一种磁隔离放大器输入电流的测试方法
【专利摘要】本发明提供一种磁隔离放大器运放输入电流的测试方法，包括以下步骤：选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板；利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的运放端口对应连接；利用集成电路测试仪测试得到被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反相输入电流；利用公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流。本发明利用电路转接板将被测磁隔离放大器与集成电路测试仪连接起来，从而能够利用集成电路测试仪的运放测试程序测试出被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反向输入电流，再通过公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流，测试结果更加精确。
【专利说明】-种磁隔离放大器输入电流的测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及磁隔离放大器测试【技术领域】，具体是一种磁隔离放大器输入电流的测 试方法。
【背景技术】
[0002] 磁隔离放大器主要用于伺服驱动、传感检测、高共模电路系统中，将信号放大的作 用，其输入、输出部分电气完全隔离，可提高电路系统对电源的抗干扰能力及系统的安全 性。磁隔离放大器的输入电流包括输入偏置电流和输入差分电流，表征磁隔离放大器输入 运放的基本特性，是选用磁隔离放大器输入运放的依据。
[0003] 磁隔离放大器与普通放大器相比，体积尺寸较大，引脚功能不同，供电电源和供电 方式也不同，磁隔离放大器输入运放是利用内置电源供电，无法像普通放大器那样直接采 用集成电路测试仪对输入电流进行测试。目前，一般采用皮安表、纳伏表测试磁隔离放大器 的输入电流，容易受多种因素干扰，测试结果重复性差，随机性较大。
【发明内容】
[0004] 本发明的目的在于提供一种磁隔离放大器输入电流的测试方法，该方法采用集成 电路测试仪对磁隔离放大器的输入电流进行测试，测试结果更加精确。
[0005] 本发明的技术方案为：
[0006] -种磁隔离放大器输入电流的测试方法，包括以下顺序的步骤：
[0007] (1)选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板；
[0008] (2)利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的 运放端口对应连接；
[0009] (3)利用集成电路测试仪测试得到被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和 反相输入电流；
[0010] (4)利用以下公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流：
【权利要求】
1. 一种磁隔离放大器输入电流的测试方法，其特征在于，包括以下顺序的步骤： (1) 选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板； (2) 利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的运放 端口对应连接； (3) 利用集成电路测试仪测试得到被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反相 输入电流； (4) 利用以下公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流：
Id = I (Ib+-Ib_) 其中，Ib表示被测磁隔离放大器的输入偏置电流，Id表示被测磁隔离放大器的输入差 分电流，Ib+表示被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流，Ib+表示被测磁隔离放大器 输入运放的反相输入电流。
2. 根据权利要求1所述的磁隔离放大器输入电流的测试方法，其特征在于，所述集成 电路测试仪选用型号为M3000的集成电路测试仪。
【文档编号】G01R19/00GK104360130SQ201410621359
【公开日】2015年2月18日 申请日期:2014年11月5日 优先权日:2014年11月5日
【发明者】尚玉凤, 李浪平, 李芳 , 徐光钊 申请人:中国电子科技集团公司第四十三研究所