专利名称：一种通用型测试固定夹具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种固定夹具，尤其是一种通用型测试固定夹具。
背景技术：
现有的用于芯片测试的插座一般是固定引脚数目的，两排引脚间距为一般也是固定的，由于插座与芯片引脚连接的是固定在某个点上，因此只能兼容插座引脚数目以下，引脚横向间距与插座引脚间距相同的陶瓷基座。
但是现在常用的芯片引脚横向间距有多种规格，如最常用的 . 87mm, 10. 41mm, 15. 49mm 等，而现有的插座只能使用一种横向间距的芯片，需使用多种横向间距的芯片时不得不配备多个插座反复替换使用，对测试工作带来很大的限制和不便。
发明内容
针对现有的芯片测试插座所存在的上述问题，本发明提供一种通用型测试固定夹具。本发明解决技术问题所采用的技术方案为
一种通用型测试固定夹具，包括用于连接固定待测试芯片的插座和用于连接测试设备的插头，所述插座上包括多个用于连接待测试芯片引脚的导电部件，多个所述导电部件以预定纵向间隔呈两排纵向队列平行排列，其中，每个所述导电部件为条形，所述条形导电部件横置于所述纵向队列内且相互平行排列，所述条形导电部件供待测试芯片引脚于所述条形导电部件中横向移动。上述通用型测试固定夹具，其中，所述插座与所述插头设于所述固定夹具相背向的两个面上。上述通用型测试固定夹具，其中，所述预定纵向间隔大于2. 41mm且小于2. 67mm。上述通用型测试固定夹具，其中，所述条形导电部件不少于28个。上述通用型测试固定夹具，其中，所述条形导电部件排列形成的两平行纵向队列宽 20mm。上述通用型测试固定夹具，其中，所述插座包括锁定装置，所述锁定装置用以锁定插入多个所述条形导电部件的待测试芯片引脚。本发明的有益效果是
兼容多种引脚横向间距的芯片，不用再对各种不同引脚横向间距的芯片订做相应的插座，不但节省了更换插座的时间，而且大大节省了订做不同插座的费用。
图I是本发明一种通用型测试固定夹具的正面结构示意图2是本发明一种通用型测试固定夹具的背面结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。如图I和图2所示，本发明一种通用型测试固定夹具，包括用于连接固定待测试芯片的插座I和用于连接测试设备的插头2，插座I上包括多个用于连接待测试芯片引脚的导电部件10，多个导电部件10以预定纵向间隔呈两排纵向队列平行排列，其中，每个导电部件10为条形，条形导电部件10横置于纵向队列内且相互平行排列，条形导电部件10供待测试芯片引脚于条形导电部件中横向移动。本发明的原理是在保持导电部件10纵向间距符合标准芯片引脚纵向间距的情况下，通过横向条形的导电部件10使芯片引脚与导电部件10的接触由一个点变成一个可以横向活动的范围，使芯片引脚的横向间距不再被限制在一个固定值，以实现兼容不同引脚横向宽度芯片的目的。进一步的，其中，插座I与插头2设于固定夹具相背向的两个面上，使本发明固定夹具插装方便。进一步的，其中，条形导电部件10的预定纵向间隔大于2. 41mm且小于2. 67mm,以符合标准芯片弓I脚纵向间距。进一步的，其中，条形导电部件10不少于28个，较多的条形导电部件10可以提供较多引脚的芯片使用，以提高本发明的兼容性。进一步的，其中，条形导电部件10排列形成的两平行纵向队列宽20mm，较宽的横向间距使得本发明可兼容弓I脚横向间距较大的芯片。进一步的，其中，插座I包括锁定装置11，锁定装置11用以锁定插入多个条形导电部件10的待测试芯片引脚，通过锁定装置11可以使芯片在测试时被牢固的固定在插座I 上，测试完毕后可通过解除锁定装置11的锁定释放芯片，避免了现有的插座需要采用起拔器才能拔出芯片的缺陷，防止了起拔器对芯片引脚的损坏，同时提高了测试效率。锁定装置11具体的可以有两个模具形成，所有条形导电部件10可以由上下两个部分组成，上下两个部分之间的空隙用以夹持芯片的引脚，锁定装置11的一个模具固定所有条形导电部件10的上半部分，另一个模具固定所有条形导电部件10的下半部分，锁定时通过一个操纵杆使两个模具移动带动条形导电部件10的上半部分和下半部分相向移动实现对芯片引脚的夹紧，释放时使条形导电部件10的上半部分和下半部分背向移动实现对芯片引脚的放松。以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的申请专利范围，所以凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等效结构变化，均包含在本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种通用型测试固定夹具，包括用于连接固定待测试芯片的插座和用于连接测试设备的插头，所述插座上包括多个用于连接待测试芯片引脚的导电部件，多个所述导电部件以预定纵向间隔呈两排纵向队列平行排列，其特征在于，每个所述导电部件为条形，所述条形导电部件横置于所述纵向队列内且相互平行排列，所述条形导电部件供待测试芯片引脚于所述条形导电部件中横向移动。
2.如权利要求I所述通用型测试固定夹具，其特征在于，所述插座与所述插头设于所述固定夹具相背向的两个面上。
3.如权利要求2所述通用型测试固定夹具，其特征在于，所述预定纵向间隔大于2.41mm 且小于 2. 67mm。
4.如权利要求3所述通用型测试固定夹具，其特征在于，所述条形导电部件不少于28个。
5.如权利要求3所述通用型测试固定夹具，其特征在于，所述条形导电部件排列形成的两平行纵向队列宽20mm。
6.如权利要求1-5中任一所述通用型测试固定夹具，其特征在于，所述插座包括锁定装置，所述锁定装置用以锁定插入多个所述条形导电部件的待测试芯片引脚。
全文摘要
本发明公开了一种通用型测试固定夹具，包括用于连接固定待测试芯片的插座和用于连接测试设备的插头，所述插座上包括多个用于连接待测试芯片引脚的导电部件，多个所述导电部件以预定纵向间隔呈两排纵向队列平行排列，其中，每个所述导电部件为条形，所述条形导电部件横置于所述纵向队列内且相互平行排列，所述条形导电部件供待测试芯片引脚于所述条形导电部件中横向移动。本发明的有益效果是兼容多种引脚横向间距的芯片，不用再对各种不同引脚横向间距的芯片订做相应的插座，不但节省了更换插座的时间，而且大大节省了订做不同插座的费用。
文档编号G01R1/04GK102608362SQ20121006652
公开日2012年7月25日 申请日期2012年3月14日 优先权日2012年3月14日
发明者周柯, 王炯, 赵敏 申请人:上海华力微电子有限公司