雷达网基于交叉定位点聚类的集中式与分布式压制干扰鉴别方法
【专利摘要】本发明公开了一种雷达网基于交叉定位点聚类的集中式与分布式压制干扰鉴别方法，属于雷达组网抗干扰【技术领域】。集中式与分布式压制干扰是对雷达网威胁较大的两种干扰类型，当存在两部集中式压制干扰机时，如何鉴别这两种干扰是目前的难题，本发明即立足于解决该问题。主要包括以下步骤：(一)将三部2D组网雷达获得的干扰源方位角量测输入数据融合中心计算机；(二)构造方位线的解析方程；(三)求解各个方位线相交所得的交叉定位点；(四)采用相似性阈值和最小距离原则进行聚类分析；(五)根据聚类结果进行干扰类型鉴别。本发明解决了将两部集中式压制干扰机误判为分布式干扰的问题，正确鉴别率高、工程实现容易，推广应用前景较好。
【专利说明】雷达网基于交叉定位点聚类的集中式与分布式压制干扰鉴别方法
一、【技术领域】
[0001]本发明隶属于雷达网抗干扰【技术领域】，适用于2D雷达组网对集中式或分布式压制干扰的鉴别。
二、【背景技术】
[0002]随着现代战争中电子对抗的愈加激烈，雷达的生存环境变得十分恶劣，与单部雷达相比，雷达网具有较强的“四抗能力”，但同时应运而生的是针对雷达网的各种干扰技术，其中集中式压制干 扰与分布式压制干扰是较为常用且对雷达网威胁较大的两类干扰，由于两种干扰的产生机理和干扰效果不同，因此采取的抗干扰措施会有很大的区别，鉴于此，需要对这两种干扰类型进行鉴别。目前典型的鉴别方法是“基于空间距离差的分布式干扰鉴别方法”，这种方法主要由以下3个步骤实现:
[0003](I)根据雷达网中各雷达获得的干扰源方位角信息计算方位线的交点；
[0004](2)计算各交点的空间距离，构造检验统计量；
[0005](3)进行卡方检验，鉴别干扰类型。
[0006]这种方法主要存在以下缺陷:
[0007]当集中式压制干扰机为两部时，易将此种误鉴别为分布式干扰。
三、
【发明内容】
[0008]本发明的目的是提出一种雷达网基于交叉定位点聚类的集中式与分布式压制干扰鉴别方法，采用该方法能够在集中式干扰机为两部时，对分布式压制干扰与集中式压制干扰进行鉴别，并判断出集中式干扰机的数目。
[0009]本发明提出的雷达网基于交叉定位点聚类的集中式与分布式压制干扰鉴别方法的技术方案包括以下步骤:
[0010]步骤1:录取数据
[0011]在压制干扰下三部组网2D雷达分别可以获得干扰源的方位角量测，将各雷达录取的数据输入雷达网的数据融合中心计算机，在融合中心计算机中执行以下步骤:
[0012]步骤2:构造方位线的解析方程
[0013]为了求取交叉定位点，需要构造方位线的解析方程:
[0014](I)输入雷达量测
[0015]武为k时刻雷达I的第i个量测集，且I≤i≤2 ;
[0016]戎为方位角量测；
[0017]CCjk为k时刻雷达2的第j个量测集，且I≤j≤2 ;
[0018]<为方位角量测；
[0019]/?为k时刻雷达3的第I个量测集，且I≤I≤2 ;[0020]/?为方位角量测；
[0021]各雷达采样周期为T ;
[0022](2)计算武所对应方位线4的方程
[0023]
【权利要求】
1.步骤1:录取数据 在压制干扰下三部组网2D雷达分别可以获得干扰源的方位角量测，将各雷达录取的数据输入雷达网的数据融合中心计算机，在融合中心计算机中执行以下步骤: 步骤2:构造方位线的解析方程 为了求取交叉定位点，需要构造方位线的解析方程: (1)输入雷达量测 涔为k时刻雷达I的第i个量测集，且1≤i≤2 ; 成为方位角量测； α?为k时刻雷达2的第j个量测集，且1≤j≤2 ; <为方位角量测； 允为k时刻雷达3的第I个量测集，且1≤I≤2 ; 汉为方位角量测； 各雷达采样周期为T ； (2)计算武所对应方位线4的方程
【文档编号】G01S7/36GK103954940SQ201410036360
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年1月21日 优先权日:2014年1月21日
【发明者】王国宏, 孙殿星, 吴巍, 吴健平, 李迎春 申请人:中国人民解放军海军航空工程学院