显示面板及其测试方法

显示面板及其测试方法
【专利摘要】一种显示面板及其测试方法，显示面板具有显示区以及周边线路区，且显示面板包括主动组件阵列基板、对向基板以及位于主动组件阵列基板与对向基板之间的显示介质层。主动组件阵列基板包括多条扫描线以及多条数据线、多个像素单元、共享电极层以及多条测试线。扫描线以及数据线交错设置以于显示区中定义出多个像素区域。多个像素单元分别设置于像素区域中，各像素单元与对应的扫描线以及数据线电性连接。共享电极层至少覆盖数据线。测试线设置于显示区中，各测试线至少与数据线重迭，且位于共享电极层与数据线之间。
【专利说明】显示面板及其测试方法【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种面板及其测试方法，且特别是有关于一种显示面板及其测试方法。
【背景技术】 [0002]一般而言，显示面板是由主动组件阵列基板、对向基板以及配置于此两基板之间的显示介质层所构成。其中，在完成主动组件阵列基板的制程后通常会进行电性检测，以确保主动组件阵列在制程过程中没有产生影响显示质量的缺陷。并且，当检测出会影响显示质量的缺陷的情况下，可更进一步的找出发生缺陷的位置并进行修补，如此可提高制程的良率。
[0003]然而，当主动组件阵列基板中的数据线与共享电极发生短路情况时，由于共享电极通常以阵列方式电性相连分布于多条数据在线，因此无法从检测结果判别发生缺陷的位置以进行修补，而增加制程不良损耗的成本。因此，如何在数据线与共享电极发生短路情况下，可正确的判读出发生缺陷的位置，为亟待解决的课题。

【发明内容】

[0004]本发明提供一种显示面板及其测试方法，当数据线与共享电极间发生短路时，可以检测出发生短路位置所对应的扫描线坐标。
[0005]本发明的显示面板，具有显示区以及周边线路区，且显示面板包括主动组件阵列基板、对向基板以及位于主动组件阵列基板与对向基板之间的显示介质层。主动组件阵列基板包括多条扫描线以及多条数据线、多个像素单元、共享电极层以及多条测试线。扫描线以及数据线交错设置以于显示区中定义出多个像素区域。多个像素单元分别设置于像素区域中，各像素单元与对应的扫描线以及数据线电性连接。共享电极层至少覆盖数据线。测试线设置于显示区中，各测试线至少与数据线重迭，且位于共享电极层与数据线之间。
[0006]本发明的显示面板的测试方法，此方法包括提供如上所述的显示面板。输入测试信号至测试线的其中之一。从对应于其中的一条测试线的数据线接收测试结果信号，其中，当测试结果信号为致能时，判断对应于其中的一条测试线的数据线与共享电极层以及位于两者之间的测试线电性连接，进而得知对应于其中的一条测试线的数据线与共享电极层发生短路的位置。
[0007]基于上述，因本发明在共享电极层与数据线之间设置测试线。当数据线与共享电极间发生短路时,可藉由输入测试信号至测试线的其中之一,并同时从对应测试线的数据线接收测试结果信号，其中，当测试结果信号为致能时，则可判断对应测试线的数据线与共享电极层以及位于两者之间的测试线电性连接，并且藉由得知测试线的数据线与共享电极层发生短路的位置，进而判别出发生短路位置所对应的扫描线坐标。
[0008]为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。【专利附图】

【附图说明】
[0009]图1是根据本发明的实施例的显示面板的上视示意图；
图2是图1沿着剖面线1-1’的剖面示意图；
图3是根据本发明的实施例的显示面板数据线与共享电极发生短路的上视示意图；
图4是图3沿着数据线与共享电极发生短路位置的剖面线11-11’的剖面示意图。
[0010]【主要组件符号说明】
Dl:第一方向
D2:第二方向
1-1’:剖面线位置
I1-11’:发生短路的剖面线位置 U:像素区域
10:显示面板
100:主动组件阵列基板
102:显示区
110:基板
112:信号接垫
112a:第一信号接垫
112b:第二信号接垫
120a、120b、120c、120d:扫描线
130a、130b、130c、130d:数据线
140:像素单元
140a:主动组件
140b:像素电极
150:共享电极层
160:测试线
160a:连接部
160b:手指部
160c:测试接垫
170:栅绝缘层
180:第一绝缘层
190:第二绝缘层
200:对向基板
300:显示介质层。
【具体实施方式】
[0011]图1是根据本发明的实施例的显示面板的上视示意图。图2是图1沿着剖面线1-1’的剖面示意图。请同时参照图1及图2,在本实施例中，显示面板10具有显示区102以及周边线路区104，并且包括主动组件阵列基板100、对向基板200以及位于主动组件阵列基板100与对向基板200之间的显示介质层300。
[0012]主动组件阵列基板100包括基板110、多条扫描线120a至120d、多条数据线130a至130d、多个像素单元140、共享电极层150以及多条测试线160。
[0013]详细来说，在主动组件阵列基板100上的显示区102中，各扫描线120a至120d彼此平行且沿第一方向Dl延伸，各数据线130a至130d彼此平行且沿第二方向D2延伸。第一方向Dl不同于第二方向D2，故扫描线120a至120d与数据线130a至130d为彼此交错，且藉由扫描线120a至120d与数据线130a至130d的彼此交错，可将显示区102定义成多个像素区域U。像素区域U中分别对应设置有一个像素单元140。像素单元140至少与扫描线120a至120d的其中的一条以及数据线130a至130d的其中的一条作电性连接。具体而言，像素单元140可包括主动组件140a以及与主动组件140a电性连接的像素电极140b，其中主动组件140a与上述对应的扫描线以及数据线电性连接。上述像素单元140的结构仅为举例说明，本发明不限定像素单元140中主动组件140a以及像素电极140b的数量以及形状，而且也不限定与像素单元140电性连接的扫描线以及数据线的数量。
[0014]共享电极层150配置于所有像素区域U中且是被图案化的。位于各像素区域U中的共享电极层150其例如是具有多个开口以暴露出主动组件140a以及部分的像素电极140b。由于位于相邻像素区域U中的共享电极层150彼此连接，因此至少会有部份的共享电极层150与部份的数据线130a至130d以及部份的扫描线120a至120d重迭。在本实施例中，共享电极层150以及像素电极140b皆配置于同一基板110上，因此显示面板10例如是边际场切换式(Fringe Field Switching, FFS)显示面板。
[0015]测试线160至少与数据线130a至130d重迭，且位于共享电极层150与数据线130a至130d之间。具体而言，测试线160包括多个连接部160a以及连接至连接部160a的多个手指部160b，如图1中所示。连接部160a彼此平行排列且沿第一方向Dl延伸。这些连接部160a沿第二方向D2排列以大致布满整个显示区102，并且与各扫描线120a至120d为平行排列。
[0016]于连接部160a与各数据线130a至130d投影在同一平面上的交迭处，测试线160还自连接部160a沿第二方向D2朝向相邻的连接部160a延伸而形成手指部160b。各手指部160b至少与其中一条数据线130a至130d的部份的重迭。换言之，测试线160的手指部160b位于数据线130c与共享电极层150之间，以使至少部份的共享电极层150与数据线130a至130d重迭。
[0017]在本实施例中，手指部160b与其中一连接部160a连接并往下一个连接部160a延伸且不连接至下一个连接部160a，因此各手指部160b的长度实质上约为一个像素单元140的长度。以另一观点来看，同一条测试线的这些手指部160b与其中一列的像素单元140交替排列，且与这些手指部160b连接的连接部160a与电性连接至上述该列像素单元140的扫描线120a至120d相邻设置，因此，每一条测试线160的坐标会对应其中一条扫描线120a至120b的坐标。
[0018]详细来说，图2是图1沿着剖面线1-1’的剖面示意图。请参照图2，于基板110依序配置有栅绝缘层170、数据线130c、第一绝缘层180、测试线160的手指部160b、第二绝缘层190以及共享电极层150。测试线160的手指部160b位于数据线130c与共享电极层150之间，并且手指部160b与数据线130c间夹有第一绝缘层180，手指部160b与共享电极层150之间夹有第二绝缘层190。因此，在一般情况下，手指部160b、数据线130c以及共享电极层150为彼此电性独立的状态。
[0019]在本实施例中，主动组件阵列基板100上的周边线路区104可区分为驱动组件设置区104a以及测试组件设置区104b。驱动组件设置区104a以及测试组件设置区104b分别位于显示区102的相对两侧，但并不限定于此，亦可位于显示区102的相同一侧。以下为方便描述，将只针对驱动组件设置区104a以及测试组件设置区104b分别位于显示区102的相对两侧的情况举例说明。
[0020]如图1所示，测试组件设置区104b中配置有多个测试接垫160c。每一个测试接垫160c分别与对应的其中一个连接部160a电性连接。在此，由于每一个测试接垫160c皆具有相同功能，因此用相同符号160c代表表示。在一般非检测的情况下，测试线160为电性浮置状态，无连接至其它信号输入装置，但并不限定于此，亦可将测试线160设计为在非检测的情况下具有固定信号。以下为方便描述，将只针对测试线160为电性浮置的情况举例说明。
[0021]主动组件阵列基板100上的周边线路区104还配置有多个信号接垫112。信号接垫112可区分为串接奇数条数据线130a与130c的第一信号接垫112a，以及串接偶数条数据线130b与130d的第二信号接垫112b，但信号接垫的串接方法与数量并不限定于此。如图1所示，信号接垫112与数据线130a至130d可以为不同膜层，以利彼此间的跨接需求，并且，信号接垫112分别与对应的数据线130a至130d电性连接。
[0022]当主动组件阵列基板100制作完成后，通常会开始进行电性检测程序，检测方法将依图1的主动组件阵列基板100举例说明。请参照图1以及图2，可将测试信号分别输入各测试接垫160c，并且由信号接垫112检测是否有信号输出，但测试信号的传输方法并不限定于此。也可以是将测试信号分别输入各信号接垫112，并且由各测试接垫160c检测是否有信号输出。为方便描述，以下以将测试信号由输入各测试接垫160c，并且由信号接垫112接收信号的方式举例说明。
[0023]举例来说，图3是根据本发明实施例的显示面板中，数据线与共享电极发生短路的上视示意图。图4是图3沿着剖面线11-11’的剖面示意图。请同时参照图3及图4，数据线130a与共享电极层150之间发生短路，其短路位置如图3中所示11-11’的位置。此时，数据线130a与共享电极层150之间发生短路，亦即夹于数据线130a与共享电极层150之间的绝缘层180与190已被破坏，使得数据线130a与共享电极层150电性相连。而且，配置于在数据线130a与共享电极层150之间的测试线160的手指部160b亦与数据线130a以及共享电极层150电性相连。
[0024]对测试接垫160c依序输入测试信号，并且同时于信号接垫112接收检测信号。举例而言，当对第一条测试线160 (对应至扫描线120a)输入测试信号时，可由数据线130a接收到测试结果信号，此时测试结果信号为不致能(例如没有从对应的第一信号接垫112a接收到电流信号)，因此可以得知与扫描线120a连接的该些像素单元140所对应的数据线130a至130d的部分，并无短路情况发生。
[0025]当对第三条测试线160 (对应至扫描线120c)输入测试信号时，可由数据线130a接收到测试结果信号，此时测试结讯信号为致能(例如从对应的第一信号接垫112a接收到电流信号)，因此可以判断出第三条测试线160的手指部160b与数据线130a以及共享电极层150电性相连，因此可以得知短路发生位置的测试线160的坐标，并进而得知其所对应的扫描线120c的坐标。换言之，可以得知与扫描线120c连接的该些像素单元140所对应的数据线130a至130d的部分有短路情况发生。
[0026]接着,例如可以再透过单元短路杆(Cell shorting bar, CST)的设计进行目视检查，即可得知发现短路的数据线130a的坐标，因此可藉上述检测方法精确的判别出发生短路的扫描线120c与数据线130a的坐标。
[0027]综上所述，在本发明显示面板中的主动组件阵列基板上对应每一条扫描线的像素单元中，在数据线与共享电极层的结构位置间重迭设置一测试线的手指部，并且利用测试线的连接部沿平行扫描线的方向相互串接，各测试线于非显示区域中分别电性连接一测试接垫，而各数据线亦于非显示区域中串接于信号接垫。由此可知，当完成主动组件阵列制作完成后欲进行电性检测，可于各测试接垫分别输入一测试信号，并且于信号接垫检测是否接收到信号。据此，当主动组件阵列基板中的数据线与共享电极发生短路的情况下，可精确的判别出发生短路的扫描线坐标，藉此可方便进行修补并提高制程的良率。
【权利要求】
1.一种显示面板，具有显示区以及周边线路区，该显示面板包括: 主动组件阵列基板，包括: 多条扫描线以及多条数据线，交错设置以于该显示区中定义出多个像素区域； 多个像素单元，分别设置于该些像素区域中，各该像素单元与对应的该扫描线以及该数据线电性连接； 共享电极层，至少覆盖该些数据线；以及 多条测试线，设置于该显示区中，各该测试线至少与该些数据线重迭，且位于该共享电极层与该些数据线之间； 对向基板，与该主动组件阵列基板对向设置；以及 显示介质层，设置于该主动组件阵列基板与该对向基板之间。
2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，各该测试线包括连接部以及连接至该连接部的多个手指部，各该手指部与该些数据线的其中一条重迭。
3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，该连接部的延伸方向与该扫描线的延伸方向平行。
4.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，各该手指部的长度实质上为一个像素单元的长度。
5.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些测试线为电性浮置。
6.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该些测试线与该共享电极层之间夹有第一绝缘层，且该些测试线与该些数据线之间夹有第二绝缘层。
7.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，该周边线路区包括位于该显示区的不同侧的驱动组件设置区以及测试组件设置区，且该显示面板还包括多个测试接垫，设置于该测试组件设置区，各该测试线从该显示区延伸至该测试组件设置区以电性连接至其中一个测试接垫。
8.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括多条汇流线以及多个信号接垫，设置于该周边线路区中，各该汇流线电性连接至其中一个信号接垫，其中该些数据线分别电性连接至其中一条汇流线。
9.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括: 提供显示面板，具有显示区以及周边线路区，该显示面板包括: 主动组件阵列基板，包括: 多条扫描线以及多条数据线，交错设置以于该显示区中定义出多个像素区域； 多个像素单元，分别设置于该些像素区域中，各该像素单元与对应的该扫描线以及该数据线电性连接； 共享电极层，至少覆盖该些数据线；以及 多条测试线，设置于该显示区中，各该测试线至少与该些数据线重迭，且位于该共享电极层与该些数据线之间； 对向基板，与该主动组件阵列基板对向设置；以及 显示介质层，设置于该主动组件阵列基板与该对向基板之间； 输入测试信号至该些测试线的其中之一； 从对应于该其中的一条测试线的该数据线接收测试结果信号，其中，当该测试结果信号为致能时，判断对应于该其中的一条测试线的该数据线与该共享电极层以及位于两者之间的该测试线电性连接，进而得知对应于该其中的一条测试线的该数据线与该共享电极层发生短路的位置。
10.如权利要求9所述的显示面板的测试方法，其特征在于，各该测试线包括连接部以及连接至该连接部的多个手指部，各该手指部与该些数据线的其中一重迭，且该连接部的延伸方向与该扫描线的延伸方向平行，所述的显示面板的测试方法还包括: 输入该测试信号至该其中的一条测试线的该连接部； 从对应于该其中的一条测试线的该数据线接收该测试结果信号，其中，当该测试结果信号为致能时，判断对应于该其中的一条测试线的该数据线与该共享电极层以及位于两者之间的该测试线的该数据线连接，进而得知对应于该其中的一条测试线的该数据线与该共享电极层发生短 路的位置。
【文档编号】G01R31/02GK103617772SQ201310559525
【公开日】2014年3月5日 申请日期:2013年11月12日 优先权日:2013年11月12日
【发明者】许汉东 申请人:华映视讯（吴江）有限公司, 中华映管股份有限公司