专利名称：能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，涉及应用到光伏领域。
背景技术：
目前少子寿命测试仪硅块摆放台为金属耐磨材料，这样可以保证在长时间的硅块测试过程中，测试台的水平度可以保持良好。但是从另外一个方面来看，金属摆放台在与硅块的相互接触过程中，很容易造成硅块崩边等损伤。崩边部分由于无法达到生产的质量要求而被切掉，无法进入下一道工序，从而导致硅料有效利用率的降低，造成了很大的浪费。为减少硅块表面损伤，要求操作人员在搬运、摆放及取走硅块的过程中必须小心谨慎，轻拿轻放，以保证硅块的质量，避免硅料损失。现采用的改进措施为在硅块摆放台上·粘接较厚的胶带，从而减缓硅块与金属测试台的硬接触，避免表面损伤，但是该种方法存在较多的缺陷。现有技术主要是在少子寿命测试仪摆放台上粘贴较厚的胶带，该种方式尽管可以减缓硅块与金属测试台的硬接触，一定程度上减少硅块的表面损伤，但是也存在一定的缺陷由于胶带粘接方式的无序性，导致胶带在金属测试台上每个地方的厚度不一致，进而无法保证硅块在测量过程中的水平度，探头位置距离硅块的高度也就无法保证一致，最终影响结果的准确性，造成硅料浪费或硅片电性能不符；一般情况下，使用的胶带材料为非耐磨材料，长时间使用后很容易磨损，导致一部分金属裸露出来，同样会造成因接触而导致的表面损伤；长时间使用过后，胶带的表面会粘有大量的碎硅料和杂质，无法彻底清除掉，同样会影响测量的准确性和增加表面损伤，另外，由于硅块进行少子寿命测试前，需要使用工业酒精擦拭硅块表面，以去除表面的砂浆残留等杂质，要求金属擦拭台表面保护材料具有耐腐蚀性，胶带材料不能在潮湿的环境下稳定地使用，影响测试的质量。
实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点和不足，提供能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，该装置能够有效减少硅块的表面损伤，提高硅料的利用率；能够提高少子寿命测试的准确度，减少切片后少子不符不合格硅片的数量，保证高质
量硅片。本实用新型的目的通过下述技术方案实现能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，包括一端开口且内部中空的保护套，所述保护套呈长方体形状，保护套上开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，保护套上与开口端相对的一端的外壁上贴合有耐磨层，且耐磨层的尺寸小于与其贴合的端面的尺寸。进一步地，所述保护套的长度A为300. OOmm至347. OOmm ;宽度B为210. OOmm至230. OOmm ;高度H为18. OOmm至21. OOmm;壁厚δ为2. OOmm至3. OOmm ;耐磨层的厚度T为
I.50mm 至 2. 00mm。进一步地，所述长度A为323. 50mm;宽度B为218. 72mm;高度H为19. 62mm ;壁厚δ为2. 50mm ;耐磨层厚度T为I. 75mm。进一步地，所述耐磨层的外壁表面的平整度低于O. 2mm。保证其安放硅块时更加平整，测试的数字准确。进一步地，所述保护套的壁厚均匀。进一步地，所述保护套采用超高分子量聚乙烯制成。综上所述，本实用新型的有益效果是该装置能够有效减少硅块的表面损伤，提高硅料的利用率；能够提高少子寿命测试的准确度，减少切片后少子不符不合格硅片的数量，保证高质量硅片；该装置使用在少子寿命测试仪的硅块测试摆放台上，可以减少金属摆放台和硅块之间的接触损伤，进而减少由此带来的表面损伤，包括崩边等质量损伤。
图I是本实用新型的俯视图；图2是本实用新型的仰视图；图3是本实用新型的侧视图；图4是图3的剖视图；图5是本实用新型的立体图。
具体实施方式
下面结合实施例及附图，对本实用新型作进一步的详细说明，但本实用新型的实施方式不仅限于此。实施例如图I、图2、图3、图4、图5所示，能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，包括一端开口且内部中空的保护套，所述保护套呈长方体形状，保护套上开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，保护套上与开口端相对的一端的外壁上贴合有耐磨层，且耐磨层的尺寸小于与其贴合的端面的尺寸。保护套套在金属测试台上，其开口端与测试台的底面接触，开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，能够将保护套固定在测试台上，开口后预留的距离D为5. 50mm，能够在进行安装测试时，保护套不会因为摩擦的作用导致脱落。所述保护套的长度A为300. OOmm至347. OOmm ;宽度B为210. OOmm至230. OOmm ；高度H为18. OOmm至21. OOmm ;壁厚δ为2. OOmm至3. OOmm ;耐磨层的厚度T为I. 50mm至
2.OOmm0最佳的尺寸为长度A为323. 50mm ;宽度B为218. 72mm ;高度H为19. 62mm ;壁厚δ为2. 50mm ;耐磨层厚度T为I. 75mm。超高分子量聚乙烯塑料制成的塑料套直接套在金属测试台上，并保证塑料套与测试台之间的紧密接触。保护套的尺寸根据现有设备金属测试台的尺寸决定，本实用新型的尺寸根据现有设备的金属测试台尺寸决定，金属测试台的具体尺寸为长=323. 40mm，宽=218. 62mm,高=19. 52mm,在预留O. Imm的间隙后，以应对在热胀冷缩的物理环境下不会出现挤压变形。所述保护套采用超高分子量聚乙烯制成。本实用新型选择超高分子量聚乙烯塑料作为金属测试台的保护材料，因为超高分子量聚乙烯塑料具有以下性能[0024]耐磨损性UHMWPE的耐磨损性居现有塑料之首，超过某些金属；抗冲击性UHMWPE的冲击强度极高，是现有塑料中耐冲击强度最高的，冲击强度高达 140 160 kj / m2 ；耐腐蚀性能耐许多腐蚀性介质(酸、碱、盐)及有机溶剂，能够在20°C和80°C的80种有机溶剂中浸溃30d，其外表无任何反常现象，其它物理性能也几乎没有变化；耐湿性超高分子量聚乙烯塑料的吸水率〈O. 001%，从而抵御了水分子对材料的水解和抽提作用，保证了材料的强度、柔韧性及材料的使用寿命。另外，超高分子量聚乙烯塑料具有一定的自润滑性，摩擦系数为O. 07 O. 11，是一种理想的摩擦材料，便于维护材料表面的清洁。同时该材料还具有优良的电绝缘性、耐环
境应力开裂性、耐疲劳性及耐Y -射线能力。由于超高分子量聚乙烯塑料以上的优良特性，本实用新型选择超高分子量聚乙作为硅块少子寿命测试金属台架的保护材料。所述耐磨层的外壁表面的平整度低于O. 2mm。保护套的外壁表面的平整度低是保证测试精度的保证，平整度低，说明保护套的表面光滑，在测试的时候误差低，得到的数值更准确。所述保护套的壁厚均匀。保护套的壁厚均匀，在进行测试的时候磨损的损失一致，能够保证在测试的时候硅块的表面始终水平，得到的测试值准确。采取上述方式，就能较好地实现本实用新型。
权利要求1.能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于包括一端开口且内部中空的保护套，所述保护套呈长方体形状，保护套上开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，保护套上与开口端相对的一端的外壁上贴合有耐磨层，且耐磨层的尺寸小于与其贴合的端面的尺寸。
2.根据权利要求I所述的能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于所述保护套的长度A为300. OOmm至347. OOmm ;宽度B为210. OOmm至230. OOmm ；高度H为18. OOmm至21. OOmm ;壁厚δ为2. OOmm至3. OOmm ;耐磨层的厚度T为I. 50mm至2.00mm。
3.根据权利要求2所述的能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于所述长度A为323. 50mm ;宽度B为218. 72mm ;高度H为19. 62mm ;壁厚δ为2. 50mm ；耐磨层厚度T为I. 75mm。
4.根据权利要求I所述的能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于所述耐磨层的外壁表面的平整度低于O. 2mm。
5.根据权利要求I所述的能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于所述保护套的壁厚均匀。
6.根据权利要求I至5中任意一项所述的能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于所述保护套采用超高分子量聚乙烯制成。
专利摘要本实用新型公开了一种能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，包括一端开口且内部中空的保护套，所述保护套呈长方体形状，保护套上开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，保护套上与开口端相对的一端的外壁上贴合有耐磨层，且耐磨层的尺寸小于与其贴合的端面的尺寸。该装置能够有效减少硅块的表面损伤，提高硅料的利用率；能够提高少子寿命测试的准确度，减少切片后少子不符不合格硅片的数量，保证高质量硅片；该装置使用在少子寿命测试仪的硅块测试摆放台上，可以减少金属摆放台和硅块之间的接触损伤，进而减少由此带来的表面损伤，包括崩边等质量损伤。
文档编号G01R31/26GK202710713SQ20122042204
公开日2013年1月30日 申请日期2012年8月24日 优先权日2012年8月24日
发明者潘虹, 匡生玲, 刘强, 兰洵, 林洪峰, 张凤鸣 申请人:天威新能源控股有限公司