一种带有记录探针使用次数的ict测试治具的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种带有记录探针使用次数的ICT测试治具，包括组合探针、导通开关、信号处理系统、显示屏及计数器。所述计数器能准确进行次数记录，所述组合探针与所述导通开关分别位于该ICT测试治具的底座上表面及载板下表面，所述组合探针与导通开关每接触导通一次，则所述信号处理系统进行一次计数，最终计数结果通过所述显示屏显示出来。本案所提供的该种带有计数器的ICT测试治具能准确记录探针的使用次数，实现了探针在使用寿命内的最大利用率，操作者可直观的看到使用次数，便于维护，且实用性强。
【专利说明】一种带有记录探针使用次数的ICT测试治具
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试治具，特别涉及一种能够记录治具中探针使用次数的ICT测试治具。
【背景技术】
[0002]随着科学技术的不断发展，电子产品越来越多的改变着人们的生活，为了保证电子产品的质量及性能，其重要部件电路板的检测逐渐被重视起来。目前电路板检测多采用在线ICT (In Circuit Tester)测试仪，ICT测试仪包括测试机台及测试治具,测试治具通过与测试机台相连实现测试过程的运作及数据智能化输出，测试治具上设置的探针是检测的核心部件，通过探针与电路板上焊点的接触实现信号的反馈，所述探针内部设有弹簧作为探针与电路板焊点接触时的缓冲机构，实验证明，探针经十万次的接触压缩后其内部弹簧易出现弹性疲劳现象，而导致所述探针弹性缓冲差，如此在检测过程中可能会出现损坏电路板或检测结果不正确引发的操作事故等现象，因此当检测治具中探针与电路板接触抵顶到十万次时，需进行更换，现阶段，对于治具中探针与电路板接触的次数是通过计算治具的使用时间和频次粗略得出的，而通常治具中固定探针的针板会根据需要进行更换，如此若仅考虑治具的使用时间和频次则不够准确。
[0003]基于以上所述，一种用于记录探针使用次数的ICT测试治具的开发很有必要性。
【发明内容】
[0004]针对上述所提出的问题，本实用新型提供一种带有记录探针使用次数的ICT测试治具，通过设于该治具上的一套计数器进行次数记录，实现对于探针使用次数的即时监控，以避免因探针使用次数超标而造成的检测不准确或损伤待测电路板等不良影响。
[0005]本实用新型提供的ICT测试治具包括组合探针、导通开关、信号处理系统、显示屏及计数器。所述计数器能准确进行次数记录；所述组合探针竖直地设于针板上，所述组合探针由两个相邻的探针组成，所述组合探针尾端连有导线；所述导通开关位于所述组合探针正上方，为一固设于载板下表面的金属螺杆，所述金属螺杆头部朝向所述组合探针一侧；所述信号处理系统与所述导线相连；计数器，所述计数器与所述信号处理系统电连；显示屏，所述显示屏与所述计数器电连；其中，当所述组合探针顶端与金属螺杆头部接触，电路导通。
[0006]优选地，所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其中，所述组合探针顶端与所述金属螺杆头部之间的距离等于所述探针顶端到电路板焊点的距离；所述组合探针顶端与所述金属螺杆头部之间的距离小于等于所述载板向下运行的距离。
[0007]优选地，所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其中，所述信号处理系统及所述显示屏分别与电源相连。
[0008]优选地，所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其中，所述显示屏为IXD显示屏或CRT显示屏。[0009]优选地，所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其中，所述组合探针与所述导通开关进行接触或分离运动。
[0010]本实用新型提供的带有记录探针使用次数的ICT测试治具能准确记录探针的使用次数，实现了探针在使用寿命内的最大利用率；另外，操作者可直观的看到使用次数，便于维护，实用性强。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型提供的一实施例的带有记录探针使用次数的ICT测试治具的结构示意图。
[0012]其中，1 一组合探针；2—导通开关；3—彳目号处理系统；4一显不屏；5—底座；6—载板；7—弹簧。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
[0014]请参照图1，为本实用新型一实施例的带有记录探针使用次数的ICT测试治具结构示意图，该ICT测试治具包括组合探针1、导通开关2、信号处理系统3、显示屏4及计数器，其中，所述组合探针I竖直地设于底座5上表面，所述组合探针I由两个相邻的探针组成，所述组合探针I尾端连有导线；所述导通开关2位于所述组合探针I正上方，所述导通开关2为一固设于载板6下表面的金属螺杆，所述金属螺杆头部朝向所述组合探针I 一侧；所述信号处理系统3与所述导线相连；所述计数器与所述信号处理系统3电连；所述显示屏4与所述计数器电连；其中，当所述组合探针I顶端与金属螺杆头部接触，电路导通，计数器进行一次计数。
[0015]本实用新型中，
[0016]组合探针I及导通开关2均采用导电性良好的材料，所述针板、载板6均采用绝缘性能良好的材料。
[0017]本实用新型提供的带有记录探针使用次数的ICT测试治具工作过程是:将测试治具的天板与ICT测试仪机台蜂巢板用夹子夹住，将测试治具天板上的牛角与机台上信号控制装置相连，将测试治具底座5上的牛角与机台上信号控制装置相连，所述显示屏4及信号处理系统3均通过导线与测试治具底座5上牛角相连，所述显示屏4位于底座5侧壁，所述信号处理系统3位于底座5内，所述针板卡放于底座5上，开启机台上启动按钮，所述机台驱动天板向下运动，压所述载板6使载板6向下运动，载板6与针板间的弹簧7收缩，所述针板上探针从载板6通孔探出，与电路板焊点接触，所述组合探针I顶端与导通开关2接触，电路导通，信号处理系统3接收信号并将处理信号发送至显示屏4，显示屏4显示探针使用次数增加一次。
[0018]本实用新型为防止一组组合探针I与导通开关2接触不良造成计数不准确，可于针板与载板6间设置多组组合探针I与导通开关2，此时多个组合探针I连接于同一信号处理系统3上，如此既避免了因接触不良造成的漏计等情况，又不会因多股电路同时连通而导致重复计数。[0019]尽管本实用新型的实施方案已公开如上，但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
【权利要求】
1.一种带有记录探针使用次数的ICT测试治具，所述ICT测试治具包括组合探针、导通开关、信号处理系统、显示屏及计数器，其特征在于， 组合探针，竖直地设于底座上表面，所述组合探针由两个相邻的探针组成，所述组合探针尾端连有导线； 导通开关，位于所述组合探针正上方，为一固设于载板下表面的金属螺杆，所述金属螺杆头部朝向所述组合探针一侧； 信号处理系统，所述信号处理系统与所述导线相连； 计数器，所述计数器与所述信号处理系统电连； 显示屏，所述显示屏与所述计数器电连； 其中，当所述组合探针顶端与金属螺杆头部接触，电路导通。
2.根据权利要求1所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其特征在于，所述组合探针顶端与所述金属螺杆头部之间的距离等于所述探针顶端到电路板焊点的距离；所述组合探针顶端与所述金属螺杆头部之间的距离小于等于所述载板向下运行的距离。
3.根据权利要求1所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其特征在于，所述信号处理系统及所述显示屏分别与电源相连。
4.根据权利要求1所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其特征在于，所述显示屏为IXD显示屏或CRT显示屏。
5.根据权利要求1所述的带有记录探针使用次数的ICT测试治具，其特征在于，所述组合探针与所述导通开关进行接触或分离运动。
【文档编号】G01R1/073GK203759196SQ201320855255
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2013年12月23日 优先权日:2013年12月23日
【发明者】周荣, 张连宝, 沈苏毅, 谢坚峰, 谌清平, 孔增鑫 申请人:苏州路之遥科技股份有限公司