通用型光电耦合器检测电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种光电耦合器故障判断检测电路。由供电电池、带锁活动插座，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成；输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5；转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成，本实用新型独立供电，可单独使用，便于携带，实用方便、电路结构简单，测试精确且兼容性高。
【专利说明】通用型光电耦合器检测电路
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测试领域，特别是一种光电耦合器故障判断检测电路。
【背景技术】
[0002]光电耦合器作为电路隔离器件，起到信号隔离、耦合传输作用已经在家用电器、变频器等工业生产各领域得到了广泛的应用。若上述应用了光电耦合器的电子设备发生故障时，测试人员在故障诊断过程中，常常需要判断光电耦合器的好坏，常见的方法是利用两块万用表测试，一块万用表用R*1测量光电耦合器输入端，另一个万用表用R*100测量光电耦合器输出端，当输入端导通时，输出端万用表的指针有摆动，则判断光电耦合器正常，这种测试方式不准确，容易误判，影响测试效率。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种高效、成本低且精确判定的光电耦合器测试装置。
[0004]本实用新型采用如下技术方案:由供电电池U1、带锁活动插座1C，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻Rl与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5 ;所述的转换开关电路由开关KO、开关Kl、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。
[0005]进一步的，所述的供电电池Ul采用9V可充电电池。
[0006]进一步的,所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
[0007]本实用新型的积极技术效果:本实用新型采用供电电池独立供电，可以单独使用，便于携带，使用方便。将待测光电耦合器插入带锁活动插座，调整可调电阻阻值，根据对应发光二极管亮度变化来判断光电耦合器是否损坏，测量准确。利用转换开关电路，一通道、二通道、三通道及四通道光电耦合器均可在本实用新型上进行故障测试，兼容性高。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]附图1为本实用新型电路原理图。
【具体实施方式】
[0009]如附图1所示，本实用新型由供电电池U1、带锁活动插座1C，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；分压限流电路由电阻Rl与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成组成，均压电阻R6在进行测试多通道光电耦合器时起到均衡多通道内的多只发光二极管上所加的电压。输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5 ;转换开关电路由开关KO、开关Kl、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。供电电池Ul采用9V可充电电池，不仅实现电源独立，可单独使用，便于携带，而且电池可循环使用，绿色环保。带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
[0010]测试时，调整可调电阻Rp的阻值可改变A点电压，供被测光耦芯片内发光二极管的亮度调整，对应光电耦合器内部光敏晶体管的阻值发生变化，从而导致发光二极管LEDfLED4亮度发生变化。将可调电阻Rp逐步减小，对应输出的发光二极管逐步变亮，以判断其光电耦合器是否损坏。
[0011]实际测试中，根据光电耦合器型号选择转换开关电路的相应开关闭合或关断，进行性能测试。
[0012]在十六脚带锁活动插座内放入TLP621或TLP6214等系列单路或四路光电耦合器，并锁紧，开关KO闭合，开关Kl和开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d不动作，逐步调整可调电阻Rp由大到小，此时A点电压逐渐增大。对应发光二极管LEDl或LED1?LED4将由灭逐步到全亮。反之逐步调整可调电阻Rp由小到大，对应发光二极管LEDl或发光二极管LEDf LED4由全亮到灭，判定被测光电耦合器无故障，正常工作。
[0013]对四通道光电耦合器测试时，若发光二极管LEDl或发光二极管LEDfLED4不亮、部分发光二极管不亮，则被测光电耦合器损坏或部分损坏。
[0014]对于如4N35等系列高速光电耦合器进行测试时，可采用以下两种方式测试。
[0015]测试方式(一):开关K O闭合,开关Kl断开,开K2a和开关K2c闭合,开关K2b和开关K2d断开。然后调整可调电阻Rp由大逐步减小，此时A点逐渐增大，发光二极管LEDl由灭到最亮，反之由最亮到灭，普通功能测试结束。若不亮或亮度不可调，该光电耦合器芯片损坏。
[0016]测试方式(二):对于高速光电耦合器测试，开关K O闭合，开关Kl闭合，开关K2a和开关K2c闭合，开关K2b和开关K2d断开，调整可调电阻Rp由大到小或反之，发光二极管LEDl恒亮，高速功能测试好结束。若不亮，该光电耦合器芯片损坏。
【权利要求】
1.通用型光电耦合器检测电路，其特征在于:由供电电池U1、带锁活动插座1C，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻Rl与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LEDl、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5 ;所述的转换开关电路由开关KO、开关Kl、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。
2.根据权利要求1所述的通用型光电耦合器检测电路，其特征在于所述的供电电池Ul采用9V可充电电池。
3.根据权利要求1所述的通用型光电耦合器检测电路，其特征在于所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
【文档编号】G01R31/00GK203455432SQ201320602907
【公开日】2014年2月26日 申请日期:2013年9月27日 优先权日:2013年9月27日
【发明者】李朋泽 申请人:李朋泽