专利名称：一种改进的角度测量检具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量技术领域，具体地说是一种改进的角度测量检具。
背景技术：
目前通常的测量方法是采用三坐标或角度仪来完成测量任务，这样测量条件受到较大的影响，批量进行测量时，需要耗费大量的时间，并且由于人为的因素较多，测量结果相差很大。
发明内容本实用新型为克服现有技术的不足，改造出一种测量检具，能够快速进行检测，检测过程方便、快速，并且检测结果精准度高，在进行批量检测时，不耗费时间。为实现上述目的，设计一种改进的角度测量检具，包括底座、滑块、芯棒，其特征在于底座一侧设有滑块，所述的滑块内设有左低右高倾斜状芯棒孔，芯棒孔内设有芯棒。所述的底座上设有圆弧形凹槽。所述的芯棒的头部设有螺纹。本实用新型同现有技术相比，一种测量检具，能够快速进行检测，检测过程方便、快速，并且检测结果精准度高，在进行批量检测时，不耗费时间。
图I为本实用新型结构示意图。参见图I, I为底座,2为滑块,3为芯棒,4为待测件。
具体实施方式
下面根据附图对本实用新型做进一步的说明。如图I所示底座I 一侧设有滑块2，所述的滑块2内设有左低右高倾斜状芯棒孔，芯棒孔内设有芯棒3 ;底座I上设有圆弧形凹槽；芯棒的头部设有螺纹。将底座I放置在大理石平台上，底座I的工作面高度对大理石平台高度公差±0. 05MM ;将待测件4放置于底座I的圆弧形凹槽内，芯棒3利用螺纹配合拧进待测件4的内孔；将滑块2放置在大理石平台上相对于芯棒3滑动，滑块2与芯棒3配合间隙根据角度上下极限值计算得知，如果芯棒3与滑块2无接触，则内孔角度在公差范围内；如果芯棒3与滑块2内的芯棒孔右侧上壁接触，则超出上公差，如果芯棒3与滑块2内的芯棒孔右侧下壁接触，则超出下公差。
权利要求1.一种改进的角度测量检具，包括底座、滑块、芯棒，其特征在于底座(I)一侧设有滑块(2)，所述的滑块(2)内设有左低右高倾斜状芯棒孔，芯棒孔内设有芯棒(3)。
2.根据权利要求I所述的一种改进的角度测量检具，其特征在于所述的底座(I)上设有圆弧形凹槽。
3.根据权利要求I所述的一种改进的角度测量检具，其特征在于所述的芯棒的头部设有螺纹。
专利摘要本实用新型涉及测量技术领域，具体地说是一种改进的角度测量检具。一种改进的角度测量检具，包括底座、滑块、芯棒，其特征在于底座一侧设有滑块，所述的滑块内设有左低右高倾斜状芯棒孔，芯棒孔内设有芯棒。同现有技术相比，一种测量检具，能够快速进行检测，检测过程方便、快速，并且检测结果精准度高，在进行批量检测时，不耗费时间。
文档编号G01B5/24GK202770382SQ20122048258
公开日2013年3月6日 申请日期2012年9月20日 优先权日2012年9月20日
发明者黄国军 申请人:上海济顺精密机械有限公司