小角度测量装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种小角度测量装置，包括角度调整装置、激光干涉系统、单片机、显示电路和电源，所述角度调整装置、激光干涉系统、单片机和显示电路依次连接，且激光干涉系统和单片机均连接电源，本发明能够解决小角度仪器测量困难和劳动强度大的问题，能够提高测量的准确度和效率，保证数控加工中心的加工精度，确保零件产品的质量，可以开展自准直仪、电子水平仪和合像水平仪、框式水平仪及条式水平仪等小角度仪器测量。
【专利说明】[0001] 小角度测量装置
【技术领域】
[0002] 本发明涉及一种辅助测量装置，特别涉及一种小角度测量装置。
【背景技术】
[0003] 近年来随着航空及机械制造业的不断发展，对零件加工质量和加工设备要求越来 越高，数控设备占主导地位，加工中心导轨的直线度和平面度是保证加工质量的重要指标， 对着两个参数的检测及评定，主要靠自准直仪、水平仪或干涉仪来完成，现有的小角度检测 仪的准确度、检测功能及效率，已经无法满足科研生产的要求，迫切需要一种高精度小角度 测量装置。
[0004]
【发明内容】
[0005] 为了克服上述缺陷，本发明提供了一种结构简单，使用方便，准确度高和检测功能 及效率高的小角度测量装置。
[0006] 本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种小角度测量装置，包括角 度调整装置、激光干涉系统、单片机、显示电路和电源，所述角度调整装置、激光干涉系统、 单片机和显示电路依次连接，且激光干涉系统和单片机均连接电源。
[0007] 作为本发明的进一步改进，所述角度调整装置包括棱镜、调整螺杆、支撑块、陶瓷 晶体和外接电源，所述支撑块设于棱镜下方且与棱镜支撑连接，所述调整螺杆与棱镜螺纹 连接且调整螺杆的底部连接陶瓷晶体，所述陶瓷晶体还连接外接电源。
[0008] 本发明的有益效果是：本发明能够解决小角度仪器测量困难和劳动强度大的问 题，能够提高测量的准确度和效率，保证数控加工中心的加工精度，确保零件产品的质量， 可以开展自准直仪、电子水平仪和合像水平仪、框式水平仪及条式水平仪等小角度仪器测 量。
[0009]
【专利附图】
【附图说明】
[0010] 图1为本发明结构示意图； 图2为本发明中角度测量装置的结构示意图； 图中标示：1_角度调整装置；2-激光干涉系统；3-单片机；4-显示电路；5-电源；6-棱 镜；7-调整螺杆；8-支撑块；9-陶瓷晶体；10-外接电源。
[0011]
【具体实施方式】
[0012] 为了加深对本发明的理解，下面将结合实施例和附图对本发明作进一步详述，该 实施例仅用于解释本发明，并不构成对本发明保护范围的限定。
[0013] 图1出示了本发明一种小角度测量装置的一种实施方式，包括角度调整装置1、激 光干涉系统2、单片机3、显示电路4和电源5,所述角度调整装置1、激光干涉系统2、单片机 3和显示电路4依次连接，且激光干涉系统2和单片机3均连接电源5,所述角度调整装置1 包括棱镜6、调整螺杆7、支撑块8、陶瓷晶体9和外接电源10,所述支撑块8设于棱镜6下 方且与棱镜6支撑连接，所述调整螺杆7与棱镜6螺纹连接且调整螺杆7的底部连接陶瓷 晶体9,所述陶瓷晶体9还连接外接电源10。
【权利要求】
1. 一种小角度测量装置，其特征在于：包括角度调整装置（1)、激光干涉系统（2)、单片 机（3)、显示电路（4)和电源（5)，所述角度调整装置（1)、激光干涉系统（2)、单片机（3)和 显示电路（4)依次连接，且激光干涉系统（2)和单片机（3)均连接电源（5)。
2. 根据权利要求1所述的小角度测量装置，其特征在于：所述角度调整装置（1)包括 棱镜￠)、调整螺杆（7)、支撑块（8)、陶瓷晶体（9)和外接电源（10)，所述支撑块（8)设于 棱镜（6)下方且与棱镜（6)支撑连接，所述调整螺杆（7)与棱镜（6)螺纹连接且调整螺杆 (7)的底部连接陶瓷晶体（9)，所述陶瓷晶体（9)还连接外接电源（10)。
【文档编号】G01B11/27GK104121871SQ201310145826
【公开日】2014年10月29日 申请日期:2013年4月25日 优先权日:2013年4月25日
【发明者】王东 申请人:王东