一种具有可伸缩支架的图像分析仪的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种颗粒粒度测量装置，特别涉及一种具有可伸缩支架的图像分析仪，包括：数码摄像机、显微物镜、支架、载物台、工作台、外部计算机，所述数码摄像机设置在所述支架最上端，所述显微物镜设置在所述支架顶端的左侧，所述支架可沿支架伸缩颈上下运动。本发明提供的具有可伸缩支架的图像分析仪，可方便地调节支架纵向高度位置，增加了仪器使用的灵活性。
【专利说明】一种具有可伸缩支架的图像分析仪
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种颗粒粒度测量装置，特别涉及一种具有可伸缩支架的图像分析仪。
【背景技术】
[0002]目前，现有的图像分析仪是从传统显微镜改进而来，图像分析仪的支架基本上是固定的或者是横向可以移动，当需要调整分析仪的纵向高度的位置时则现有的分析仪则不能满足此要求，因此迫切需要提供一种具有可伸缩支架的图像分析仪。
【发明内容】
[0003]本发明旨在解决上述问题，提供一种具有可伸缩支架的图像分析仪。
[0004]为达到上述目的，本发明所采用的技术方案如下:一种具有可伸缩支架的图像分析仪，包括:数码摄像机、显微物镜、支架、载物台、工作台、外部计算机，所述数码摄像机设置在所述支架最上端，所述显微物镜设置在所述支架顶端的左侧，所述支架可沿支架伸缩颈上下运动。
[0005]进一步地，所述支架伸缩颈内部具有一个压缩弹簧。
[0006]进一步地，所述支架伸缩颈具有一卡扣，用于将支架固定在所需的位置。
[0007]进一步地，所述显微物镜具有三种不同放大倍率的物镜，可根据实际测量的样品选择相应的倍率的物镜。
[0008]进一步地，所述支架底端具有一微调装置，通过该装置可手动调整支架在工作台上的位置。
[0009]本发明提供的具有可伸缩支架的图像分析仪，可方便地调节支架纵向高度位置，增加了仪器使用的灵活性。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是本发明分析仪结构示意图
图中1-数码摄像机、2-显微物镜、3-支架、4-载物台、5-微调装置、6-工作台、7-外部计算机、8-支架伸缩颈、9-卡扣。
具体实施例
[0011]下面结合附图对发明做进一步的描述。
[0012]实施例:
如图1，该分析仪由数码摄像机1、显微物镜2、支架3、载物台4、工作台6、外部计算机7组成，数码摄像机1设置在所述支架3最上端，显微物镜2设置在所述支架3顶端的左侧，载物台4设置在所述显微物镜2的下方，使用时，支架3的底端具有一微调装置5，当需要调整支架3在工作台6上的位置时，可手动旋转该微调装置5即可调整支架在工作台6上的位置，当需要调整支架3的纵向高度位置时，可手握支架3，按下卡扣9可将支架3沿支架伸缩颈8上下移动，当支架3调整到所需位置时，再将卡扣9扣合，此时可继续进行试验。本发明提供的具有可伸缩支架的图像分析仪，可方便地调节支架纵向高度位置，增加了仪器使用的灵活性。
[0013]本发明的保护范围并不局限十此，任何熟悉本【技术领域】的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求所界定的保护范围为准。
【权利要求】
1.一种具有可伸缩支架的图像分析仪，包括:数码摄像机、显微物镜、支架、载物台、工作台、外部计算机，所述数码摄像机设置在所述支架最上端，所述显微物镜设置在所述支架顶端的左侧，其特征在于:所述支架可沿支架伸缩颈上下运动。
2.如权利要求1所述的分析仪，其特征在于:所述支架伸缩颈内部具有一个压缩弹簧。
3.如权利要求2所述的分析仪，其特征在于:所述支架伸缩颈具有一卡扣。
4.如权利要求2或3所述的分析仪，其特征在于:所述显微物镜具有三种不同放大倍率的物镜。
5.如权利要求4所述的分析仪，其特征在于:所述支架底端具有一微调装置。
【文档编号】G01N15/02GK104422637SQ201310383634
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2013年8月29日 优先权日:2013年8月29日
【发明者】刘文波 申请人:刘文波