专利名称：晶体应力检测仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种应力检测仪，尤其是晶体应力检测仪。
背景技术：
晶体等玻璃材料在生产后会产生应力，其原因包括在生产单晶过程中，单晶炉内温场，温度梯度有缺陷造成的；在机械加工过程中，受到机械外力作用产生的加工应力。所以在晶体片机械分割加工，退火后，要进行应力检测。而传统的行业中，通常使用的是大型的应力检测仪，其成本较高，因此设计一种较为简易的应力测试仪是解决这一问题的有效途径。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种晶体应力检测仪，结构简易，使用简便，节约成本。本实用新型是通过以下技术方案来实现的。一种晶体应力检测仪，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，上述检测台设有贯穿的纵向孔，上述纵向孔底部正下方设置光源输出端，上述纵向孔的顶端设置上述沙磨玻璃片，上述纵向孔上方设有固定的检测固定架，上述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。进一步地，上述检测仪还包括工作壁，上述工作壁设有两段，上段可旋转，下段不可旋转，上述工作壁固定于上述检测台顶面，上述检测固定架通过连接杆固定在上述工作壁的下段，上述偏光片固定架通过连接杆固定在上述工作壁的上段。进一步地，上述检测仪还包括基架，上述基架设置在上述检测台底部，上述光源输出端设置在上述基架内。本实用新型的有益效果在于，仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。
图1为本实用新型晶体应力检测仪的结构示意图。
具体实施方式
下面根据附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明。图1为本实用新型晶体应力检测仪的结构不意图，参照图1，本实用新型，晶体应力检测仪，包括检测台1、检测固定架2、偏光片固定架3、光源输出端4、沙磨玻璃片5，上述检测台I设有贯穿的纵向孔10，上述纵向孔10底部正下方设置光源输出端4，在本实施案例中，光源输出端4设为单一方向输出的白炽灯，上述纵向孔10的顶端设置上述沙磨玻璃片5，上述纵向孔10上方设有固定的检测固定架2，上述检测固定架2上端设置可移动的偏光片固定架4。进一步地，上述检测仪还包括工作壁6，上述工作壁6设有两段即上段61和下段63，上段61可旋转，下段63不可旋转，上述工作壁6固定于上述检测台顶面1，上述检测固定架2通过连接杆20固定在上述工作壁6的下段63，上述偏光片固定架3通过连接杆30固定在上述工作壁6的上段61。即通过两段式的工作壁6实现了检测固定架2的固定，以及偏光片固定架3的可移动。进一步地，上述检测仪还包括基架7，上述基架7设置在上述检测台I底部，上述光源输出端4设置在上述基架内7。本实用新型，晶体应力检测仪，本实用新型，在使用时先将待检测的产品放置在检测固定架2上，然后选择合适的偏光片放置在偏光片固定架3，此时打开光源输出端4，从上方进行观察，以检测其应力。仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此领域技术的人士能够了解本实用新型内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
权利要求1.一种晶体应力检测仪，其特征在于，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，所述检测台设有贯穿的纵向孔，所述纵向孔底部正下方设置光源输出端，所述纵向孔的顶端设置所述沙磨玻璃片，所述纵向孔上方设有固定的检测固定架，所述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。
2.根据权利要求1所述的晶体应力检测仪，其特征在于，所述检测仪还包括工作壁，所述工作壁设有两段，上段可旋转，下段不可旋转，所述工作壁固定于所述检测台顶面，所述检测固定架通过连接杆固定在所述工作壁的下段，所述偏光片固定架通过连接杆固定在所述工作壁的上段。
3.根据权利要求1所述的晶体应力检测仪，其特征在于，所述检测仪还包括基架，所述基架设置在所述检测台底部，所述光源输出端设置在所述基架内。
专利摘要本实用新型公开了一种晶体应力检测仪，包括检测台、检测固定架、偏光片固定架、光源输出端、沙磨玻璃片，上述检测台设有贯穿的纵向孔，上述纵向孔底部正下方设置光源输出端，上述纵向孔的顶端设置上述沙磨玻璃片，上述纵向孔上方设有固定的检测固定架，上述检测固定架上端设置可移动的偏光片固定架。本实用新型的有益效果在于，仪器整体结构较为简易，便于制作，同时检测效果较佳，使用方便，节约了生产成本。
文档编号G01L1/24GK202836841SQ20122042270
公开日2013年3月27日 申请日期2012年8月23日 优先权日2012年8月23日
发明者万文, 万黎明 申请人:巢湖市环宇光学技术有限公司