专利名称：芯片测试方法、自动化测试机和系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及芯片自动化测试领域，尤其涉及一种芯片测试方法、自动化测试机和系统。
背景技术：
在芯片自动化测试领域，使用普通自动化测试机(ATE，AUTOMATIC TESTEQUIPMENT)有时难以满足芯片某些功能的测试或者难以模拟真正的使用环境，此时需要使用更为高端的自动化测试机进行测试，但是高端自动化测试机由于自身价格较高，会显著增加测试成本。为了测试芯片功能且不增加测试成本，引入计算机(PC，PERS0NALC0MPUTER)辅助测试，通过PC上的测试软件模拟芯片的使用环境，对芯片进行测试。引入PC辅助测试后就需要使用ATE对芯片进行第一次测试，然后使用PC对芯片进行第二次测试。第一次测试主要进行直流测试和ATE所能完成的部分功能测试，第二次测试主要进行ATE无法测试而PC通过软件可以测试的功能测试部分，再根据两次测试的结果判断芯片是否通过测试。由于引入PC辅助测试，整个芯片测试过程包括两次互不关联的测试，这就使得整个芯片测试过程比较复杂，所需要较多的人工操作。较多的人工操作，不但增加芯片测试的人工成本、增加多次人工操作造成的芯片损耗，而且增加芯片测试的时间成本，影响芯片测试的产能，使得整个芯片测试所花费的测试成本较高。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了芯片测试方法、自动化测试机和系统，以解决现有芯片测试需要较多人工操作造成的芯片损耗和测试成本高的问题。一方面，本发明实施例提供了芯片测试方法，该方法包括自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。另一方面，本发明实施例还提供了用于芯片测试的ATE，该ATE包括测试单元，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；发送单元，用于在所述测试单元对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；接收单元，用于接收所述PC根据所述发送单元发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；获得单元，用于根据所述接收单元接收的所述返回信息获得芯片测试结果。
又一方面，本发明实施例还提供了芯片测试系统，该芯片测试系统包括ATE，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；在对所述ATE测试项目测试完成后，向所述PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令息；PC，用于在接收到所述ATE发送的所述命令信息后对所述芯片测试包含的PC测试项目进行测试，在所述对PC测试项目的测试完成后，向所述ATE发送包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；ATE，用于根据所述PC发送的所述返回信息获得芯片测试结果。与现有技术相比，本发明实施例所提供的芯片测试方法、用于芯片测试的ATE、和芯片测试系统，可以将现有技术中ATE和PC分别进行的两次测试合并成为一次测试，从而减少人工操作，减少多次人工操作造成的芯片损耗，简化整个芯片测试的流程，提高芯片测 试的产能，有效降低人工成本和时间成本，从而降低了整个芯片测试的成本。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。通过附图所示，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。图I为本发明芯片检测方法一个实施例的流程图；图2为本发明芯片检测方法另一个实施例的流程图；图3为本发明芯片检测方法另一个实施例的流程图；图4为本发明芯片检测ATE —个实施例的流程图；图5为本发明芯片检测ATE另一个实施例的流程图；图6为本发明实施例芯片检测系统的一个实施例框图；图7为本发明实施例芯片检测系统的另一个实施例框图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。参见图1，为本发明芯片检测方法一个实施例的流程图，该方法包括如下步骤步骤101，自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。可选的，ATE进行所述ATE测试项目的测试之前还包括，接收开始所述芯片测试的指令信息；ATE在接收到所述指令信息之后，对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。可选的，所述ATE进行所述ATE测试项目的测试，是ATE在前一次芯片测试获得芯片测试结果后，自动开始对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。
步骤102，所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息。可选的，ATE可以在ATE测试项目的测试完成后无论芯片是否通过ATE测试项目的测试都向PC发送命令信息。可选的，ATE可以只在芯片通过ATE测试项目的测试后才向PC发送命令信息，在芯片未通过ATE测试项目的测试时，直接认定芯片未通过芯片测试，不向PC发送命令信息。ATE可以直接向PC发送命令信息，也可以通过其他装置向PC发送命令信息。命令信息的内容和格式可以根据需要预先进行设定，当PC接收到预定内容和格式的信息时才开始进行PC测试项目的测试，以防止因其他信息干扰而造成PC在不需要进行PC测试项目的测试时仍然进行PC测试项目的测试。步骤103，所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。 PC在芯片通过PC测试项目的测试后发送的返回信息的可以是一组表示芯片通过PC测试项目的测试的数据，PC在芯片未通过PC测试项目的测试时发送的返回信息的可以是其他数据。可选的，为了防止由于通信不畅或其他原因造成的ATE长时间无法接收到返回信息而无法得出测试结果情况的发生，可以为ATE接收PC发送返回信息设定一个等待时长，ATE在等待时长内接收PC发送的返回信息，在等待时长内未接收到PC发送的返回消息则确定所述芯片测试未通过。步骤104，所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。ATE接收到PC发送的返回信息后，对所述返回信息的内容进行分析，如果返回信息为表示芯片通过PC测试项目的测试的信息，并且芯片也通过了 ATE测试项目的测试，则可以得出芯片通过芯片测试的测试结果，如果返回信息的内容不是代表芯片通过PC测试项目的测试的信息，则可以得出芯片未通过芯片测试的测试结果。从上述实施例可以看出，本发明通过将ATE和PC分别进行的两次测试合并成为一次测试，从而减少人工操作，减少多次人工操作造成的芯片损耗，简化了整个芯片测试的流程，提高了芯片测试的产能，有效降低人工成本和时间成本，从而降低了整个芯片测试的成本。参见图2，为本发明芯片测试方法的一个实施例流程图，该实施例详细示出了本发明芯片测试的方法，该方法包括如下步骤步骤201，ATE接收开始测试的指令信息。开始测试的指令信息可以是技术人员直接向ATE发出的指令信息，也可以是技术人员通过其他设备向ATE发出的指令信息。步骤202，ATE进行芯片测试所包含的ATE测试项目的测试。ATE测试项目的测试可以包括对一个芯片进行ATE测试项目的测试，也可以包括对多个芯片进行ATE测试项目的测试。对于每个芯片，如果该芯片包括多个ATE测试项目，则逐一对每个ATE测试项目进行测试；如果多个芯片包括同种ATE测试项目，则可以同时进行对该同种ATE测试项目的测试。步骤203，ATE在芯片通过ATE测试项目的测试后，使用PATTERN功能模拟串口，向电平转换装置发送用于命令PC开始PC测试项目的测试的命令信息。ATE可以利用PATTERN功能模拟串口通信方式与计算机进行通信，采用预设的波特率和数据格式，向PC的串口发送用于PC开始PC测试项目的测试的命令信息，但由于ATE是采用PATTERN功能模拟串口，而并非真正的串口设备，所以ATE发送的命令信息的电平不是PC的串口电平，ATE无法直接通过串口向PC发送命令信息，因此需要电平转化装置将命令信息的电平转化为串口电平。在此需要说明的是，在芯片未通过ATE测试项目的测试时，所述ATE可以直接得出测试芯片未通过芯片测试的测试结果，不再向PC发送命令信息。步骤204，电平转换装置对接收到的命令信息进行电平转换，将命令信息的电平转换为PC串口电平。电平转换装置可以是与ATE相连的串口电平转换芯片，也可以是单电源电平转换
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心/T 步骤205，电平转换装置向PC的串口发送经过电平转换之后的命令信息。步骤206，PC在通过串口接收到电平转换装置发送的命令信息后开始使用测试软件进行芯片测试所包含的PC测试项目的测试。PC测试项目的测试可以包括对一个芯片进行PC测试项目的测试，也可以包括对多个芯片进行PC测试项目的测试。对于每个芯片，如果该芯片包括多个PC测试项目，则逐一对每个PC测试项目进行测试；如果多个芯片包括同种PC测试项目，则可以同时进行对该同种PC测试项目的测试。步骤207，在所述PC测试项目的测试完成后，PC通过串口向电平转换装置发送包括所述PC测试项目测试结果的返回信息。PC在PC测试项目的测试完成后通过串口采用与ATE向PC发送命令信息时所采用的波特率和数据格式相同的波特率和数据格式向ATE发送返回信息，由于ATE是采用PATTERN功能模拟串口接收返回信息，而并非真正的串口设备，因此PC发送返回信息采用的是PC的串口电平，而不是ATE接收信息采用的电平，PC无法通过串口直接将返回信息发送到ATE，需要电平转化装置将返回信息的电平转化为ATE电平。步骤208，电平转换装置对接收到的返回信息进行电平转换，将返回信息的电平转换为ATE通过PATTERN功能模拟串口接收信息所需要的电平。电平转换装置可以是与ATE相连的串口电平转换芯片，也可以是其他的有源电平转换装置。步骤209，电平转换装置向ATE发送经过电平转换之后的返回信息。步骤210，ATE根据所述返回信息获得芯片测试最终结果。ATE对返回信息的内容包含的测试结果进行分析，当返回测试结果为芯片通过PC测试项目的测试的数据时，可以得出芯片通过芯片测试的测试结果，如果测试结果不是芯片通过PC测试项目的测试的数据，则可以得出芯片未通过芯片测试的测试结果。从上述实施例可以看出，本发明通过实现ATE和PC之间的串口通信，将需要技术人员分别进行的两次测试操作合并成为一次测试操作，从而减少了整个芯片测试的流程需要的人工操作，减少因多次人工操作对芯片造成的损耗，有效降低人工成本和时间成本，提高芯片测试产能,从而降低了整个芯片测试的成本。
下面结合一个具体的实施例对本发明芯片测试方法做一个具体说明。参见图3，为本发明芯片测试方法的一个实施例流程图，该方法包括如下步骤步骤301，ATE接收技术人员直接发出的开始测试的指令信息。步骤302，ATE进行ATE测试项目的测试。步骤303，ATE在芯片通过ATE测试项目的测试后，使用PATTERN功能模拟串口，使用波特率为115200，数据格式为8个数据位、I个停止位、无奇偶校验位的信息发送方式，向电平转换装置发送用于命令PC开始PC测试项目的测试的串行数据OxXX。其中，OxXX为ATE和PC事先约定的一个十六进制数据，具体内容可以根据需要选择。
步骤304，电平转换装置将接收到的串行数据OxXX的电平转换为PC串口电平。步骤305，电平转换装置向PC的串口发送经过电平转换之后的OxXX。步骤306，PC通过串口接收到的串行数据为OxXX时，开始使用测试软件进行PC测试项目的测试。步骤307，PC在PC测试项目的测试完成后，使用波特率为115200，数据格式为8个数据位、I个停止位、无奇偶校验位的信息发送方式，向电平转换装置发送表示芯片通过PC测试项目的串行数据OxYY。其中，OxYY为ATE和PC事先约定的一个十六进制数据，具体内容可以根据需要选择。步骤308，电平转换装置对接收到的串行数据OxYY进行电平转换，将串行数据OxYY的电平转换为ATE通过PATTERN功能模拟串口接收信息所需要的电平。步骤309，电平转换装置向ATE发送经过电平转换之后的串行数据OxYY。步骤310，ATE根据OxYY得出芯片通过芯片测试的最终测试结果。从上述实施例可以看出，本发明通过实现ATE和PC之间的串口通信，将需要技术人员分别进行的两次测试操作合并成为一次测试操作，从而减少了整个芯片测试的流程需要的人工操作，减少多次人工操作造成的芯片损耗，有效降低了人工成本和时间成本，从而降低了整个芯片测试的成本，提高芯片测试的产能；另外，ATE和PC进行通信时采用固定格式的特定数据，可以有效防止因为信号干扰或信号误发造成的测试失败。与本发明芯片测试方法的实施相对应，本发明还提供了用于芯片测试的ATE的实施例。参见图4，为本发明ATE的一个实施例框图。该ATE包括测试单元401,发送单元402,接收单元403,获得单元404。其中，所述测试单元401，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。可选的，所述测试单元401，具体用于在前一次芯片测试获得芯片测试最终结果后，对芯片测试所包含的所述ATE测试项目进行测试。所述发送单元402，用于在在所述测试单元401对所述ATE测试项目测试完成后，向PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息。可选的，所述发送单元402，具体用于在测试单元401对所述ATE测试项目测试完成后，利用PATTERN功能模拟串口，采用预设的波特率和预设的数据格式，向所述PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息，所述命令信息经过电平转换后发送到所述PC。所述接收单元403，用于接收所述PC根据所述发送单元402发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。可选的，所述接收单元403，具体用于在设定的等待时长内，接收所述PC根据所述发送单元402发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。可选的，所述接收单元403，具体用于利用PATTERN功能模拟串口，接收所述PC根据所述发送单元402发送的命令信息进行测试后，采用与所述预设的波特率和所述预设的数据格式相同的波特率和数据格式，通过串口发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息，所述返回信息经过电平转换后发送到所述接收单元403。 所述获得单元404，用于根据所述接收单元接收的所述返回信息获得芯片测试结果。可选的，所述获得单元404，具体用于当所述接收单元403在设定的等待时长内，未能接收所述PC发送的所述返回信息时，确定所述芯片测试未通过。从上述实施例可以看出，本发明提供了一种用于芯片测试的ATE，不但能够进行芯片测试所包含的ATE测试项目的测试，而且能够命令PC进行芯片测试所包含的PC测试项目的测试，并根据PC的测试结果得出芯片最终的测试结果，不但减少了整个芯片测试的流程需要的人工操作，减少因多次人工操作对芯片造成的损耗，有效降低人工成本和时间成本，从而降低了整个芯片测试的成本，提高芯片测试的产能，而且降低了因为人工操作而带来的出现错误的概率。参见图5，为本发明ATE的另一个实施例框图。该ATE包括指令信息接收单元501，测试单元502，发送单元503，接收单元504，获得单元505。其中，所述指令信息接收单元501，用于接收开始芯片测试的指令信息。所述测试单元502，用于在指令信息接收单元501接收到所述开始芯片测试的指令信息后，对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。可选的，所述测试单元502，具体用于在前一次芯片测试获得芯片测试最终结果后，对芯片测试所包含的所述ATE测试项目进行测试。所述发送单元503，用于在所述测试单元502对所述ATE测试项目测试完成后，向PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息。可选的，所述发送单元503，具体用于在所述测试单元502对所述ATE测试项目测试完成后，利用PATTERN功能模拟串口，采用预设的波特率和预设的数据格式，向所述PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息，所述命令信息经过电平转换后发送到所述PC。所述接收单元504，用于接收所述PC根据所述发送单元503发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。可选的，所述接收单元504，具体用于在设定的等待时长内，接收所述PC根据所述发送单元503发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。
可选的，所述接收单元504，具体用于利用PATTERN功能模拟串口，接收所述PC根据所述发送单元503发送的命令信息进行测试后，采用与所述预设的波特率和所述预设的数据格式相同的波特率和数据格式，通过串口发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息，所述返回信息经过电平转换后发送到所述接收单元504。所述获得单元505，用于根据所述接收单元接收的所述返回信息获得芯片测试结果。可选的，所述接收单元505，具体用于当所述接收单元504在设定的等待时长内，未能接收所述PC发送的所述返回信息时，确定所述芯片测试未通过。从上述实施例可以看出，本发明提供了一种用于芯片测试的ATE，可以在接收到指令后开始芯片测试，也可以在前一次芯片测试完成之后自动进行新的测试，不但减少了整个芯片测试的流程需要的人工操作，减少因多次人工操作对芯片造成的损耗，有效降低人工成本，而且可以降低因为人工操作带来的时间成本，提高芯片测试的产能，从而降低了整个芯片测试的成本，而且降低了因为人工操作而带来的出现错误的概率。 与本发明芯片测试方法及ATE的实施相对应，本发明还提供了芯片测试系统的实施例。参见图6，为本发明芯片测试系统的一个实施例框图。实现本发明测试方法的系统包括ATE 601和PC 602。其中，所述ATE 601，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；在对所述ATE测试项目测试完成后，向所述PC 602发送用于触发所述PC 602对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；在芯片未通过ATE测试项目测试时确定芯片未通过测试。所述PC 602用于在接收到所述ATE 601发送的所述命令信息后对所述芯片测试包含的PC测试项目进行测试，在所述对PC测试项目的测试完成后，向所述ATE 601发送包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。所述ATE 601，用于根据所述PC 602发送的所述返回信息获得芯片测试结果。从上述实施例可以看出，本发明通过将原先各自独立进行测试的ATE和PC组合成为一个测试系统，对芯片进行测试，从而简化整个芯片测试的流程，减少因多次人工操作对芯片造成的损耗，有效降低人工成本和时间成本，提高芯片测试的产能，从而降低了整个芯片测试的成本。参见图7，为本发明芯片测试系统另一个实施例框图。实现本发明测试方法的系统包括ATE 701、电平转换装置702及PC 703。其中，所述ATE 701，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；在对所述ATE测试项目测试完成后，利用PATTERN功能模拟串口，采用预设的波特率和预设的数据格式，向所述电平转换装置702发送用于触发所述PC 703对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；在芯片未通过ATE测试项目测试时确定芯片未通过测试。所述电平转换装置702，用于将ATE 701发送的所述命令信息的电平转换为PC703串口所需电平，并发送到PC 703。所述PC 703，用于在接收到所述电平转换装置702发送的所述命令信息后对所述芯片测试包含的PC测试项目进行测试，在所述对PC测试项目的测试完成后，采用与所述预设的波特率和所述预设的数据格式相同的波特率和数据格式，通过串口向所述电平转换装置702发送包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息。所述电平转换装置702，用于将所述PC 703发送的返回信息的电平转换ATE 701所需的电平，并发送到ATE 701。所述ATE 701，用于根据所述电平转换装置702发送的所述返回信息获得芯片测
试结果。从上述实施例可以看出，本发明通过将原先各自独立进行测试的ATE和PC组合成为一个测试系统，ATE和PC之间可以利用电平转换装置辅助进行串口通信，实现由ATE自动控制PC开始PC测试项目的测试，不再需要技术人员手动开始PC测试项目的测试，减少因多次人工操作对芯片造成的损耗，并有效降低人工成本和时间成本，提高芯片测试的产能， 从而降低了整个芯片测试的成本。专业人员还可以进一步应能意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明实施例的范围。结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明实施例。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明实施例的精神或范围的情况下，在其他实施例中实现。因此，本发明实施例将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。以上所述仅为本发明实施例的较佳实施例而已，并不用以限制本发明实施例，凡在本发明实施例的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明实施例的保护范围之内。
权利要求
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括 自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试； 所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息； 所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息； 所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。
2.如权利要求I所述的方法，其特征在于， 在所述ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试之前，还包括接收开始所述芯片测试的指令信息； 所述ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试，具体为所述ATE在接收到所述指令信息之后，对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。
3.如权利要求I所述的方法，其特征在于， 所述ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试具体为在前一次芯片测试获得芯片测试结果后，ATE自动开始对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。
4.如权利要求I至3任意一项权利要求所述的方法，其特征在于， 所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息，具体为 在设定的等待时长内，所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息； 所述方法还包括所述ATE如果在设定的等待时长内未接收到所述返回信息，则确定所述芯片测试未通过。
5.如权利要求I至4任意一项权利要求所述的方法，其特征在于， 所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息，具体为 所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，利用PATTERN功能模拟串口，采用预设的波特率和预设的数据格式，向所述PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息，所述命令信息经过电平转换后发送到所述PC ； 所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息，具体为 所述ATE利用PATTERN功能模拟串口，接收所述PC根据所述命令信息进行测试后，采用与所述预设的波特率和所述预设的数据格式相同的波特率和数据格式，通过串口发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息，所述返回信息经过电平转换后发送到所述ATE。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于， 所述预设的波特率具体为115200 ； 所述预设的数据格式具体为8个数据位、I个停止位、无奇偶校验位； 所述命令信息具体为十六进制格式的命令信息； 所述返回信息具体为十六进制格式的返回信息。
7.一种用于芯片测试的ATE，其特征在于，所述ATE包括 测试单元，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试； 发送单元，用于在所述测试单元对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息； 接收单元，用于接收所述PC根据所述发送单元发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息； 获得单元，用于根据所述接收单元接收的所述返回信息获得芯片测试结果。
8.如权利要求7所述的ATE，其特征在于， 还包括指令信息接收单元，用于接收开始芯片测试的指令信息； 所述测试单元，具体用于在指令信息接收单元接收到所述开始芯片测试的指令信息后，对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试。
9.如权利要求8所述的ATE，其特征在于， 所述测试单元，具体用于在前一次芯片测试获得芯片测试最终结果后，对芯片测试所包含的所述ATE测试项目进行测试。
10.如权利要求7至9任意一项权利要求所述的ATE，其特征在于， 所述接收单元，具体用于在设定的等待时长内，接收所述PC根据所述发送单元发送的命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息； 所述获得单元，具体用于当所述接收单元在设定的等待时长内未接收到所述返回信息时，确定所述芯片测试未通过。
11.如权利要求7至10任意一项权利要求所述的ATE，其特征在于， 所述发送单元，具体用于在测试单元对所述ATE测试项目测试完成后，利用PATTERN功能模拟串口，采用预设的波特率和预设的数据格式，向所述PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息，所述命令信息经过电平转换后发送到所述PC ； 所述接收单元，具体用于利用PATTERN功能模拟串口，接收所述PC根据所述发送单元发送的命令信息进行测试后，采用与所述预设的波特率和所述预设的数据格式相同的波特率和数据格式，通过串口发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息，所述返回信息经过电平转换后发送到所述ATE。
12.—种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括ATE及PC， 所述ATE，用于对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；在对所述ATE测试项目测试完成后，向所述PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令息; 所述PC，用于在接收到所述ATE发送的所述命令信息后对所述芯片测试包含的PC测试项目进行测试，在所述对PC测试项目的测试完成后，向所述ATE发送包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息； 所述ATE，用于根据所述PC发送的所述返回信息获得芯片测试结果。
13.如权利要求12所述的系统，其特征在于， 还包括电平转换装置， 所述ATE，具体用于在对所述ATE测试项目测试完成后，利用PATTERN功能模拟串口，采用预设的波特率和预设的数据格式，向所述电平转换装置发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息； 所述电平转换装置，用于将所述命令信息的电平转换为所述PC串口所需电平，并发送到所述PC ； 所述PC，具体用于在接收到所述电平转换装置发送的所述命令信息后对所述芯片测试包含的PC测试项目进行测试，在所述对PC测试项目的测试完成后，采用与所述预设的波特率和所述预设的数据格式相同的波特率和数据格式，通过串口向所述电平转换装置发送包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息； 所述电平转换装置，用于将所述返回信息的电平转换所述ATE所需的电平，并发送到所述ATE。
全文摘要
本发明实施例公开了芯片测试方法、自动化测试机和系统。其中芯片测试方法包括自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。采用本发明提供的实施例，可以有效降低使用高端ATE设备带来的设备成本、芯片测试的人工成本和时间成本，从而降低整个芯片测试的成本。
文档编号G01R31/26GK102967815SQ20121044121
公开日2013年3月13日 申请日期2012年11月7日 优先权日2012年11月7日
发明者杨明庆, 张炜, 张君迈 申请人:北京华大信安科技有限公司