内置式压力测试方法
【专利摘要】本发明的内置式压力测试方法属压力检测【技术领域】，该方法是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法，其采用的测试仪有壳体及测试电路,外筒及内壁的线圈与内筒及外壁的线圈构成四桥式电容信号输入端，测试电路分别联接内外筒并置于内筒中，采用上端盖与上护盖以及下端盖与下护盖使内外筒上下联接一体，形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构，优点有：其外筒本身作电容电极并接地,可保护电路，外筒与上下端盖间采用无螺纹式接触端面且填充硅胶密封，避免受力不均匀,提高测试仪的精度，通过缠绕在内外筒的线圈形成四桥臂的测试电路，有效提高在恶劣环境下免除干扰、保持测试高端性能的能力，这种内置式压力测试方法与测试仪值得采用和推广。
【专利说明】内置式压力测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明公开的内置式压力测试方法属压力检测【技术领域】，具体涉及的是一种密闭 防护抗干扰的内置式压力测试方法。
【背景技术】
[0002] 在恶劣环境下的压力测试，如火炮膛内压力的测试，测试环境有以下特点，膛内的 压力、温度和火炸药燃爆的颗粒都直接作用在测试系统的外表面，测试环境的瞬时压力可 以达到GPa级，温度达3000°C。这种环境对测试系统的要求较高，由于测试系统需要放入测 试环境中，所以测试系统在系统功耗和整体结构上要严格控制。为适用于在火药燃烧区域 内具有高温、高压的特殊环境下进行瞬态压力测试，特别是爆炸场内的压力（如电热化学炮 膛内压力、弹底压力、火炮膛内压力、油井射空压力等）测试，压力测试方法所采用的压力测 试仪不仅要求耐高温、抗高冲击振动、适应高低温环境，同时还要具有微小体积、低功耗、高 可靠性、高精度等特点。
[0003] 内置式压力测试方法是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方 法，采用的内置式压力测试仪具有如下优点：1)结构简单；2)动态响应好；3)温度稳定性 好；4)抗电磁干扰能力强。适用于爆炸场内极端恶劣的测试环境，为解决在恶劣环境下的 压力测试提供了有效的测试方法。
【发明内容】
[0004] 本发明的目的是：向社会提供这种密闭防护抗干扰的内置式压力测试方法。
[0005] 本发明的技术方案是这样的：这种内置式压力测试方法，是采用内置式压力测试 仪以免除不利环境对测试影响的方法，所述采用的内置式压力测试仪包括有壳体及其内的 测试电路，具体有：外筒、内筒、上端盖、下端盖、上护盖、下护盖、测试电路、缠绕在外筒内 壁上部的线圈、缠绕在内筒外壁下部的线圈，技术特点在于：所述的内置式压力测试仪的外 筒以及内壁上部的线圈与内筒以及外壁下部的线圈构成电容式信号输入端，其测试电路分 别联接内外筒并置于内筒中，采用上端盖与上护盖以及下端盖与下护盖使内外筒上下联接 一体，形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构。 所述的该压力测试仪形成仪器内置与外界隔绝是因为压力测试仪的壳体(外筒）是一个四 周密闭的导体，壳体内部为一空心薄圆筒（内筒)。在径向方向上，靠近内外筒两端处，通过 上下端盖盖里面与内外筒之间的紧密连接结构，使内筒、外筒与上下端盖盖里面之间紧密 配合，并起到了屏蔽与绝缘的作用。在轴向方向上，用上下护盖分别与上下端盖压紧，达到 与内筒绝缘、与外筒紧密固定连接的作用。测试电路、电池等均放入圆柱形内筒中。外筒由 于受到压力发生形变，而内筒不会发生形变。所述的免除外界有害干扰，保持测试高端性 能的仪器密封结构是因为这种结构的外筒可以承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏 蔽电磁干扰，内筒及其内部组成也不会受到任何影响，即该压力测试仪可以在强辐射、强磁 场、高压力和高低温等恶劣的环境中工作，可以承受很大的温度变化，抗电磁干扰能力强， 可以对带磁工件进行测量。
[0006] 根据以上所述的内置式压力测试方法，技术特点还有：a.所述的内筒与外筒同轴 线地套装在外筒中，在外筒的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置有凹形圆环槽，在 上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与外筒的上端圆环面上和下端圆环 面上设置的凹形圆环槽相互尺寸严密配套的同轴线圆环状凸棱，在上端盖的盖里面上和 下端盖的盖里面上均分别设置有与内筒的上端圆环面端面和下端圆环面端面相互尺寸严 密配套的同轴线凹形圆环槽，外筒的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置的凹形圆环槽 与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的圆环状凸棱间相互尺寸严密配套相 互嵌入安装连接一体，内筒的上端圆环面端面和下端圆环面端面与上端盖的盖里面上和 下端盖的盖里面上分别设置的凹形圆环槽间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体， 形成压力测试仪的第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。所 述的这第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝了瞬 时的超高温高压、高冲击振动，免除了电磁干扰。b.所述的上护盖和下护盖的中心部位均设 置成圆口状，所述的上端盖和下端盖的中心部位向外均设置成外凸圆平台，上端盖上的外 凸圆平台和上护盖上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体，同样下端 盖上的外凸圆平台和下护盖上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体， 在上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁均设置有螺纹结构，在外筒的外壁上下端部均设 置有螺纹结构，外筒的外壁上下端部的螺纹结构分别与上护盖下端部内壁和下护盖上端部 内壁的螺纹结构同轴线地形成紧密螺纹连接结构，当外筒上端部和上护盖的螺纹结构紧密 连接一体、外筒下端部和下护盖的螺纹结构紧密连接一体时，内外筒上端部和上端盖与上 护盖之间、内外筒下端部和下端盖与下护盖之间更加紧密密封，形成压力测试仪的第二道 内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。所述的第二道内外隔绝的、 免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝瞬时的超高温高压、高冲击振动， 免除了电磁干扰。
[0007] 根据以上所述的内置式压力测试方法，技术特点还有：a.所述的内筒为一薄壁圆 筒，选择材料为45号钢，内筒作为电容正电极联接置于内筒的测试电路的正端。所述的这 种45号钢为优质碳素结构用钢，具有较高的强度和较好的切削加工性。所述的外筒为高 强度圆筒壳体，选择材料为18Ni马氏体时效钢，外筒作为电容负电极联接置于内筒的测试 电路的负端即地端，并作为该压力测试仪的电磁屏蔽壳体，也是压力测试仪内外隔绝的、免 除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。所述的这种18Ni马氏体时效钢是 以无碳(或微碳）马氏体为基体，靠某些合金元素时效性产生的金属离子间电作用强化形成 的一种高强度钢，其屈服极限可达2000MPa，具有较高的强度和优良的韧性。b.所述的上端 盖、下端盖、上护盖、下护盖均选择材料为18Ni马氏体时效钢。所述的上端盖、下端盖、上护 盖、下护盖均与外筒形成紧密密封电联接结构。所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均与 外筒形成紧密密封电联接结构并且共同构成该仪器严密的电磁屏蔽壳体，这种结构可以有 效地使测试仪承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰。所述的内筒上下圆环 端面分别与上端盖盖里面上和下端盖盖里面上的同轴线凹形圆环槽形成电绝缘紧密密封 联接结构。所述的这种电绝缘紧密密封联接的具体结构是：在测试仪的上端盖的盖里面上 及下端盖的盖里面上的凹形圆环槽均涂有绝缘漆，这些凹形圆环槽绝缘漆与内筒上下端圆 环端面形成相互尺寸严密配合的电绝缘紧密密封联接。这同样也是压力测试仪内外隔绝 的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。
[0008] 根据以上所述的内置式压力测试方法，技术特点还有：所述的内筒下部外壁和外 筒上部内壁缠绕的线圈选择采用罗哥夫斯基柔性线圈。所述的缠绕在外筒内壁上端的柔性 线圈分别与外筒形成固定电容、与内筒形成可变电容，所述的缠绕在内筒外壁下端的柔性 线圈分别与外筒形成可变电容、与内筒形成固定电容，所述的该四个电容形成四个桥臂的 电桥电路，该电桥电路作为该压力测试仪的桥式电容信号输入端。关于四个桥臂的电桥电 路结构请参见本发明的说明书附图2。
[0009] 根据以上所述的内置式压力测试方法，详细技术特点还有：所述的四个桥臂的电 桥电路为瞬态单次充放电的测试电路，该测试电路通过电路中四电容电压变化不再相等产 生电压差信号作为该压力测试仪的桥式电容信号输入端，该输入端联接放大电路，放大电 路联接A/D转换电路，A/D转换电路联接存储电路。本发明的四个桥臂的电桥电路只需瞬 态一次充放电过程即可完成采样和测试过程。
[0010] 根据以上所述的内置式压力测试方法，详细技术特点还有：a.所述的该压力测试 仪电源电路为恒压源电源电路，该恒压源电源电路选择采用运算放大芯片0PA340为主构 成，满足基于低功耗的设计要求。b.所述的该压力测试仪的放大电路选择采用能休眠节能 的仪表放大芯片INA331为主构成，符合所述的内置式压力测试仪的低功耗要求。
[0011] 本发明的内置式压力测试方法优点有：1.这种内置式压力测试方法，是采用内置 式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法，该方法可靠、实用、效果好；2.该内置式 压力测试仪的外筒本身就是压力敏感元件，用来保护电路并作为电容器的敏感电极；3.该 测试仪壳体与上下端盖之间采用无螺纹式端面密封，避免了因为螺纹而造成的仪器受到膛 压时的受力不均匀问题，从而提高本测试仪的精度，并且节约因为螺纹而占用的空间，从而 减小仪器的体积；4.该测试仪壳体与上下端盖之间的接触环的外环面填充硅胶，紧固壳体 与上下端盖之间的连接，达到更好的密闭效果；5.通过测试仪的内外筒与缠绕在其上面的 柔性线圈形成的四个电容构成四个桥臂的电桥电路，作为测试电路有效提高了测试仪在 恶劣环境下免除干扰，保持测试高端性能的能力。这种内置式压力测试方法及采用的测试 仪值得采用和推广。
【专利附图】
【附图说明】
[0012] 本发明的说明书附图共有4幅： 图1为内置式压力测试仪实体结构示意图； 图2为桥式微小电容测试电路原理图； 图3为恒压源电路图； 图4为放大电路图。
[0013] 在各图中采用了统一标号，即同一物件在各图中用同一标号。在各图中：1.上护 盖；2.上端盖；3.外筒；4.内筒；5.下端盖；6.下护盖；7.缠绕在外筒内壁上端的柔性线 圈；8.缠绕在内筒外壁下端的柔性线圈；9.测试电路；10.恒压源；11.输入电压；12.输出 电压信号；13.放大电路；0PA340是运算放大芯片；INA331是仪表放大芯片成?R 6均是电 阻；Q?C6均是电容&?S2均是开关；Ui是输入电压；Uo是输出电压。
【具体实施方式】
[0014] 本发明的内置式压力测试方法非限定实施例如下： 实施例一.内置式压力测试方法 该例的这种内置式压力测试方法，是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影 响的方法，该例采用的内置式压力测试仪包括有壳体及其内的测试电路，该压力测试仪具 体结构由图1?图4联合示出，图1是内置式压力测试仪实体结构示意图，在图1中：1 是上护盖，2是上端盖，3是外筒，4是内筒，5是下端盖，6是下护盖，7是缠绕在外筒内壁 上端的柔性线圈，8是缠绕在内筒外壁下端的柔性线圈，9是测试电路。该例的压力测试仪 的外筒3以及内壁上部的线圈7与内筒4以及外壁下部的线圈8构成电容式信号输入端， 其测试电路9分别联接内外筒并置于内筒4中，采用上端盖2与上护盖1以及下端盖5与 下护盖6使内外筒上下联接一体，形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试 高端性能的仪器密封结构。该例的压力测试仪形成仪器内置与外界隔绝是因为压力测试仪 的壳体(夕卜筒3)是一个四周密闭的导体，壳体内部为一空心薄圆筒（内筒4)。在径向方向 上，靠近内外筒两端处，通过上下端盖盖里面与内外筒之间的紧密连接结构，使内筒4、外筒 3与上下端盖盖里面之间紧密配合，并起到了屏蔽与绝缘的作用。在轴向方向上，用上下护 盖分别与上下端盖压紧，达到与内筒4绝缘、与外筒3紧密固定连接的作用。测试电路、电 池等均放入圆柱形内筒4中。外筒3由于受到压力发生形变，而内筒4不会发生形变。所 述的免除外界有害干扰，保持测试高端性能的仪器密封结构是因为这种结构的外筒3可以 承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰，内筒4及其内部组成也不会受到任 何影响，即该压力测试仪可以在强辐射、强磁场、高压力和高低温等恶劣的环境中工作，可 以承受很大的温度变化，抗电磁干扰能力强，可以对带磁工件进行测量。该例的内筒4与外 筒3同轴线地套装在外筒3中，在外筒3的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置有凹形 圆环槽，在上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上均分别设置有与外筒3的上端圆环 面上和下端圆环面上设置的凹形圆环槽相互尺寸严密配套的同轴线圆环状凸棱，在上端 盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上均分别设置有与内筒4的上端圆环面端面和下端圆 环面端面相互尺寸严密配套的同轴线凹形圆环槽，外筒3的上端圆环面上和下端圆环面上 分别设置的凹形圆环槽与上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上分别设置的圆环状凸 棱间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体，内筒4的上端圆环面端面和下端圆环面端 面与上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上分别设置的凹形圆环槽间相互尺寸严密配 套相互嵌入安装连接一体，形成该压力测试仪的第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测 试高端性能的仪器密封结构。该例的这第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能 的仪器密封结构内外隔绝了瞬时的超高温高压、高冲击振动，免除了电磁干扰。该例的上护 盖1和下护盖6的中心部位均设置成圆口状，该例的上端盖2和下端盖5的中心部位向外 均设置成外凸圆平台，上端盖2上的外凸圆平台和上护盖1上的圆口同轴线地相互尺寸严 密配套相互嵌入安装连接一体，同样下端盖5上的外凸圆平台和下护盖6上的圆口同轴线 地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体，在上护盖1下端部内壁和下护盖6上端部内 壁均设置有螺纹结构，在外筒3的外壁上下端部均设置有螺纹结构，外筒3的外壁上下端部 的螺纹结构分别与上护盖1下端部内壁和下护盖6上端部内壁的螺纹结构同轴线地形成紧 密螺纹连接结构，当外筒3上端部和上护盖1的螺纹结构紧密连接一体、外筒3下端部和下 护盖6的螺纹结构紧密连接一体时，内外筒上端部和上端盖2与上护盖1之间、内外筒下端 部和下端盖5与下护盖6之间更加紧密密封，形成本压力测试仪的第二道内外隔绝的、免除 干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。该例的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持 测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝瞬时的超高温高压、高冲击振动，免除了电磁干扰。 该例的内筒4为一薄壁圆筒，选择材料为45号钢，内筒4作为电容正电极联接置于内筒4 中测试电路的正端。该例的这种45号钢为优质碳素结构用钢，具有较高的强度和较好的切 削加工性。该例的外筒3为高强度圆筒壳体，选择材料为18Ni马氏体时效钢，外筒3作为 电容负电极联接置于内筒3的测试电路的负端即地端，并作为本压力测试仪的电磁屏蔽壳 体，也是该压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部 分。所述的这种18Ni马氏体时效钢是以无碳(或微碳)马氏体为基体，靠某些合金元素时效 性产生的金属离子间电作用强化形成的一种高强度钢，其屈服极限可达2000MPa，具有较 高的强度和优良的韧性。该例的上端盖2、下端盖5、上护盖1、下护盖6均选择材料为18Ni 马氏体时效钢。该例的上端盖2、下端盖5、上护盖1、下护盖6均与外筒3形成紧密密封电 联接结构。该例的上端盖2、下端盖5、上护盖1、下护盖6均与外筒3形成紧密密封电联接 结构并且共同构成该仪器严密的电磁屏蔽壳体，这种结构可以有效地使测试仪承受瞬时的 超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰。该例的内筒4上下圆环端面分别与上端盖2盖 里面上和下端盖5盖里面上的同轴线凹形圆环槽形成电绝缘紧密密封联接结构。该例的这 种电绝缘紧密密封联接的具体结构是：在测试仪的上端盖2的盖里面上及下端盖5的盖里 面上的凹形圆环槽均涂有绝缘漆，这些凹形圆环槽绝缘漆与内筒4上下端圆环端面形成相 互尺寸严密配合的电绝缘紧密密封联接。这同样也是压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、 保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。该例的内筒4下部外壁和外筒3上部内壁缠 绕的线圈选择采用罗哥夫斯基柔性线圈。该例的缠绕在外筒3内壁上端的柔性线圈分别与 外筒3形成固定电容、与内筒4形成可变电容，该例的缠绕在内筒4外壁下端的柔性线圈分 别与外筒3形成可变电容、与内筒4形成固定电容，所述的该四个电容形成四个桥臂的电 桥电路，该电桥电路作为压力测试仪的桥式电容信号输入端。该例的四个桥臂的电桥电路 为瞬态单次充放电测试电路，该测试电路通过电路中四电容电压变化不再相等产生电压差 信号作为该压力测试仪的桥式电容信号输入端，该输入端联接放大电路，放大电路联接A/D 转换电路，A/D转换电路联接存储电路。本发明的四个桥臂的电桥电路只需瞬态一次充放 电过程即可完成采样和测试过程。该例的四个桥臂的电桥电路结构请参见本发明的说明书 附图2。图2示出桥式微小电容测试电路原理图，在图2中：10是恒压源，11是输入电压， 12是输出电压信号，13是放大电路。该例的压力测试仪电源电路为恒压源电源电路，该恒 压源电源电路选择采用运算放大芯片0PA340为主构成，满足基于低功耗的设计要求，其中 图2中之10即是图3示出的恒压源电路。该例的压力测试仪的放大电路选择采用能休眠 节能的仪表放大芯片INA331为主构成，符合所述的内置式压力测试仪的低功耗要求。图2 中之13即是图4示出的放大电路。该例采用的外筒、内筒、上端盖、下端盖、上护盖、下护盖 的结构尺寸、测试电路及其线圈匝数、电路芯片等材料的选择均应根据测试目的、需要进行 设计计算而定，还可经过试验验证完善。
[0015] 实施例二·内置式压力测试方法 该例的内置式压力测试方法是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的 方法，该例的内置式压力测试仪具体结构可用图1?图4等联合示出，该例的内置式压力 测试方法与实施例一的内置式压力测试方法不同点有：该例采用的内置式压力测试仪的测 量电路均可采用公知和商售的电子元器件组装制作，只要能实现测量电路之功能的均可使 用。该例的内置式压力测试方法其余未述的，全同于实施例一中所述的，不再重述。
【权利要求】
1. 一种内置式压力测试方法，是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的 方法，所述采用的内置式压力测试仪包括有壳体及其内的测试电路，具体有：外筒、内筒、 上端盖、下端盖、上护盖、下护盖、测试电路、缠绕在外筒内壁上部的线圈、缠绕在内筒外壁 下部的线圈，特征在于：所述的内置式压力测试仪的外筒以及内壁上部的线圈与内筒以及 外壁下部的线圈构成电容式信号输入端，其测试电路分别联接内外筒并置于内筒中，采用 上端盖与上护盖以及下端盖与下护盖使内外筒上下联接一体，形成仪器内置与外界隔绝、 免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构。
2. 根据权利要求1所述的内置式压力测试方法，特征在于： a. 所述的内筒与外筒同轴线地套装在外筒中，在外筒的上端圆环面上和下端圆环面 上分别设置有凹形圆环槽，在上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与外 筒的上端圆环面上和下端圆环面上设置的凹形圆环槽相互尺寸严密配套的同轴线圆环状 凸棱，在上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与内筒的上端圆环面端面 和下端圆环面端面相互尺寸严密配套的同轴线凹形圆环槽，外筒的上端圆环面上和下端圆 环面上分别设置的凹形圆环槽与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的圆环 状凸棱间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体，内筒的上端圆环面端面和下端圆环 面端面与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的凹形圆环槽间相互尺寸严密 配套相互嵌入安装连接一体，形成本压力测试仪的第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持 测试高端性能的仪器密封结构； b. 所述的上护盖和下护盖的中心部位均设置成圆口状，所述的上端盖和下端盖的中心 部位向外均设置成外凸圆平台，上端盖上的外凸圆平台和上护盖上的圆口同轴线地相互尺 寸严密配套相互嵌入安装连接一体，同样下端盖上的外凸圆平台和下护盖上的圆口同轴线 地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体，在上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁均 设置有螺纹结构，在外筒的外壁上下端部均设置有螺纹结构，外筒的外壁上下端部的螺纹 结构分别与上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁的螺纹结构同轴线地形成紧密螺纹连 接结构，当外筒上端部和上护盖的螺纹结构紧密连接一体、外筒下端部和下护盖的螺纹结 构紧密连接一体时，内外筒上端部和上端盖与上护盖之间、内外筒下端部和下端盖与下护 盖之间更加紧密密封，形成本压力测试仪的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端 性能的仪器密封结构。
3. 根据权利要求2所述的内置式压力测试方法，特征在于： a. 所述的内筒为一薄壁圆筒，选择材料为45号钢，内筒作为电容正电极联接置于内筒 的测试电路的正端；所述的外筒为高强度圆筒壳体，选择材料为18Ni马氏体时效钢，外筒 作为电容负电极联接置于内筒的测试电路的负端即地端，并作为本压力测试仪的电磁屏蔽 壳体，也是本压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一 部分； b. 所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均选择材料为18Ni马氏体时效钢；所述的上 端盖、下端盖、上护盖、下护盖均与外筒形成紧密密封电联接结构；所述的内筒上下圆环端 面分别与上端盖盖里面上和下端盖盖里面上的同轴线凹形圆环槽形成电绝缘紧密密封联 结接构。
4. 根据权利要求3所述的内置式压力测试方法，特征在于：所述的内筒下部外壁和外 筒上部内壁缠绕的线圈选择采用罗哥夫斯基柔性线圈；所述的缠绕在外筒内壁上端的柔性 线圈分别与外筒形成固定电容、与内筒形成可变电容，所述的缠绕在内筒外壁下端的柔性 线圈分别与外筒形成可变电容、与内筒形成固定电容，所述的该四个电容形成四个桥臂的 电桥电路，该电桥电路作为本压力测试仪的桥式电容信号输入端。
5. 根据权利要求4所述的内置式压力测试方法，特征在于：所述的四个桥臂的电桥电 路为瞬态单次充放电的测试电路，该测试电路通过电路中四电容电压变化不再相等产生电 压差信号作为本压力测试仪的桥式电容信号输入端，该输入端联接放大电路，放大电路联 接A/D转换电路，A/D转换电路联接存储电路。
6. 根据权利要求5所述的内置式压力测试方法，特征在于： a. 所述的本压力测试仪电源电路为恒压源电源电路，该恒压源电源电路选择采用运算 放大芯片0PA340为主构成； b. 所述的本压力测试仪的放大电路选择采用能休眠节能的仪表放大芯片INA331为主 构成。
【文档编号】G01L5/14GK104155046SQ201410372686
【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年7月31日 优先权日:2014年7月31日
【发明者】马铁华, 李新娥, 裴东兴, 张红艳, 张瑜, 沈大伟, 范锦彪, 尤文斌, 杜红棉, 刘磊 申请人:中北大学