专利名称：电子产品老化检测试验装置的制作方法
技术领域：
电子产品老化检测试验装置技术领域[0001]本实用新型涉及一种电子产品老化检测试验装置，特别是涉及一种蓝牙产品的老化检测试验装置。
背景技术：
[0002]老化试验是针对电子产品进行测试，检测产品的可靠性、稳定性等，老化试验是各个生产企业提高产品质量，树立企业形象、提高企业竞争力的重要途径之一，老化检测试验装置广泛应用于机械、电子、通讯、生物制药等领域，通过老化测试，可检查出不良品或残缺件，为客户提供合格的产品，为迅速找出问题并解决问题提供了有效的技术手段，充分提高了产品质量，资源利用效率及产品的品质。[0003]ZL200720144359. I的中国实用新型专利公开了一种老化装置，包括老化测试板， 所述老化测试板的测试面上设置有若干边缘连接器；连接板，垂直连接在所述边缘连接器上，所述连接板垂直于老化测试板测试面的平面上设置有若干连接插座，用于和需要老化的半导体器件或者COB板进行连接。所述老化装置避免了现有技术中COB板在边缘连接器上的插拔，即使COB板在连接板插座上多次插拔之后损伤连接板插座，也只需要更换连接板即可，提高了同一次进行老化的半导体器件的数量，可以老化不同规格的COB板以及不同规格的半导体器件，提高了老化装置的通用性。[0004]该老化装置虽然能比较好地进行老化试验，但是该装置制造成本较高，结构复杂、 适用范围较窄。发明内容[0005]为克服上述现有技术中的缺陷与不足，本实用新型提供一种电子产品老化检测试验装置，该老化检测装置结构简单、成本低廉、检测接口数量多且检测接口可以与任意电子产品连接进行老化试验。[0006]本实用新型的上述目的通过如下的技术方案实现一种电子产品老化检测试验装置，包括检测板、检测接口。所述检测接口固定安装在检测板上，各个检测接口通过并联电路连接，所述检测板上安装有与检测接口一一对应的指示灯。[0007]优选的是，所述检测接口的一端与并联电路的正极连接，另一端与并联电路的负极连接。[0008]优选的是，所述检测板上安装有电源插头，电源插头与并联电路连接。[0009]优选的是，所述指示灯置于检测板平面上的右端。[0010]优选的是，所述指示灯与并联电路的负极连接。[0011]优选的是，所述检测板上设有垂直于检测板平面的肋板。[0012]优选的是，所述肋板的数量为2个，也可以根据实际情况增加肋板的数量。[0013]优选的是，所述检测板为整体式结构。[0014]优选的是，所述检测板为一次制造成型的U型整体式结构。[0015]优选的是，所述检测板上固定安装有垂直于检测板平面的提手，便于工人操作。[0016]优选的是，所述检测接口的数量为30个。[0017]优选的是,所述指示灯的数量为30个。[0018]优选的是,所述检测接口的数量与指示灯的数量相等。[0019]优选的是，所述检测接口均匀排列在检测板上。[0020]优选的是，所述检测接口与可以与多种电子产品连接同时进行老化检测试验。[0021]特别优选的是，所述老化检测试验装置用于对蓝牙设备进行老化检测试验。
[0022]图[0023]图[0024]图示意图。[0025]图图。[0026]图图。[0027]图图。I为按照本实用新型的老化检测试验装置的一优选实施的电路结构示意图。2为按照本实用新型的老化检测试验装置的一优选实施的立体结构示意图。3为图2所示的按照本实用新型的老化检测试验装置的一优选实施的主视结构4为图3所示的按照本实用新型的老化检测试验装置的实施例的俯视结构示意5为图4所示的按照本实用新型的老化检测试验装置的实施例的仰视结构示意6为图4所示的按照本实用新型的老化检测试验装置的实施例的左视结构示意具体实施方式
[0028]
以下结合附图对本实用新型所示的老化检测试验装置的一优选实施做进一步阐述说明。通过更换不同的接口，可用于任意电子产品的老化检测。[0029]如图I、图2与图3所示，一种电子产品老化检测试验装置，特别是一种适用于蓝牙设备的老化检测试验装置，包括检测板(3)、检测接口(4)，检测接口(4)固定安装在检测板(3)上，检测接口(4)与检测接口(4)通过并联电路连接，检测板(3)上安装有电源，电源与并联电路连接，所述并联电路的正极与检测接口 4的正极接线端连接，并联电路的负极与检测接口的负极接线端连接。[0030]如图4与图5所示，检测板3上安装有与检测接口 4 一一对应的指示灯5，指示灯 5置于检测板3平面上的右端，指示灯5与并联电路的负极连接，当接通电源时，检测接口 4没有接通蓝牙设备或其它需要老化的设备时指示灯为熄灭状态，当接通电源且检测接口 4插入相关需要检测的设备或相关元器件时，相应的指示灯亮起，该老化检测试验装置中的检测接口 4的数量为30个，指示灯5的数量为30个，即检测接口 4的数量与指示灯5的数量相等，各个检测接口 4插入需要检测的电子元器件或装置时之间无影响，单个或多个被检测存在缺陷或者损坏的电子元器件时，相应的指示灯熄灭，因为各个检测接口 4是通过并联电路连接，所述检测接口 4可以与多种电子产品连接同时进行老化检测试验。[0031]如图6所示，检测板3上设有垂直于检测板平面的肋板2，肋板2的数量至少为2 个，也可以根据实际情况为了增强该老化检测试验装置的稳定性可以增加肋板2的数量， 但肋板2的数量不宜过多，因为增加肋板2的数量无疑是增加了制造成本的增加，从资源利用率角度上讲得不偿失，所述检测板3为整体式结构，特别是一次制造成型的u型整体式结构，检测板3上固定安装有垂直于检测板平面的提手I，便于工人操作。[0032]如图4和图6所示，将被检测的电子产品与检测板3上的检测接口 4连接，将电源插头与外接电源连接进行常温老化或者把装有被测电子产品的老化检测试验装置置入老化箱或其他老化设备中进行老化此时相应的指示灯5亮起，如果指示灯5熄灭，通常操作人员会检查被测电子产品是否与检测接口 4连接牢固，如果连接牢固可靠就可以准确的推断出被测电子产品存在缺陷，继而进行返厂维修、优化，或者根据行业执行标准淘汰相应产品，继而避免残次品流入市场，影响消费者的自身权益。通过老化测试，找出问题并解决问题提供了有效的技术手段，充分提高了产品质可检查出不良品或残缺件，为客户提供合格的产品，[0033]需要说明的是，按照本实用新型的老化检测试验装置的技术方案的范畴包括上述各部分之间的任意组合。[0034]以上结合本实用新型的具体实施例做了详细描述，但并非是对本实用新型的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改均属于本实用新型的技术范围，例如检测接口 4的数量、肋板2的数量等。
权利要求1.一种电子产品老化检测试验装置，包括检测板(3)、检测接口(4)，其特征在于所述检测接口(4)固定安装在检测板(3)上，各个检测接口(4)通过并联电路连接，所述检测板(3)上安装有与检测接口(4) 一一对应的指示灯(5)。
2.如权利要求I所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测接口(4)的一端与并联电路的正极连接，另一端与并联电路的负极连接。
3.如权利要求I或2所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测板(3)上安装有电源插头，电源插头与并联电路连接。
4.如权利要求I或3所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述指示灯(5)置于检测板(3)平面上的右端。
5.如权利要求4所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述指示灯(5)与并联电路的负极连接。
6.如权利要求I所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测板(3)上设有垂直于检测板平面的肋板(2 )。
7.如权利要求6所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述肋板(2)的数量为2个。
8.如权利要求I或7所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测板(3)为整体式结构。
9.如权利要求8所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测板(3)为一次制造成型的u型整体式结构。
10.如权利要求I或9所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测板(3)上固定安装有垂直于检测板平面的提手(I)。
11.如权利要求I或2所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测接口(4)的数量为30个。
12.如权利要求I所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述指示灯(5)的数量为30个。
13.如权利要求I所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测接口(4)的数量与指示灯(5)的数量相等。
14.如权利要求I所述的电子产品老化检测试验装置，其特征在于所述检测接口(4)均匀排列在检测板(3)上。
专利摘要一种电子产品老化检测试验装置，包括检测板(3)、检测接口(4)，所述检测接口(4)固定安装在检测板(3)上，各个检测接口(4)通过并联电路连接，所述检测板(3)上安装有与检测接口(4)一一对应的指示灯(5)，该老化检测装置结构简单、成本低廉、检测接口数量多且检测接口可以与多种电子产品连接进行老化试验。
文档编号G01R31/00GK202815106SQ20122043708
公开日2013年3月20日 申请日期2012年8月30日 优先权日2012年8月30日
发明者白云飞, 郭承伟, 张玉双 申请人:北京德天泉机电设备有限公司