品表面多余的渗透剂;c、待干燥后,在产品表面施涂显像剂,通过显像仪器测量得出显像宽度;d、测量产品表面裂纹的宽度;e、 制作多组具有相同宽度和不同深度的试块,找出与产品表面裂纹宽度相同的试块,并进一步找出深度与显像宽度相同或最接近的试块,通过测量试块得出裂纹的深度。
2.根据权利要求I所述的裂纹测深和监控的渗透检测方法,其特征在于在b步骤中,所采用的渗透剂可以为荧光渗透剂、着色渗透剂或荧光着色渗透剂。
3.根据权利要求I所述的裂纹测深和监控的渗透检测方法,其特征在于在e步骤中,所述有多组不同表面开口宽度裂纹为0. 02mm O. 20mm,深度为Imm IOmm删除;将每组试块当中的每个试块设为具有裂纹表面开口宽度相同,并且深度不相同可供对比选择。
4.裂纹测深和监控的试块,其特征在于包括有基板,在基板上设置有多组与检测材料相同的凸块,在每组中的凸块上都设有提供对比的裂纹。
5.根据权利要求4所述的裂纹测深和监控的试块,其特征在于在基板上设有十组凸块,每组凸块上设有十种裂纹表面开口宽度0. 02mm,O. 04mm,O. 06mm,O. 08mm,0. 10mm, 0. 12mm,0. 14mm,0. 16mm,0. 18mm,0. 20mm ;每个裂纹表面开口宽度,又有十种深度1mm, 2mm, 3mm, 4mm, 5mm, 6mm, 7mm, 8mm, 9mm, 10mnin
6.根据权利要求4或5所述的裂纹测深和监控的试块,其特征在于所述凸块为长条形, 所述裂纹沿凸块的宽度方向开设。
全文摘要
裂纹测深和监控的渗透检测方法,其特征在于由下步骤组成a、表面清洗、干燥处理;表面喷涂渗透剂;c、待干燥后,在产品表面施涂显像剂,通过显像仪器测量得出显像宽度;d、测量产品表面裂纹的宽度;e、制作多组具有相同宽度和不同深度的试块,找出与产品表面裂纹宽度相同的试块,并进一步找出深度与显像宽度相同或最接近的试块,通过测量试块得出裂纹的深度。其优点是能够测量表面开口缺陷深度和监控缺陷的扩展情况。而且,本发明与被检工件的材料无关,无论工件是否导电都可以测量深度,无论是否导磁都可以测量深度,可以测量任何材料的表面开口缺陷,还不需要使用其他专门仪器。
文档编号G01B13/14GK102607473SQ201210058460
公开日2012年7月25日 申请日期2012年3月7日 优先权日2012年3月7日
发明者富阳 申请人:广东省中山市特种设备检验所
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