专利名称：二极管高压蒸煮试验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种二极管性能试验装置，特别是一种用来模拟检测二极管黑胶密封性所需要的高压环境的试验装置。
背景技术：
二极管在生产过程中需要用黑胶将二极管管芯密封起来，保证二极管的性能不受外界影响。这样就对二极管黑胶的密封性提出了严格的要求，如果二极管黑胶密封的不好，有水分渗入到二极管管芯就会影响二极管的性能，使得二极管 报废。
发明内容本实用新型需要解决的技术问题是提供一种用来模拟用来检测二极管黑胶密封性高压环境的试验装置。为解决上述的技术问题，本实用新型二极管高压蒸煮试验装置包括高压锅和高压锅盖，所述高压锅内设置可拆卸的透气板；所述高压锅内设置有温度传感器，所述温度传感器与控制器相连接，所述控制器与继电器的控制端相连接，所述继电器的输入、输出端分别与电源和高压锅相连接；所述控制器的输出端连接有计时器。所述闻压锅盖上设置有压力表。所述高压锅盖上设置有排气孔。采用上述结构后，通过加热高压锅的水产生蒸气，形成高压。由于高压蒸煮锅内的气压与温度相关，所以通过检测高压锅内的温度来检测是否达到所需的高压标准。当达到所需的气压标准时，计时器计时开始，这样可以清楚的了解二极管在高压环境下的放置时间，达到需要的放置时间后关闭电源，将二极管取出，对二极管黑胶的密封性作进一步检测。本实用新型的试验装置结构简单，成本低，模拟高压环境效果好。
以下结合附图
和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明。图I为本实用新型的结构示意图。图中1为高压锅,2为高压锅盖,3为透气板,4为透气通孔,5为温度传感器,6为控制器，7为继电器，8为电源，9为计时器，10为排气孔，11为压力表
具体实施方式
如图I所示的二极管高压蒸煮试验装置，包括高压锅I和高压锅盖2。所述高压锅内设置可拆卸的透气板3，所述透气板是用来放置待检测的二极管的，所述透气板3开有透气通孔4。所述高压锅内设置有温度传感器5，所述温度传感器5是穿过高压锅盖2且固定在高压锅盖2上的。所述温度传感器5与控制器6相连接，所述控制器6与继电器7的控制端相连接，所述继电器7的输入、输出端分别与电源8和高压锅I相连接。所述控制器6的输出端连接有计时器9。所述高压锅盖2上设置有压力表11，这样可以更加直观的了解高压锅内的气压值。所述高压锅盖2上设置有排气孔10。本实用新型的蒸煮试验过程如下打开高压锅1，取出透气板3，在高压锅I内加入水；然后将需要检测的二极管放置在透气板3上，再将透气板3固定在高压锅I内，盖上高压锅盖2，将其密封好。通过加热高压锅内的水产生大量蒸气，使得高压锅内的气压增加。因为气压和温度相关，所以通过温度传感器5检测高压锅内的温度，没有达到标准时，控制器6就控制继电器7，使得高压锅I与电源8接通，继续加热。当达到标准时，就控制继电器7断开电源8，停止加热，这样使得高压锅I内的气压稳定在二极管检测需要满足的高压线 附近。达到标准后，控制器6控制计时器9计时，记录二极管放置在设定高压值环境下的时间。当达到需要检测的时间后就可以将中断加热，通过排气孔10对高压锅进行排气，然后打开高压锅盖2，将透气板3取出，将模拟过高压环境的二极管取出进行下一步检测。
权利要求1.一种二极管蒸煮试验装置，包括高压锅和高压锅盖，其特征在于所述高压锅内设置可拆卸的透气板；所述高压锅内设置有温度传感器，所述温度传感器与控制器相连接，所述控制器与继电器的控制端相连接，所述继电器的输入、输出端分别与电源和高压锅相连接；所述控制器的输出端连接有计时器。
2.按照权利要求I所述的二极管蒸煮试验装置，其特征在于所述高压锅盖上设置有压力表。
3.按照权利要求I所述的二极管蒸煮试验装置，其特征在于所述高压锅盖上设置有排气孔。
专利摘要本实用新型涉及一种二极管高压蒸煮试验装置。包括高压锅和高压锅盖，所述高压锅内设置可拆卸的透气板；所述高压锅内设置有温度传感器，所述温度传感器与控制器相连接，所述控制器与继电器的控制端相连接，所述继电器的输入、输出端分别与电源和高压锅相连接；所述控制器的输出端连接有计时器。采用上述结构后，本实用新型的试验装置结构简单，成本低，模拟高压环境效果好。
文档编号G01M3/02GK202648881SQ20122028656
公开日2013年1月2日 申请日期2012年6月18日 优先权日2012年6月18日
发明者徐谦, 吕全亚, 杨吉明, 潘建强, 李霞, 郭寿梅 申请人:常州佳讯光电产业发展有限公司, 常州久和电子有限公司