专利名称：一种长余辉荧光粉性能测试装置的制作方法
技术领域：
一种长余辉荧光粉性能测试装置技术领域[0001]本实用新型属于光电测试装置技术领域，具体为一种长余辉荧光粉性能测试装置。
背景技术：
[0002]长余辉发光材料是指在紫外光或者可见光激发下将部分光能储存起来，激发停止 后再以光能的形式将能量释放出来的一类新型材料。即在外光照射后蓄光能，而后释放出 光能，且具有以下特点:余辉亮度和时间均为传统蓄能材料的10倍以上；即使在2001X低 照度下，仍能维持10小时的高可见性；照射光线射线能量越强，余辉光越好；即使用254、 185nm紫外照射也可得到好的余辉光；对环境要求低，在室外也可使用；不含放射性物质， 安全无污染。而长余辉荧光性能主要体现在粉剂的亮度衰减曲线上，所以该系统就是对荧 光粉在激发激发光源的激发照明结束后的残余亮度进行测量。现有的光电测试装置往往很 难实现不受外界光辐射干扰的测试。同时，由于测试时间非常长，现有的测试装置往往在不 小心断电之后无法获得数据，需从新开始测试工作。实用新型内容[0003]针对现有技术中存在的上述问题，本实用新型的目的在于设计提供一种专门针对 微弱的长余辉荧光粉性能测试装置的技术方案，其测试结果准确，使用方便。[0004]所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于包括黑箱、用于激发荧光粉 的激发光源，黑箱内设置用于放荧光粉的托盘，托盘上方设置光电探头，在激发光源和荧光 粉之间设置用于控制光照的快门，激发光源、光电探头、快门均与控制电路配合连接，控制 电路与上位机配合连接。[0005]所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电路还包括采样 电路，采样电路与光电探头配合连接。[0006]所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电路还包括点灯 电路，点灯电路与激发光源配合连接。[0007]所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电路还包括通讯 电路，通讯电路与上位机配合连接。[0008]所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电路还包括中央 处理电路。[0009]所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电路还包括进行 档位控制的换档电路。[0010]上述一种长余辉荧光粉性能测试装置，采用有良好密闭性的黑箱放置荧光粉，能 很好地避免各种光辐射干扰，测量出极为微弱的荧光粉余辉信号，同时通过内部实时采集 记录程序，能够避免任何断电引起的数据丢失现象，其测试结果准确，使用方便，工作稳定可靠。
[0011]图1为本实用新型的结构框图；[0012]图2为控制电路的结构框图；[0013]图中:1-上位机、2-控制电路、201-中央处理电路、202-采样电路、203-换档电 路、204-点灯电路、205-通讯电路、3-激发光源、4-快门、5-黑箱、6-托盘、7-光电探头。
具体实施方式
[0014]以下结合说明书附图对本实用新型作进一步说明。[0015]如图所示，该长余辉荧光粉性能测试装置，包括黑箱5、用于激发荧光粉的激发光 源3，黑箱5内设置用于放荧光粉的托盘6，托盘6上方设置用于采集转换荧光粉发光的光 电探头7，在激发光源3和荧光粉之间设置用于控制光照的快门4，激发光源3、光电探头7、 快门4均与控制电路2配合连接，控制电路2与上位机I配合连接。快门4用于截断激发 光源3与受激荧光粉直接的光辐射干扰通道。所述的控制电路2还包括进行模数转换的采 样电路202，采样电路202与光电探头7配合连接，实现由光到电的转换；光电探头7以硅 光电池为主要部件，外加相应的滤色片。所述的控制电路2还包括点灯电路204，点灯电路 204与激发光源3配合连接。所述的控制电路2还包括通讯电路205，通讯电路205与上位 机I配合连接，使用户方便地设置各种采集参数，并且能实时观察测试结果，并能实现保存 记录打印输出等功能。所述的控制电路2还包括中央处理电路201。所述的控制电路2还 包括进行档位控制的换档电路203。[0016]本装置根据荧光粉发光原理，采用标准D65激发光源，在主机电路中的点灯电路 204控制下，能够按用户设定时间进行荧光粉照射激发，在激发光源3和荧光粉之间具有快 门4。测试开始之后，通过控制电路2立即关闭快门4，保证了荧光粉的余辉不受干扰。荧 光粉放置于具有良好密闭性的黑箱5里，保证了不会受到外界光辐射噪声干扰。为避免系 统出现各种突发情况影响测试，本装置通过与上位机I通信的模式，将测试数据实时传送 到上位机I中，保证了测试的安全，即使出现突然断电或其他情况，也可以得到已经完成的 测试数据，这对于长余辉荧光粉的测试工作极为重要。
权利要求1.一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于包括黑箱(5)、用于激发荧光粉的激 发光源(3)，黑箱(5)内设置用于放荧光粉的托盘(6)，托盘(6)上方设置光电探头(7)，在激 发光源(3)和荧光粉之间设置用于控制光照的快门(4)，激发光源(3)、光电探头(7)、快门(4)均与控制电路(2)配合连接，控制电路(2)与上位机(I)配合连接。
2.如权利要求1所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电 路(2)还包括采样电路(202)，采样电路(202)与光电探头(7)配合连接。
3.如权利要求1所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电 路(2)还包括点灯电路(204)，点灯电路(204)与激发光源(3)配合连接。
4.如权利要求1所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电 路(2 )还包括通讯电路(205 )，通讯电路(205 )与上位机(I)配合连接。
5.如权利要求1所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电 路(2)还包括中央处理电路(201)。
6.如权利要求1所述的一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于所述的控制电 路(2)还包括进行档位控制的换档电路(203)。
专利摘要一种长余辉荧光粉性能测试装置，属于光电测试装置技术领域。其特征在于包括黑箱、用于激发荧光粉的激发光源，黑箱内设置用于放荧光粉的托盘，托盘上方设置光电探头，在激发光源和荧光粉之间设置用于控制光照的快门，激发光源、光电探头、快门均与控制电路配合连接，控制电路与上位机配合连接。上述一种长余辉荧光粉性能测试装置，采用有良好密闭性的黑箱放置荧光粉，能很好地避免各种光辐射干扰，测量出极为微弱的荧光粉余辉信号，同时通过内部实时采集记录程序，能够避免任何断电引起的数据丢失现象，其测试结果准确，使用方便，工作稳定可靠。
文档编号G01N21/64GK202956344SQ20122073882
公开日2013年5月29日 申请日期2012年12月28日 优先权日2012年12月28日
发明者熊凯 申请人:浙江大学城市学院