对设备进行老化检测的装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种对设备进行老化检测的装置。包括：被老化设备、衰减器、数据处理单元及同轴电缆，所述数据处理单元通过所述同轴电缆和所述衰减器连接，所述衰减器通过所述同轴电缆和所述被老化设备连接，所述被老化设备向所述衰减器发送射频信号，该射频信号通过所述数据处理单元处理后通过所述同轴电缆向所述衰减器、被老化设备返回射频信号。本实用新型实现了对ETC路侧单元的发射和接收链路的同时老化，传输方式由辐射改成了同轴电缆传输，排除微波辐射带来的不可控性，还可以筛查出发射功率和接收灵敏度不合格的产品。
【专利说明】对设备进行老化检测的装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于老化检测装置领域，特别是应用于智能交通不停车收费系统的路侧单元生产过程中的一种对设备进行老化检测的装置。
【背景技术】
[0002]目前，我国很多省市都建设了高速公路电子不停车收费系统ETC(Electr0niCToll Collection)。ETC 系统是由 RSU (路侧单元，Roadside Unit)和 0BU (车载单元，On-Board Unit)通过无线通信的方式实现计费交易的，通信协议采用专用短程通信DSRC(Dedicated Short Range Communication,)协议。ETC系统是适用于高速公路以及交通繁忙的桥梁隧道环境下的车辆收费解决方案。0BU (On-Board Unit,车载单元)是ETC系统的标准配件，用于安装在车辆的前挡风玻璃上，路侧单元(RSU，R0adside Unit)安置在收费车道上，当车辆通过ETC车道时，0BU与路侧单元(RSU，Roadside Unit)等设备通讯，不需停车即可完成ETC收费，从而提高汽车通行速度，有效解决交通堵塞问题。
[0003]老化检测是针对电子产品进行测试，检测产品的可靠性、稳定性等，让设备在出厂前进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，可检查出不良品或残缺件，避免设备在使用早期发生故障，剔除早期失效和稳定性差的产品，为客户提供合格的产品，从而保证产品使用的可靠性。老化检测是各个生产企业提高产品质量，树立企业形象、提高企业竞争力的重要途径之一，老化检测试验装置为迅速找出问题并解决问题提供了有效的技术手段，充分提高了产品质量，资源利用效率及产品的品质。对于RSU设备而言其工作环境相当恶略，因此需要对其应用过程中各个环节都要测试到，包括发射链路、接收链路、混频器、频率源等。现有技术中的一种对设备进行老化的方法为:将被老化设备置于高温实验箱内来模拟真实环境，并以微波辐射的方式对被老化设备进行老化检测。
[0004]上述现有技术中的老化检测缺点为:该方法是通过模拟真实环境进行检测，并没有让被老化设备进行信号发射和接收测试，只通过对被老化设备的工件环境进行模拟测试这样的测试是不精确的，存在着很大的不可控性，而且不能验证RSU的最大发射功率、灵敏度、频点切换、帧头射频处理等全部射频指标。
实用新型内容
[0005]本实用新型的主要目的是提供了一种对设备进行老化检测的装置，以实现对设备进行有效的老化检测。
[0006]为了达到上述的目的，本实用新型提供了一种老化检测设备，包括:被老化设备、衰减器、数据处理单元及同轴电缆，所述数据处理单元通过所述同轴电缆和所述衰减器连接，所述衰减器通过所述同轴电缆和所述被老化设备连接，所述被老化设备向所述衰减器发送射频信号，该射频信号通过所述数据处理单元处理后通过所述同轴电缆向所述衰减器、被老化设备返回射频信号。
[0007]所述数据处理单元包括微处理器、RF接收电路、RF发射电路、射频插接头和电源，该RF接收电路的一端通过线路和微处理器连接，另一端通过线路和射频插接头连接,该RF发射电路的一端通过线路和微处理器连接，另一端通过同通过线路和射频插接头连接，所述电源分别对所述RF接收电路、所述RF发射电路和所述微处理器进行供电。
[0008]所述微处理器包含解码器和信号处理器，所述解码器和信号处理器互相连接，所述解码器对接收到的进行解码，信号处理器根据解码后的信号进行编码封装再发送给RF发射电路。
[0009]所述RF接收电路包含RF信号接收单元、混频器、中频滤波器和对数检波器，所述RF信号接收单元和混频器、中频滤波器和对数检波器互相连接。
[0010]所述RF发射电路包含频率源、RF信号放大电器，所述频率源与RF信号放大电器互相连接。
[0011]所述微处理器为精简指令集处理器。
[0012]所述被老化设备放置于高温老化箱中。
[0013]所述被老化设备还通过串口连接控制器，该控制器控制所述被老化设备安装最大功率发射所述射频信号。
[0014]所述设备应用于ETC路侧单元。
[0015]所述数据处理单元设置在PCB板上。
[0016]由上述本实用新型的实施例提供的技术方案可以看出，本实用新型实施例真实进行了 RSU在实际使用过程中的全部功能，实现了接收链路和发射链路的同时老化，而且将通信过程中微波辐射通信改变成了同轴电缆传导通讯，通过衰减器进行功率匹配，可以将被老化设备置于老化试验箱内进行老化并且老化过程中可以模拟与0BU交易的过程。
【专利附图】
【附图说明】
[0017]图1为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置的结构框图，图中，数据处理单元110，衰减器120，被老化设备130，同轴电缆140和控制器150 ；
[0018]图2为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元结构图示意图，图中，射频接插头111，RF接收电路112，微处理器113，RF发射电路114 ；
[0019]图3为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元中的RF接收电路结构示意图，图中，RF信号接收单元1120、混频器1121、中频滤波器1122和对数检波器1123 ;
[0020]图4为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元中的微处理器结构示意图，图中，接收单元1130，解码器1131，信号处理器1132和发送处理单元1133 ；
[0021]图5为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元中的RF发射电路结构示意图，图中，频率源1140、RF信号放大电器1141。
【具体实施方式】
[0022]为便于对本实用新型实施例的理解，下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明，且各个实施例并不构成对本实用新型实施例的限定。
[0023]图1为本实用新型实施例提供的一种对设备进行老化检测的装置的结构示意图，如图1所示，所述装置包括微处理器、数据处理单元、衰减器、同轴电缆、被老化设备、控制器。所述数据处理单元通过所述同轴电缆和所述衰减器连接，所述衰减器通过所述同轴电缆和所述被老化设备连接，所述被老化设备放置于高温老化箱中，所述被老化设备还通过所述同轴电缆连接控制器，该控制器控制所述被老化设备按照最大功率发送射频信号。通过控制器向老化箱内的被老化设备发送指令，所述被老化设备不间断的向所述衰减器依照顺序发送帧号为1至100的长帧数据的射频信号，经过衰减器后，该射频信号通过所述数据处理单元进行数据处理后向所述衰减器返回射频信号，并在相同路径上以最大功率发射至被老化测试设备，所述被老化设备在灵敏度边界接收并且判断帧号，发射和接收的过程中，频率源5830频点始终切换。所述装置应用于电子不停车收费ETC路侧单元。
[0024]这项测试验证了被老化设备的最大发射功率、灵敏度、频点切换、帧头射频处理等全部射频指标，真实进行了被老化设备在实际使用过程中的全部功能，通过控制器端软件统计通信的成功率。所有的测试项都在高温条件下进行，测试过程完全可控，提高了老化测试的，提高了测试效率，保证了在高温时射频模块通信性能稳定可靠。
[0025]图2为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元的结构示意图，所述数据处理单元包含微处理器、RF接收电路、RF发射电路、射频接插头和电源，所述数据处理单元设置在PCB板上，所述微处理器通过PCB板上的线路和RF接收电路、RF发射电路相互连接，所述RF接收电路和RF发射电路分别通过PCB板上的线路和射频接插头连收，所述电源分别对所述RF接收电路、所述RF发射电路和所述微处理器进行供电，所述数据处理单元中的RF发射电路和所述被老化设备中的发射链路相同、数据处理单元中的RF接收电路和所述被老化设备中的接收链路相同。
[0026]图3为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元中的RF接收电路结构示意图，所述RF接收电路包含RF信号接收单元、混频器、中频滤波器，所述混频器和RF信号接收单元、中频滤波器互相连接，所述RF信号接收单元通过射频插接头接收射频信号，射频信号通过混频器后成为中频信号，再通过中频滤波器对信号进行滤波，然后送入对数检波器还原成数字信号。
[0027]图4为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元中的微处理器结构示意图，所述微处理器包含信号接收单元、解码器、信号处理器和发送处理单元，所述解码器和信号处理器互相连接，所述信号接收单元接收RF接收电路内的数字信号，所述解码器对信号接收单元接收到的数字信号进行解码，信号处理器对解码器解码后的数字信号进行编码封装，再通过所述发送处理单元将数字信号发送给RF发射电路，所述微处理器为精简指令集处理器，所述精简指令集处理器为ARM7X256处理器。
[0028]本领域技术人员应能理解上述精简指令集处理器的应用类型仅为举例，其他现有的或今后可能出现的微处理器应用类型如可适用于本实用新型实施例，也应包含在本实用新型保护范围以内，并在此以引用方式包含于此。
[0029]图5为本实用新型实施例提供的一种设备进行老化检测的装置中的数据处理单元中的RF发射电路结构示意图，所述RF发射电路包含频率源、RF信号放大器，所述频率源将微处理器发送过来的数字信号进行混频，将数字信号频率搬移到5.8G射频信号，然后通过RF信号放大电器将信号功率放大，再将射频信号发出。
[0030]综上所述，本实用新型实施例通过让被老化设备进行真实的信号发射和信号接收，实现了被老化设备的接收链路和发射链路的同时老化测试，而且将通信过程中微波辐射通信改变成了同轴电缆传导通讯，通过衰减器进行功率匹配，测试过程完全可控，提高了老化测试的，提高了测试效率。
[0031]本实用新型实施例通过将被老化设备置于老化试验箱内进行老化并且老化过程中可以模拟与0BU交易的过程，能验证RSU的最大发射功率、灵敏度、频点切换、帧头射频处理等全部射频指标。
[0032]本领域普通技术人员可以理解:附图只是一个实施例的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本实用新型所必须的。
[0033]本领域普通技术人员可以理解:实施例中的装置中的部件可以按照实施例描述分布于实施例的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的部件可以合并为一个部件，也可以进一步拆分成多个子部件。
[0034]以上所述，仅为本实用新型较佳的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本【技术领域】的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
【权利要求】
1.一种对设备进行老化检测的装置，其特征在于，包括:被老化设备、衰减器、数据处理单元及同轴电缆，所述数据处理单元通过所述同轴电缆和所述衰减器连接，所述衰减器通过所述同轴电缆和所述被老化设备连接，所述被老化设备向所述衰减器发送射频信号，该射频信号通过所述数据处理单元处理后通过所述同轴电缆向所述衰减器、被老化设备返回射频信号。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于:所述数据处理单元包括微处理器、RF接收电路、RF发射电路、射频插接头和电源，该RF接收电路的一端通过线路和微处理器连接，另一端通过线路和射频插接头连接，该RF发射电路的一端通过线路和微处理器连接，另一端通过同通过线路和射频插接头连接，所述电源分别对所述RF接收电路、所述RF发射电路和所述微处理器进行供电。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于:所述微处理器包含解码器和信号处理器，所述解码器和信号处理器互相连接，所述解码器对接收到的进行解码，信号处理器根据解码后的信号进行编码封装再发送给RF发射电路。
4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述RF接收电路包含RF信号接收单元、混频器、中频滤波器和对数检波器，所述RF信号接收单元和混频器、中频滤波器和对数检波器互相连接。
5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述RF发射电路包含频率源、RF信号放大电器，所述频率源与RF信号放大电器互相连接。
6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述微处理器为精简指令集处理器。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述被老化设备放置于高温老化箱中。
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述被老化设备还通过串口连接控制器，该控制器控制所述被老化设备安装最大功率发射所述射频信号。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述被老化设备应用于ETC路侧单元。
10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元设置在PCB板上。
【文档编号】G01R31/00GK203479924SQ201320444848
【公开日】2014年3月12日 申请日期:2013年7月24日 优先权日:2013年7月24日
【发明者】任丛林, 王波 申请人:航天信息股份有限公司