玻璃基板的检测方法
【专利摘要】本发明提供了一种玻璃基板的检测方法，该玻璃基板的检测方法包括：在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂；对该玻璃基板的表面进行第一清洗；对该玻璃基板的表面进行显色处理，以便根据该玻璃基板上显色的位置获取该玻璃基板缺陷的位置。本发明通过在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂，当玻璃基板存在缺陷时，渗透探伤剂会对玻璃基板的缺陷部位进行渗透着色，在对玻璃基板的表面进行显色处理使存留的渗透探伤剂进行显色后，就可根据显色的位置获取玻璃基板缺陷的位置，相比现有技术，不仅能够增加检测缺陷的种类和范围，且检测过程不易受外界影响，从而大大提高其检测结果的可靠性。
【专利说明】玻璃基板的检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示领域，尤其涉及一种玻璃基板的检测方法。
【背景技术】
[0002]玻璃基板是LCD行业所用的主要原材，但是在复杂工艺流程中，往往会由于各种原因导致玻璃基板产生裂纹、破损。
[0003]在传统的TFT-LCD (Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜晶体管液晶显示装置)行业，为了检测玻璃基板上是否存在破损，通常在玻璃基板清洗机上运用Chipping Sensor (碎片检知计)对玻璃基板进行破损检知,如图1所示，碎片检知计I的原理是通过检知照射至玻璃基板2上的光线的反射光的光强来判定玻璃基板是否破损，然而，此种方式易受到周围光线的干扰而频繁产生误报警，且其检知区域有限，ChippingSeneor检知的部位仅限于玻璃基板移动方向3上的一条直线,此外,该种检知方式无法对有裂纹的玻璃基板进行检测，而最易在工艺设备中产生裂片的正是有裂纹的玻璃基板，从而造成其检测结果可靠性不高的问题。
【发明内容】
[0004](一 )要解决的技术问题
[0005]本发明要解决的技术问题是提供一种玻璃基板的检测方法，能够提高检测结果的可靠性。
[0006]( 二 )技术方案
[0007]为解决上述技术问题，本发明的技术方案提供了一种玻璃基板的检测方法，包括:
[0008]在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂；
[0009]对所述玻璃基板的表面进行第一清洗；
[0010]对所述玻璃基板的表面进行显色处理，以便根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置。
[0011]进一步地，所述对所述玻璃基板的表面进行显色处理包括:
[0012]在所述玻璃基板的表面喷涂显色剂，所述显色剂通过与所述渗透探伤剂发生反应显色。
[0013]进一步地，所述渗透探伤剂为荧光渗透探伤剂，所述对所述玻璃基板的表面进行显色处理包括:
[0014]对所述玻璃基板的表面进行光照处理。
[0015]进一步地，所述对所述玻璃基板的表面进行光照处理包括:
[0016]采用大于或等于100Ix的白光对所述玻璃基板的表面进行光照处理。
[0017]进一步地，所述荧光渗透探伤剂为蓝色荧光渗透探伤剂。
[0018]进一步地，在在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂之前还包括:
[0019]对所述玻璃基板的表面进行第二清洗。
[0020]进一步地，在根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置之后还包括；
[0021]对所述玻璃基板缺陷进行等级判定。
[0022]进一步地，所述玻璃基板包括正面以及与所述正面相对的背面，所述正面用于形成显示面板的层结构，所述在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂包括:
[0023]在玻璃基板的背面喷涂渗透探伤剂。
[0024](三)有益效果
[0025]本发明通过在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂，当玻璃基板存在缺陷时，例如存在裂纹时，渗透探伤剂会对玻璃基板的缺陷部位进行渗透着色，即使在对玻璃基板的表面进行第一清洗后，也仅将玻璃基板的表面的渗透探伤剂清洗掉，缺陷部位中的渗透探伤剂仍存留其中，在对玻璃基板的表面进行显色处理使存留的渗透探伤剂进行显色后，就可根据显色的位置获取玻璃基板缺陷的位置，相比现有技术，不仅能够增加检测缺陷的种类和范围，且检测过程不易受外界影响，从而大大提高其检测结果的可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]图1是现有技术中玻璃基板的检测示意图；
[0027]图2是本发明实施方式提供的一种玻璃基板的检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0028]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0029]图2是本发明实施方式提供的一种玻璃基板的检测方法的流程图，包括:
[0030]S1:在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂；
[0031]S2:对所述玻璃基板的表面进行第一清洗；
[0032]S3:对所述玻璃基板的表面进行显色处理，以便根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置。
[0033]本发明实施方式提供的玻璃基板的检测方法，通过在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂，当玻璃基板存在缺陷时，例如存在裂纹时，渗透探伤剂会对玻璃基板的缺陷部位进行渗透着色，即使在对玻璃基板的表面进行第一清洗后，也仅将玻璃基板的表面的渗透探伤剂清洗掉，缺陷部位中的渗透探伤剂仍存留其中，在对玻璃基板的表面进行显色处理使存留的渗透探伤剂进行显色后，就可根据显色的位置获取玻璃基板缺陷的位置，相比现有技术，不仅能够增加检测缺陷的种类和范围，且检测过程不易受外界影响，从而大大提高其检测结果的可靠性。
[0034]其中，上述显色处理可采用化学处理方式，例如，可在玻璃基板的表面喷涂显色齐?，显色剂通过与渗透探伤剂发生反应显色。
[0035]优选地，上述渗透探伤剂可采用荧光渗透探伤剂，具体地，采用荧光渗透探伤剂进行检测的方法包括:
[0036]S21:首先对玻璃基板的表面进行荧光渗透探伤剂喷涂，使荧光渗透探伤剂布满玻璃基板的表面，对于液晶显示器制造行业，由于通常玻璃基板的正面用于形成显示面板的层结构，为了尽量避免该检测过程对形成的显示面板造成影响，可将荧光渗透探伤剂喷涂在玻璃基板中与正面相对的背面，其中，采用的荧光渗透探伤剂可以为蓝色荧光渗透探伤齐U。当玻璃基板存在缺陷时，喷涂的荧光渗透探伤剂会对玻璃基板上的缺陷部位进行渗透着色，比如玻璃基板有裂纹，荧光渗透探伤剂就会渗透入裂纹中。
[0037]S22:对玻璃基板的表面进行第一清洗，以清洗掉玻璃基板表面的荧光渗透探伤齐U，而缺陷部位中的荧光渗透探伤剂仍存留其中，具体地，该第一清洗可采用溶剂冲洗加毛刷清洗的方式对玻璃基板的背面进行清洗，以去除表面上的荧光渗透探伤剂。
[0038]S23:由于该方法采用荧光渗透探伤剂，因此，其显色处理过程可采用对玻璃基板的表面进行光照处理的方式，例如，可采用大于或等于100lx的白光对玻璃基板的表面进行光照处理，使渗透入玻璃基板缺陷其中的荧光渗透探伤剂得到光能，进行自发光，而后对玻璃基板进行荧光扫描，存在缺陷的玻璃基板则会因渗透入荧光渗透探伤剂而被检知出缺陷，并通过CCD对缺陷位置进行锁定。
[0039]S24 =CCD锁定后则会清楚地看到玻璃基板的缺陷，可以根据缺陷情况进行等级判定，例如可根据缺陷的区域大小、位置进行缺陷等级判定，并根据判定的结果对该玻璃基板进行不同的处理，不影响正常生产的可以直接下流或者判定部分NG(不良)，影响正常生产的则对整张玻璃基板进行NG判定，进入NG Buffer (不良存放)。
[0040]为了避免玻璃基板存在灰尘或其他异物而对检测造成影响，优选地，在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂之前还可对玻璃基板的表面进行第二清洗，以保证玻璃基板在检测前的洁净度。
[0041]其中，以上步骤可以具体在控制系统中进行设定，控制设备依次自动完成个各步骤动作。
[0042]本发明实施方式提供的玻璃基板的检测方法成本低、操作简单、准确度高，其不仅可以检测玻璃基板损伤，还可以检测玻璃基板外表面划伤，对检知玻璃基板缺陷更加直观，具体可单独分离出一台渗透探伤设备，不仅可以对玻璃基板进行全检还可以对有损伤信赖性问题的玻璃基板进行抽检，相比现有技术，不仅可以检测到玻璃基板表面的各种缺陷，且对于表面平坦度较高的玻璃基板，其检测结果的准确率更高，此外，采用荧光渗透探伤剂的方式不会对玻璃基板的组织结构和化学成分造成影响，而且易清洗，通过本发明的检测方法，不仅便于提前对原材料进行等级判定，避免后续工艺加工，减少物料浪费，还能有效避免因为裂片而产生的Down机事故发生，且该方法在TFT-1XD行业各工厂均可使用，全自动进行，无需人员进行操作，安全性较高。
[0043]以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关【技术领域】的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
【权利要求】
1.一种玻璃基板的检测方法,其特征在于,包括: 在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂； 对所述玻璃基板的表面进行第一清洗； 对所述玻璃基板的表面进行显色处理，以便根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，所述对所述玻璃基板的表面进行显色处理包括: 在所述玻璃基板的表面喷涂显色剂，所述显色剂通过与所述渗透探伤剂发生反应显色。
3.根据权利要求1所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，所述渗透探伤剂为荧光渗透探伤剂，所述对所述玻璃基板的表面进行显色处理包括: 对所述玻璃基板的表面进行光照处理。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，所述对所述玻璃基板的表面进行光照处理包括: 采用大于或等于100Ix的白光对所述玻璃基板的表面进行光照处理。
5.根据权利要求3所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，所述荧光渗透探伤剂为蓝色荧光渗透探伤剂。
6.根据权利要求1所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，在在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂之前还包括: 对所述玻璃基板的表面进行第二清洗。
7.根据权利要求1所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，在根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置之后还包括； 对所述玻璃基板缺陷进行等级判定。
8.根据权利要求1至7任一所述的玻璃基板的检测方法，其特征在于，所述玻璃基板包括正面以及与所述正面相对的背面，所述正面用于形成显示面板的层结构，所述在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂包括: 在玻璃基板的背面喷涂渗透探伤剂。
【文档编号】G01N21/91GK104237255SQ201410487052
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年9月22日 优先权日:2014年9月22日
【发明者】方跃, 王成功, 张弦, 唐大虎 申请人:合肥鑫晟光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司