处理器电压的检测装置及方法
【专利摘要】本发明提供一种处理器电压的检测装置及方法。检测装置包括一电路板、一电压值测试装置、一电脑及一检测芯片，电路板包括一插接检测芯片的CPU插槽、一信号产生芯片及一电压调整器，检测芯片用于读取电脑预设的数据，将数据转换成SVID数据并SVID数据发送给电压调整器，电压调整器根据SVID数据发送一CPU电压给CPU插槽，电压值测试装置用于测试CPU电压的电压值大小以确定CPU电压的电压值是否匹配预设数据对应的电压值，所述控制模块用于在未接收到所述CPU电压后发送一输出失败指示信号给所述电脑，所述电脑用于显示所述信号。
【专利说明】处理器电压的检测装置及方法【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电压测试装置及方法，特别是涉及一种处理器电压的检测装置及方法。
【背景技术】
[0002]服务器的主板上一般装设处理器，在开机时处理器会发出SVID (SubsystemVendor ID，子系统厂商识别码)数据给电压调节器(Voltage Regulator)，所述电压调节器根据所述SVID数据发送一电压给所述处理器的内核从而给所述处理器的内核供电，对于需要检修的主板的电压调节器，如果电压调节器出现问题而输出一较高的电压给所述处理器的内核可能烧坏所述处理器。
【发明内容】
[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种检测处理器电压以保护处理器的检测装置及方法。
[0004]一种处理器电压的检测装置，包括一电路板及一电压值测试装置，所述电路板包括一 CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器，所述处理器电压的检测装置还包括一电脑、一连接所述电脑的检测芯片及一电压值测试装置，所述检测芯片插接在所述CPU插槽中，所述检测芯片包括一读取模块、一转换模块、一发送模块及一控制模块，所述电脑包括一设置模块、一主控模块及一显示模块，所述设置模块用于预设一预设数据 ，所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片的控制模块，所述控制模块用于控制所述读取模块读取所述预设数据，所述转换模块用于将所述预设数据转换成SVID数据，所述发送模块用于将所述SVID数据发送给所述电压调整器，所述电压调整器用于根据所述SVID数据发送一 CPU电压给所述CPU插槽，所述电压值测试装置用于测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值，所述控制模块用于在所述检测芯片未接收到所述CPU电压后发送一输出失败指示信号给所述主控模块，所述主控模块用于将所述输出失败指示信号显示于所述显示模块上。
[0005]一实施例中，所述预设数据为一 8位二进制数据。
[0006]—实施例中,所述信号产生芯片为一南桥芯片。
[0007]—实施例中，所述电压值测试装置为一示波器。
[0008]一实施例中，所述检测芯片还包括一第一串行接口，所述电脑还包括一连接所述第一串行接口的第二串行接口。
[0009]一种处理器电压的检测方法；所述处理器电压的检测方法包括如下步骤:
提供一处理器电压的检测装置，所述处理器电压的检测装置，包括一电路板、一电压值测试装置、一电脑、一连接所述电脑的检测芯片及一电压值测试装置，所述电路板包括一CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器，所述检测芯片插接在所述CPU插槽中；
所述电脑设置一预设数据；
所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片；
所述检测芯片读取所述预设数据，将所述预设数据转换成SVID数据并发送给所述电压调整器；
所述电压调整器根据所述SV ID数据发送一 CPU电压给所述CPU插槽；
所述电压值测试装置测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值；
所述检测芯片在未接收到所述CPU电压后发送一输出失败指示信号给所述电脑，所述电脑显示所述输出失败指示信号。
[0010]一实施例中，所述述预设数据为一 8位二进制数据。
[0011]—实施例中,所述信号产生芯片为一南桥芯片。
[0012]一实施例中，所述电压值测试装置为一示波器。
[0013]一实施例中，所述检测芯片包括一第一串行接口，所述电脑包括一连接所述第一串行接口的第二串行接口。
[0014]与现有技术相比，本发明处理器的电压测试装置及方法通过插接一检测芯片于CPU插槽中，所述检测芯片读取电脑的数据并转换成SVID数据给电压调节器，从而使电压调节器输出电压值给CPU插槽，这样就可以测试所述电压值，从而在正式使用处理器时确保处理器不被烧坏。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1为本发明处理器电压的检测装置的一较佳实施方式中的示意图。
[0016]图2为本发明处理器电压的检测方法的一较佳实施方式中的流程图。
[0017]主要元件符号说明
【权利要求】
1.一种处理器电压的检测装置，包括一电路板及一电压值测试装置，所述电路板包括一 CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器，其特征在于:所述处理器电压的检测装置还包括一电脑、一连接所述电脑的检测芯片及一电压值测试装置，所述检测芯片插接在所述CPU插槽中，所述检测芯片包括一读取模块、一转换模块、一发送模块及一控制模块，所述电脑包括一设置模块、一主控模块及一显示模块，所述设置模块用于预设一预设数据，所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片的控制模块，所述控制模块用于控制所述读取模块读取所述预设数据，所述转换模块用于将所述预设数据转换成SVID数据，所述发送模块用于将所述SVID数据发送给所述电压调整器，所述电压调整器用于根据所述SVID数据发送一 CPU电压给所述CPU插槽，所述电压值测试装置用于测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值，所述控制模块用于在所述检测芯片未接收到所述CPU电压后发送一输出失败指示信号给所述主控模块，所述主控模块用于将所述输出失败指示信号显示于所述显示模块上。
2.如权利要求1所述的处理器电压的检测装置，其特征在于:所述预设数据为一8位二进制数据。
3.如权利要求1所述的处理器电压的检测装置，其特征在于:所述信号产生芯片为一南桥芯片。
4.如权利要求1所述的处理器电压的检测装置，其特征在于:所述电压值测试装置为一不波器。
5.如权利要求1所述 的处理器电压的检测装置，其特征在于:所述检测芯片还包括一第一串行接口，所述电脑还包括一连接所述第一串行接口的第二串行接口。
6.一种处理器电压的检测方法，其特征在于:所述处理器电压的检测方法包括如下步骤: 提供一处理器电压的检测装置，所述处理器电压的检测装置，包括一电路板、一电压值测试装置、一电脑、一连接所述电脑的检测芯片及一电压值测试装置，所述电路板包括一CPU插槽、一连接所述CPU插槽的信号产生芯片及一连接所述CPU插槽的电压调整器，所述检测芯片插接在所述CPU插槽中； 所述电脑设置一预设数据； 所述信号产生芯片用于在所述电路板开机后发送一启动信号给所述检测芯片； 所述检测芯片读取所述预设数据，将所述预设数据转换成SVID数据并发送给所述电压调整器； 所述电压调整器根据所述SVID数据发送一 CPU电压给所述CPU插槽； 所述电压值测试装置测试所述CPU电压的电压值大小以确定所述CPU电压的电压值是否匹配所述预设数据对应的电压值； 所述检测芯片在未接收到所述CPU电压后发送一输出失败指示信号给所述电脑，所述电脑显示所述输出失败指示信号。
7.如权利要求6所述的处理器电压的检测方法，其特征在于:所述述预设数据为一8位二进制数据。
8.如权利要求6所述的处理器电压的检测方法，其特征在于:所述信号产生芯片为一南桥芯片。
9.如权利要求6所述的处理器电压的检测方法，其特征在于:所述电压值测试装置为一不波器。
10.如权利要求6所述的处理器电压的检测方法，其特征在于:所述检测芯片包括一第一串行接口，所述电脑包括一连接所述第一串行接口的第二串行接口。
【文档编号】G01R19/00GK103969492SQ201310042057
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2013年2月4日 优先权日:2013年2月4日
【发明者】郭利文 申请人:鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司