用于测试待测装置的电压骤降的测试方法
【专利摘要】一种用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，包含：一运算装置执行一测试程序，以产生一组控制指令传送到一电源供应器；该电源供应器根据该组控制指令，在每一时间区间内，产生一额定电压或骤降电压供应给一待测装置；该待测装置根据该额定电压或骤降电压，产生对应的一响应电压传送至一负载仿真器；该负载仿真器量测该响应电压并将其传送至该运算装置；及该运算装置判定该响应电压是否在一正常响应电压范围内，若判定结果为否，则该运算装置将对应的一故障信息记录于一数据库中。
【专利说明】用于测试待测装置的电压骤降的测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试方法，特别是涉及一种用于测试待测装置的电压骤降的测试方法。
【背景技术】
[0002]电器产品在使用过程中，若有断电、供压不足和线路过载等问题发生时，容易造成电器组件老化、损毁或故障。有鉴于此，许多国家都已要求产品须通过电磁兼容性(ElectroMagnetic Compatibility)的测试,才能进入市场销售。目前各国的电磁兼容法规都是源自国际通用法规(IEC Standard)，而在IEC61000-4-11此条法规中，其对电压骤降(VoltageDip)提供了如下的测试规范:
[0003]■额定电压骤降30%持续0.5AC周期，重复10次。
[0004]■每一 AC周期步骤额定电压骤降60%持续0.5AC周期到500毫秒，重复10次。
[0005]■每一 AC周期步骤额定电压骤降100%持续0.5AC周期到5000毫秒，重复10次。
[0006]以往对于IEC61000-4-11此法规的测试作法为将一音源光盘片放入一 DVD播放器中，当该DVD播放器读取而动作时将产生随机的音源变化进而驱动一驱动控制器(0N/OFFController)随机来控制一单埠输出交流电源供应器输出电压的持续时间，以驱动一待测装置动作。该待测装置还与一用来量测该待测装置的输出电压的负载仿真器电连接。当输出电压不在正常电压范围内时，该负载仿真器会亮起红灯，而测试者必须对其加以记录，此种作法需购买昂贵设备，如DVD播放器、驱动控制器，且测试者要不断盯着该负载仿真器以记录亮灯信息，不只耗费人力，还有可能记录错误。此外，由于该DVD播放器和该驱动控制器只能控制该单埠输出交流电源供应器什么时间输出电压，或者什么时间不输出电压，即电压骤降百分之一百的情况，但当测试者要测试电压骤降百分之三十或百分之六十时，只能通过测试者手动去调整该单埠输出交流电源供应器的输出电压以仿真电压骤降的情况，实属不便，因此，有必要寻求解决方案。
【发明内容】
[0007]本发明的目的在于提供一种用于测试待测装置的电压骤降的测试方法。
[0008]本发明用于测试待测装置的电压骤降的测试方法包含:(A) —运算装置执行一测试程序，以产生一组控制指令传送到一电连接于该运算装置的电源供应器；(B)该电源供应器根据该组控制指令，在一第一时间区间内，产生一额定电压供应给一待测装置；(C)该待测装置根据该额定电压，产生一第一响应电压传送至一与该运算装置及待测装置电连接的负载仿真器；(D)该负载仿真器量测该第一响应电压并将其传送至该运算装置；(E)该运算装置判定该第一响应电压是否在一正常响应电压范围内，若判定结果为否，则该运算装置将一第一故障信息记录于一数据库中；(F)该电源供应器根据该组控制指令，在一第二时间区间内，产生一骤降电压供应给该待测装置，其中该骤降电压小于该额定电压；(G)该待测装置根据该骤降电压，产生一第二响应电压传送至该负载仿真器；(H)该负载仿真器量测该第二响应电压并将其传送至该运算装置；以及(I)该运算装置判定该第二响应电压是否在该正常响应电压范围内，若判定结果为否，则该运算装置将一第二故障信息记录于该数据库中。
[0009]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该负载仿真器为一包括一可变电阻的数字电表。
[0010]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该电源供应器及负载仿真器皆包含一通用接口总线接口卡，用于做为该运算装置与该电源供应器及负载仿真器间的数据传输接口卡。
[0011]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该运算装置为一包括一处理器及一存储该测试程序的存储器的计算机。
[0012]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法还包含，在该(D)步骤中，一与该运算装置及待测装置电连接的示波器量测对应于该第一响应电压的一第一响应电压波形，并将所量测到的第一响应电压波形传送至该运算装置，继而该运算装置将该第一响应电压波形记录于该数据库中。
[0013]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该示波器包括一通用接口总线接口卡，用于做为该运算装置与示波器间的数据传输接口卡。
[0014]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法还包含，在该(H)步骤中，该示波器量测对应于该第二响应电压的一第二响应电压波形，并将所量测到的第二响应电压波形传送至该运算装置，继而该运算装置将该第二响应电压波形记录于该数据库中。
[0015]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该额定电压及该骤降电压间的差值与该额定电压的比值为30%。
[0016]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该额定电压及该骤降电压间的差值与该额定电压的比值为60%。
[0017]本发明的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，该额定电压及该骤降电压间的差值与该额定电压的比值为100%。
[0018]本发明的有益效果在于:通过该运算装置产生该组控制指令使得该电源供应器在该第一时间区间内，产生该额定电压且在该第二时间区间内，产生该骤降电压，而不需手动调整。此外，本发明还通过该运算装置将该第一故障信息及第二故障信息记录于该数据库来达成自动记录的目的。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1是一系统架构图，说明用来实施本发明用于测试待测装置的电压骤降的测试方法的较佳实施例的测试系统；
[0020]图2是一流程图，说明本发明用于测试待测装置的电压骤降的测试方法的较佳实施例；
[0021]图3是一流程图，说明一第一测试阶段的一第一测试周期的详细步骤；
[0022]图4是一流程图，说明一第二测试阶段的一第一测试周期的详细步骤；及
[0023]图5是一流程图，说明一第三测试阶段的一第一测试周期的详细步骤。
【具体实施方式】
[0024]下面结合附图及实施例对本发明进行详细说明。
[0025]请参阅图1，本发明用于测试待测装置的电压骤降的测试方法的一较佳实施例以一测试系统来实施。该测试系统包含一运算装置1、一电源供应器2、一负载仿真器3、一不波器4及一数据库5。
[0026]该运算装置I执行一测试程序13，以产生一组控制指令传送到与该运算装置I电连接的该电源供应器2。在本较佳实施例中，该运算装置I为一计算机，并包括一处理器11及一存储该测试程序13的存储器12。
[0027]该电源供应器2包括一用于进行其与该运算装置I间数据传输的通用接口总线(General Purpose Interface Bus,以下简称GPIB)接口卡21,且该电源供应器2根据该组控制指令，在每一时间区间内，产生一额定电压或骤降电压供应给该待测装置9。该待测装置9再根据该额定电压或骤降电压，产生对应的一响应电压。在本较佳实施例中，该电源供应器2为一多埠输出交流电源供应器，可同时提供多个待测装置9该额定电压或骤降电压。
[0028]该负载仿真器3与该运算装置I及待测装置9电连接，并包括一用于进行与该运算装置I间数据传输的GPIB接口卡31，且该负载仿真器3用于量测该待测装置9在每一时间区间所对应的该响应电压，并将其传送至该运算装置1，在本较佳实施例中，该负载仿真器3为一包括一可变电阻(图未不)的数字电表。
[0029]该示波器4与该运算装置I及待测装置9电连接，并包括一用于做为与该运算装置I间数据传输的GPIB接口卡41，且该示波器4用于量测该待测装置9在每一时间区间所对应的一响应电压波形，并将其传送至该运算装置I。
[0030]该运算装置I还用于判定该待测装置9在每一时间区间所对应的该响应电压是否在一正常响应电压范围内，若判定结果为否，则该运算装置I将对应的一故障信息记录于该数据库5中。其中对应的该故障信息包括在每一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压或骤降电压、该负载仿真器3量测到对应的该响应电压、该示波器4量测到对应的该响应电压波形及该运算装置I对应的一判定故障结果。在本较佳实施例中，该运算装置I也会记录该待测装置9在每一时间区间所对应的该响应电压在该正常响应电压范围内的一通过信息于该数据库5中。其中该通过信息包括在每一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压或骤降电压、该负载仿真器3量测到的对应的该响应电压、该示波器4量测到的对应的该响应电压波形及该运算装置I对应的一判定通过结果。其中，该正常响应电压范围为例如，若该待测装置9的输出电压为24伏特,则该正常响应电压范围即为24伏特的正负10% (即21.6伏特?26.4伏特)。然而，所述的24伏特仅是举例而已，在本发明其他实施例中，该正常响应电压范围可依不同待测装置9变动，并不以本实施例为限。
[0031 ] 该数据库5用于储存每一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压或骤降电压、该负载仿真器3量测到的对应的该响应电压、该示波器4量测到的对应的该响应电压波形及该运算装置I判定的对应的该判定故障结果或判定通过结果。
[0032]在本较佳实施例中，该待测装置9的数目为一。然而，由于该电源供应器2为一多埠输出交流电源供应器，因此，在本发明其他实施例中，也可为多个待测装置9，并依待测装置9的数量对应增加该负载仿真器3的数量。
[0033]参阅图2，对应于本发明的系统，本发明用于测试待测装置的电压骤降的测试方法的较佳实施例为根据IEC61000-4-11此条法规的规范来进行下列步骤。
[0034]如步骤60所示，该运算装置I执行该测试程序13，以产生该组控制指令传送到该电源供应器2。
[0035]接着，如步骤61所示，该测试系统执行一第一测试阶段。
[0036]其中，如步骤610所示，该测试系统进行该第一测试阶段的一第一测试周期。
[0037]参阅图3，进一步描述步骤610的详细流程，如步骤701所示，该电源供应器2根据该组控制指令，在一第一时间区间内，产生一额定电压供应给该待测装置9。接着，如步骤702所示，该待测装置9根据该额定电压，产生一第一响应电压传送至该负载仿真器3及示波器4。接着，如步骤703所示，该负载仿真器3量测该第一响应电压且该示波器4量测对应于该第一响应电压的一第一响应电压波形，并分别将所量测到的该第一响应电压和第一响应电压波形传送至该运算装置I。
[0038]如步骤704所示，该运算装置I判定该第一响应电压是否在一正常响应电压范围内；若是，则继续进行步骤705的处理；否则，继续进行步骤706的处理。
[0039]如步骤705所示，该运算装置I将一第一通过信息记录于该数据库5中，其中该第一通过信息包括在该第一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压、该负载仿真器3量测到的该第一响应电压、该示波器4量测到的该第一响应电压波形及该运算装置I对应的一第一判定通过结果。
[0040]如步骤706所示，该运算装置I将一第一故障信息记录于该数据库5中，其中该第一故障信息包括在该第一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压、该负载仿真器3量测到的该第一响应电压、该示波器4量测到的该第一响应电压波形及该运算装置I对应的一第一判定故障结果。
[0041]如步骤707所示，该电源供应器2根据该组控制指令，在一第二时间区间内，产生一骤降电压供应给该待测装置9，其中该骤降电压小于该额定电压。接着，如步骤708所示，该待测装置9根据该骤降电压，产生一第二响应电压传送至该负载仿真器3及示波器4。接着，如步骤709所示，该负载仿真器3量测该第二响应电压且该示波器4量测对应于该第二响应电压的一第二响应电压波形，并分别将所量测到的该第二响应电压和第二响应电压波形传送至该运算装置I。
[0042]如步骤710所示，该运算装置I判定该第二响应电压是否在一正常响应电压范围内；若是，则继续进行步骤711的处理；否则，继续进行步骤712的处理。
[0043]如步骤711所示，该运算装置I将一第二通过信息记录于该数据库5中，其中该第二通过信息包括在该第二时间区间该电源供应器2所供应的该骤降电压、该负载仿真器3量测到的该第二响应电压、该示波器4量测到的该第二响应电压波形及该运算装置I对应的一第二判定通过结果。
[0044]如步骤712所示，该运算装置I将一第二故障信息记录于该数据库5中，其中该第二故障信息包括在该第二时间区间该电源供应器2所供应的该骤降电压、该负载仿真器3量测到的该第二响应电压、该示波器4量测到的该第二响应电压波形及该运算装置I对应的一第二判定故障结果。
[0045]参阅图2与图3，其中，如步骤611?619所示，该测试系统进行该第一测试阶段的一第二测试周期、一第三测试周期、一第四测试周期、一第五测试周期、一第六测试周期、一第七测试周期、一第八测试周期、一第九测试周期直到一第十测试周期，其中该第二测试周期到该第十测试周期其详细流程类似于该第一测试阶段的该第一测试周期，即执行步骤701?712，所以于此不再重述。值得一提的是，在本较佳实施例中，该第一测试阶段的每一第二时间区间皆为0.5AC周期，而该电源供应器2所提供的电压的频率为50Hz，因此，该第一测试阶段的每一第二时间区间即为10毫秒。然而，所述的50Hz仅用于本较佳实施例而已，在其他实施例中，可依该电源供应器2实际提供的电压频率变动，并不以此为限。此夕卜，该第一测试阶段的每一额定电压及每一骤降电压间的差值与每一额定电压的比值皆为30%。
[0046]接着，如步骤62所示，该测试系统执行一第二测试阶段。
[0047]其中，如步骤620所示，该测试系统进行该第二测试阶段的一第一测试周期。
[0048]参阅图4，进一步描述步骤620的详细流程，如步骤713所示，该电源供应器2根据该组控制指令，在一第一时间区间内，产生一额定电压供应给该待测装置9。接着，如步骤714所示，该待测装置9根据该额定电压，产生一第一响应电压传送至该负载仿真器3及示波器4。接着，如步骤715所示，该负载仿真器3量测该第一响应电压且该示波器4量测对应于该第一响应电压的一第一响应电压波形，并分别将所量测到的该第一响应电压和第一响应电压波形传送至该运算装置I。
[0049]如步骤716所示，该运算装置I判定该第一响应电压是否在一正常响应电压范围内；若是，则继续进行步骤717的处理；否则，继续进行步骤718的处理。
[0050]如步骤717所示，该运算装置I将一第一通过信息记录于该数据库5中，其中该第一通过信息包括在该第一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压、该负载仿真器3量测到的该第一响应电压、该示波器4量测到的该第一响应电压波形及该运算装置I对应的一第一判定通过结果。
[0051]如步骤718所示，该运算装置I将一第一故障信息记录于该数据库5中，其中该第一故障信息包括在该第一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压、该负载仿真器3量测到的该第一响应电压、该示波器4量测到的该第一响应电压波形及该运算装置I对应的一第一判定故障结果。
[0052]如步骤719所示，该电源供应器2根据该组控制指令，在一第二时间区间内，产生一骤降电压供应给该待测装置9，其中该骤降电压小于该额定电压。接着，如步骤720所示，该待测装置9根据该骤降电压，产生一第二响应电压传送至该负载仿真器3及示波器4。接着，如步骤721所示，该负载仿真器3量测该第二响应电压且该示波器4量测对应于该第二响应电压的一第二响应电压波形，并分别将所量测到的该第二响应电压和第二响应电压波形传送至该运算装置I。
[0053]如步骤722所示，该运算装置I判定该第二响应电压是否在一正常响应电压范围内；若是，则继续进行步骤723的处理；否则，继续进行步骤724的处理。
[0054]如步骤723所示，该运算装置I将一第二通过信息记录于该数据库5中，其中该第二通过信息包括在该第二时间区间该电源供应器2所供应的该骤降电压、该负载仿真器3量测到的该第二响应电压、该示波器4量测到的该第二响应电压波形及该运算装置I对应的一第二判定通过结果。
[0055]如步骤724所示，该运算装置I将一第二故障信息记录于该数据库5中，其中该第二故障信息包括在该第二时间区间该电源供应器2所供应的该骤降电压、该负载仿真器3量测到的该第二响应电压、该示波器4量测到的该第二响应电压波形及该运算装置I对应的一第二判定故障结果。
[0056]如步骤725所示，该测试程序13将该第二时间区间增加一固定周期。
[0057]如步骤726所示，该测试程序13判定该第二时间区间是否大于一预设时间；若是，则继续进行步骤727的处理；否则，继续进行步骤713的处理。
[0058]如步骤727所示，该测试程序13将该第二时间区间初始化为一初始时间。
[0059]参阅图2与图4，其中，如步骤621?629所示，该测试系统进行该第二测试阶段的一第二测试周期、一第三测试周期、一第四测试周期、一第五测试周期、一第六测试周期、一第七测试周期、一第八测试周期、一第九测试周期直到一第十测试周期，其中该第二测试周期到该第十测试周期其详细流程类似于该第二测试阶段的该第一测试周期，即执行步骤713?727，所以于此不再重述。其中每一测试周期皆具有多个测试子周期，从步骤713?724即为一测试子周期，每一测试周期中第一次进行步骤713?724即为一第一测试子周期，第二次进行步骤713?724即为一第二测试子周期，依此类推。在本较佳实施例中，该第二测试阶段的每一第一测试子周期的第二时间区间皆为0.5AC周期(即10毫秒)，而该第二测试阶段的每一固定周期皆为0.5AC周期、每一预设时间皆为500毫秒且每一初始时间皆为0.5AC周期，因此，该第二测试阶段的每一测试周期皆具有50个测试子周期(每一第一测试子周期的第二时间区间皆为10毫秒、每一第二测试子周期的第二时间区间皆为20毫秒、每一第三测试子周期的第二时间区间皆为30毫秒、每一第五十测试子周期的第二时间区间皆为500毫秒)，此外，该第二测试阶段的每一额定电压及每一骤降电压间的差值与每一额定电压的比值皆为60%。
[0060]接着，如步骤63所示，该测试系统执行一第三测试阶段。
[0061]其中，如步骤630所示，该测试系统进行该第三测试阶段的一第一测试周期。
[0062]参阅图5，进一步描述步骤630的详细流程，如步骤728所示，该电源供应器2根据该组控制指令，在一第一时间区间内，产生一额定电压供应给该待测装置9。接着，如步骤729所示，该待测装置9根据该额定电压，产生一第一响应电压传送至该负载仿真器3及示波器4。接着，如步骤730所示，该负载仿真器3量测该第一响应电压且该示波器4量测对应于该第一响应电压的一第一响应电压波形，并分别将所量测到的该第一响应电压和第一响应电压波形传送至该运算装置I。
[0063]如步骤731所示，该运算装置I判定该第一响应电压是否在一正常响应电压范围内；若是，则继续进行步骤732的处理；否则，继续进行步骤733的处理。
[0064]如步骤732所示，该运算装置I将一第一通过信息记录于该数据库5中，其中该第一通过信息包括在该第一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压、该负载仿真器3量测到的该第一响应电压、该示波器4量测到的该第一响应电压波形及该运算装置I对应的一第一判定通过结果。
[0065]如步骤733所示，该运算装置I将一第一故障信息记录于该数据库5中，其中该第一故障信息包括在该第一时间区间该电源供应器2所供应的该额定电压、该负载仿真器3量测到的该第一响应电压、该示波器4量测到的该第一响应电压波形及该运算装置I对应的一第一判定故障结果。
[0066]如步骤734所示，该电源供应器2根据该组控制指令，在一第二时间区间内，产生一骤降电压供应给该待测装置9，其中该骤降电压小于该额定电压。接着，如步骤735所示，该待测装置9根据该骤降电压，产生一第二响应电压传送至该负载仿真器3及示波器4。接着，如步骤736所示，该负载仿真器3量测该第二响应电压且该示波器4量测对应于该第二响应电压的一第二响应电压波形，并分别将所量测到的该第二响应电压和第二响应电压波形传送至该运算装置I。
[0067]如步骤737所示，该运算装置I判定该第二响应电压是否在一正常响应电压范围内；若是，则继续进行步骤738的处理；否则，继续进行步骤739的处理。
[0068]如步骤738所示，该运算装置I将一第二通过信息记录于该数据库5中，其中该第二通过信息包括在该第二时间区间该电源供应器2所供应的该骤降电压、该负载仿真器3量测到的该第二响应电压、该示波器4量测到的该第二响应电压波形及该运算装置I对应的一第二判定通过结果。
[0069]如步骤739所示，该运算装置I将一第二故障信息记录于该数据库5中，其中该第二故障信息包括在该第二时间区间该电源供应器2所供应的该骤降电压、该负载仿真器3量测到的该第二响应电压、该示波器4量测到的该第二响应电压波形及该运算装置I对应的一第二判定故障结果。
[0070]如步骤740所示，该测试程序13将该第二时间区间增加一固定周期。
[0071]如步骤741所示，该测试程序13判定该第二时间区间是否大于一预设时间；若是，则继续进行步骤742的处理；否则，继续进行步骤728的处理。
[0072]如步骤742所示，该测试程序13将该第二时间区间初始化为一初始时间。
[0073]参阅图2与图5，其中，如步骤631?639所示，该测试系统进行该第三测试阶段的一第二测试周期、一第三测试周期、一第四测试周期、一第五测试周期、一第六测试周期、一第七测试周期、一第八测试周期、一第九测试周期直到一第十测试周期，其中该第二测试周期到该第十测试周期其详细流程类似于该第三测试阶段的该第一测试周期，即执行步骤728?742，所以于此不再重述。其中每一测试周期皆具有多个测试子周期，从步骤728?739即为一测试子周期，每一测试周期中第一次进行步骤728?739即为一第一测试子周期，第二次进行步骤728?739即为一第二测试子周期，依此类推，在本较佳实施例中，该第三测试阶段的每一第一测试子周期的第二时间区间皆为0.5AC周期(即10毫秒)，而该第三测试阶段的每一固定周期皆为0.5AC周期、每一预设时间皆为5000毫秒且每一初始时间皆为0.5AC周期，因此，该第三测试阶段的每一测试周期皆具有500个测试子周期(每一第一测试子周期的第二时间区间皆为10毫秒、每一第二测试子周期的第二时间区间皆为20毫秒、每一第三测试子周期的第二时间区间皆为30毫秒、每一第五百测试子周期的第二时间区间皆为5000毫秒)。此外，该第三测试阶段的每一额定电压及每一骤降电压间的差值与每一额定电压的比值皆为100%。
[0074]其中，每一测试阶段中的正常响应电压范围为例如该待测装置9的输出电压为24伏特，则该正常响应电压范围即为24伏特的正负10% (即21.6伏特?26.4伏特)。然而，所述的24伏特仅是举例而已，在本发明其他实施例中，可依不同待测装置9变动，并不以本实施例为限。此外，于本较佳实施例中每一测试阶段的第一时间区间皆为3秒，但不以此为限。值得一提的是，由于IEC61000-4-11此条法规并无规定要先测试骤降30%的额定电压或骤降60%的额定电压或骤降100%的额定电压，因此，该第一测试阶段、该第二测试阶段及该第三测试阶段的测试顺序可以视需求而变动，并不以本实施例为限。
[0075]综上所述，本发明用于测试待测装置的电压骤降的测试方法是通过该运算装置I产生该组控制指令使得该电源供应器2在每一时间区间产生该额定电压或骤降电压供应给该待测装置9以达成自动调整的效果，并通过该运算装置I判定每一响应电压是否在该正常响应电压范围内，且将每一故障信息或通过信息记录于该数据库5中，来达成自动记录的目的，所以确实能达成本发明的目的。
[0076]以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即凡依本发明权利要求书及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利的范围。
【权利要求】
1.一种用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于，包含下列步骤: (A)—运算装置执行一测试程序，以产生一组控制指令传送到一电连接于该运算装置的电源供应器； (B)该电源供应器根据该组控制指令，在一第一时间区间内，产生一额定电压供应给一待测装置； (C)该待测装置根据该额定电压，产生一第一响应电压传送至一与该运算装置及待测装置电连接的负载仿真器； (D)该负载仿真器量测该第一响应电压并将其传送至该运算装置； (E)该运算装置判定该第一响应电压是否在一正常响应电压范围内，若判定结果为否，则该运算装置将一第一故障信息记录于一数据库中； (F)该电源供应器根据该组控制指令，在一第二时间区间内，产生一骤降电压供应给该待测装置，其中该骤降电压小于该额定电压； (G)该待测装置根据该骤降电压，产生一第二响应电压传送至该负载仿真器； (H)该负载仿真器量测该第二响应电压并将其传送至该运算装置；以及 (I)该运算装置判定该第二响应电压是否在该正常响应电压范围内，若判定结果为否，则该运算装置将一第二故障信息记录于该数据库中。
2.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该负载仿真器为一包括一可变电阻的数字电表。
3.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该电源供应器及负载仿真器皆包含一通用接口总线接口卡，用于做为该运算装置与该电源供应器及负载仿真器间的数据传输接口卡。
4.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该运算装置为一包括一处理器及一存储该测试程序的存储器的计算机。
5.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该方法还包含，在该(D)步骤中，一与该运算装置及待测装置电连接的示波器量测对应于该第一响应电压的一第一响应电压波形，并将所量测到的第一响应电压波形传送至该运算装置，继而该运算装置将该第一响应电压波形记录于该数据库中。
6.根据权利要求5所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该示波器包括一通用接口总线接口卡，用于做为该运算装置与示波器间的数据传输接口卡。
7.根据权利要求5所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该方法还包含，在该(H)步骤中，该示波器量测对应于该第二响应电压的一第二响应电压波形，并将所量测到的第二响应电压波形传送至该运算装置，继而该运算装置将该第二响应电压波形记录于该数据库中。
8.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该额定电压及该骤降电压间的差值与该额定电压的比值为30%。
9.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该额定电压及该骤降电压间的差值与该额定电压的比值为60%。
10.根据权利要求1所述的用于测试待测装置的电压骤降的测试方法，其特征在于:该额定电压及该骤降电压间的差值与该额定电压的比值为100%。
【文档编号】G01R31/00GK104133088SQ201310159029
【公开日】2014年11月5日 申请日期:2013年5月2日 优先权日:2013年5月2日
【发明者】林显圳, 唐永强 申请人:冠捷投资有限公司