红外线探头隔离装置的制作方法

文档序号:5986691阅读:1923来源:国知局
专利名称:红外线探头隔离装置的制作方法
技术领域
本实用新型 涉及一种微波设备用隔离装置,特别是涉及一种红外线探头隔离装置。
背景技术
红外线测温仪不需要接触到被测温度场的内部或者表面,因此不会干扰被测温度场的状态,而且测量范围广,响应时间快,所以被广泛应用于各种场合。测温环境中的粉尘、烟雾等异常颗粒会降低被测物体的能量信号,影响测温的精度。焊接产生的毛刺和组装时的间隙会出现打火现象。由于在微波作用下组装时产生的间隙会造成打火现象,所以一般的隔离装置不能在微波设备上使用。

实用新型内容本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足,从而提供一种使用方便的红外线探头隔离装置。本实用新型采用的技术方案是一种红外线探头隔离装置,包含有安装在微波腔体内的衬套、压片和防尘罩,所述的衬套为中空的开口圆柱结构,在圆柱的底部开有锥形沉孔,衬套、腔体侧板和压片通过紧固螺栓固定在一起,紧固螺栓头部垫有垫片;腔体侧板上开有红外窗孔且与压片中部的通孔及衬套中轴线同心,形成有透光孔,微波腔体的外侧固定有防尘罩,防尘罩内有安装红外线探头体的支架,红外线探头体的中轴线和透光孔中心线成a角。衬套、垫片、压片的材质均为四氟。120° ^ a ^ 150°。防尘罩上开有供红外线探头体穿过的过线孔,过线孔配装有密封圈。压片为圆形玻璃片,在压片中心处设有一个通孔,通孔一端设有一个与其同心的槽孔,在压片四周设有紧固孔。本实用新型具有的优点和积极效果是I、本实用新型可有效防止粉尘遮蔽探头部位影响探头的使用效果,提高测温的精度,外部防尘罩防止粉尘进入,穿线部位安装密封垫,内部红外窗孔透光,可使光线透过玻璃照射至物料从而探测到物料真实温度,压片固定红外窗孔,同时也起到密封作用,防止腔体内粉尘进入到防尘罩内部,本实用新型相当于将红外探头隔离在一个清洁适宜的环境。2、本实用新型可阻止腔体内腐蚀气体对红外线探头的腐蚀损害,延长红外线探头的使用寿命。

图I是本实用新型的隔离装置的剖视结构示意图;图2是本实用新型的压片的主视结构示意图;[0014]图3是图2中A-A剖视结构示意图;图4是本实用新型的防尘罩的主视结构示意图.图中标号I为衬套,标号2为红外窗孔,标号3为压片,标号4为防尘罩,标号5为红外线探头,标号6为红外线探头支架,标号7为过线孔,标号8为耐热绝缘材料垫片,标号9为紧固螺栓,标号10为微波作用腔体侧板,标号11为槽孔,标号12为压片上的通孔,标号13为紧固孔,标号14为锥形沉孔。
具体实施方式
参见图f 4,一种红外线探头隔离装置,包含有安装在微波腔体内的衬套I、压片3和防尘罩4,所述的衬套I为中空的开口圆柱结构,在圆柱的底部开有锥形沉孔14,衬套I、腔体侧板10和压片3通过紧固螺栓9固定在一起,紧固螺栓9头部垫有垫片8 ;腔体侧板10上开有红外窗孔2且与压片3中部的通孔及衬套I中轴线同心,形成有透光孔,微波上体的外侧固定有防尘罩4,防尘罩4内有安装红外线探头5的支架6,红外线探头体5的·中轴线和透光孔中心线成a角,120°彡a<150°。其中衬套、垫片、压片的材质均为四氟。防尘罩上开有供红外线探头体穿过的过线孔7,过线孔配装有密封圈。压片3为圆形玻璃片,在压片中心处设有一个通孔12,通孔一端设有一个与其同心的槽孔11,在压片四周设有紧固孔13。
权利要求1.一种红外线探头隔离装置,包含有安装在微波腔体内的衬套、压片和防尘罩,其特征是所述的衬套为中空的开口圆柱结构,在圆柱的底部开有锥形沉孔,衬套、腔体侧板和压片通过紧固螺栓固定在一起,紧固螺栓头部垫有垫片;腔体侧板上开有红外窗孔且与压片中部的通孔及衬套中轴线同心,形成有透光孔,微波腔体的外侧固定有防尘罩,防尘罩内有安装红外线探头体的支架,红外线探头体的中轴线和透光孔中心线成a角。
2.根据权利要求I所述的红外线探头隔离装置,其特征是所述衬套、垫片、压片的材质均为四氟。
3.根据权利要求I所述的红外线探头隔离装置,其特征是120°150°。
4.根据权利要求I所述的红外线探头隔离装置,其特征是所述防尘罩上开有供红外线探头体穿过的过线孔,过线孔配装有密封圈。
5.根据权利要求I所述的红外线探头隔离装置,其特征是所述压片为圆形玻璃片,在压片中心处设有一个通孔,通孔一端设有一个与其同心的槽孔,在压片四周设有紧固孔。
专利摘要一种红外线探头隔离装置,包含有安装在微波腔体内的衬套、压片和防尘罩,所述的衬套为中空的开口圆柱结构,在圆柱的底部开有锥形沉孔,衬套、腔体侧板和压片通过紧固螺栓固定在一起,紧固螺栓头部垫有垫片;腔体侧板上开有红外窗孔且与压片中部的通孔及衬套中轴线同心,形成有透光孔,微波腔体的外侧固定有防尘罩,防尘罩内有安装红外线探头体的支架,本实用新型可有效防止粉尘遮蔽探头部位影响探头的使用效果,提高测温的精度,可阻止腔体内腐蚀气体对红外线探头的腐蚀损害,延长红外线探头的使用寿命。
文档编号G01J5/02GK202757695SQ20122033183
公开日2013年2月27日 申请日期2012年7月10日 优先权日2012年7月10日
发明者董浩杰, 李奎 申请人:河南勃达微波设备有限责任公司
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