用于读取存储在存储发光物质板中的x射线信息的系统、设备和方法
【专利摘要】本发明涉及用于读取存储在存储发光物质板（1）中的X射线信息的系统、设备以及方法，具有存储发光物质板（1）和用于读取存储在存储发光物质板（1）中的X射线信息的设备，其具有用于产生激励光（3）的光源（2）和探测器（7），所述激励光可以激发存储发光物质板（1）以发出第一发射光，所述探测器用于检测由存储发光物质板（1）发出的第一发射光。为了在简化的构造情况下保证尽可能可靠地读取所存储的X射线信息，设置至少一个标记（20；30），其被布置和构造为，使得激励光（3）可以射到所述标记（20；30）上并且被所述标记（20；30）至少部分地反射和/或散射和/或可以激发所述标记（20；30）以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的或所散射的激励光（3）或所输出的第二发射光可以被探测器（7）检测并且可以从中导出标记信息。此外设置控制装置（15），通过该控制装置可以根据所述标记信息来控制对存储发光物质板（1）的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
【专利说明】用于读取存储在存储发光物质板中的X射线信息的系统、
设备和方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及根据独立权利要求的前序部分的用于读取存储在存储发光物质板中的X射线信息的系统、对应的设备以及对应的方法。
【背景技术】
[0002]用于记录X射线图像的ー种可能性在于，将穿过对象、例如患者的X射线辐射作为潜在的图像存储在所谓的存储发光物质层中。为了读取该潜在的图像，用激励光照射该存储发光物质层并且在此激发该存储发光物质层以发出发射光。其強度与存储在存储发光物质层中的图像相对应的发射光由光学探測器检测并且转换成电信号。这些电信号根据需要被继续处理并且最后出于分析、尤其是医学诊断目的被提供，其方式是所述电信号在对应的输出设备、例如监视器或打印机处被输出。
[0003]在根据现有技术的系统、设备和方法情况下，不能在所有应用情况下都保证在同时简单构造的情况下对所存储的X射线信息进行可靠读取。
【发明内容】
[0004]本发明的任务是说明一种系统、一种对应的设备以及ー种方法，通过其使得能够在简化的构造情况下尽可能可靠地读取所存储的X射线信息。
[0005]该任务通过根据独立权利要求的系统、设备或方法来解決。
[0006]本发明系统包括:存储发光物质板，在其中可以存储X射线信息；和用于读取存储在存储发光物质板中的X射线信息的设备，该设备具有用于产生激励光的光源和探測器，所述激励光可以激发存储发光物质板以发出第一发射光，所述探测器用于检测由存储发光物质板发出的第一发射光，并且所述系统的特征在于至少一个标记，其被布置和构造为，使得激励光可以射到所述标记上并且被所述标记至少部分地反射和/或可以激发所述标记以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的激励光或所输出的第二发射光可以被探測器检测并且可以从中导出标记信息。该系统的特征还在于控制装置，通过该控制装置可以根据所述标记信息来控制对存储发光物质板的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
[0007]本发明设备包括用于产生激励光的光源和探測器，所述激励光可以激发存储发光物质板以发出第一发射光，所述探测器用于检测由存储发光物质板所发出的第一发射光，所述设备的特征在于至少一个标记，其被布置和构造为，使得激励光可以射到所述标记上并且被所述标记至少部分地反射和/或可以激发所述标记以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的激励光或所输出的第二发射光可以被探測器检测并且可以从中导出标记信息。所述设备还包括控制装置，通过该控制装置可以根据所述标记信息来控制对存储发光物质板的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
[0008]本发明方法——其中用由光源产生的激励光激发存储发光物质板以发出第一发射光，该第一发射光被探測器检测——的特征在干，由光源产生的激励光射到至少ー个设置在存储发光物质板处和/或所述设备中的标记上并且在此由所述标记至少部分地反射和/或激发所述标记以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的激励光或所输出的第二发射光由探测器检测并且从中导出标记信息，根据所述标记信息控制对存储发光物质板的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
[0009]本发明所基于的构想是，在存储发光物质板处和/或在设备中为了读取所述存储发光物质板设置反射光的、散射光的和/或发荧光的、也就是发辉光的或发磷光的标记，并且借助于设置在所述设备中以读取存储发光物质板的部件、尤其是用于产生激励光的光源和用于检测通过所述激励光激发的第一发射光的探测器来读取所述标记，其方式是射到所述标记上并且被部分地反射或散射的激励光和/或在所述标记中通过激励光所激发的荧光由探测器检测并且被转换成对应的标记信息。根据在此情况下获得的标记信息——其例如有关存储板的特性和/或有关与读取过程相关的参数，控制读取过程本身和/或对在存储发光物质板的读取过程中获得的X射线信息的处理。
[0010]通过借助于在所述设备中总归出于读取存储发光物质板的目的而存在的部件对所述标记的检测，可以舍弃通常所需的附加部件一例如用于检测存储发光物质板上的条码或者激励光束的特定位置的传感器。本发明系统或设备的构造由此变得明显更简单，其中同时由于根据所导出的标记信息来对存储发光物质板的读取或所获得的X射线信息的处理进行控制来保证高的图像质量。
[0011]在本发明的第一优选构型中，所述标记信息包含有关存储发光物质板的第一信息，其尤其是涉及至少一个以下信息:存储发光物质板的大小，存储发光物质板对于X射线辐射的敏感性，存储发光物质板的标识号，存储发光物质板上的一个或多个定义的空间距离，存储发光物质板的制造日期和/或到期日期，要读取的存储发光物质板的开始(Β0ΙΡ)，存储发光物质板的要读取区域的开始(BOS)以及存储发光物质板上的要读取的行的开始(BOL)0
[0012]尤其是对存储发光物质板的读取和/或对所读取的X射线信息的处理进行控制所需的特定于板的信息由此通过简单的方式被提供，并且可以通过本发明方式在系统或设备的简单造型情况下被检测。
[0013]例如可以通过控制装置根据从所述标记确定的用于表征存储发光物质板对于X射线辐射的敏感性的参数通过如下方式来控制所述设备，即在存储发光物质板的高敏感性的情况下调整激励光的低强度和/或探测器对于发射光的低敏感性并且在低敏感性的情况下调整激励光的高强度和/或探测器对于发射光的高敏感性。对应的情况适用于根据所述标记确定的关于存储发光物质板的大小的信息。
[0014]替换地或者附加地，可以在控制装置中根据所检测的制造日期和/或到期日期来检查所述存储发光物质板是否还具有对于可靠的X射线接收所需的状态，其方式是将当前日期与所检测的到期日期或者从所检测的制造日期计算出的到期日期相比较，并且在超过相应的到期日期时例如读取过程不开始和/或对应的信息被输出给操作人员和/或设备参数被适配。要适配的设备参数例如是在读取过程期间和/或之后存储发光物质板的运送速度。因此，尤其是在用清除光照射存储发光物质板的清除单元中清除存储发光物质板期间可以减小运送速度。
[0015]替代地或者附加地可以根据施加在存储发光物质板上的、以定义的距离彼此间隔开的标志(例如点、条纹或者二维几何形状)形式的标记来确定绝对的距离信息，所述距离信息例如记录在所读取的X射线图像中和/或用于校正所读取的X射线图像。
[0016]替换地或者附加地，根据所检测的关于存储发光物质板、存储发光物质板的要读取区域或要读取行的开始的信息通过以下方法控制读取过程，即在检测到相应标记或者自检测到相应标记起过去了特定的预先给定的时间区间时才开始对存储在存储发光物质板中的X射线信息进行检测。
[0017]在另一优选构型中，所述标记信息包含有关存储发光物质板的读取和/或所读取的X射线信息的处理的第二信息，该第二信息尤其是涉及至少一个以下信息:要读取的存储发光物质板在所述设备中的位置，沿着行移动的激励光束的时间特性以及在读取存储发光物质板的行时所述设备的敏感性的时间变化。用于控制对存储发光物质板的读取所需的信息或接下来对X射线信息的处理由此通过简单的方式被提供，并且可以通过本发明方式在系统或设备的简单造型情况下被检测。
[0018]例如可以根据所检测的有关激励光束的时间特性和/或在读取存储发光物质板的行时设备的敏感性的时间变化的信息来控制对所获得的X射线信息的处理。尤其是可以在此情况下在对应地处理X射线信息时补偿以及由此消除由于激励光束的速度波动或设备一尤其是用于激励光的光源和/或用于检测第一发射光的探测器一的敏感性波动所造成的对于所获得的X射线图像的影响。对应的情况适用于在读取预先给定的额定位置时、例如由于板相对于额定位置的轻微倾斜或者旋转所造成的存储发光物质板的位置偏差。
[0019]此外优选的是，所述存储发光物质板具有载体层和施加在载体层的第一侧上的存储发光物质层，并且所述标记位于载体层的第一侧上。通过将标记布置在载体层的其上还存在存储发光物质层的侧上，对于借助于被设置用于读取存储发光物质层的部件来读取所述标记来说不需要另外的措施，例如进行激励光和/或所激发的发射光的转向，使得实现尽可能简单的构造。
[0020]优选地，所述标记位于载体层的处于存储发光物质层以外的区域中。由此保证一方面存储发光物质层的被设置用于X射线接收的面不由于所述标记而减小并且另一方面在读取所述标记时不附加地激发存储发光物质层以发出发射光，这可能具有干扰标记信息的检测的后果。
[0021]尤其是所述标记可以具有条形码的形式，在所述条形码中以不同宽度的条纹和空隙的形式编码数据。由此尤其是可以通过特别简单的方式编码特定于存储板的数据。除此以外还可以以高可靠性利用设置用于读取存储发光物质板的部件来读取条形码，从而可以实际上排除信息损失。
[0022]此外优选的是，所述标记包括至少一个、尤其是点、线或二维形状形式的标志，通过所述标志的形状和/或在载体层的第一侧上的位置来确定标记信息。通过检测这样的标志尤其是可以通过简单和可靠的方式导出与读取过程相关的信息，所述信息例如关于要读取的存储发光物质板或者存储发光物质板上的要读取区域或相应的行的开始。根据在此情况下获得的标记信息控制读取过程。
[0023]在另一优选的实施中，所述标记这样布置在所述设备中，使得在由光源产生的激励光束在读取期间射到存储发光物质板上之前和/或之后，所述激励光束可以射到标记上。在此情况下可以从获得的标记信息中导出与读取和/或处理所获得的X射线信息相关的參量，所述參量例如关于要读取的存储发光物质板相对于设备及其部件的位置以及关于激励光束的时间特性和/或设备在读取存储发光物质板的行期间的敏感性。
[0024]此外优选的是，所述标记至少在标记的部分区域中比存储发光物质板更強烈地反射和/或更强烈地散射激励光。由此实现由标记所反射或散射的激励光是足够强的，以便即使当探測器——必要时包括位于该探測器之前的滤波器——具有对于在读取存储发光物质板时所散射的激励光非常小的敏感性时也被该探测器充分可靠地检测到。
[0025]除此之外有利的是，探測器——必要时包括位于探测器之前的滤波器——对于由标记输出的第二发射光的敏感性高于对于激励光的敏感性。尤其是在此情况下由标记输出的第二发射光在如下光谱范围中输出，所述光谱范围相对于激励光的光谱范围朝向更长或更短的波长推移。由此保证在发荧光的标记情况下由对应标记输出的和由探測器检测的发射光不由于激励光分量而失真，其中所述激励光分量例如可能由激励光的反射或散射造成。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]本发明的其他优点、特征和应用可能性结合图从下面的描述中得出。其中:
图1示出具有用于读取存储发光物质板的设备的系统的示例的示意图；
图2示出位于存储发光物质板上的标记的第一示例；
图3示出位于存储发光物质板上的标记的第二示例；
图4示出位于存储发光物质板上的标记的第三示例；
图5示出设置在设备中的标记的第一示例；
图6示出设置在设备中的标记的第二示例；
图7示出设置在设备中的标记的第三示例。
【具体实施方式】
[0027]图1示出用于读取存储发光物质板I的设备。通过激光器2产生激励光束3，该激励光束3通过偏转元件4被偏转为使得该激励光束3沿着行8在要读取的存储发光物质板I上移动。偏转元件4具有尤其是反射镜形式的反射面，该反射面通过驱动装置5被置于振动。替换地，偏转元件4可以具有多边形反射镜，其通过驱动装置5、在该情况下为电机被置于旋转并且使激励光束3在存储发光物质板I上转向。
[0028]在经偏转的激光光束3’在存储发光物质板I上移动期间，该存储发光物质板根据存储在其中的X射线信息发出发射光，该发射光由光学采集装置6、例如光导束或合适的反射镜装置采集并且由光学探測器7、优选光电倍增器(PMT)检测并且在此转换成对应的探测器信号S。在PMT之前优选布置(未不出的)光学滤波器，该光学滤波器对于发射光基本上是可透过的并且强烈地减弱激励光，该激励光在照射存储发光物质板时在该存储发光物质板处部分地被散射并且将会通过光学采集装置6到达PMT。
[0029]探測器信号S被输送给处理装置16，在该处理装置中对于所读取的X射线图像的各个图像点来导出图像信号值B。如果所读取的行8例如应当由1000个图像点组成，则从在读取行8时所获得的探測器信号S中导出对应的图像信号值B。[0030]通过借助于运送装置(未示出)在运送方向T上运送存储发光物质板1，实现对存储发光物质板I的各个行8的连续读取并且因此获得由分别具有所属的图像信号值B的各个图像点组成的二维X射线图像。如果在运送方向T上所读取的行8的数量例如为1500，则在每个行8分别1000个图像点的情况下对于所读取的X射线图像来说总共获得分别具有所属的图像信号值B的1500x1000个图像点。
[0031]原则上还可能的是，位置固定地安置存储发光物质板I并且将剩余的部件——尤其是激光器2、偏转元件4、采集装置6和探测器7——相对于存储发光物质板I移动。
[0032]探测器信号S首先通过低通滤波器12滤波，其中探测器信号S的较高频分量、尤其是噪声分量被消除。经滤波的探测器信号S于是被输送给模数转换器13并且在那里用采样频率f被采样，其中在每个采样过程中获得分别数字单位形式的探测器信号D。在模数转换器13中对探测器信号S进行采样优选根据所谓的采样和保持原理进行，据此在采样时在采样时刻施加在模数转换器13处的探测器信号S的分别当前的模拟信号大小被保持并且被转换成对应的数字探测器信号值D。在中间存储在存储器14中之后，在控制单元15中从探测器信号值D计算图像信号值B。
[0033]控制单元15与用于驱动偏转元件4的驱动装置5连接并且通过以下方式控制该偏转元件，即仅在经偏转的激励光束3’取特定方向和/或位置时或者之后，例如在经偏转的激光光束3’掠过位于存储发光物质板的两个纵向侧之一处的传感器(未不出)时,偏转兀件4才通过由驱动装置5输出驱动能量被有源驱动，然后该传感器向控制单元15发送电脉冲，该控制单元——必要时在可预先给定的时间延迟之后——于是通过以下方式控制驱动装置5，即该驱动装置5暂时地向振动的偏转元件4输出驱动能量，尤其是以驱动能量脉冲的形式，并且在此优选在偏转元件4的共振频率的范围中维持偏转元件的振动。
[0034]在存储发光物质板I处布置标记20，使得该标记20当在运送方向T上运送存储发光物质板I期间达到行8的区域中。在那里经偏转的激励光束3’射到标记20上并且被该标记20至少部分地反射或散射，和/或激发该标记以输出荧光。在此情况下被反射或散射的激励光或输出的荧光——如在存储发光物质板I中所激发的发射光那样，被光学采集装置6采集，被转发给光学探测器7并且在那里被转换成对应的探测器信号S。在控制单元15中从探测器信号S——在对应的信号处理之后——导出标记信息，控制单元15借助该标记信息控制存储发光物质板I的读取过程和/或接下来对所读取的X射线信息的处理，尤其是以探测器信号值D和/或图像信号值B的形式。
[0035]在标记20中包含的标记信息例如涉及特定于存储发光物质板I的参数，例如存储发光物质板I的大小、存储发光物质板I对于X射线辐射的敏感性、存储发光物质板I的制造日期和/或到期日期、用于单义地标识存储发光物质板I的标识号、存储发光物质板I的开始(“Begin of Image Plate (图像板的开始)”，Β0ΙΡ)、存储发光物质板I的要读取区域的开始(“Begin of Scan (扫描的开始)”,BOS)或分别要扫描的行的开始(“Begin of Line(行的开始)”，B0L)。
[0036]在设备的所示示例中，在行8下方并且基本上与行8平行地设置另一标记30，其中沿着行8在存储发光物质板I上引导经偏转的激励光束3’。标记30优选施加在底板35上，该底板35这样布置在设备中，使得存储发光物质板I可以一方面相对于标记30并且另一方面相对于读取装置的部件2至7在运送方向T上被运送。当存储发光物质板I还未位于或者不再位于行8的区域中时、也就是在读取过程开始之前或者结束之后，经偏转的激励光束3’由此射到标记30上。
[0037]在所示的示例中，标记30比存储发光物质板I宽并且在存储发光物质板I的两侧超出该存储发光物质板。由此当存储发光物质板I在读取过程期间位于一方面标记30与另ー方面读取装置的部件2至7之间时，经偏转的激励光束3’可以射到标记30的伸出区域上。
[0038]射到标记30上的激励光3’被至少部分地反射或散射和/或激发标记30以输出荧光。如在位于存储发光物质板I上的标记20的情况下那样，在设置在设备中的标记30的情况下经反射的激励光或所输出的荧光也被光学采集装置6采集，转发给光学探測器7并且在那里被转换成对应的探測器信号S，在控制单元15中从该探測器信号S导出标记信息，该标记信息被使用用于控制存储发光物质板I的读取过程和/或所读取的X射线信息的处理。
[0039]根据标记30所导出的标记信息尤其是允许推断出要读取的存储发光物质板I相对于读取装置的部件2至7的位置、沿着行8移动的经偏转的激励光束3’的时间特性、或者所述设备、尤其是读取装置的部件2至7在读取存储发光物质板的行8时的敏感性的可能的时间变化。
[0040]在图1中所示的示例中，标记20和30仅被強烈示意化地再现。按照相应标记20或30的布置、构型和信息内容，根据从中导出的标记信息以不同的方式控制对存储发光物质板I的读取或对在读取时所获得的X射线信息的处理。这在后面更详细地描述。
[0041]图2示出位于存储发光物质板I上的标记的第一示例，所述标记以由不同厚的条纹和空隙构成的条形码21的形式以及以垂直于条形码21的条纹和空隙走向的直线22的形式。存储发光物质板I具有载体层la，在该载体层Ia上施加存储发光物质层lb。存储发光物质层Ib优选地不在载体层Ia的整个面上延伸，从而如在所示示例中示出的那样载体层Ia的边缘区域不具有存储发光物质层。在载体层Ia的该边缘区域中施加条形码21以及直线22形式的标记。
[0042]在条形码21中可以编码不同的信息，所述信息尤其是涉及存储发光物质板1，例如存储发光物质板的大小、存储发光物质板I对于X射线辐射的敏感性、用于单义地标识存储发光物质板I的标识号以及存储发光物质板I的制造日期和/或到期日期。
[0043]条形码21的条纹23之一在所示示例中用作用于规定存储发光物质层Ib的要读取面Ic的边缘的參考标记。在当前的示例中，要读取区域Ic的左边缘与条纹23间隔预先给定的距离dx。当在运送方向T上运送存储发光物质板I吋，经偏转的激励光束3’(參见图1)在垂直于运送方向T走向的方向上逐行地掠过存储发光物质板I。出于该原因，存储发光物质层Ib的要读取区域Ic的左边缘也可以表示为行的开始(B0L)。
[0044]附加于条形码21设置的直线22在所示示例中用作用于规定存储发光物质层Ib的要读取面Ic的前边缘的參考。要读取面Ic的在运送方向T上来看引导的(filhrend)该边缘也被表示为扫描的开始(BOS)并且在当前情况下与直线22间隔预先给定的距离dy。
[0045]图3示出位于存储发光物质板I上的以条形码21以及L形结构24形式的标记的第二示例。存储发光物质层Id的要读取面Ic的左边缘BOL以及前边缘BOS的规定在该示例中根据L形结构24的平行于要读取区域Ic的左边缘BOL或前边缘BOS走向的柱(Schenkel)来实现。类似于图2中所示的示例,左边缘BOL或前边缘BOS分别与L形结构24的对应柱间隔预先给定的距离dx或dy。此外，结合图2中所示示例的实施对应地适用。
[0046]图4示出位于存储发光物质板I上的标记的第三示例，该标记以条形码21以及平面结构25的形式，尤其是以被L形覆盖物26部分覆盖的正方形或矩形的形式。在此情况下，所述平面结构25优选构成为发辉光的并且覆盖物26构成为反射的和/或散射光的。但是替换地，覆盖物26也可以是存储发光物质层Ib的一部分。
[0047]在两种情况下，在借助于经偏转的激励光束3’扫描用覆盖物26部分覆盖的平面结构25时和在检测在此情况下由平面结构25或覆盖物26所发射或反射的光时确定参照棱边，所述参照棱边用于规定存储发光物质层Ib的要读取区域Ic的左边缘BOL或前边缘B0S。结合图2和3中所示实施例的实施在此情况下对应地适用。
[0048]图5示出发辉光的条纹31a至31g形式的标记的第一示例，这些条纹施加在布置在设备中的底板35上，基本上平行于用虚线表明的存储发光物质板I的运送方向T走向并且在通过经偏转的激励光束3’(参见图1)扫描的行8的方向上并排布置。
[0049]在存储发光物质板I的读取过程期间，该存储发光物质板覆盖发辉光的条纹31b至31f，使得经偏转的激励光束3’只能射到发辉光的条纹31a和31d上。在这些条纹中所激发的辉光由设备的探测器7检测，其中根据获得辉光信号的相应时刻可以确定激励光束3’的平均速度是否与预先给定值相偏差。根据偏差的类型和大小，在处理装置16中将在读取存储发光物质层I时所获得的探测器信号值D分配给各个图像信号值B。通过这种方式可以校正在读取存储发光物质板I时沿着行8移动激励光束3’期间的速度波动。该校正也被称为抖动校正(Jitterkorrektur)。
[0050]当发辉光的条纹31b至31f未被位于设备中的存储发光物质板I覆盖时，例如在存储发光物质板I的读取过程之前或者在其结束之后，可以进行所谓的几何校准，其方式是也由探测器7检测由条纹31b至31f发射的辉光。根据在此情况下在不同时刻所获得的辉光信号，可以以特别高的精度确定和存储激励光束3’在通过行8期间的时间特性。在后续的或者之前的读取过程中所获得的探测器信号值D可以在使用在此情况下确定的辉光信号的情况下以特别高的精度被分配给对应的图像信号值B。
[0051]图6示出在设备中设置的标记的第二示例，所述标记以发辉光的条纹31a至31g以及附加的平面区域32a和32b的形式，所述平面区域同样可以通过施加激励光被激发以输出辉光。当存储发光物质板I位于设备中并且在此部分地覆盖平面区域32a和32b时，激励光束3’可以仅仅激发平面区域32a或32b的超出存储发光物质板I的片段以发出辉光。根据在存储发光物质板I的左边或右边的发辉光片段的在此情况下确定的宽度，可以推断出存储发光物质板相对于设备的位置，也就是存储发光物质板相对于包括偏转装置4的光源2以及包括光学采集装置6的探测器7的位置。通过这种方式确定的、关于存储发光物质板I在设备中的位置的信息优选地在处理在读取存储发光物质板I时所获得的X射线信息时被使用。所述信息尤其是被使用用于正确地考虑在上述几何校准时所确定的信息。此夕卜，结合图5中所示示例的实施对应地适用。
[0052]图7示出在设备中设置的以斜线33a和33b形式的标记的第三示例，所述斜线优选地同样构成为发辉光。对于发辉光的条纹或平面区域形式的其余标记，结合图5和6中所示示例的以上实施对应地适用。[0053]在图7的上部分中，激励光束的行8基本上垂直于运送方向T走向井且在时刻tl或t2激发斜线33a和33b以发射辉光，该辉光由探測器7 (參见图1)检测。
[0054]对于图7的中间部分所示的情况——其中激励光束失调并且不精确地垂直于存储发光物质板I的运送方向T、而是与该运送方向T倾斜，激励光束分别提前时间区间Atl或A t2地射到斜线33a或33b上，使得探测器7在这些时刻就已经产生对应的辉光信号。从相应的时间偏移可以推断出激励光束的失调程度并且可以对在这样的读取过程中获得的探測器信号值D或图像信号值B进行对应的校正。
[0055]在图7的下部分中示出如下情况，其中激励光束尽管垂直于存储发光物质板I的运送方向T走向，但是在运送方向T的方向上平行地偏移。在这种情况下，通过激发发辉光的斜线33a或33b所获得的辉光信号同样也相对于正确调节的激励光束(參照该图的上部分)偏移对应的时间区间Atl或At2。从该时间偏移可以推断出激励光束的失调的类型和程度并且在处理、也就是校正在读取存储发光物质板I时获得的探測器信号值D或图像信号值B的情况下考虑所述类型和程度。
[0056]但是，根据通过这种方式确定的激励光束失调不仅可以在设备的实际运行时进行光学部件的正确调节，而且也可以在设备的制造和/或维护时进行光学部件的正确调节。
[0057]调节原则上可以手动进行，但是也可以自动进行，例如借助于对应的、对对应的光学部件进行调节的执行器。
[0058]要调节的光学部件尤其是激光器2、偏转元件4 (參见图1)以及在激光器2和偏转元件4之间的和/或在偏转元件4和存储发光物质板I或设置在设备中的标记30至33之间的可能的映像光学系统(未示出)。
[0059]如已经阐述的，结合示出所述示例的标记20至26和30至33通过以下方式构造，即这些标记可以对射到其上的激励光进行反射或可以通过所述激励光被激发以发射荧光，也就是磷光或辉光。
[0060]反射的或者散射光的标记例如借助于漆、墨水、凹版或者涂层来产生，利用这些将对应的图案施加或者引入到存储发光物质板I上或所述设备中。所使用的漆、墨水、凹版或涂层在反射和/或散射激励光方面的特性与基板、尤其是存储发光物质板I的载体层Ia的特性不同，从而掠过标记的激光光束3’不同強烈地被反射或散射。
[0061]通过所述图案不同地散射或反射的光由探測器7 (參见图1)检测，其中探測器7优选配备有滤波器，该滤波器对于在存储发光物质板I中所激发的发射光(优选在蓝色光谱范围中)基本上是可透过的并且强烈减弱在读取存储发光物质板I时所散射的激励光(优选在红色光谱范围中)。在检测由标记所反射的或散射的激励光时，所述激励光被滤波器同样强烈地减弱；但是通过适当地选择例如漆、墨水、凹版或者涂层，通过标记对激励光的反射或散射如此之大，使得尽管在探測器7之前通过滤波器強烈的光减弱，该探测器7仍然接收到足够多的激励光，以便产生足够高的、允许可靠地导出标记信息的探測器信号D。
[0062]替换地或者附加地，在对标记扫描期间光源2的功率以及因此激励光束3’的強度和/或探測器7的敏感性可以例如通过提高施加在PMT处的电压来暂时提高。由此保证探测器7可以以特别高的可靠性检测所反射的或所散射的以及必要时通过滤波器衰减的激励光并且将其转换成对应的探測器信号D。
[0063]发荧光的、尤其是发辉光的标记例如通过将特定的发荧光的物质施加到存储发光物质板I上、尤其是施加到载体层Ia上或设备中来产生。优选地，所述物质发射如下波长范围中的发射光，在所述波长范围中位于探测器7之前的滤波器比在激励光的波长范围中具有更高的透过性。由所述物质发射的发射光的波长范围可以相对于激励光朝向更大的波长推移(例如基于斯托克效应)，也或者朝向更短的波长推移(例如基于反斯托克效应或者多光子效应)。
[0064]除此之外，显示出所谓激活的磷光的物质适用于产生发荧光的标记。所述物质通过用光照射、例如在存储发光物质板I的读取过程结束之后通过在位于设备中的清除单元中用例如绿色和/或红色的清除光照射而被激活(可以说是“被装载”)，并且可以在下一读取过程时借助于激励光被激发以输出发射光，所述发射光处于激励光以下的波长范围中。
【权利要求】
1.用于读取存储在存储发光物质板(I)中的X射线信息的系统，具有 存储发光物质板(I )，在其中可以存储X射线信息，和 用于读取存储在存储发光物质板(I)中的X射线信息的设备，其具有用于产生激励光(3)的光源(2)和探测器(7)，所述激励光可以激发存储发光物质板(I)以发出第一发射光，所述探测器用于检测由存储发光物质板(I)发出的第一发射光， 其特征在于 至少一个标记(20 - 26 ；30 - 33)，其被布置和构造为，使得激励光(3)可以射到所述标记(20 — 26 ；30 — 33)上并且被所述标记(20 — 26 ；30 — 33)至少部分地反射和/或散射和/或可以激发所述标记(20 - 26 ；30 - 33)以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的或所散射的激励光(3)或所输出的第二发射光可以被探测器(7)检测并且可以从中导出标记信息，和 控制装置(15)，通过该控制装置可以根据所述标记信息来控制对存储发光物质板(I)的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
2.根据权利要求1的系统，其中所述标记信息包含有关存储发光物质板(I)的信息。
3.根据权利要求2的系统，其中所述标记信息涉及至少一个以下信息: 一存储发光物质板(I)的大小， 一存储发光物质板(I)对于X射线辐射的敏感性， 一存储发光物质板(I)的标识号， 一存储发光物质板(I)上的定义的空间距离， 一存储发光物质板(I)的制造日期和/或到期日期， 一要读取的存储发光物质板的开始(BOIP)， 一存储发光物质板(I)的要读取区域(Ic)的开始(BOS)， 一存储发光物质板上的要读取的行的开始(BOL)。
4.根据前述权利要求之一的系统，其中所述标记信息包含有关存储发光物质板(I)的读取过程的信息。
5.根据权利要求4的系统，其中所述标记信息涉及至少一个以下信息: 一在读取期间存储发光物质板(I)在所述设备中的位置， 一在读取期间沿着行(8)移动的激励光束(3’ )的时间特性， 一在读取存储发光物质板(I)的行(8)时所述设备对于由该存储发光物质板所发出的第一发射光的敏感性的时间变化。
6.根据前述权利要求之一的系统，其中所述存储发光物质板(I)具有载体层(Ia)和施加在载体层(Ia)的第一侧上的存储发光物质层(lb)，并且所述标记(20 - 26)位于载体层(Ia)的第一侧上。
7.根据权利要求6的系统,其中所述标记(20— 26)位于载体层(Ia)的处于存储发光物质层(Ib)以外的区域中。
8.根据权利要求6或7的系统，其中所述标记(20- 26)具有条形码(21)的形式，在所述条形码中以不同宽的条纹和空隙形式编码数据。
9.根据权利要求6至8之一的系统，其中所述标记(20— 26)包括尤其是点、线(22、23)和/或二维形状(24 - 26)形式的至少一个标志，通过所述标志的形状和/或在载体层(Ia)的第一侧上的位置来确定标记信息。
10.根据权利要求1至5之一的系统，其中所述标记(30- 33)这样布置在所述设备中，使得在由光源(2)产生的激励光束(3 ’)在读取期间射到存储发光物质板(I)上之前和/或之后，所述激励光束(3’ )可以射到标记(30 — 33)上。
11.根据前述权利要求之一的系统，其中所述标记(20- 26 ；30 - 33)至少在标记(20 - 26 ；30 - 33)的部分区域中比存储发光物质板(I)更强烈地反射和/或更强烈地散射激励光。
12.根据前述权利要求之一的系统，其中探测器(7)、必要时包括位于探测器(7)之前的滤波器对于由标记(20 - 26 ；30 - 33)输出的第二发射光的敏感性高于对于激励光的敏感性。
13.用于读取存储在存储发光物质板(I)中的X射线信息的设备，具有用于产生激励光(3)的光源(2)和探测器(7)，所述激励光可以激发存储发光物质板(I)以发出第一发射光，所述探测器用于检测由存储发光物质板(I)所发出的第一发射光， 其特征在于 至少一个标记(30 - 33)，其被布置和构造为，使得激励光(3)可以射到所述标记(30 - 33)上并且被所述标记(30 - 33)至少部分地反射和/或散射和/或可以激发所述标记(30 - 33)以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的或所散射的激励光(3)或所输出的第二发射光可以被探测器(7)检测并且可以从中导出标记信息，和 控制装置(15 )，通过该控制装置可以根据所述标记信息来控制对存储发光物质板(I)的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
14.用于在设备中读取存储在存储发光物质板(I)中的X射线信息的方法，其中用由光源(2)产生的激励光(3)激发存储发光物质板(I)以发出第一发射光,该第一发射光被探测器(7)检测， 其特征在于， 由光源(2)产生的激励光(3)射到至少一个设置在存储发光物质板(I)处和/或所述设备中的标记(20 — 26 ；30 — 33)上并且在此由所述标记(20 — 26 ；30 一 33)至少部分地反射和/或散射和/或激发所述标记(20 — 26 ；30 — 33)以输出第二发射光、尤其是突光， 所反射或散射的激励光(3)或所输出的第二发射光由探测器(7)检测并且从中导出标记信息，和根据所述标记信息控制对存储发光物质板(I)的读取和/或对所读取的X射线信息的处理。
15.用于在根据权利要求13的设备中和/或在根据权利要求14的方法中使用的存储发光物质板(1)，具有至少一个标记(20 - 26)，所述标记被布置和构造为，使得激励光(3)可以射到所述标记(20 - 26)上并且被所述标记(20 - 26)至少部分地反射和/或散射和/或可以激发所述标记(20 - 26)以输出第二发射光、尤其是荧光，其中所反射的或所散射的激励光(3)或所输出的第二发射光可以被探测器(7)检测。
【文档编号】G01T1/29GK103562747SQ201280025478
【公开日】2014年2月5日 申请日期:2012年3月30日 优先权日:2011年5月26日
【发明者】S.迈尔 申请人:爱克发医疗保健公司