专利名称：一种光学测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及测量技术领域，特别是一种光学测试系统。
背景技术：
在对待测模组进行光学测量时，当待测模组旋转时，也需要保证测量轴位于待测模组的表面上。为了满足上述的需求，现有技术中的光学测试系统如图I所示，包括机台201 ;设置于机台201表面的夹具2 ;以及光学测量仪3。 如图I所示，该夹具2为固定型夹具，只能匹配一种型号的液晶模组产品。夹具2一般是在一整块材料(电木等)上挖一个容纳待测模组的凹槽。在测试过程中，将待测模组放置在凹槽中进行测量。由于测量时，机台I可能需要按照图I虚线所示的两个轴旋转，由于待测模组旋转时，也需要保证测量轴位于待测模组的表面上，所以对于长、宽和高不同的模组都需要制作对应的夹具。从以上描述可以发现，现有技术中的夹具至少存在适应性太差的缺点，导致夹具成本过高。
发明内容
本发明实施例的目的在于提高一种光学测试系统，使得夹具及测试系统能适应不同尺寸的待测模组，提高夹具的适应性，降低测试成本中的夹具成本。为实现上述目的，本发明实施例公开了一种光学测试系统，包括机台；安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行；设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。上述的光学测试系统，其中，还包括安装于所述机台上的第二导轨，与机台表面平行，且垂直于所述第一导轨；设置于所述第二导轨上，可在所述第二导轨上滑动，能够与所述第一滑块和第二滑块配合夹持所述待测模组的第三滑块。上述的光学测试系统，其中，所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。上述的光学测试系统，其中，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块具有一夹持面，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块上均具有一阻挡机构，所述阻挡机构在垂直于所述夹持面的方向上突出于所述夹持面，所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构下表面时，测量轴位于所述待测模组的表面。
上述的光学测试系统，其中，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块的上表面形成有一凹槽结构，在所述第一滑块、第二滑块和第三滑块配合夹持所述待测模组时，所述凹槽结构的底部不高于所述待测模组的上表面。上述的光学测试系统，其中，还包括用于承载所述待测模组的承载机构；所述承载机构具有一承载面，所述承载面与机台表面平行，且能够沿垂直于机台表面的方向运动。上述的光学测试系统，其中，所述承载面通过弹簧与所述承载机构的主体连接。本发明实施例至少具有以下有益效果本发明实施例中，当需要对待测模组进行光学测量时，将待测模组置于滑块之间，然后根据待测模组的长/宽调整滑块的位置，使得滑块的夹持面贴紧待测模组的两端，然后通过固定滑块来固定待测模组。由于滑块可在导轨上滑动，因此当下一次测试时待测模组的长/宽发生变化时， 则可以调整滑块在导轨上的位置，使得滑块的夹持面贴紧待测模组的两端，从而夹持固定当前待测模组即可。因此，本发明实施例的光学测试系统能够适用于长/宽不同的待测模组，提高了夹具的适应性，也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、制造夹具，降低了测试成本中的夹具成本。
图I为现有技术的光学测试系统的结构示意图；图2为本发明实施例的一种光学测试系统的结构示意图；图3为本发明实施例的另一种光学测试系统的结构示意图；图4为本发明实施例的滑块的结构示意图；图5为本发明实施例的再一种光学测试系统的结构示意图；图6为图5所示的光学测试系统的不同状态下的示意图；图7为滑块阻挡测试光线的示意图；图8a、8b和8c为滑块上设置的三种凹槽的示意图。其中，附图标记如下2 夹具201机台3 光学测量仪202第一导轨 203第一滑块 204 第二滑块205第二导轨 206第三滑块 401 夹持面402阻挡机构 501承载机构 5011承载面601待测模组
具体实施例方式本发明实施例的光学测试系统中设置有一导轨，并且在导轨上设置有能够滑动的两个滑块。当待测模组的长度或宽度不同时，可以滑动两个滑块，使得滑块的夹持面之间的距离等于待测模组的长度或宽度，因此能够适用长度或宽度不同的待测模组。因此本发明实施例的光学测试系统提高了夹具的适应性，降低了测试成本中的夹具成本。本发明实施例的一种光学测试系统，如图2所示，包括
机台201 ;安装于所述机台上的第一导轨202，与机台表面平行；设置于所述第一导轨202上，可在所述第一导轨202上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块203和第二滑块204。如图2所示，当需要对待测模组进行光学测量时，将待测模组置于滑块203和204之间，然后根据待测模组的长/宽调整第一滑块203和第二滑块204的位置，使得第一滑块203和第二滑块204的夹持面贴紧待测模组的两端，然后通过固定第一滑块203和第二滑块204。以图2所示的情况为例，由于第一滑块203和第二滑块204可在第一 导轨202上滑动，因此当下一次测试时待测模组的长/宽发生变化时，则可以调整 第一滑块203和第二滑块204在导轨上的位置，使得第一滑块203和第二滑块204的夹持面贴紧待测模组的两端，从而夹持固定当前待测模组即可。因此，本发明实施例的光学测试系统能够适用于长/宽不同的待测模组，提高了夹具的适应性，也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、制造夹具，降低了测试成本中的夹具成本。通过上述的方式，本发明实施例的光学测试系统可以适用不同长度或宽度的待测模组，但在另一个方向上需要测试人员自行调整，为了提高测试效率，在本发明的具体实施例中，如图3所示，该光学测试系统还包括安装于所述机台201上的第二导轨205，与机台表面平行，且垂直于所述第一导轨202 ； 设置于所述第二导轨202上，可在所述第二导轨202上滑动，能够与所述第一滑块203和第二滑块204配合夹持所述待测模组的第三滑块206。通过第二导轨205以及其上的第三滑块206的设置，测试人员可以很方便的通过3个滑块来唯一确定待测模组的位置。同时，通过3个滑块的设置，可以对长度和宽度均不同的待测模组进行固定，提高了夹具的适应性，也使得用户的测试操作更加方便。在本发明的具体实施例中，由于每个待测模组均有各自的长度和宽度，为了使得待测模组位于合适的位置。保证待测模组位于合适的位置可以通过用户手动调整来实现，但考虑到精度问题，在本发明的具体实施例中，在所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。通过游标卡尺的设置，测试人员能够很精确的设置第一滑块203、第二滑块204和第三滑块206的位置，进而也就精确设置了滑块夹持面的位置，进而精确定位待测模组的位置。之前提到，机台I可能需要按照图I虚线所示的两个轴旋转，当待测模组旋转时，需要保证测量轴位于待测模组的表面上。对于上述的测量条件，可以通过用户不断手动调整待测模组相对于机台表面的高度来保证。即首先确定测量轴的位置，进而确定待测模组相对于机台表面的高度，然后在第一滑块203、第二滑块204和第三滑块206的位置确定之后，通过沿夹持面上下调整待测模组即可使待测模组位于一个恰当的高度，当机台沿图I所示的轴线旋转时，测量轴位于待测模组的表面上。但上述的方式可能需要多次繁琐的调整，在本发明的具体实施例中，通过一简单改进滑块使得上述的调整过程更加简单，说明如下。如图4所示，本发明实施例中的滑块具有一夹持面401，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块上均具有一阻挡机构402，所述阻挡机构402在垂直于所述夹持面401的方向X上突出于所述夹持面401，所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构时，测量轴位于所述待测模组的表面。也可以说，测量轴位于第一滑块、第二滑块和第三滑块上的阻挡机构的下表面所在的平面即可。
下面对上述的结构的工作说明如下。在第一滑块203、第二滑块204和第三滑块206的位置确定之后，将待测模组放入第一滑块203、第二滑块204和第三滑块206的夹持面之间，此时在平行于机台表面的方向上固定了待测模组。在此之后，推动待测模组沿着夹持面向上移动，直至待测模组的上表面贴紧阻挡机构的下表面，此时测量轴位于所述待测模组的表面，满足测量要求。上述方式下，只需要测试人员将待测模组向上推动到无法推动的位置的即可，不用测试人员手动测试待测模组的高度，大大提高了测试的方便性。在本发明的具体实施例中，该光学测试系统中可以通过第一滑块203、第二滑块204和第三滑块206夹持待测模组，使得待测模组在垂直于机台表面的方向上固定，但这种方式并不是特别稳定，为了提高待测模组夹持的稳定性，如图5所示，在本发明的具体实施例中，光学测试系统还包括用于承载所述待测模组的承载机构501 ;所述承载机构具有一承载面5011，所述承载面与机台表面平行，且能够沿垂直于机台表面的方向运动。通过承载机构的设置，可以为待测模组在垂直于机台表面的方向上提供支撑，使得待测模组的位置更加稳固，避免了测试过程中待测模组从第一滑块203、第二滑块204和第三滑块206中掉落的情况。同时，由于承载面5011能够沿垂直于机台表面的方向运动，因此,对于不同高度的待测模组都能够适用，进一步提高了夹具的适应性，降低了测试成本中的夹具成本。在本发明的具体实施例中，该承载面的底部通过弹簧与所述承载机构的主体连接，当待测模组放置于承载面上时，在弹簧弹性力的作用下将承载面向上顶，从而带动待测模组沿着夹持面向上运动，当待测模组上表面抵达阻挡机构的下表面时，被阻挡机构阻挡，无法继续向上移动，达到稳定状态。同时，由于测量轴位于第一滑块、第二滑块和第三滑块上的阻挡机构的下表面所在的平面，因此，当所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构时，测量轴位于所述待测模组的表面，满足测量要求。如图6所示,为图5所示的光学测试系统的不同状态下的示意图。如图6所示，当机台绕横向的旋转轴旋转到如图7所示的位置时，滑块会阻挡光学测量仪3发出的光线照射到待测模组601的中心点，导致测试无法完成。在本发明的具体实施例中，为了避免上述情况的发生，在所有的滑块(即第一滑块、第二滑块和第三滑块)的上表面形成有一凹槽结构，在所述第一滑块、第二滑块和第三滑块配合夹持所述待测模组时，所述凹槽结构的底部不高于所述待测模组的上表面。也就是说，在滑块上表面形成了个让光线能够直接通过的通道，使得光学测量仪3发出的光线照射到待测模组601的中心点。在本发明的具体实施例中，该凹槽结构多种多样，对其中的几种实现方式说明如下。如图8a、图8b和图8c所示，为本发明具体实施例的三种凹槽结构的示意图，但3种结构中，凹槽结构的底部都不高于所述待测模组的上表面，也就是说光学测量仪的光出口到待测模组的上表面中心点之间没有阻挡物，保证光学测量仪3发出的光线照射到待测模组601的中心点实现光学项目测试。以上所述仅是本发明的实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来 说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为 本发明的保护范围。
权利要求
1.ー种光学测试系统，其特征在于，包括 机台； 安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行； 设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。
2.根据权利要求I所述的光学测试系统，其特征在于，还包括 安装于所述机台上的第二导轨，与机台表面平行，且垂直于所述第一导轨； 设置于所述第二导轨上，可在所述第二导轨上滑动，能够与所述第一滑块和第二滑块配合夹持所述待测模组的第三滑块。
3.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，所述第一导轨和第二导轨上设置有用于确定滑块位置的游标卡尺。
4.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块具有ー夹持面，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块上均具有一阻挡机构，所述阻挡机构在垂直于所述夹持面的方向上突出于所述夹持面，所述待测模组的上表面贴紧所述阻挡机构下表面时，測量轴位于所述待测模组的表面。
5.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，所述第一滑块、第二滑块和第三滑块的上表面形成有一凹槽结构，在所述第一滑块、第二滑块和第三滑块配合夹持所述待测模组时，所述凹槽结构的底部不高于所述待测模组的上表面。
6.根据权利要求2所述的光学测试系统，其特征在于，还包括用于承载所述待测模组的承载机构；所述承载机构具有ー承载面，所述承载面与机台表面平行，且能够沿垂直于机台表面的方向运动。
7.根据权利要求6所述的光学测试系统，其特征在于，所述承载面通过弹簧与所述承载机构的主体连接。
全文摘要
本发明的目的在于提高一种光学测试系统，使得夹具及测试系统能适应不同尺寸的待测模组，提高夹具的适应性，降低测试成本中的夹具成本。本发明实施例的光学测试系统包括机台；安装于所述机台上的第一导轨，与机台表面平行；设置于所述第一导轨上，可在所述第一导轨上滑动，能够配合夹持待测模组的第一滑块和第二滑块。本发明实施例的光学测试系统能够适用于长/宽不同的待测模组，提高了夹具的适应性，也就不用再为每一个尺寸不同的待测模组单独设计、制造夹具，降低了测试成本中的夹具成本。
文档编号G01N21/01GK102798593SQ201210249979
公开日2012年11月28日 申请日期2012年7月18日 优先权日2012年7月18日
发明者潘建伟 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 成都京东方光电科技有限公司